JPS60197995A - スタテイツク型ランダムアクセスメモリ - Google Patents

スタテイツク型ランダムアクセスメモリ

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Publication number
JPS60197995A
JPS60197995A JP59053803A JP5380384A JPS60197995A JP S60197995 A JPS60197995 A JP S60197995A JP 59053803 A JP59053803 A JP 59053803A JP 5380384 A JP5380384 A JP 5380384A JP S60197995 A JPS60197995 A JP S60197995A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
write
memory
circuit
data
decoder
Prior art date
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Pending
Application number
JP59053803A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuo Isobe
磯部 満郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP59053803A priority Critical patent/JPS60197995A/ja
Publication of JPS60197995A publication Critical patent/JPS60197995A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は半導体メモリ装置、特にスタティック型ランダ
ムアクセスメモリ(以下、SRAM 、!:略記する)
に係シ、その全メモリセルに一度に所定データを書き込
むための書き込み制御手段に関する。
〔発明の技術的背景〕
第1図は従来のSRAMの一部を示しておシ、1はアド
レス入力端子、2は上記アドレス入力端子1のアドレス
信号入力が導かれるアドレス入力回路、3は上記アドレ
ス入力回路2がら導かれる行アドレス信号をガコードす
る行デコーダ、4・・・は上記行デコーダ3の出力によ
シ選択駆動されるワード線、5および1・・・はビット
線対、6・・・は上記ビット線対5,1・・・とVDD
 %、源端子7との間に接続された負荷素子、8・・・
は上記ピッ1.線対5.5・・・に同一列のものが複数
個づつ接続されると共に前記ワード線4・・・に同一行
のものが複数個づつ接続されたスタティック型のメモリ
セル、9・・・は前記ビットi対5.7・・・に1個づ
つ接続されたセンスアンプ、10・・・tri 前記ビ
ット線対5.7・・・に1個づつ接続された書き込み回
路、11は書き込み信号端子12の7Iき込み信号入力
に基いて前記各νJき込み回路10・・・の習き込み動
作を制御するための(4き込み制御回路、13は前記ア
ドレス入力回路2から導かれる列アドレス信号をデコー
ドして前記ビット線対5,1・・・を選択駆動する列デ
コーダ、14は上記赴き込み回路10・・・およびピッ
) +Y’J対5.7・・・と外部との間でデータ入出
力端子15を介してデータの入出力を行なうためのデー
タ入出力回路である。
前記メモリセル8・・・はそれぞれたとえば第2図に示
すように構成されている。即ち、Nl−N4およびPI
IP!はそれぞれNチャネルおよびPチャネルのMOS
 −FET (絶縁ダート型電界効果トランジスタ)で
あり、転送r−ト用トランジスタN3.N4は各一端が
ビット線対5゜1の相異なる一方のビット線に接続され
ると共に各y−トがワード線4に共通接続されており、
駆動用トランジスタN1.N、はそれぞれのソースが接
地されていて互いのf−)・ドレイン相互が交叉接続さ
れると共にそれぞれのドレインが前記転送ダート用トラ
ンジスタN3 +N4の各他端に接続されておシ、負荷
用トランジスタp、、p、はそれぞれのソースがvDD
電源に接続されていて互いのダート・ドレイン相反が交
叉接続されると共にそれぞれのドレインが前記NK e
h用トランジスタNl 、N2の各ドレインに対応して
接続されている。なお、上記′トランジスタN1 、N
2 、Pl 、Pzにょシフリップフロッグ回路が形成
されている。
また、前記行デコーダ3における1行分のデコーダおよ
び列デコーダ13における1列1分(1組のビット線対
5.7分)のデコーダはそれぞれたとえは第3図に示す
ように構成されている。即ち、アドレス信号をナンドダ
ート31で受け、その出力をインバータ32で反転して
