JPS60187859A - 導電供試体の試験及び／もしくは測定方法及び装置 - Google Patents
導電供試体の試験及び／もしくは測定方法及び装置Info
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- JPS60187859A JPS60187859A JP60022727A JP2272785A JPS60187859A JP S60187859 A JPS60187859 A JP S60187859A JP 60022727 A JP60022727 A JP 60022727A JP 2272785 A JP2272785 A JP 2272785A JP S60187859 A JPS60187859 A JP S60187859A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔座業上の利用分野〕
本発明は主として渦電流試験の分野に関する。
例えば渦電流技術を使用した欠陥検出に関する問題点は
変換器と供試体間の距離依存性（いわゆるり７トオ７
（ＬＯ）依存性）であり、それによってしばしば測定が
著しく妨げられ例えば表面亀裂から生じる真の欠陥信号
が表に表われなくなる。
変換器と供試体間の距離依存性（いわゆるり７トオ７
（ＬＯ）依存性）であり、それによってしばしば測定が
著しく妨げられ例えば表面亀裂から生じる真の欠陥信号
が表に表われなくなる。
ＬＯ依存性を抑制する一方法が追〃口の特許を含むスエ
ーデン特許第７５０７８５７−６号に開示されている。
ーデン特許第７５０７８５７−６号に開示されている。
同様な方法がヒューゴ エル リビイの“電磁非破壊試
験法概論“に記載されている。
験法概論“に記載されている。
リビイの方法を修正した方法が米国特許第４，５０５．
８８５号に開示されている。
８８５号に開示されている。
前記方法は全て少くとも２つの搬送周波数を使用して各
局波数からの受信情報を結合し望ましくない信号すなわ
ち変数を抑制することを基礎としている。
局波数からの受信情報を結合し望ましくない信号すなわ
ち変数を抑制することを基礎としている。
前記発明及び他の発明の制約要因はそれが非常に限定さ
れたｒ＝ｏ′ｐＪｔ域内でしか高精度で作動しないとい
う事実である。
れたｒ＝ｏ′ｐＪｔ域内でしか高精度で作動しないとい
う事実である。
本発明は前記問題及び関連する他の問題に解法な与える
ことを目的とする。本発明はまた前記発明を補足改善す
る最適方法と考えることもできる。
ことを目的とする。本発明はまた前記発明を補足改善す
る最適方法と考えることもできる。
本発明は例えば次のように説明することができる。導゛
亀供試体を供試体内もしくは上の変化、例えば亀裂に関
して試験及び／もしくは測定することを主意とする本装
置は少くとも１個の変換器１を具備し、それには信号例
えば具なる周波数成分の電流が供給されその結果対応す
る周波数成分の′に流例えば渦電流が供試体内及び上に
誘起される（例えば■ヨ及びＩＬ ） 、こ５して変換
器の電気的インピーダンスは変換器と供試体間の銹導結
合を弁して供試体の影ｔ４を受ける、その結果直接もし
くは間接的に変換器から生じる完全もしくは部分的に異
なる周波数源の少くとも２個の信号や複合信号を信号処
理することができ、例えは重み付けや結合を行って供試
体が変換器やその近辺で変化を示さない場合には供試体
に対する変換器の距離の関数としての結果が限定動作範
囲内で一層であり、供試体内及び上に変化がある場合の
対応する結果とは兵なるようにすることができる。
亀供試体を供試体内もしくは上の変化、例えば亀裂に関
して試験及び／もしくは測定することを主意とする本装
置は少くとも１個の変換器１を具備し、それには信号例
えば具なる周波数成分の電流が供給されその結果対応す
る周波数成分の′に流例えば渦電流が供試体内及び上に
誘起される（例えば■ヨ及びＩＬ ） 、こ５して変換
器の電気的インピーダンスは変換器と供試体間の銹導結
合を弁して供試体の影ｔ４を受ける、その結果直接もし
くは間接的に変換器から生じる完全もしくは部分的に異
なる周波数源の少くとも２個の信号や複合信号を信号処
理することができ、例えは重み付けや結合を行って供試
体が変換器やその近辺で変化を示さない場合には供試体
に対する変換器の距離の関数としての結果が限定動作範
囲内で一層であり、供試体内及び上に変化がある場合の
対応する結果とは兵なるようにすることができる。
こうして本説明は前記特許から逸脱するもので＆裏ない
。
。
本発明の新しい特徴を説明′ｆる次の段階として、第１
図に関して前の場合とは焼分異なるＬＯ依存性の定義を
導入するのが適切である。従来変換器と供試体表面間の
距離が一幾分間単化された−より広い周波＆！ｉ範囲に
わたって作動させる必要性が年と共に尚まりつつあるた
め、次のようなより正確なＬＯ短距離定在が正当化され
る。本発明において新しい定義は基本的に非常に重要で
ある。
図に関して前の場合とは焼分異なるＬＯ依存性の定義を
導入するのが適切である。従来変換器と供試体表面間の
距離が一幾分間単化された−より広い周波＆！ｉ範囲に
わたって作動させる必要性が年と共に尚まりつつあるた
め、次のようなより正確なＬＯ短距離定在が正当化され
る。本発明において新しい定義は基本的に非常に重要で
ある。
木切ａ：１１Ｆは装置及び方法について記載しており、
ここでＴ表置１と呼ぶものは１方法“にも当てはまる。
ここでＴ表置１と呼ぶものは１方法“にも当てはまる。
第１図に供試体２０表面上の変換器１を示す。
例えはここで変換器には尚周波数（Ｉ（）及び低周波数
（Ｌ）からなる周波数成分の電流が供給される変換器誘
起／発生端末により、対応する周波数成分の部分電流（
Δ工 及びΔＩＬ）が供試体に誘起される。これらの′
電流の大きさを第１図の右側に示し、図から明らかなよ
５に゛電流強度は供試体表面から深（なるほど減少″′
ｆる（ＤＪ）。各周波数に対する全℃の部分電流をそれ
ぞれ合計した仮想和電流（Σ工 及びΣ工Ｈ）は異なる
誠さに延在する。第１図に各局波数のオロ成流の深さの
差をΔＤＪで示す。
（Ｌ）からなる周波数成分の電流が供給される変換器誘
起／発生端末により、対応する周波数成分の部分電流（
Δ工 及びΔＩＬ）が供試体に誘起される。これらの′
電流の大きさを第１図の右側に示し、図から明らかなよ
５に゛電流強度は供試体表面から深（なるほど減少″′
ｆる（ＤＪ）。各周波数に対する全℃の部分電流をそれ
ぞれ合計した仮想和電流（Σ工 及びΣ工Ｈ）は異なる
誠さに延在する。第１図に各局波数のオロ成流の深さの
差をΔＤＪで示す。
欠にこれらのオロ電流を工部分′電流の和に対応するよ
