DE4123052A1 - Integriertes sensor- und stellelement fuer die brennpunktlageregelung von hochleistungslasern - Google Patents
Integriertes sensor- und stellelement fuer die brennpunktlageregelung von hochleistungslasernInfo
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 claims description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 3
- 238000005187 foaming Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/04—Automatically aligning, aiming or focusing the laser beam, e.g. using the back-scattered light
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/04—Automatically aligning, aiming or focusing the laser beam, e.g. using the back-scattered light
- B23K26/042—Automatically aligning the laser beam
- B23K26/043—Automatically aligning the laser beam along the beam path, i.e. alignment of laser beam axis relative to laser beam apparatus
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Sensor- und Stellelement zur Brenn
punktlageregelung von Hochleistungslasern für die Materialbearbeitung
gemäß dem Gattungsbegriff des Anspruchs 1.
Bei den zum Stand der Technik zählenden Ausführungsformen für die Strah
len- bzw. Brennpunktlageregelung der genannten Laser sind bisher immer
mehrere, getrennte oder einzelne Elemente erforderlich. Diese sind im
wesentlichen Strahlteiler-Elemente mit denen ein Teil des zu regelnden
Strahles aus dem Hauptstrahlengang ausgekoppelt werden und jeweils einem,
ihnen zugeordneten Sensorelement zugeführt werden. Dort werden die Fehler
des Strahles - wie beispielsweise Winkelfehler, Fokusfehler oder auch
Fehler hoher Ordnung wie Astigmatismus - festgestellt, mittels einer
Elektronikanordnung ausgewertet und - daraus abgeleitet - entsprechende
Stellsignale auf ein Korrekturelement gegeben.
Das Korrekturelement kann im einfachen Falle ein Kippspiegel zur reinen
Strahlachsen-Stabilisierung sein, für Korrekturen von Fehlern höherer
Ordnung ist jedoch ein Spiegel mit deformierbarer Oberfläche notwendig.
Sollen nun das Strahlteilerelement und das Korrekturelement in den Strah
lengang eines Hochleistungslasers gebracht werden, so ist eine aktive
Kühlung der mit der Hochleistungslaserstrahlung beaufschlagten Flächen
notwendig.
Solche Elemente sind beispielsweise aus den Druckschriften GB 22 13 964,
DE 36 28 339 A1, US 40 91 274 sowie DE 31 33 823 C1, DE 34 08 263 C1 oder
DE 32 02 432 C2 der Anmelderin bekannt. Insbesondere ist aus der
DE 36 28 339 A1 ein gekühlter verformbarer Spiegel bekannt geworden, der
aus einer Basisplatte, piezoelektrischen Stellgliedern und einer Spiegel
platte besteht, die auf ihrer Rückseite mit geschlossenen Kühlkanälen
versehen ist. Bekannt sind weiterhin Strahlteiler, die aus einer für die
Laserwellenlänge teildurchlässigen Siliciumplatte bestehen und mit Kühlka
nälen versehen sind. Abgesehen vom Platzbedarf ist allein schon für die
Justierbarkeit und Fixierung dieser einzelnen Bauelemente oder Module ein
erheblicher Aufwand erforderlich.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Sensor- und
Stellelement der eingangs genannten Art zu schaffen, bei dem ein Sensor
mit einem von diesem angesteuerten optischen Stellelement zusammengefaßt
ist und das als einziges Bauelemententeil einzeln getrennt oder gleichzei
tig die Erfassung und Korrektur von Winkel- und Fokusfehlern in Hoch
leistungslaser-Strahlvorgängen ermöglicht, d. h. die Brennpunktlage in
Winkelrichtung und Fokussierweite bestimmt.
Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 aufgezeigten Maßnahmen gelöst.
In den Unteransprüchen sind Ausgestaltungen und Weiterbildungen angegeben
und in der nachfolgenden Beschreibung ist ein Ausführungsbeispiel erläu
tert und in der einzigen Figur der Zeichnung in Form eines im Querschnitt
gezeichneten Schemabildes skizziert.
