JPS60185350A - 試料像表示装置 - Google Patents

試料像表示装置

Info

Publication number
JPS60185350A
JPS60185350A JP4035884A JP4035884A JPS60185350A JP S60185350 A JPS60185350 A JP S60185350A JP 4035884 A JP4035884 A JP 4035884A JP 4035884 A JP4035884 A JP 4035884A JP S60185350 A JPS60185350 A JP S60185350A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
display
predetermined position
sample
display screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4035884A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Yamada
理 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP4035884A priority Critical patent/JPS60185350A/ja
Publication of JPS60185350A publication Critical patent/JPS60185350A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は試料像表示装置、特に電子顕微鏡などにおいて
用いられるのに好適な試料像表示装置に関する。
〔発明の背景〕
電子顕微鏡などにおいて、試料像中の任意の着目位置は
試料像の倍率を変えても変化しないことが望捷しい。こ
のためには試料像中の任意の着目位置を、倍率を変えて
も変化することのない予め定められた位−に移動するこ
とが必要である。
しかし、通常この操作は、着目位置をIIで追いながら
予め定められた位1青に合致させるように試料像を移動
し、その合致を確a3シた上で試料像の移動を停止する
というステップを含むことから、非常に厄介である。
試料像を得るために行う照射ビームによる試料の走査速
度が、試料1屡が試料および照射ビームのうちの一方の
他方に対する移動に即応して移動し得ない程度に遅い場
合は、試料像中の着目位置を予め定められた位置に少し
ずつ移動して合致させようとしても、その移動した結果
が次の走査まで試料上で確認困難なため、着目位置を予
め定められた位置に合致させる操作は特に厄介である。
〔発明の目的〕
本発明の目的は表示lf!11面に表示されている任意
の着目位置を表示画面上の予め定められた位置に合致さ
せることが容易な試料像表示装置を提供することにある
〔発明の概要〕
本発明によれば、試料像は表示画面に表示され、そして
その表示された像中の任意の位置が指示される。指示さ
れた位置と表示画面上の予め定められた位置との間の差
を表わす信号が発生され、この信号にもとついて、指示
された位置を実質的に予め定めら!した位置に合致させ
るように表示画面上に表示された像が移動される。
〔発明の実施例〕
第1図は本発明の一実施例を示す。この実施例によれば
、試料台は直交する二方向にパルスモータを用いて電気
的に駆動可能にしてあり、表示器である陰極線管には試
料像と重畳して直交する2本のカーソル線を表示し、そ
の交点に対応する試料像の部分を視野の中心へ自動的に
移動させるようにしてbる。
パルスモータ22,23により移動可能な試料台21に
置かれた試料2oは水平、垂直走査信号発生器1,2で
つくられる走査信号を利用して照射ビームである電子ビ
ーム19でもって二次元的に走査され、その結果として
試料2oから発生する二次電子1言号は二次電子検出器
16により検出され、増幅器17を経て、陰極線管13
に輝度変調信号として与えられる。陰極線管13の表示
画面も水平、垂直走食信り発生器1.2でつくられ偏向
増幅器3を介1〜て与えられる走査信号を利用して電子
ビームでもって二次元的に走査される。
したがって、陰極線管13の表示画面には試料20の走
査領域の二次電子像が表示される。なお、倍率は水平、
垂直走査信号発生器1.2でつくられ、試料19の走査
のために利用される走査信号の振幅を変えることにより
変えられる。
一方、カーソル移動スイッチ4〜7は2組の可逆’7ウ
ンタ8,9VC接続されて、ち・)、このスイッチの操
作により、それぞれの可逆カウンタの計数値が増減され
る。可逆カウンタ8,9の出力はそれぞれDA変換器1
0.11によりアナログ電圧信号に変換され、これらの
電圧信号は比較回路12で水平、垂直走査信号と比較さ
れ、比較回路12は両者がそれぞれ一致したとき、パル
ス信号を発生する。このパルス信号は信号加算器18で
試料像信号に加nされて、陰極線管]3に輝度変調信号
として与えられ、表示画面には試料像と重畳してクロス
ヘアカーソルが表示される。
ここで、可逆カウンタ8,9の計数1直の負の最大値が
走査信号電圧の最小値、正の最大値が走査信号電圧の最
大値に対応するようにI)A変換器10.11を調整す
れば、可逆カウンタ8,9の計数値は試料像上の中心点
からクロスへアカ−ツルの交点までの、水平、垂直方向
のそれぞれの距離に対応することになる。この可逆カウ
ンタ8゜9の出力は制御装置15に与えられ、この制御
装置は指令スイッチ14が押されたとき、このときの可
逆カウンタ8,9の計数値と、試料像の倍率、それにパ
ルスモータの1パルス当すのg斜台21の移動量とから
、パルスモータを駆動するパルス数を計算し、パルスモ
ータ制御装置26はそれにもとづいてパルスモータ22
,23を駆動する。
したがって、カーソル移動スイッチ4〜6を操作してク
ロスへアカ−ツルを試料像上の任意の着なわち倍率を変
えても実質的に変化することのない表示画面上の中心位
置に合致される。例えば、可逆カウンタの最大計数値が
±1000、試料像の表示画面の大きさが100Tru
n角、現在の計数値が+400.+700、試料像の倍
率が500倍、パルスモータの1パルスあたりの試料台
の移動量が1μmであるとすれは、クロスへアカ−ツル
で指示された着目位置を表示画面」二の中心位置に合致
させるのに必要なパルスモータの駆動吋はそれぞれ40
パルス、70パルスでアル。
このように、試料像上でクロスへアカ−ツルの交点を合
せた着目位置はスイッチの操作のみで試料像視野の中央
部に自動的に移動され、その操作はきわめて簡単になる
走査形電子顕微鏡のように遅い走査速度(数秒/フレー
ム)が用いられる場合、例えば試料像信号中の雑音を減
少させるために積算形の画像メモリ等を使用(ヅで、表
示そのものは静止画像であるが、1枚の画像を形成する
ためにある程度長い時間をかけるような場合には特に効
果的でを)る。クロスヘアカルツルの操作を静止画像で
行なうことができ、かつその操作さえ行えば指令スイッ
チ14を押すだけで着目点が自動的に表示画面中心に合
致されるからである。
実施例では、試料像」二の着目位置の指定ないしは指示
のためにクロスへアカ−ツルを用いたが、他の方法、た
とえはライトペン等を使用しても全く同一の効果が得ら
れる。
イオンマイクロアナライザーにおいては、試料をイオン
ビームで二次元的に走査し、それによって試料から得ら
れる二次イオン信号や二次電子信号など全利用して試料
走査領域の像を陰極線管上の表示画面に表示することが
ある。本発明はこのようなものにも適用可能であり、ま
た試料をテレビジョンカメラで撮影して試tl像を陰極
線管の表示画面に表示するものにも適用することができ
るわ〔発明の効果〕 本発明によれば、表示画面に表示されている任意の着目
位置を表示画面上の予め定められた位置に合致させるこ
とが容易な試料像表示装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
第11図は本発明にもとづく一実施例を示す試料像表示
装置のブロック図である。 1.2・・・水平、垂直走査信号発生器、4〜6・・・
カーソル移動スイッチ、8,9・・・可逆カウンタ、1
0.11・・・I)A変換器、12・・・比較回路、1
3・・・陰極線管、14・・・指令スイッチ、15・・
・制御装置、16・・・二次電子検出器、19・・・…
;子ビーム、20・・・試料、24.25・・・パルス
モータ駆動装置、26・・・パルスモータ制御装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 】、試料の像を表示画面に表示する手段と、その表示画
    面に表示された前記像中の任意の位置を指示する手段と
    、前記表示面上の予め定めら力、た位置と前記指示され
    た位置との差を表わす信号を発生する手段と、その差を
    表わす信号にもとづいて前記指示された位置を実買的に
    前記予め定められた位置に合致させるように前記表示画
    面に表示された前記像を移動する手段とを備えている試
    料像表示装置。
JP4035884A 1984-03-05 1984-03-05 試料像表示装置 Pending JPS60185350A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4035884A JPS60185350A (ja) 1984-03-05 1984-03-05 試料像表示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4035884A JPS60185350A (ja) 1984-03-05 1984-03-05 試料像表示装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60185350A true JPS60185350A (ja) 1985-09-20