うに全部分電流の総効果に対応するように変換器に影響
を及ぼ丁。この影響も各相電流と変換器間距離の関数で
あるため、ＬＯ短距離新定義が導入される。本発明にお
いてＬＯ短距離変換器と各周波数の和電流間距離として
定義される。変換器が高伝鐵を有する場合には、例えば
部分電流の場合と同様に第１図で行ったＬ○短距離基準
とｆる変換器の仮想”重心“を導入することができる。
うに全部分電流の総効果に対応するように変換器に影響
を及ぼ丁。この影響も各相電流と変換器間距離の関数で
あるため、ＬＯ短距離新定義が導入される。本発明にお
いてＬＯ短距離変換器と各周波数の和電流間距離として
定義される。変換器が高伝鐵を有する場合には、例えば
部分電流の場合と同様に第１図で行ったＬ○短距離基準
とｆる変換器の仮想”重心“を導入することができる。
これは異なる周波数、例えば第１図のそれぞれＬＯＨ及
びＬＯＬ５但しＬＯＬ 、＞ ＬＯＨｌに対してＬＯ短
距離異なることを意森する。
びＬＯＬ５但しＬＯＬ 、＞ ＬＯＨｌに対してＬＯ短
距離異なることを意森する。
変換器と各相を流量の結合は複雑な算術計算により説明
することができる、これには深入りせず替りに本発明の
詳細な説明できるようにするために、非常に間車ではあ
るが正確で重要な基本的効果を示す仮定から開始する。
することができる、これには深入りせず替りに本発明の
詳細な説明できるようにするために、非常に間車ではあ
るが正確で重要な基本的効果を示す仮定から開始する。
そのため変換器と各相電流間の関係はＬＯ短距離間車な
反転関数であるものとする。ＬＯＬ＞ＬＯＨであるため
、変換器と供試体間の関係は異なる周波数に対し′Ｃは
異なる。
反転関数であるものとする。ＬＯＬ＞ＬＯＨであるため
、変換器と供試体間の関係は異なる周波数に対し′Ｃは
異なる。
この結合度の差がＬＯ短距離変化する場合に異なる周波
数起源の信号が異なる（不一致）関数に従い、測定積度
の低下等を米して制約を生じる基本的理由である。これ
を第２図に示す。
数起源の信号が異なる（不一致）関数に従い、測定積度
の低下等を米して制約を生じる基本的理由である。これ
を第２図に示す。
特にＬＯＨとΔＤＪ間の関係が小さい場合、すなわち変
換器が供試体近辺に配置されている場合には貫通深さが
糸なる効果が一層顕著となる。
換器が供試体近辺に配置されている場合には貫通深さが
糸なる効果が一層顕著となる。
第２図にお＾てＨｌ及びＬｌはＬＯ短距離関数として変
換器から生じる異なる周波数源の信号を表わす。第１図
から変換器１を実線立置から破線位置へ変位すると、Ｌ
Ｏ短距離画周波数に対してΔＬＯだけ変化し、もちろん
それは（例えば平衡処理等による）任意の交差点を除い
てＨｌ及びＬｌ関数を互いに分離させるのに寄与する。
換器から生じる異なる周波数源の信号を表わす。第１図
から変換器１を実線立置から破線位置へ変位すると、Ｌ
Ｏ短距離画周波数に対してΔＬＯだけ変化し、もちろん
それは（例えば平衡処理等による）任意の交差点を除い
てＨｌ及びＬｌ関数を互いに分離させるのに寄与する。
例えは（低周波数）増幅率を変化させてＬｌをＬ２へ変
換／変位させることにより、ＨｌとＬ２との差（ε）は
限定動作範囲（ＡＯ）内で小さくすることができる。す
なわちＡＯ領域内で比較的効率的にＬＯ依存性を抑制す
ることかできる。これは多周波技術に基ずく大部分の既
仰の装置に適応される。
換／変位させることにより、ＨｌとＬ２との差（ε）は
限定動作範囲（ＡＯ）内で小さくすることができる。す
なわちＡＯ領域内で比較的効率的にＬＯ依存性を抑制す
ることかできる。これは多周波技術に基ずく大部分の既
仰の装置に適応される。
スエーデン国特許出願第８５ＣＪ２７６８−５号から互
いに比較的大きく異なる（例えばＨｌＬ＞１０）周波数
（すなわち搬送周波数）で作動させると有利であること
が明白である。その結果もちろん電流関数間の差（ε）
か増幅されて動作範囲（ＡＯ）が狭（なり、それは実際
主著しい制約となる。本発明は測定誤差（ε）を低減す
ることにより動作範囲を拡張するものである。この極小
化はＬＯ短距離絶対もしくは相対関数である信号処理（
例えばベクトル変換もしくほぞのために必要な重み付け
）によって行われる。この間車な変形はＬｌの新しい位
置り、への動的変換であ’）、Ｌｌは問題とするＬＯ短
距離従って異なる程度変換される。第２図においてこれ
はり、及びＨｌが問題とするＬＯ短距離おい℃同じ微分
係数（すなわち動作範囲内で同じ勾配）を持つ程度にＬ
ｌを変換することを意味する。
いに比較的大きく異なる（例えばＨｌＬ＞１０）周波数
（すなわち搬送周波数）で作動させると有利であること
が明白である。その結果もちろん電流関数間の差（ε）
か増幅されて動作範囲（ＡＯ）が狭（なり、それは実際
主著しい制約となる。本発明は測定誤差（ε）を低減す
ることにより動作範囲を拡張するものである。この極小
化はＬＯ短距離絶対もしくは相対関数である信号処理（
例えばベクトル変換もしくほぞのために必要な重み付け
）によって行われる。この間車な変形はＬｌの新しい位
置り、への動的変換であ’）、Ｌｌは問題とするＬＯ短
距離従って異なる程度変換される。第２図においてこれ
はり、及びＨｌが問題とするＬＯ短距離おい℃同じ微分
係数（すなわち動作範囲内で同じ勾配）を持つ程度にＬ
ｌを変換することを意味する。
実除上ＬＯ距離はしばしば連続的に変化１−るため、そ
れに順応した変換すなわちＬＯ短距離関数とし℃変化す
る父換とし、１個もしくは数個のベクトルの動的（丁な
わち連続）変換／変位としなければならない。既知の装
置は例えば変換中に一定の電位差計の設定値を使用し、
この場合静的変換とみな丁ことかできる。この静的変換
はある限定ＬＯ短距離適応される”小信号パラメータ“
に関連する。これらの既知の装置の例はリビイの記載に
あるもの及び米国特許第４．３０３，８８５号に開示さ
れたもの等である。またスエーデン国特許第７５０９８
５７−６号及びその追加特許は変換の一つの変形とみな
丁ことかできるいわゆる正規化手ｊ＠による静止変換の
例である。
れに順応した変換すなわちＬＯ短距離関数とし℃変化す
る父換とし、１個もしくは数個のベクトルの動的（丁な
わち連続）変換／変位としなければならない。既知の装
置は例えば変換中に一定の電位差計の設定値を使用し、
この場合静的変換とみな丁ことかできる。この静的変換
はある限定ＬＯ短距離適応される”小信号パラメータ“
に関連する。これらの既知の装置の例はリビイの記載に
あるもの及び米国特許第４．３０３，８８５号に開示さ
れたもの等である。またスエーデン国特許第７５０９８
５７−６号及びその追加特許は変換の一つの変形とみな