Das nachfolgend beschriebene Sensor- und Stellelement wird als komplette
Baueinheit in den Strahlengang von Hochleistungslasersystemen zur Ma
terialbearbeitung eingebracht, um dort die Erfassung und Korrektur von
Winkel- und Fokusfehler des Bearbeitungsstrahles vorzunehmen. Das Element
erfüllt gleichzeitig auch die Sensor- und Korrekturfunktionen. Die mit
Laserstrahlen beaufschlagte Oberfläche des Werkstückes wird in bekannter
Weise flüssigkeitsgekühlt.
Das Sensor- und Stellelement setzt sich aus einem vorzugsweise zylin
drischen, druckfesten und formstabilen Gehäusekörper 10 und einer sein
unteres Ende abschließenden, formstabilen Grund- und Befestigungsplatte 11
zusammen. Diese Platte dient einmal zur Befestigung des Elementes mit
definierter Position im Strahlenführungskanal der Laser-Materialbearbei
tungsanlage und zum andernmal als Integrationsteil für eine Reihe von
Bauelementen, wie nachfolgend noch beschrieben wird.
Am oberen Ende des Gehäusekörpers 10 ist ein ringförmiges, als Federbalg
ausgeführtes Biegeelement 12 befestigt, das als Träger für eine dünne, in
ihrem Innern mit Kühlkanälen versehenen, Spiegelplatte 13, welche aus
Siliziummaterial gefertigt ist, dient. Die beschriebene Anordnung aus
Grundplatte 11, Gehäusekörper 10, Federbalg 12 und Spiegelplatte 13 bilden
zusammen ein druck- bzw. vakuumdichtes Gehäuse.
Eine solche Spiegelplatte 13 und deren Herstellung ist durch die Anmel
derin in der DE 34 08 263 C1 bekannt geworden. Die Oberfläche einer
solchen Spiegelplatte 13 ist nun mit einer dielektrischen Beschichtung
versehen, welche Laserstrahlung der Wellenlänge 10,6 µm zu einem hohen
Anteil - typischerweise 99% - reflektiert. Das Spiegelplattenmaterial -
typischerweise Silizium - ist für den restlichen Strahlanteil durchlässig.
Dieser restliche Anteil von knapp 1% wird nun analog des in der
DE 31 33 823 C1 der Anmelderin beschriebenen Verfahrens aus dem Strahlen
gang ausgekoppelt. Auf der Rückseite der Spiegelplatte 13 ist nun mittels
Ätztechnik ein holographisches optisches Element 13a angebracht, welches
eine definierte Fokussierung des ausgekoppelten Lichtes auf einem Vierqua
drantendetektor 14 durchführt, der auf der Bodenplatte 11 angeordnet ist.
Das holografische Fokussierelement 13a ist in einer einfachen Ausführungs
form aus konzentrischen Kreisringen nach Art einer Fresnellinse ausge
staltet, wodurch eine Fokussierung der austretenden Laserstrahlung mit
vorgegebener Brennweite durch diese Ausgestaltung bewirkt wird.
In einer erweiterten Ausführungsform ist das holografische Fokussierele
ment 13a derart ausgebildet, daß die Fokussierung mit Astigmatismusantei
len erfolgt. Dies kann vorzugsweise durch eine Ausbildung in Form von
konzentrischen Ellipsen erfolgen.
Aus den Signalen vom Vierquadrantendetektors 14 wird mittels einer Elek
tronik 14a, in bekannter Weise die Winkelablage oder wie beispielsweise in
der Deutschen Patentanmeldung P 40 12 927.6-33 angemeldet am 24.04.1990
beschrieben ist, gleichzeitig die Winkelablage und Fehlfokussierung des
Laserstrahles 20, 21 ermittelt und die entsprechenden Werte größenmäßig in
einer an sich bekannten Elektronik 14a abgeleitet und als Steuersignale
zur Korrektur der Winkelablage sowie der Fehlfokussierung an die nachfol
gend beschriebenen Stellelemente 16, 12 etc. gegeben. Hierbei erfolgt die
Korrektur der Winkelablage durch zwei oder mehrere Stellelemente 16,
welche auf der Grund- und Befestigungsplatte 11 am Rande außerhalb des
druckfesten Gehäuses angeordnet sind und über Biegeelemente 12 auf die
Spiegelplatte 13 am Rande des druckfesten Gehäuses 10 in bezug auf eine
spezielle, von der Regelungselektronik (14a) ermittelten Winkelstellung
derselben wirken. Diese Stellelemente 16 können alternativ als piezoelek
trische oder magnetostriktive Aktuatoren ausgebildet sein.