Family

ID=12578412

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4035884A Pending JPS60185350A (ja) 1984-03-05 1984-03-05 試料像表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60185350A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4091374A (en) Method for pictorially displaying output information generated by an object imaging apparatus
US4020343A (en) Scanning electron device
JPS60185350A (ja) 試料像表示装置
US4006357A (en) Apparatus for displaying image of specimen
JPH09306407A (ja) 走査電子顕微鏡
JPS5822854B2 (ja) カデンリユウシソウサケンビキヨウ
JPS63119147A (ja) 荷電粒子線の集束状態を検出する装置
JP2000354593A (ja) X線テレビジョン装置
JPS62198043A (ja) 立体観察装置
JPH0343650Y2 (ja)
JPS5914222B2 (ja) 走査電子顕微鏡等用倍率制御装置
JPH0221549A (ja) 走査電子顕微鏡
USRE28153E (en) Field emission scanning microscope display
US3920890A (en) Graphic display of raster scanning system output signals
JPH0238368Y2 (ja)
JPS6324617Y2 (ja)
JPS58169763A (ja) 定移動ズ−ム装置
JPS61181051A (ja) 電子線装置
JPH059808Y2 (ja)
JPH027506B2 (ja)
JPS6016062B2 (ja) 走査形電子顕微鏡
JPH0240849A (ja) 荷電粒子ビーム装置
JPH06302294A (ja) 走査型荷電粒子ビーム装置
JPH0254852A (ja) 複合荷電粒子ビーム装置
JPH0467551A (ja) 荷電粒子線装置