丁ことかできるいわゆる正規化手ｊ＠による静止変換の
例である。
実際上変換器から到来する信号を瞬時もしくは連続的に
平衡させるのが適切である。このような平衡／補償の例
がスエーデン国特許出願第７８１５５４４−４号に記載
されており、それは第２図の関数’（ｌ ｌ Ｌｌ及び
Ｌ２がこの種の制御関数な宵むこともできることを意味
″′ｆる。例えばＡ点は変換器の信号が互いに打消され
るあるＬＯ短距離ＢＡＬ）に関する平衡点と′ｆること
ができる。
平衡させるのが適切である。このような平衡／補償の例
がスエーデン国特許出願第７８１５５４４−４号に記載
されており、それは第２図の関数’（ｌ ｌ Ｌｌ及び
Ｌ２がこの種の制御関数な宵むこともできることを意味
″′ｆる。例えばＡ点は変換器の信号が互いに打消され
るあるＬＯ短距離ＢＡＬ）に関する平衡点と′ｆること
ができる。
ＬＯ動作範囲を拡張する結果変換器と供試体間の結合は
前の場合よりも急峻に変化″′ｆることができる０これ
はその時存在′１″るＬＯ短距離従って著しく変化する
強度で破検出変化が検出されることを意味する。これに
より艮好な信号ノイズ比（Ｓ／付）の測定を行うことが
非常に困難になる。
前の場合よりも急峻に変化″′ｆることができる０これ
はその時存在′１″るＬＯ短距離従って著しく変化する
強度で破検出変化が検出されることを意味する。これに
より艮好な信号ノイズ比（Ｓ／付）の測定を行うことが
非常に困難になる。
例えば−短いＬＯ短距離場合の一物質上の小さな発振マ
ーク（ｏｓｃｍ）により長いＬＯ短距離大きな亀裂の場
合と同じ故障信号振幅が生じ、Ｓ／Ｎ比が低下する。こ
れを軽減するために絶対もしくは相対しＯ距離により振
幅及び／もしくは基準イ直を制御することができる。こ
れは故障信号の振幅や故障信号を比較する基準値（閾値
）がＬＯ短距離関数であることを意味’１−る。本方法
のもう一つの利点はしはしば動的変換により生じる振幅
変動を比較的間車な方法で解消することができることで
ある。
ーク（ｏｓｃｍ）により長いＬＯ短距離大きな亀裂の場
合と同じ故障信号振幅が生じ、Ｓ／Ｎ比が低下する。こ
れを軽減するために絶対もしくは相対しＯ距離により振
幅及び／もしくは基準イ直を制御することができる。こ
れは故障信号の振幅や故障信号を比較する基準値（閾値
）がＬＯ短距離関数であることを意味’１−る。本方法
のもう一つの利点はしはしば動的変換により生じる振幅
変動を比較的間車な方法で解消することができることで
ある。
本発明のある応用において重要な細目はどのようにＬＱ
短距離測定すべきかということである。
短距離測定すべきかということである。
正確で間車な方法は供試体の変化検出に使用したのと同
じ変換器をＬＯ測測定使用ｊることである。
じ変換器をＬＯ測測定使用ｊることである。
１プＩｈ１−Ｔｒｈｉ！−′Ｐσ）ｍＡ、ＩｆＬ−ｒＴ
、ｎｙｌｉｌｌｌ＝２Ｉｆ（ｄ＋ｔ’ｙ亦ｍ！を使用す
るといつある場合には正当化される可能性が排除されな
い。このため渦電流測定以外の技術を使用する必要があ
る。例えば熱いビンシト上の亀裂を検出する場合、ビレ
ット表面上の温度変化が渦電流ＬＯ距離測定を妨げるこ
とがあり、従ってＬＯ測測定例えば圧縮空気、ＩＲ検出
器、限界位置等を使用した独立変換器により行うことが
できる。
、ｎｙｌｉｌｌｌ＝２Ｉｆ（ｄ＋ｔ’ｙ亦ｍ！を使用す
るといつある場合には正当化される可能性が排除されな
い。このため渦電流測定以外の技術を使用する必要があ
る。例えば熱いビンシト上の亀裂を検出する場合、ビレ
ット表面上の温度変化が渦電流ＬＯ距離測定を妨げるこ
とがあり、従ってＬＯ測測定例えば圧縮空気、ＩＲ検出
器、限界位置等を使用した独立変換器により行うことが
できる。
スエーデン国特許第７５０７８５７−６号には重み付は
及び直線化が記載されている。しかしながらこの場合そ
れは従米技術丁なわち任意変数の関数ではない静止原理
の問題である。またこれら従来技術の重み付は手順によ
り動作範囲を拡張することはできず、それは本技術によ
り可能とされる。
及び直線化が記載されている。しかしながらこの場合そ
れは従米技術丁なわち任意変数の関数ではない静止原理
の問題である。またこれら従来技術の重み付は手順によ
り動作範囲を拡張することはできず、それは本技術によ
り可能とされる。
第６図は本発明の一実施例であり、欠にそれについて説
明する。
明する。
変換器１には電流もしくは電圧発生器から周波数成分ω
ヨ及びωｌを陰む電（ｆｆ−ＩＫが供給され、それらは
磁束φ４及びφ、を発生し変換器を介して倶試体２と相
互作用する。こうして供試体付近に配置された変換器の
両端間に信号例えば変換器の電気インピーダンスに比例
した電圧が発生する。この変換器の電圧は加算点を介し
て位置３及び４の増幅器に供給される。信号が位置３で
増幅された後、ω□及びω１は濾波器、増幅器及び位相
制御整流器を含む位置５及び６の１個ずつの高低周波数
チャネルにより分離され、第２図及び第６図においてそ
の出力信号には夫々Ｈ及びＬが付されている。出力信号
Ｈ及びＬは例えば変換器の信号の高低周波数もしくは周
波数成分を連続的に平＃／補償する平衡サーボからなる
位置８及び９へ出される。もちろん問題とする応用に関
して適切であれば周波数の数は増加できる。Ｈ及びＬ信
号はまた電位差計Ｐａ及びＰＬを介して位置１１の増幅
器へ出される。これらの電位差計は重み付は電位差計と
考えられる。すなわち変換手順における定数である。本
発明の新しいアイデアの一部はこれらの１定数“がいく
つかの変数の関数として変化し従って瞬時を除けば純粋
な定数とはならないとい５事実であるということができ
る。Ｈ及びＬを異なる極性で選定すれば、供試体が変換
器及びその近辺で変化せず且つＰＨ及びＰＬの設定値が
適切に選定されＬＯ動作範囲（ＡＯ）が限定されておれ
ば、ＬＯ短距離変動″′ｆる場合Ｈ及びＬ信号は互いに
大部分平衡する。その結果位置１１力）らの出力信号は
Ｏに接近しＬＯ依存性が抑制される。推論及び特に第２
図から明らかなように、測定原理はこれまでのところい
わゆる小信号パラメータ法に基＾ている。しかしながら
ＬＯ動作範囲が太き一場合には、位置１１の出力に大き
な出力信号が生じそれは外乱とみなされる。もちろんそ
の理由は小信号処理を行う領域を越えたということであ
る。
ヨ及びωｌを陰む電（ｆｆ−ＩＫが供給され、それらは
磁束φ４及びφ、を発生し変換器を介して倶試体２と相
互作用する。こうして供試体付近に配置された変換器の
両端間に信号例えば変換器の電気インピーダンスに比例
した電圧が発生する。この変換器の電圧は加算点を介し
て位置３及び４の増幅器に供給される。信号が位置３で
増幅された後、ω□及びω１は濾波器、増幅器及び位相