デコード出力線(ワード線あるいは列選択線)33に出
力するものである。
また、前記甫き込み回路10・・・はそれぞれたとえば
第4図に示すように構成されている。即ち、ピント線対
5.7の各ビット線にそれぞれNチャネルの書き込み用
トランジスタ41゜42が直列接続されたのち一括接続
され、この接続点がNチャネルの列選択用トランジスタ
43を介して接地されており、この列選択用トランジス
タ43のダートに列デコーダ出力が導かれるものであり
、前記■き込み用トランジスタ41.42の各ダートは
で1き込み制御線44゜45を介して書き込み制御回路
(第1図、11)から書き込み信号が導かれるようにな
っている。
次に、前記第1図のSRAMの動作を説明する。
読み出し動作の場合には、先ず、アドレス信号がアドレ
ス入力端子1を介してアドレス入力回路2に入力し、こ
のアドレス入力回路2から行アドレス信号が行デコーダ
3に出力すると共に列アドレス信号が列デコーダ13に
出力する。
上記行デコーダ3のデコード出力によって特定のワード
線4が選択され、これに接続された同一行のメモリセル
8・・・が選択され、これらのメモリセル8・・・のデ
ータによシビット線対5.5・・・間に電位差が生じ、
それぞれの電位差がセンスアンプ9・・・によシ増幅さ
れる。そして、前記列デコーダ13のデコード出力によ
シ選択された列のデータがデータ入出力回路14により
データ入出力端子15に導出される。この読み出し動作
時には、書き込み信号端子12は読み出しモードのレベ
ルに外っておシ、書き込み制御回路11は書き込み回路
10・・・を非動作状態に制御している。
これに対して、書き込み動作の場合には、特定のワード
線4が選択ちれるまでの動作は読み出し動作におけると
同じであるが、書き込み信号端子12は書、き込みモー
ドのレベルになっており、書き込み制御回路11により
衰き込み回路10・・・が書き込みpith作可能とな
るように制御される。そして、列デコーダ13のデコー
ド出力によシ選択された列に接続されている選択メモリ
セル8にデータ入出力端子15のデータがデータ入出力
回路14、選択ビット線対5.7を介して書き込まれる
〔背景技術の間碗点〕
ところで、上述した従来のSRAMは、任意の1個の指
定アドレスに対する読み出し・書き込み動作は可能であ
るが、全メモリセルの内容をある決まったデータでvl
:き込みを行なう場合(たとえば全て“0mデータとす
るメモリクリア動作の場合)には、指定アドレスを順次
変えて全メモリセルを順次選択してそれぞれ書き込みを
行なう必要がある。たとえば、64にビットのメモリで
は2”=65536回のアドレス六方、データ書き込み
動作が必要である。したがって、この動作期間中はメモ
リを通常通り使用することができないので、メモリを使
用したシステム(タトエばマイクロコンピュータを用い
た画像データ処理システム)の効率が制限されるなどの
問題があった。
〔発明の目的〕
本発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、一度に全
メモリセルに所定のデータを書き込むことが可能なスタ
ティック型ランダムアクセスメモリを提供するものであ
る。
〔発明の概要〕
即ち、本発明のSRAMは、メモリクリア端子を有し、
このメモリクリア端子へのメモ11クリア信号入力を行
デコーダ、列デコーダおよび書き込み制御回路に導き、
メモリクリア信号入力により行デコーダおよび列デコー
ダを制御して全てのワード線およびビット線を選択する
と共に書き込み制御回路によシ書き込み回路を書き込み
制御し、所定の書き込みデータを全てのメモリセルに一
度に書き込むようにしてなることを特徴とするものであ
る。
〔発明の実施例〕
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
、第5図に示すSRAMは、第1図を参照して前述した
従来のSRAMに比べて、メモリクリア端子5ノを有し
、このメモリクリア端子5ノのメモリクリア信号入力に
より行デコーダ52、列デコーダ53、書き込み制御回
路54およびデータ入出力回路55を制御し、全てのワ
ード線4・・・および全てのビット侍対5.5・・・を
選択状態として所定のデータを全メモリセル8・・・に
一度に薯゛き込むようにした点が異なシ、それ他は従来
例と同じであるので第1図中と同一部分には同一符号を
付してその説明を省略する。
前日C行デコーダ52における1行分のデコーダおよび
Mit記列デコーダ53における1列分のデコーダはそ
れぞれたとえば第61’d(a)に示すように構成され
ている。即ち、61は正論理のナンドダート、62は上
記ナントゲート61の出力端と接地端との間に接続され
ると共にr−)にメモリクリア信号が導かれるNチャネ
ルMO8型のクリア用トランジスタ、63は上記クリア
用トランジスタ62とナンドダート61との接続点に入
