JPS601889A - 回路基板製造方法 - Google Patents

回路基板製造方法

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Publication number
JPS601889A
JPS601889A JP10854183A JP10854183A JPS601889A JP S601889 A JPS601889 A JP S601889A JP 10854183 A JP10854183 A JP 10854183A JP 10854183 A JP10854183 A JP 10854183A JP S601889 A JPS601889 A JP S601889A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
conductor
final
circuit board
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10854183A
Other languages
English (en)
Inventor
英夫 黒川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Alps Electric Co Ltd filed Critical Alps Electric Co Ltd
Priority to JP10854183A priority Critical patent/JPS601889A/ja
Publication of JPS601889A publication Critical patent/JPS601889A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は回路基板製造方法に関し、詳召すれば極微細な
導体間隔を形成し得る回路基板製造方法に関するもので
k)る。
従来の回路基板製造方法は、回路基板の導体間隔は電気
的な必要性よりもむしろ基板の製造工程の限界により決
められ、したがって製造上許容されるならば更に狭い導
体間隔の回路基板が望まれている。
このような状況下において従来の回路基板製造方法を第
1図(a)〜(d)とともに説明′1−る。絶縁基板1
上に厚膜メツキレシスト3を塗イDし、次いで導体パタ
ーン2を形成して、最後にノ♀Bf、!メツキレシスト
3全剥離除去して1.cる。このよ5なフルアディティ
ブ法によると、導体間iτhは)す膜メツキレシストの
幅により?t!1.lOミクロンまでが限界である。
また従来、第2図(a)〜(d)に示すような方法も採
用されている。この方法は基板1上に導体2が形成さ」
11、該導体表面にレジストパターン4が塗布されて、
次いで第2図(cl) Vc示すように不要な導体姉分
がエツチング除去され、最後に第2図(eJに示す如く
レジストパターン4が剥離除去される。このようなエツ
チドフォイル法ではレジストパターンの限界の他に、さ
らにエツチング時にサイドエツチングが発生するので、
膜厚以下の溝加工葡高精度で行なうのはほとんど不可能
である。
本発明は上述の従来方法における欠点を除去すべくなさ
れプこもので、その目的とするところは。
例えば数ミクロンの導体間隔で且つ数十ミクロン−数百
ミクロンの導体厚荀有する回路基板を%妹でかつ高価な
装置を用いずに確実に作成することができる回路基板製
造方法を提供することにある。
次に本発明の実施例に係る製造工程を第3図(a)〜(
g)に従い詳細に説明する。
本発明に適用可能な絶縁基板1はその材質については特
に限定されるものではなく、例えは紙フェノール基板、
紙エポキシ基板、ガラスエポキシ基板、セラミック基板
及び鉄芯等の金属芯入り基板、あるいはポリエステルフ
ィルムやポリイミドフィルムのごとき柔軟な拐料でも楢
わない。
絶縁基板1上には第3図(a)に示すように、最終間隔
E [第3図(E)参照〕よりはるかに広い間隔B、及
び金属パターン幅Cを冶する金属パターン5.6を交互
に形成する。その金属パターン5.6は通常の金属ペー
ストスクリーン印刷法、蒸着法、無電解メッキ法あるい
はエツチング法等により形成することができる。金属パ
ターン5,6の材質については特に限定されるものでは
なく、銅、銀、金、アルミニウム、ニッケル、クロム等
を必要に応じて用いる事ができる。又単一成分である必
要もなく合金を用いる事ができるのは云うまでもない。
金属パターン5.6の形成後、第3図(C1に示すとと
(、金属パターン5.6の一本毎である金属パターン5
に厚膜メツキレシスト7を最終作成導体パターン幅りま
で形成する。この厚膜メソキレシスト7は電解メッキを
した際に金J4 カ析出して来てパターンからはみ出1
−のを防ぐ為、当然なからメッキ膜厚より厚くする必要
がある。更にこのtV−膜メツキレジスト7の形成は、
最終導体パターン精度に皇太な影4Iを与えるので精度
良く行なう必要があり、写真法が適している。写真法を