制御整流器を含む位置５及び６の１個ずつの高低周波数
チャネルにより分離され、第２図及び第６図においてそ
の出力信号には夫々Ｈ及びＬが付されている。出力信号
Ｈ及びＬは例えば変換器の信号の高低周波数もしくは周
波数成分を連続的に平＃／補償する平衡サーボからなる
位置８及び９へ出される。もちろん問題とする応用に関
して適切であれば周波数の数は増加できる。Ｈ及びＬ信
号はまた電位差計Ｐａ及びＰＬを介して位置１１の増幅
器へ出される。これらの電位差計は重み付は電位差計と
考えられる。すなわち変換手順における定数である。本
発明の新しいアイデアの一部はこれらの１定数“がいく
つかの変数の関数として変化し従って瞬時を除けば純粋
な定数とはならないとい５事実であるということができ
る。Ｈ及びＬを異なる極性で選定すれば、供試体が変換
器及びその近辺で変化せず且つＰＨ及びＰＬの設定値が
適切に選定されＬＯ動作範囲（ＡＯ）が限定されておれ
ば、ＬＯ短距離変動″′ｆる場合Ｈ及びＬ信号は互いに
大部分平衡する。その結果位置１１力）らの出力信号は
Ｏに接近しＬＯ依存性が抑制される。推論及び特に第２
図から明らかなように、測定原理はこれまでのところい
わゆる小信号パラメータ法に基＾ている。しかしながら
ＬＯ動作範囲が太き一場合には、位置１１の出力に大き
な出力信号が生じそれは外乱とみなされる。もちろんそ
の理由は小信号処理を行う領域を越えたということであ
る。
こうして第６図の破線の下の部分について説明してきた
。この部分は第６図の従来の既知部分すなわち“小信号
部分１と考えることができる。
。この部分は第６図の従来の既知部分すなわち“小信号
部分１と考えることができる。
次に第６図の新しい特徴について説明し、これは小信号
処理に動的次元を与えることを含み、例えば実質的に性
能を保持しながら動作範囲を著しく拡張する。
処理に動的次元を与えることを含み、例えば実質的に性
能を保持しながら動作範囲を著しく拡張する。
位置３の他に変換器の信号は大部分従来のＨチャネルと
し℃構成された位置４．γ及び１０へも送られる。相違
点は制御回路、位置１０、をＫＬ。
し℃構成された位置４．γ及び１０へも送られる。相違
点は制御回路、位置１０、をＫＬ。
人力により起動停止できる事実である。変換器を例えば
供試体に関し℃ある位置に配置すると同時に位置１０を
起動させ次にサーボをロックさせると、位ｔｉｔｒの出
刃は後に供試体に対する変換器のＬＯ短距離関数となる
信号値をとる、すなわち変換器のＬＯベクトルはこのよ
うにして測定される。
供試体に関し℃ある位置に配置すると同時に位置１０を
起動させ次にサーボをロックさせると、位ｔｉｔｒの出
刃は後に供試体に対する変換器のＬＯ短距離関数となる
信号値をとる、すなわち変換器のＬＯベクトルはこのよ
うにして測定される。
この信号は第６図でＬＯと印されており、以下において
重要な制御信号を構成する。
重要な制御信号を構成する。
電位差計ＰＨ及びＰＬが予め粗設定されておれは、さら
に１個もしくは数個の電位差計をそこへ直列もしくは並
列接続することにより精密設定を行うのは間車である。
に１個もしくは数個の電位差計をそこへ直列もしくは並
列接続することにより精密設定を行うのは間車である。
従って第６図には商抵抗電位差ＭｆＰＬ□が接続されて
おり、それは梢密丁なわち修正電位差計と４な１−こと
ができる。簡単な変形とし℃この電位差計（ＰＬＯ）は
アダｆクユニット、位１ｆ１１９、を介して連続的に設
定することができ、その出力信号はＬＯ倍信号らなって
いる。これは絶対もしくは相対しＯ距離の関数とし℃変
換が自動的に自己調整され（適応型）、測定誤差（第２
図のε）を極小化することを意味する。
おり、それは梢密丁なわち修正電位差計と４な１−こと
ができる。簡単な変形とし℃この電位差計（ＰＬＯ）は
アダｆクユニット、位１ｆ１１９、を介して連続的に設
定することができ、その出力信号はＬＯ倍信号らなって
いる。これは絶対もしくは相対しＯ距離の関数とし℃変
換が自動的に自己調整され（適応型）、測定誤差（第２
図のε）を極小化することを意味する。
原則としてこの適応機能はＬＯ距離以外の他の変数にも
適用することができ本方法を汎用化する。
適用することができ本方法を汎用化する。
位置１９を介する他に’ＬＯの設定はｉｓ、１６及び１
γを含む位置１８を介した椙巧な方法で行５ことができ
る。この方法はＬＯ倍信号微分係数（もしくは符号のみ
）を位置１５により感知することを意味し、それはまた
ＬＯ倍信号方向すなわちＬＯ短距離増加するか減少″′
ｆるかを感知することを意味する。同時に位置１６は位
置、１１からの出力信号の微分係数すなわち測定誤差が
増大−ｒもか減少するかを感知する。位置１６からの出
力信号は位置１５により制御される間車な接触機能から
なる位置１１のデート回路を介して位置１８の積分器へ
送出される。位ｒｊ／１１８の適切な時定数が選定され
ると、Ｌ６測定の任意のドリフト寺とおおむね無関係に
ＰＬｏの設定値を自＃Ａ整することができる。これに関
してこの祠巧な設定方法はまた例えば発振マーク等を良
好に抑制するだめの供試体表面構造への適応もきむとい
う点が重要である。
γを含む位置１８を介した椙巧な方法で行５ことができ
る。この方法はＬＯ倍信号微分係数（もしくは符号のみ
）を位置１５により感知することを意味し、それはまた
ＬＯ倍信号方向すなわちＬＯ短距離増加するか減少″′
ｆるかを感知することを意味する。同時に位置１６は位
置、１１からの出力信号の微分係数すなわち測定誤差が
増大−ｒもか減少するかを感知する。位置１６からの出
力信号は位置１５により制御される間車な接触機能から
なる位置１１のデート回路を介して位置１８の積分器へ
送出される。位ｒｊ／１１８の適切な時定数が選定され
ると、Ｌ６測定の任意のドリフト寺とおおむね無関係に
ＰＬｏの設定値を自＃Ａ整することができる。これに関
してこの祠巧な設定方法はまた例えば発振マーク等を良
好に抑制するだめの供試体表面構造への適応もきむとい
う点が重要である。
適切ならば立置１９ ＆Ｉ ＰＬＯが従５関数である最
適制御関数を得るための関数変換回路を含むことができ
る。
適制御関数を得るための関数変換回路を含むことができ
る。
位置１１の・らの出力信号は測定誤差の他に供試体の任
意の変化にｌａｆる情報を含むため、積分器の時定数は
その観点から選定しなければならない。
意の変化にｌａｆる情報を含むため、積分器の時定数は
その観点から選定しなければならない。
例えば位置８及び９０制御回路が連続的に迅速に作動し
て微分回路に対応する微分効果を生じる場合には、位置
１５及び１６の微分回路は除外できる。あ７：１場合に
は位置１５及び１６を微分係数量を感知’ｆるだけでな
