JPS60182711A - 磁性薄膜の形成方法およびその装置 - Google Patents
磁性薄膜の形成方法およびその装置Info
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- JPS60182711A JPS60182711A JP3823784A JP3823784A JPS60182711A JP S60182711 A JPS60182711 A JP S60182711A JP 3823784 A JP3823784 A JP 3823784A JP 3823784 A JP3823784 A JP 3823784A JP S60182711 A JPS60182711 A JP S60182711A
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- magnetic field
- thin film
- magnetic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
■ 発明の背景
技術分野
本発明は磁性金属材料を高速でスパッタする磁性薄膜の
形成方法およびその装置に関し、特に高密度磁気記録媒
体の製造に好適な磁性薄膜の形成方法およびその装置に
関する。
形成方法およびその装置に関し、特に高密度磁気記録媒
体の製造に好適な磁性薄膜の形成方法およびその装置に
関する。
従来技術とその問題点
近年の情報量の増加に伴ない、高密度記録への要求が高
まっている。これに対し、高融点金属や酸化物等の化合
物を始めとするほとんどすべての物質の薄膜化に利用で
きる等の利点を有するスパッタ法が注目されている。
まっている。これに対し、高融点金属や酸化物等の化合
物を始めとするほとんどすべての物質の薄膜化に利用で
きる等の利点を有するスパッタ法が注目されている。
スパッタ法の一つとして、高薄膜形成速度、低基板温度
および低ガス圧領域でのスパッタを可能にしたマグネト
ロンスパッタ法が開発されている。
および低ガス圧領域でのスパッタを可能にしたマグネト
ロンスパッタ法が開発されている。
しかし、この方法において、非磁性体をターゲットとし
て用いる場合には高速成膜が可能であるが、磁性体をタ
ーゲットに用いる場合、ターゲット表面に平行な磁界を
印加できなくなるために、高速成膜が不可能であった。
て用いる場合には高速成膜が可能であるが、磁性体をタ
ーゲットに用いる場合、ターゲット表面に平行な磁界を
印加できなくなるために、高速成膜が不可能であった。
これに対し、磁性体をターゲットに用いてかつ高速成膜
が可能な方法として対向ターゲット式スパッタ法が提案
されている(応用物理、第48巻第6号、P558〜P
559.1979年)。この対向ターゲット式スパッタ
法に用いられる装置は第1図に示す如く構成される。即
ち、真空槽10内に一対のターゲットTa 、 Tb
fスパッタ面TaS 、 TbSが空間を隔てて平行に
対面するように配置すると共に、基板20はターゲラ)
Ta 、 TbO側方に設けた基板ホルダー21によ
シタ−ゲラ) Ta 、 Tbの空間の側方に該空間に
対面するように配置する。
が可能な方法として対向ターゲット式スパッタ法が提案
されている(応用物理、第48巻第6号、P558〜P
559.1979年)。この対向ターゲット式スパッタ
法に用いられる装置は第1図に示す如く構成される。即
ち、真空槽10内に一対のターゲットTa 、 Tb
fスパッタ面TaS 、 TbSが空間を隔てて平行に
対面するように配置すると共に、基板20はターゲラ)
Ta 、 TbO側方に設けた基板ホルダー21によ
シタ−ゲラ) Ta 、 Tbの空間の側方に該空間に
対面するように配置する。
そして真空槽10の回りに設けたコイル30もしくは真
空槽10内に内蔵された永久磁石31によシスバッタ面
TaS 、 TbSに垂直な方向のプラズマ収束磁界H
を発生させるようにしである。なお、ターゲットTa
、 Tbはそれぞれ鉄製のターゲットホルダー11a
、 llbにより保持され、シールド12a 、12b
によシ保護されている。
空槽10内に内蔵された永久磁石31によシスバッタ面
TaS 、 TbSに垂直な方向のプラズマ収束磁界H
を発生させるようにしである。なお、ターゲットTa
、 Tbはそれぞれ鉄製のターゲットホルダー11a
、 llbにより保持され、シールド12a 、12b
によシ保護されている。
上記装置を用いて薄膜を形成するには、図面に省略した
排気系により排気口40から真空槽10内を排気した後
、図面に省略したガス導入系により導入口50を通して
アルゴン等のスパッタガスを導入し、直流電源からなる
スパッタ電源6oによりシールド12a 、 12bお
