JPS6019665B2 - 半導体装置用フレ−ムの製造方法 - Google Patents

半導体装置用フレ−ムの製造方法

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JPS6019665B2
JPS6019665B2 JP13407879A JP13407879A JPS6019665B2 JP S6019665 B2 JPS6019665 B2 JP S6019665B2 JP 13407879 A JP13407879 A JP 13407879A JP 13407879 A JP13407879 A JP 13407879A JP S6019665 B2 JPS6019665 B2 JP S6019665B2
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JP
Japan
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frame
plating
mask
stripping
semiconductor devices
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JP13407879A
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JPS5658252A (en
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浩 下田
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4821Flat leads, e.g. lead frames with or without insulating supports

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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は半導体フレームスポットメッキにおいてマス
クメッキしたものをスポットメッキ後剥離するのに剥離
液に圧力をかけノズルよりマスクメッキの付いたフレー
ムへ吹き付け高速剥離を行う半導体フレームの製造方法
に関するものである。
この種のスポットメッキでは従来剥離液に浸潰し剥離す
る方法が用いられているが、剥離速度が遅い又自動化が
困難等の欠点があった。
そのためこの発明はその欠点を解決すべく開発したもの
である。すなわち、従来のこの種のマスクメッキ剥離法
状態を第1図に示してある。
第1図において、1はフレーム、2はマスクメッキ、3
はスポットメッキ、4は剥離層、5は剥離液である。フ
レーム1にマスクメッキ2およびスポットメッキ3をし
たものを剥離液5へ2〜3分間浸潰しマスクメッキ2の
剥離を行う訳である。この方法で剥離を行う場合フレー
ム1を剥離用捨臭へヒツカケる等し作業を行うため治具
付時間も長くかかっていた。この発明は従来におけるこ
のような欠点を解消するため剥離液に圧力をかけノズル
より吹き付剥離スピードを上げ又治具掛けについてはロ
ーラにて送る方式とした。以下この発明による半導体フ
レームマスクメッキ剥離法の一実施例につき第2図およ
び第3図を参照して詳細に説明する。第2図において、
1はフレーム、2はマスクメッキ、3はスポットメッキ
、4は剥離液槽、5は剥離液、6はフレーム送りローラ
、7は剥離液吹き付け用ノズル、8はポンプである。フ
レーム1へマスクメッキ2およびスポットメッキ3をし
たものをフレーム送りローラ6の上へのせ第2図の矢印
し方向へフレーム1をローラで送りながら剥離液5をポ
ンプ8で圧力をかけてノズル7より上、下から剥離液を
吹き付けることにより第3図に示すよようにフレーム1
とスポットメッキ3のみになるようフレーム表面のマス
クメッキ2を剥離する。なお、剥離液の圧力は、0.5
〜5kg/の程度でよい。以上詳述したように、この発
明による方法を導入した場合は剥離時間も20〜3頂砂
間と短縮出来又フレームも送りローラへのせるだけのた
め俗臭を必要とせず水洗、剥離、乾燥の工程を自動化出
来こちらも時間短縮となった。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のマスクメッキ剥離方法を示す図、第2図
はこの発明に係るマスクメッキ剥離方法を示す図、第3
図はマスクメッキ剥離を完了したフレームを示す図であ
る。 1・・・・・・半導体装置用フレーム、2・・・・・・
マスクメッキ、3・・・・・・スポットメッキ、4・・
・・・・剥離液を入れる糟、5・・・・・・剥離液、6
・・…・フレーム送りローラ、7…・・・剥離液吹付け
ノズル、8・・・・・・剥離液へ圧力をかけるポンプ。 図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。第1図 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 半導体装置用フレームのスポツトメツキ製造方法に
    おいて、フレームにマスクメツキをした後、このマスク
    メツキを剥離する場合にノズルを用い、剥離液に圧力を
    かけ吹き付けることによりマスクメツキを剥離すること
    を特徴とする半導体装置用フレームの製造方法。
JP13407879A 1979-10-16 1979-10-16 半導体装置用フレ−ムの製造方法 Expired JPS6019665B2 (ja)

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JPS5658252A JPS5658252A (en) 1981-05-21
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JPS5658252A (en) 1981-05-21

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