（符号センチとし℃使用するのが適切である。
て微分回路に対応する微分効果を生じる場合には、位置
１５及び１６の微分回路は除外できる。あ７：１場合に
は位置１５及び１６を微分係数量を感知’ｆるだけでな
（符号センチとし℃使用するのが適切である。
ＰＬｏを位置１８及び１９を介してＬＯ倍信号より制御
できるのと同様に、位相制＃整流器をこれらで制ＨＴ’
、；ｙことができる。−例として第６図に示すよ５に、
位置６への位相１４ＩＩＩ御はＬＯ倍信号より直接もし
くは間接的に制−一例えば微調整できる。これは変換手
順に詮まれる１個もしくは数個のベクトルをＬＯ短距離
の変数の関数として大きさ及び方向を変えられることを
意味する。
できるのと同様に、位相制＃整流器をこれらで制ＨＴ’
、；ｙことができる。−例として第６図に示すよ５に、
位置６への位相１４ＩＩＩ御はＬＯ倍信号より直接もし
くは間接的に制−一例えば微調整できる。これは変換手
順に詮まれる１個もしくは数個のベクトルをＬＯ短距離
の変数の関数として大きさ及び方向を変えられることを
意味する。
位＃１１から得られる信号は位置１２において増幅され
（減衰もきむ）、増幅率は第６図のポテンショメータイ
直りにより定まる。明らかにこの設定値はＬＯ倍信号よ
り直接もしくは間接的に制御される。位置１２からの信
号は次に位置１３の比較回路へ通され、それは例えば第
２人力（ＲＥＦ）に位置１４のアダフ０夕回路を弁し一
’（Ｌ Ｏ（ぎ号が供給される比較器とすることができ
る。従って位置１３からの出力信号（Ｆ）はほぼ一定の
感度で、供試体にある大きさの変化が生じる時Ｍを迩切
な限度内でＬＯ短距離無関係に示す。
（減衰もきむ）、増幅率は第６図のポテンショメータイ
直りにより定まる。明らかにこの設定値はＬＯ倍信号よ
り直接もしくは間接的に制御される。位置１２からの信
号は次に位置１３の比較回路へ通され、それは例えば第
２人力（ＲＥＦ）に位置１４のアダフ０夕回路を弁し一
’（Ｌ Ｏ（ぎ号が供給される比較器とすることができ
る。従って位置１３からの出力信号（Ｆ）はほぼ一定の
感度で、供試体にある大きさの変化が生じる時Ｍを迩切
な限度内でＬＯ短距離無関係に示す。
本発明はまた１ ｉｌもしくは数１固の変数につぃ℃変
換機能な詮めた信号処理を連続的に適応最適化する方法
を定義するものとみなすこともでき、この場合本発明は
一般的方法を説明するものとみな丁ことができめ。もち
ろん本発明はコンピュータ及び関連゛電子アダプタ表置
により何）ＦＵに実施することもでき、それも本発明の
範囲内である。添付図は原理を示すのみで縮尺は自由で
ある。本発明は特許請求の範囲内でさまざまに修正でき
る。従ってＡｉＪ記説明は本発明の実施原理の一例と考
えていただきたい。
換機能な詮めた信号処理を連続的に適応最適化する方法
を定義するものとみなすこともでき、この場合本発明は
一般的方法を説明するものとみな丁ことができめ。もち
ろん本発明はコンピュータ及び関連゛電子アダプタ表置
により何）ＦＵに実施することもでき、それも本発明の
範囲内である。添付図は原理を示すのみで縮尺は自由で
ある。本発明は特許請求の範囲内でさまざまに修正でき
る。従ってＡｉＪ記説明は本発明の実施原理の一例と考
えていただきたい。
次に本発明にとって重要ないくつかの定義について説明
する。
する。
変換器とは少（とも１個のコイルやワイヤルーツ等から
／よる磁束発生部及び罎東感矧部を意味する。原理的に
は゛電流供給されるコイルかアンペアターン数により磁
束を発生し且つコイルインピーダンスにより磁束を感知
′１−る。変換器はまた電流供給される１次コイル及び
起電力が銹起される感知２次コイルから有利に構成する
ことができる。次にこの起電力は渦゛電流伝播の外乱に
関する情報等を含んでいる。
／よる磁束発生部及び罎東感矧部を意味する。原理的に
は゛電流供給されるコイルかアンペアターン数により磁
束を発生し且つコイルインピーダンスにより磁束を感知
′１−る。変換器はまた電流供給される１次コイル及び
起電力が銹起される感知２次コイルから有利に構成する
ことができる。次にこの起電力は渦゛電流伝播の外乱に
関する情報等を含んでいる。
供試体は例えばビレット、シート、チューブ、ワイヤ、
ロンド、プロファイル等を意味する。
ロンド、プロファイル等を意味する。
５歩は例えば欠陥、亀裂、細穴、フレーク孔等を意味す
る。
る。
差は例えば第２図のＨｌとＬ２の差を意味する。
しかしながら差はまた商、丁なわち例えば第２図のＨｌ
とＬ２間の関係にも関連”ｌｌ’−る。
とＬ２間の関係にも関連”ｌｌ’−る。
一定とは通切な動作範囲でほぼ一定であることを意味す
る。
る。
周波数は通常変換器に供給される周波数や周波数成分を
意味しくある場合には被検出変化は周波数に”重畳“さ
れるため搬送波周波数を示す）周波数はまた複合周波数
からなることもある。
意味しくある場合には被検出変化は周波数に”重畳“さ
れるため搬送波周波数を示す）周波数はまた複合周波数
からなることもある。
リフトオフ（ＬＯ）は通常変換器と供試体間距離を意味
する。特にこの場合にはＬＯ短距離変換器と各周波数の
和電流間の距離である。
する。特にこの場合にはＬＯ短距離変換器と各周波数の
和電流間の距離である。
変換は例えはリビイの米国％許第４，３０５．８８５号
、スエーデン国特許第７５０７８５７−６号及びその退
７ＪＯ特許等に開示されたベクトル変換及びその変形を
意味する。変換の一例は完全もしくは部分的に異なる周
波数起源の信号を直み付は且つ結合して少くとも１個の
不安信号や変数（例えばＬＯ依存性）を抑制することで
ある。
、スエーデン国特許第７５０７８５７−６号及びその退
７ＪＯ特許等に開示されたベクトル変換及びその変形を
意味する。変換の一例は完全もしくは部分的に異なる周
波数起源の信号を直み付は且つ結合して少くとも１個の
不安信号や変数（例えばＬＯ依存性）を抑制することで
ある。
重み付けは例えば変換手順で使用される定数（例えば増
幅率を設定″ｆる電位差計の設定値を表わす）を意味す
る。これらの定数には適切であればしばしばグラスもし
くはマイナスの選定が含まれる。
幅率を設定″ｆる電位差計の設定値を表わす）を意味す
る。これらの定数には適切であればしばしばグラスもし
くはマイナスの選定が含まれる。
相対しＯ距離（工例えば基準点からの距離であり、しば
しば変換器の信号が瞬時千欝する距離であり一丁なわち
一部の測定開始点でありある場合には実際のＬＯ短距離
同じである絶対しＯ距離よりも演算が簡単である。
しば変換器の信号が瞬時千欝する距離であり一丁なわち
一部の測定開始点でありある場合には実際のＬＯ短距離
同じである絶対しＯ距離よりも演算が簡単である。
Ｈは尚周波１−なわぢ高周波／＠送周波により訪起もし