よび真空槽1oを陽極(接地)にし、ターゲラ) Ta
、’ Tbを陰極にしてスパッタ電圧を併結すると共
にコイル3oまたは真空槽10内に内蔵された永久磁石
31により前記磁界Hを発生させることによりスパッタ
が行なわれ、基板20上にターゲラ) Ta 、 Tb
に対応したに■成の+JJ膜が形成される。
排気系により排気口40から真空槽10内を排気した後
、図面に省略したガス導入系により導入口50を通して
アルゴン等のスパッタガスを導入し、直流電源からなる
スパッタ電源6oによりシールド12a 、 12bお
よび真空槽1oを陽極(接地)にし、ターゲラ) Ta
、’ Tbを陰極にしてスパッタ電圧を併結すると共
にコイル3oまたは真空槽10内に内蔵された永久磁石
31により前記磁界Hを発生させることによりスパッタ
が行なわれ、基板20上にターゲラ) Ta 、 Tb
に対応したに■成の+JJ膜が形成される。
この時、前述の構成にょシスバッタ面TaS 、TbS
に垂1aなプラズマ収束磁界Hが印加されているので、
対向するターゲラ) Ta 、 Tb間の空間内に高エ
ネルギー電子が閉じ込められ、この空間内のスパッタガ
スのイオン比が促進されてスパッタ速度が大きくなり、
高速の膜形成が可能となる。
に垂1aなプラズマ収束磁界Hが印加されているので、
対向するターゲラ) Ta 、 Tb間の空間内に高エ
ネルギー電子が閉じ込められ、この空間内のスパッタガ
スのイオン比が促進されてスパッタ速度が大きくなり、
高速の膜形成が可能となる。
また、基板20は従来のスパッタ装置の如くターゲット
に対向せず、ターゲットTa 、 Tbの側方に配置さ
れているので、基板2oへの高いエネルギーを有するイ
オンや電子の衝突がほとんどなくなり、かつ、ターゲッ
トTa 、 Tbからの熱輻射も小さく基板温度の上昇
を防ぎ、低温での膜形成を可能としている。
に対向せず、ターゲットTa 、 Tbの側方に配置さ
れているので、基板2oへの高いエネルギーを有するイ
オンや電子の衝突がほとんどなくなり、かつ、ターゲッ
トTa 、 Tbからの熱輻射も小さく基板温度の上昇
を防ぎ、低温での膜形成を可能としている。
しかしながら、前述した如くのスパッタ面TaS 。
TbS K垂直なプラズマ収束磁界Hは、ターゲットT
a、Tb間の空間に高エネルギー電子を閉じこめ、膜形
成速度を速めると同時に、ターゲラ)Ta、Tbの側方
に配置されている基板20の表面にもターゲラ) Ta
、 Tb間力方向磁界Hsを与えることになる。この
ことは、パーマロイのような軟磁性体をターゲットに用
いて、基板20上に形成した磁性薄膜では、その膜面内
に磁界印加方向、即ち、ターゲラ) Ta 、 Tb間
力方向磁化容易軸をもつ一軸磁気異方性を有することに
なる。従って、上記方法によりFe−Ni層を下地層と
して、その上にCo−Cr層を成膜して垂直磁気記録媒
体として使用した場合、前記下地層の一軸磁気異方性に
より周期的な出力変動が発生することがわかり、実用上
の大きな問題となっていた0、 ■ 発明の目的 本発明は上記の如き問題点に鑑み為されたもので、本発
明の第1の目的は、−軸磁気異方性を有せず出力変動の
ない磁性薄膜の形成を可能にする磁性薄膜の形成方法を
提供することである。さらに本発明の第2の目的は、前
記磁性ペケ膜の形成方法に適する装置を提供することで
ある。
a、Tb間の空間に高エネルギー電子を閉じこめ、膜形
成速度を速めると同時に、ターゲラ)Ta、Tbの側方
に配置されている基板20の表面にもターゲラ) Ta
、 Tb間力方向磁界Hsを与えることになる。この
ことは、パーマロイのような軟磁性体をターゲットに用
いて、基板20上に形成した磁性薄膜では、その膜面内
に磁界印加方向、即ち、ターゲラ) Ta 、 Tb間
力方向磁化容易軸をもつ一軸磁気異方性を有することに
なる。従って、上記方法によりFe−Ni層を下地層と
して、その上にCo−Cr層を成膜して垂直磁気記録媒
体として使用した場合、前記下地層の一軸磁気異方性に
より周期的な出力変動が発生することがわかり、実用上
の大きな問題となっていた0、 ■ 発明の目的 本発明は上記の如き問題点に鑑み為されたもので、本発
明の第1の目的は、−軸磁気異方性を有せず出力変動の
ない磁性薄膜の形成を可能にする磁性薄膜の形成方法を
提供することである。さらに本発明の第2の目的は、前
記磁性ペケ膜の形成方法に適する装置を提供することで
ある。
■ 発明の具体的植成
本発明の第1の目的は、陰極となる一列のターゲットを
、そのスパッタ面が空間を隔てて対面するよう配置し、
該スパッタ面に垂直な方向に磁界を発生する一手段によ
り磁界を発生しながら、前記ターゲット間の側方に、前
記空間に対面するように配置した基板上にスパッタによ