力端が接続されたインバータである。
上記ナントゲート6ノは、vDD電源端子と接地端との
間に負荷素子64および複数個のNチャネルのアドレス
入力用トランジスタ651〜65nが直列接続されてな
り、このトランジスタ651〜65nの各f−)にアド
レス信号の各ビット信号に対応するデコード入力が導か
れている。
したがって、メモリクリア端子(第5図51)が@0#
レベル(ロウレベル)の場合、即ちメモリクリア信号が
与えられていない場合には、クリア用トランジスタ62
がオフであるので、通常のデコーダと同様にデコード入
力の各ビットが全て11#レベル()・イレペル)のと
きにトランジスタ651〜65nが全てオンになってナ
ントゲート出力は@0#レベルになシ、インバータ63
の出力は″1″レベル(ワード線あるいは列選択線の選
択レベル)になる。これに対して、メモリクリア信号が
″1#レベルになると、クリア用トランジスタ62がオ
ンになるのでデコード入力の内容がどうでるろうともナ
ントゲート出力端は′0”レベルになり、インバータ6
3の出力は選択レベル“l”になる。
また、第6図(b)はデコーダの他の例を示しており、
h荷:ネ子64およびトランジスタ651〜65nから
なる正論理のノアク゛−トロ6に直列にクリア用トラン
ジスタ62を接続し、メモリクリア信号をインバータ6
7で反転して上記クリア用トランジスタ62のr−)に
導き、上記ノアゲート66の出力を2段のインバータ6
.9 、68を介してデコード出力線(ワード線あるい
は列選択線)に出力するようにしている。
このデコーダにおいては、メモリクリア信号が与えられ
ていないときにはインバータ67の出力カ″1’レベル
でクリア用トランジスタ62がオンになってノアダート
66は動作可能になる。したがって、デコード入力の各
ビットが全て0”のときにアドレス入力用トランジスタ
651〜65nは全てオフになってノアダート66の出
力端は″′1″レベルになシ、インバータ63の出力は
11O”レベル、インバータ68の出力は1”レベル(
ワード線あるいは列選択線の選択レベル)になる。これ
に対して、メモリクリア信号が“1”レベルになると、
インバータ67の出力が′0”レベルになってクリア用
トランジスタ62がオフになるので、ノアゲート66は
デコード入力の内容がどうであろうとも出力が“1”レ
ベルになシ、インバータ63の出力は′0”レベル、イ
ンバータ68の出力は選択レベル11”になる。
また、前記書き込み制御回路54はたとえば第7図に示
すように構成されている。即ち、21は2人力の正論理
のノアヶ9−トであって前記書き込み46号端子(第5
図12)およびメモリクリア端子(第5図51)から2
人力が導かれる。72および73はそれぞれ2人力の正
論理のノアデートであって、それぞれの出力は書き込み
制御信号として書き込み制御線44゜45を経て膚き込
み回路の書き込み用トランジスタ(第4図41.42)
のダートに導かれている。そして、上記ノアf−ドア2
.73の各一方の入力として前記ノアr−) 71の出
力が導かれ、各他方の入力としてデータ入出力回路(第
5図55)から互いに異なる論理レベルの書き込みデー
タが導かれる。
したがって、メモリクリア信号が与えられていない場合
に書き込み信号が0”レベル(読み出しモードレベル)
になると、ノアゲート7ノの出力が″′I′ルベルにな
シ、ノアゲート72.73の各出力が@0”レベルにな
シ、省き込み用トランジスタ41.42はオフになる。
また、メモリクリア信号が与えられていない場合に1き
込み信号が“1#レベル(男き込みモードレベル)にな
ると、ノアf −ドア Jの出力が″′0″レベルにな
り、朋き込みデータに応じてノアゲート72.73のい
ずれか一方の出力が11″レベル、他方の出力が0”レ
ベルになシ、書き込み用トランジスタ41.42のいず
れか一方がオン、他方がオフになって省き込み動作が性
力われる。これに対して、メモリクリア信号が11”、
レベルになると、ノアf−)71の出力が“0”レベル
になるので、上記書き込み動作と同様に書き込みデータ
に応じた書き込みが行なわれる。
なお、データ入出力回路(第5図55)はメモリクリア
信号が@1”レベルになったときに所望の書き込みデー
タ入力を発生するように構成されているが、これに代え
てメモリクリア信号が”1ルベルになるときにデータ入
出力端子15に所望のデータ入力を与えるように構成し
てもよい。
次に、第5図のSRAMの動作を説明する。即ち、この
SRAMのメモリクリア端子51にメモリクリア信号が
与えられていない場合には、前記したように行デコーダ
52、列デコーダ53、書き込み制御回路54およびデ
ータ入出力回路55は通常のデコード動作、書き込み制
御動作、データ入出力動作を行なうので、上記SRAM
は従来例と同様に指定アドレスに対する通常の読み出し