Die Korrektur der Fokussierung erfolgt durch definierte Verwölbung der
Spiegelplatte 13 mittels entsprechender Druckerhöhung oder Druckminderung
eines durch die Gaszuführung 18 in das Volumen des Gehäusekörpers 10
einströmenden Druckgases. Diese Verwölbung bewirkt eine Verformung der
Spiegelplatte zu einem rotationssymmetrischen Hohlspiegel mit von der
Tiefe dieser Verwölbung abhängigen Brennweite. Die Einstellung dieser
Brennweite erfolgt durch Vorgabe eines Solldruckwertes, wodurch negative
oder positive Brennweiten erzielbar sind. Die Einstellung des jeweiligen
Solldruckwertes im druckfesten Gehäuse 10, der höher oder niedriger als
der Außendruck sein kann, erfolgt durch den in der Grund- und Befesti
gungsplatte 11 integrierten Differentialdrucksensors 17 und ein Steuerven
til (nicht gezeichnet).
Der Vierquadrantendetektor 14 ist bevorzugt als pyroelektrischer Detektor
ausgebildet, zu dessen Betrieb im Wechsellichtmodus ein mechanischer
Lichtzerhacker 15 vorgeschaltet ist. Die vorbeschriebene Korrektur der
Winkel- und Fokusfehler erfolgt in einem Stellkreis oder offenen Regel
kreis. Alternativ kann das Element auch in einem geschlossenen Regelkreis
eingesetzt werden, in dem die Korrektur durch getrennte, im Strahlengang
vorgeschaltete Korrekturelemente erfolgt.
Claims (9)
1. Sensor- und Stellelement zur Brennpunktlageregelung von Hoch
leistungslasern für die Materialbearbeitung, in deren Strahlengang es
integriert ist, und das mit einer mit Kühlkanälen versehenen, für die
Laserstrahlung teildurchlässigen Spiegelplatte ausgerüstet ist, dadurch
gekennzeichnet, daß aus einer Grundplatte (11), einem Gehäusekörper
(10), einem ringförmigen Biegeelement (12) nach Art eines Federbalges
(12) und einer Spiegelplatte (13) ein druckfestes, formstabiles Gehäuse
gebildet wird, an dessen Grund- und Befestigungsplatte (11) ein Quadran
tendetektor (14) mit vorgeschaltetem Lichtzerhacker (15) sowie an deren
(11) äußeren Rand zwei oder mehrere Stellelemente (16) zur Korrektur der
Richtung angeordnet sind, welche am oberen Ende des druckfesten Gehäuses
über das ringförmige Biegeelement (12) auf den Rand der Spiegelplatte (13)
wirken, deren (13) Rückseite ein holografisches optisches Muster (13a)
in Form einer rotationssymmetrischen Fresnellinse angebracht ist, wobei
dem Vierquadrantendetektor (14) eine elektronische Vorrichtung (14a)
zugeordnet ist, die die Winkelablage des Laserstrahles (20) größenmäßig
ermittelt und Korrektur-Steuersignale für die Stellelemente (16) ausgibt.