くは支配される信号を意味ｆる。
くは支配される信号を意味ｆる。
Ｌは低周波丁なわち低周波／鈑送周波により肪起もしく
は支配される信号乞意味する。
は支配される信号乞意味する。
ホットビレット、例えばいわゆるスラブ上の亀裂検出中
に、例えば産業用ロボットにより変換器はビレット表■
上を盾、速に＃勤ｆる。ビレット面内／もしくは上の発
振マークや他の不規則性により、変換器と供試体間距離
は変換器とビレット表面間の相対運動により急速且つ者
しく不規則に変動１−る。このため純静止変換及び増幅
を使用して不均性な表面を充分正確に測定″′３−るこ
とが非常に困難−恐らくは不可能となる。その基本的理
由は異なる周波数に対する和電流の変換器に対１−る結
合度が異なり、それは変換器までの距離が異なることに
起因するということである。
に、例えば産業用ロボットにより変換器はビレット表■
上を盾、速に＃勤ｆる。ビレット面内／もしくは上の発
振マークや他の不規則性により、変換器と供試体間距離
は変換器とビレット表面間の相対運動により急速且つ者
しく不規則に変動１−る。このため純静止変換及び増幅
を使用して不均性な表面を充分正確に測定″′３−るこ
とが非常に困難−恐らくは不可能となる。その基本的理
由は異なる周波数に対する和電流の変換器に対１−る結
合度が異なり、それは変換器までの距離が異なることに
起因するということである。
別の例において変換器と供試体間の各周波数の結合係数
に対する第２の微分係数が互いに異なり、従って変換設
定値の基準とするＬＯ短距離おいてのみ静止変換が理想
的となる。もちろんこの場合変換という用語は（ｆ！Ｉ
えば加算等を介した）不要信号の抑制を含む全体変換手
順に関する。変換器と供試体間の（その時存在する）距
離から始まる故障信号の増幅だけでな（変換手順をも連
続的自動的に修正することにより、大きなＬＯ短距離対
して変換を最適とすることかできる。すなわち動的手ｊ
臓となる。本発明は複雑な応用に押いて動的変換手順と
関連する不要信号の抑制と動的増幅調整の組合せからな
っているため、これは信号処理に含まれる。
に対する第２の微分係数が互いに異なり、従って変換設
定値の基準とするＬＯ短距離おいてのみ静止変換が理想
的となる。もちろんこの場合変換という用語は（ｆ！Ｉ
えば加算等を介した）不要信号の抑制を含む全体変換手
順に関する。変換器と供試体間の（その時存在する）距
離から始まる故障信号の増幅だけでな（変換手順をも連
続的自動的に修正することにより、大きなＬＯ短距離対
して変換を最適とすることかできる。すなわち動的手ｊ
臓となる。本発明は複雑な応用に押いて動的変換手順と
関連する不要信号の抑制と動的増幅調整の組合せからな
っているため、これは信号処理に含まれる。
スエーデン国特許第７５０７８５７−６号にはＬＯ依存
性を抑制″′ｆるのに２つの異なる周波数から生じる２
つの信号しか必侠としない装置が記載されている。これ
らの信号はいわゆる正規化により互いに重み付けられる
。この簡単な例では本発明に従った変換は例えば正規化
の設定が動的に調整されることを意味するに丁ぎない。
性を抑制″′ｆるのに２つの異なる周波数から生じる２
つの信号しか必侠としない装置が記載されている。これ
らの信号はいわゆる正規化により互いに重み付けられる
。この簡単な例では本発明に従った変換は例えば正規化
の設定が動的に調整されることを意味するに丁ぎない。
最後の重要な所見とじ℃本発明は供試体に及ぼ丁度換器
の影曽が間接的に測定される、すなわち変換器のインピ
ーダンス変化尋が変換器の成魚的インピーダンスから直
接的もしくは１ｂＪ接的に独立して周波数変化の形状で
測定される方法及び装置にも関連する。このような装置
の一例は変換器が自励発憑器の一部であり、変換器のイ
ンピーダンスの変化が直接発振器周波数の周Ｖ数変化に
変換されて容易に検出及び変換されるようなものである
。
の影曽が間接的に測定される、すなわち変換器のインピ
ーダンス変化尋が変換器の成魚的インピーダンスから直
接的もしくは１ｂＪ接的に独立して周波数変化の形状で
測定される方法及び装置にも関連する。このような装置
の一例は変換器が自励発憑器の一部であり、変換器のイ
ンピーダンスの変化が直接発振器周波数の周Ｖ数変化に
変換されて容易に検出及び変換されるようなものである
。
第１図は供試体２表面上の変換器１を示す図、第２図は
ｂｏ距離の関数として変換器から生じる異なる周波数源
の信号Ｈ１及びＬｌを示す図、および第６図は本発明の
実施例を示した回路図である。 符号の説明 １・・・変換器、２・・・供試体、３．４．１１．１２
・・・増幅器、５，６．１・・・高低周波数チャネル、
８゜９・・・平衡テーボ、１０・・・制御回路、１３・
・・比較器、１４．１９・・・アダプタ、１８・・・積
分器・代理人 浅 村 皓
ｂｏ距離の関数として変換器から生じる異なる周波数源
の信号Ｈ１及びＬｌを示す図、および第６図は本発明の
実施例を示した回路図である。 符号の説明 １・・・変換器、２・・・供試体、３．４．１１．１２
・・・増幅器、５，６．１・・・高低周波数チャネル、
８゜９・・・平衡テーボ、１０・・・制御回路、１３・
・・比較器、１４．１９・・・アダプタ、１８・・・積
分器・代理人 浅 村 皓
Claims (9)
- （１）導電供試体（２）を供試体内もしくは上の変化に
ついて試験及び／もしくは測定する方法において、該方
法は少（とも１個の変換器（１）を使用しそれには異な
る周波数成分の信号が供給されて供試体に例えば渦電流
等の電流が誘起され、変換器は変換器と供試体間の誘導
結合により供試体の影響を受け、且つ変換器から直接も
しくは間接的に生じ完全もしくは部分的に典なる周波数
起源の少（とも２個の信号を信号処理、例えば整流、重
み付け、結合及び〃目算して、供試体が変換器近辺で変
化を示さない場合には供試体に関する変換器の距離の関
数としての結果が一定となり、供試体が変換器近辺で変
化を示′ｆ場合には対応する結果と異なるよ５にし、信
号処理、例えば変換手順Ａ； ／ｊ＞ （Ｊ−ｎ、１
４１１Ａ σ） ＄９． ＠ｉｌｌ’−Ｐ Ｋ４１’
勧−ｋｊｆｉ ノ・ イ４ツ；７６４二体 １１ｖ’１
距離の関数とし１行われることを特徴とする導電供試体
の試験及び／もしくは測定方法。 - （２）導電供試体（２）％−供試体内もしくは上の変化
について試験及び／もしくは測定する装置において、該
装置は少くとも１個の変換器（１）を使用しそれには信
号、ガえば異なる周波数成分の電流が供給されて電流、
例えば渦′電流が供試体内に誘起され、変換器は変換器
と供試体間の誘導結合により供試体の影響を受け、直接
的もしくは間接的に変換器から発生する完全もしくは部