・書き込み動作が可能である。これに対して、メモリク
リア端子51にメモリクリア信号が与えられた場合には
、行デコーダ52によシ全てのワード線4・・・が選択
され、列デコーダ53によシ全ての列が選択されるので
、全てのメモリセル8・・・が選択されん状態になる。
そして、■き込み制御回路54はメモリクリア信号入力
により書き込み制御 !V+IJ作を行なうのでデータ
入出力回路55からの所定の書き込みデータが書き込み
回路10・・・によシ全てのピッ1[対5.7・・・を
介して全てのメモリセル8・・・に一度に男き込まれる
〔発明の効果〕
上述したように本発明のSRAMによれは、メモ949
716号を与えることによって一度に全メモリセルに所
定のデータを書き込むことができるので、従来例のよう
に指定アドレスを順次変えて全メモリセルを順次選択し
て所定のデータを書き込む動作が不要となシ、メモリの
使用効率を著しく向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のSRAMを示す構成説明図、第2図は第
1図におけるメモリセルの1個分を取り出して一具体例
を示す回路図、第3図は第1図の行デコーダおよび列デ
コーダにおける1個分のデコーダを取り出して示す論理
回路図、第4図は第1図における書き込み回路の1個分
を取シ出して一具体例を示す回路図、第5図は本発明に
係るSRAMの一実施例を示す構成説明図、第6図(、
) 、 (b)はそれぞれ第5図の行デコーダおよび列
デコーダにおける1個分のデコーダを取り出して相異な
る具体例を示す回路図、第7図は第5図の書き込み制御
回路を取り出して一具体例を示す回路図である。 2・・・アドレス入力回路、4・・・ワード線、5゜7
・・・ビット想対、8・・・メモリセル、9・・・セン
スアンプ、10・・・書き込み回路、51・・・メモリ
クリア端子、52・・・行デコーダ、53・・・列デコ
ーダ、54・・・千1き込み制御回路、55・・・デー
タ入出力回路。 出ル11人代哩人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 第31!l J4図 第5図 第6図(a) 第6図(b) 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. データ記憶用の複数のスタティック型のメモリセルと、
    これらのメモリセルとの間でデータの授受を行なうビッ
    ト線と、このビット線上に現われた前記メモリセルのデ
    ータを増幅するセンスアンプと、前記ビット線を介して
    前記メモリセルへデータを書き込む書き込み回路と、こ
    の書き込み回路の書き込み動作を制御する誉き込み制御
    回路と、前記メモリセルを選択するワード線と、このワ
    ード線を選択する行デコーダと、前記ビット線を選択す
    る列デコーダと、これらの行デコーダおよび列デコーダ
    にアドレス信号を与えるアドレス入力回路とを具備した
    スタティック型ランダムアクセスメモリにおいて、メモ
    リクリア幼子を有し、このメモリクリア端子へのメモリ
    クリア信号入力を前記行デコーダ、列デコーダおよび書
    き込み制御回路に導き、メモリクリア信号入力によシ行
    デコーダおよび列テコーダを制御して全てのワード線お
    よびビット線を選択すると共に書き込み制御回路により
    書き込み回路を書き込み制御し、所定の書き込みデータ
    を全てのメモリセルに一度に書き込むよう忙してなるこ
    とを特徴とするスタティック型ランダムアクセスメモリ
JP59053803A 1984-03-21 1984-03-21 スタテイツク型ランダムアクセスメモリ Pending JPS60197995A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63177392A (ja) * 1987-01-19 1988-07-21 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPS63183681A (ja) * 1987-01-26 1988-07-29 Nec Corp 記憶装置
JP2013114733A (ja) * 2011-12-01 2013-06-10 Fujitsu Semiconductor Ltd 半導体集積回路,および,半導体集積回路の試験方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57176587A (en) * 1981-04-24 1982-10-29 Hitachi Ltd Semiconductor ram device

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