2. Sensor- und Stellelement zur Brennpunktlageregelung von Hoch
leistungslaser für die Materialbearbeitung, in deren Strahlengang es
integriert ist, und das mit einer mit Kühlkanälen versehenen, für die
Laserstrahlung teildurchlässigen Spiegelplatte ausgerüstet ist, dadurch
gekennzeichnet, daß aus einer Grundplatte (11), einem Gehäusekörper
(10), einem ringförmigen Biegeelement (12) nach Art eines Federbalges
und einer Spiegelplatte (13) ein druckfestes, formstabiles Gehäuse
gebildet wird, an dessen Grund- und Befestigungsplatte (11) ein Quadran
tendetektor (14) mit vorgeschaltetem Lichtzerhacker (15) sowie an deren
(11) äußeren Rand zwei oder mehrere Stellelemente (16) zur Korrektur der
Richtung angeordnet sind, welche am oberen Ende des druckfesten Gehäuses
(10) über ein ringförmiges Biegeelement (12) nach Art eines Federbalges
auf den Rand der Spiegelplatte (13) wirken, an deren Rückseite ein
holografisches optisches Muster in Form einer Fresnellinse mit astigma
tischer Fokussierung angebracht ist, die die Fokussierung des ausgekop
pelten Laserlichtanteils (21) mit Astigmatismusanteilen bei gleichzeitig
definierter Spiegelwölbung durchführt und dadurch gleichzeitig eine
definierte Fokus- und Winkellageeinstellung des Laserstrahls gewähr
leistet, wobei dem Vierquadrantendetektor (14) eine elektronische
Vorrichtung (14a) zugeordnet ist, die die Winkelablage und die Fehlfo
kussierung des Laserstrahles (20) größenmäßig ermittelt und Korrek
tur-Steuersignale für die Stellelemente (16) ausgibt.
3. Sensor- und Stellelement nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Spiegelplatte (13) aus einer, für die Laserstrahlung
an der Oberseite durchlässigen, mit dielektrischer Beschichtung ver
sehenen Siliziumscheibe besteht, in deren Rückseite Kühlkanäle einge
fräst oder eingeätzt sind.
4. Sensor- und Stellelement nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die dielektrische Beschichtung der Spiegelplatte
(13) Laserstrahlung der Wellenlänge 10,6 mm zu 99% reflektiert.
5. Sensor- und Stellelement nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß das holografische Element (13a) eine für die
Laserstrahlung durchlässige, die Kühlkanäle abdeckende Platte mit
eingeätztem holografischen Muster ist.
6. Sensor- und Stellelement nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Stellelemente (16) als piezoelektrische oder
magnetostriktive Aktuatoren ausgebildet sind.
7. Sensor- und Stellelement nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Stellelemente (16) am Rande des ringförmigen
Federbalges (12) angreifen und dadurch eine axiale Verkippung bewirken.
8. Sensor- und Stellelement nach den Ansprüchen 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Korrektur der Fokussierung die Spiegelplatte
(13) mittels definierter Druckerhöhung oder Druckminderung eines durch
die Gaszuführung (18) in das Volumen des Gehäuses (10) eingeströmten
Druckgases die entsprechende Wölbung nach Maßgabe der Signale des
Quadrantendetektors (14) erfährt.
9. Sensor- und Stellelement nach den Ansprüchen 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Einstellung des Gas-Solldruckwertes im Körper
volumen des Gehäuses (10) ein Differentialdrucksensor (17) mit einem
Steuerventil in der Grundplatte (11) angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE4123052A DE4123052A1 (de) | 1990-09-13 | 1991-07-12 | Integriertes sensor- und stellelement fuer die brennpunktlageregelung von hochleistungslasern |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4029074 | 1990-09-13 | ||
DE4123052A DE4123052A1 (de) | 1990-09-13 | 1991-07-12 | Integriertes sensor- und stellelement fuer die brennpunktlageregelung von hochleistungslasern |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4123052A1 true DE4123052A1 (de) | 1992-03-19 |
DE4123052C2 DE4123052C2 (de) | 1993-07-22 |
Family
ID=25896836
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4123052A Granted DE4123052A1 (de) | 1990-09-13 | 1991-07-12 | Integriertes sensor- und stellelement fuer die brennpunktlageregelung von hochleistungslasern |
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---|---|
DE4123052C2 (de) | 1993-07-22 |
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