分的に異なる周波数起源の少（とも２個の信号が例えば
整流、重み付け、結合及び加算等の信号処理を受け、供
試体に対する変換器の距離すなわち位置の関数としての
結果は供試体が変換器近辺で変化を示さない場合には一
定であるが供試体が変換器近辺で変化を示す場合には信
号処理、例えば変換手順が例えば変換器と供試体間の距
離等の少くとも１個の変数の関数であるという事実によ
り対応する結果とは異なることを特徴とする導電供試体
の試験及び／もしくは測定装置。 - （３）前記特許請求の範囲第２項に記載の装置において
、例えば変換等の信号処理に含まれる定数の少くとも１
個が変換器と供試体間の可変距離の関数として自動的に
変化する、すなわち定数が変数として変化することを特
徴とする導電供試体の試験及び／もしくは測定装置。 - （４） 前記特許請求の範囲第２項または第６項に記載
の装置において、変換器と供試体間の距離は例えば変換
器が供試体表面に関しである位置をとる時に、ある状態
の元で始動する少くとも１個の制御回路により測定され
ることを特徴とする導゛亀供試体の試験及び／もしくは
測定装置。 - （５）前記特許請求の範囲第２項、第６項および第４項
のいずれか一つに記載の装置において、変換器と供試体
間距離は供試体の変化検出に使用するのと同じ変換器に
より測定される導電供試体の試験及び／もしくは測定装
置。 - （６） 前記特許請求の範囲第２項、第６項、第４項お
よび第５項のいずれか一つに記載の装置において、変換
器と供試体間距離は呻７立変換器、丁なわち供試体の変
化検出に使用したものとは異なる変換器により測定され
る導電供試体の試験及び／もしくは測定装置。 - （７）前記特許請求の範囲第２項、第６項、第４項、第
５項および第６項の＾ずれか一つに記載の装置において
、例えば変換等の信号処理機能の自動調整に完全もしく
は部分的に距離信号（ＬＯ）の微分係数が使用されるこ
とを特徴とする導電供試体の試験及び／もしくは測定装
置。 - （８）前記特許請求の範囲第２項、第６項、第４項、第
５項、第６項および第７項のいずれか一つに記載の装置
において、変化により生じる故障信号は変換器と供試体
間距離の関数として自動的に増幅もしくは減衰されるこ
とを特徴とする導電供試体の試験及び／もしくは測定装
置。 - （９）前記特許請求の範囲第２項、第６項、第４項、第
５項、第６項、第７項および第８項のいずれか一つに記
載の装置において、変化により生じる故障信号は特に変
換器と供試体間距離の関数である例えばレベル等の基準
情報と比軟されることな特徴とする導電供試体の試験及
び／もしくは測定装置。 （ｆＯ） 前記特許請求の範回第２項１第６項−第４項
−第５項、第６項、第７項、第８項および第９項の＾ず
れｆＪ）一つに記載の装置において、例えば変換等の信
号処理の変換器と供試体間距離に対する依存性は祖い予
設定に重畳される自動微調整からなる導電供試体の試験
及び／もしくは測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE8400698-0 | 1984-02-10 | ||
| SE8400698A SE456043B (sv) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | Sett och anordning for provning och/eller metning av elektriskt ledande provobjekt med avseende pa forendringar |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60187859A true JPS60187859A (ja) | 1985-09-25 |
Family
ID=20354671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60022727A Pending JPS60187859A (ja) | 1984-02-10 | 1985-02-07 | 導電供試体の試験及び／もしくは測定方法及び装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4661777A (ja) |
| EP (1) | EP0152066B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60187859A (ja) |
| DE (1) | DE3587478D1 (ja) |
| SE (1) | SE456043B (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE456610B (sv) * | 1985-01-08 | 1988-10-17 | Tornbloms Kvalitetskontroll Ab | Anordning for overforing av signaler och/eller media mellan en met-och/eller kontroll-anordning och minst en dertill horande rorlig, t ex roterande givare |
| EP0211905B1 (en) * | 1985-02-15 | 1990-10-03 | The Broken Hill Proprietary Company Limited | Classification of steel |
| EP0216357A3 (en) * | 1985-09-25 | 1988-08-31 | Nippon Zeon Co., Ltd. | Phosphoramidite compounds and process for production thereof |
| US4837510A (en) * | 1987-01-30 | 1989-06-06 | Tornbloms Kvalitetskontroll Ab | Device for suppression and/or separation of signals due to magnetic oxide scales in hot cast billets |
| SE467711B (sv) * | 1987-02-09 | 1992-08-31 | Bengt Hjalmar Toernblom | Anordning foer maetning/provning med virvelstroemsteknik medelst flera dynamiskt kompenserade givare |