用いるレジストとしては、無光部分が不溶解化するネガ
ティブタイプが以後の取扱いが容易で好適である。
次に露出されている一方の金11モバクーン6t*を極
として電解メッキを行ない、厚膜メンキレジスト7と隣
接″1−るまで第1導体パターン8會形成する〔第3図
(d)参照〕。第1導体パターン8の材質は特に限定さ
れる必要はなく、mJ記金金属パターン6同−材質であ
っても異種材質であってもかまわず、銅、銀、金、クロ
ム、ニッケル等を必要に応じて用いる事ができる。又単
一成分である必要もなく必要に応じて合金を用いてもか
まわない。
第1導体パターン8ヶ所定の厚み形成した後、第3図(
e)に示すように厚II都メツキレシスト7ケ常法によ
り除去する。この厚11%メツキレシスト7の除去は、
それに応じた適宜な溶剤音用いる事により容易に行なう
事ができる。
ついで前記Hi導体パターン8σ)4に通電し、陽極酸
化法により第3v(f)に示す如く導体パターン8表面
にのみ絶縁皮膜9を形成する。絶縁皮膜9として緻密で
強固な膜が形成され且つ電解メッキが容易であるニッケ
ル、クロムは前記導体パターン金属材質として適してい
る。第1導体パターン8表面を絶縁皮膜9で完全に懐っ
たのち、金属が露出されている一方の金属パターン5に
のみ通電し、第2導体パターン10を前記絶縁度)1愼
9に隣接するまで電解メッキにより形成1−る〔第3図
(g)〕。
これによりパターン幅りを・角する最終作成パターンが
形成され、その導体間隔Eは金A5ζパターン5゜6間
の間隔Bよりはるかに小さいものとなる。
上記実施例では説明の便宜上基板の片面にのみ回路パタ
ーンを備えた回路基板に関連して説明したが、両面基板
およびスルーホール基板の作成においても有効である。
さらに本発明による方法は同一基板上に非常に接近した
2組の回路重合作成することができるので、各種トラン
スの製造方法としても適する。
以上のごとく、本発明によれば、斜上の各1程を実施す
ることにより、極微細な酸化皮膜の厚さだけの幅の導体
間隔を有する回路基板を高仙1でかつ特殊な装置を使用
することなく41色実例製造できるという効果ケ奏1゛
る回路基板製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜((1)および第2図(a)〜(elは
従来の回路基板製造方法を説明する断面図、第3図(a
)〜(g)は本発明の実施例による回路基板製造方法を
示す断面図である。 1・・・・・・絶縁水根、5,6・・・・・・金属パタ
ーン、7・・・・・・厚膜メツキレシスト、8・・・・
・・第1導体パターン、9・・・・・・絶Pd皮膜、I
O・・・・・・第2導体パターン、A・・・・・・最終
作成パターンピッチ、B・・・・・・全組パターン間隔
、C・・・・・・金篇パターン幅、D・・・・・J早)
換メツキレシスト幅、E・・・・・・最終作成纒体パタ
ーン間隔。 第1 図 (a)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 絶縁基板表面に、最終作成パターンの導体間隔よりはる
    かに広くかつ前記最終パターンと1+11−ピッチであ
    る金属パターンを隔本毎に通電可能となるように形成し
    、該金属パターンを隔本毎に前記最終作成パターン幅ま
    で厚膜メツキレシストにより偉い、露出されている隔本
    毎の前記金夙パターンに前記j蓼脱メツキレシストと隣
    接するまで電解メッキして導体パターン會形成して、次
    いで前記厚膜メツキレシストを剥離除去し曲目(シ専体
    パターンにのみ通電して陽極酸化により表面に絶縁皮膜
    を形成せしめ、その後霧出された前記金属パターンに前
    記絶縁皮1%により覆われた撓ず体パターンに接するま
    で′電解メッキして極微卸1な導体間隔を有する最終作
    成導体パターンとしてなること’r: b 徴とJる回
    路)、す板!E!造方法。
JP10854183A 1983-06-18 1983-06-18 回路基板製造方法 Pending JPS601889A (ja)

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JPS601889A true JPS601889A (ja) 1985-01-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008166390A (ja) * 2006-12-27 2008-07-17 Tdk Corp 導体パターンの形成方法および電子部品

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008166390A (ja) * 2006-12-27 2008-07-17 Tdk Corp 導体パターンの形成方法および電子部品

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