| SE456865B (sv) * | 1987-03-17 | 1988-11-07 | Bengt Hjalmar Toernblom | Anordning foer provning och/eller maetning, innefattande minst en faskaenslig detektor |
| US4967154A (en) * | 1989-09-13 | 1990-10-30 | Optima Industries, Inc. | Dynamic tube runout measuring method and apparatus with square wave energized reluctance measuring coils |
| US5371461A (en) * | 1992-06-26 | 1994-12-06 | General Electric Company | Apparatus and method for compensating for variations in the lift-off of eddy current surface inspection array elements |
| GB0124910D0 (en) | 2001-10-17 | 2001-12-05 | Accentus Plc | Measurement of material properties |
| US7258892B2 (en) * | 2003-12-10 | 2007-08-21 | Micron Technology, Inc. | Methods and systems for controlling temperature during microfeature workpiece processing, e.g., CVD deposition |
| US20130249540A1 (en) * | 2012-03-22 | 2013-09-26 | Olympus Ndt Inc. | Eddy current array probe and method for lift-off compensation during operation without known lift references |
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| GB2041535A (en) * | 1978-12-28 | 1980-09-10 | Toernbloms Kvalitetskontroll | A measuring and/or testing device |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3197693A (en) * | 1960-10-04 | 1965-07-27 | Hugo L Libby | Nondestructive eddy current subsurface testing device providing compensation for variation in probe-to-specimen spacing and surface irregularities |
| US3358225A (en) * | 1964-03-27 | 1967-12-12 | Richard S Peugeot | Lift-off compensation for eddy current testers |
| GB1475517A (en) * | 1974-06-27 | 1977-06-01 | British Steel Corp | Detection of surface defects in elongate metallic members |
| US4191922A (en) * | 1978-03-14 | 1980-03-04 | Republic Steel Corporation | Electromagnetic flaw detection system and method incorporating improved automatic coil error signal compensation |
| US4303885A (en) * | 1979-06-18 | 1981-12-01 | Electric Power Research Institute, Inc. | Digitally controlled multifrequency eddy current test apparatus and method |
-
1984
- 1984-02-10 SE SE8400698A patent/SE456043B/sv unknown
-
1985
- 1985-02-07 EP EP85101296A patent/EP0152066B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1985-02-07 JP JP60022727A patent/JPS60187859A/ja active Pending
- 1985-02-07 DE DE8585101296T patent/DE3587478D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1985-02-08 US US06/699,594 patent/US4661777A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2041535A (en) * | 1978-12-28 | 1980-09-10 | Toernbloms Kvalitetskontroll | A measuring and/or testing device |
| JPS55113949A (en) * | 1979-02-26 | 1980-09-02 | Kubota Ltd | Flaw detector for cast iron pipe |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0152066B1 (de) | 1993-07-28 |
| US4661777A (en) | 1987-04-28 |
| EP0152066A2 (de) | 1985-08-21 |
| SE8400698L (sv) | 1985-08-11 |
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