り薄膜を形成するようにした磁性薄膜の形成方法におい
て、前記磁界発生手段により前記基板上(lζ生じる磁
界の補償手段により、前記基板上の磁界を消磁しながら
薄膜を形成するようにしたことを特徴とする磁性薄膜の
形成方法により達成される。
、そのスパッタ面が空間を隔てて対面するよう配置し、
該スパッタ面に垂直な方向に磁界を発生する一手段によ
り磁界を発生しながら、前記ターゲット間の側方に、前
記空間に対面するように配置した基板上にスパッタによ
り薄膜を形成するようにした磁性薄膜の形成方法におい
て、前記磁界発生手段により前記基板上(lζ生じる磁
界の補償手段により、前記基板上の磁界を消磁しながら
薄膜を形成するようにしたことを特徴とする磁性薄膜の
形成方法により達成される。
また、本発明の第2の目的は、陰極となる一対のターゲ
ットを、そのスパッタ面が空間を隔てて対面するよう配
置し、該スパッタ面に垂直な方向に磁界を発生する手段
を設け、前記ターゲット間の側方に、前記空間に対面す
るように配置した基板上例スパッタにより成膜するよう
になした磁性薄膜の形成装置において、前記磁界発生手
段によシ前記基板上に生じる磁界の補償手段を設けたこ
とを特徴とする磁性薄膜の形成装置により達成される。
ットを、そのスパッタ面が空間を隔てて対面するよう配
置し、該スパッタ面に垂直な方向に磁界を発生する手段
を設け、前記ターゲット間の側方に、前記空間に対面す
るように配置した基板上例スパッタにより成膜するよう
になした磁性薄膜の形成装置において、前記磁界発生手
段によシ前記基板上に生じる磁界の補償手段を設けたこ
とを特徴とする磁性薄膜の形成装置により達成される。
前記本発明の方法および装置において、前記磁界発生手
段によシ基板上に生じる磁界Hsを消磁する補償手段と
しては、前記基板上の磁界Hsk消す働きを有するもの
であれば何れも用いることができるが、具体的には、前
記基板上に生じる磁界Hsに対して積極的に逆向きの磁
界H′を印加して消磁する手段、例えば、■前記基板近
傍に配置した永久磁石によるもの、■前記基板近傍に磁
界を発生するようにした電流によるもの、■前記基板の
磁性薄膜形成面の反対側に配置したもう一組の磁性薄膜
形成装置であるものが、あり、また、前記基板上に生じ
る磁界ルを吸収する如くして消磁する手段、例えば、■
前記ターゲット空間と前記基板との間に配置した軟磁性
材よりなるもの等がある。
段によシ基板上に生じる磁界Hsを消磁する補償手段と
しては、前記基板上の磁界Hsk消す働きを有するもの
であれば何れも用いることができるが、具体的には、前
記基板上に生じる磁界Hsに対して積極的に逆向きの磁
界H′を印加して消磁する手段、例えば、■前記基板近
傍に配置した永久磁石によるもの、■前記基板近傍に磁
界を発生するようにした電流によるもの、■前記基板の
磁性薄膜形成面の反対側に配置したもう一組の磁性薄膜
形成装置であるものが、あり、また、前記基板上に生じ
る磁界ルを吸収する如くして消磁する手段、例えば、■
前記ターゲット空間と前記基板との間に配置した軟磁性
材よりなるもの等がある。
以下、本発明を図面により詳細に説明する。
第2図〜第5図はそれぞれ本発明に係る磁性薄膜の形成
装置の一実施例を示すものである。
装置の一実施例を示すものである。
第2図は、前記補償手段として、前記基板近傍に配置し
た永久磁石を用いた例であシ、図中、第1図と同一番号
を付したものは従来装置と同様であり説明を省略する。
た永久磁石を用いた例であシ、図中、第1図と同一番号
を付したものは従来装置と同様であり説明を省略する。
同図において、スパッタ装置の基本的構造は従来装置と
何ら変わシはないが、基板20の磁性薄膜形成面の反対
側に一対の永久磁石70が、ターゲラ) Ta 、 T
b間に印加されるプラズマ収束磁界Hの方向と逆向きで
、かつ、前記基板20上での磁界Hsと打ち消し合って
消磁される如くの磁界H′を有するように配置されてい
る。
何ら変わシはないが、基板20の磁性薄膜形成面の反対
側に一対の永久磁石70が、ターゲラ) Ta 、 T
b間に印加されるプラズマ収束磁界Hの方向と逆向きで
、かつ、前記基板20上での磁界Hsと打ち消し合って
消磁される如くの磁界H′を有するように配置されてい
る。
上記の装置を用いて薄膜を形成するのは、前記従来装置
と同様に行なうことができる。即ち、図面に省略した排
気系によυ排気口40から真空槽10内を排気した後、
図面に省略したガス導入系により導入口50を通してア
ルゴン等のスパッタガスを導入し、直流電源からなるス
パッタ電源60によりシールド12a、12bおよび真
空槽10を陽極(接地)にし、磁性材料からなるターゲ
ットTa 。
と同様に行なうことができる。即ち、図面に省略した排
気系によυ排気口40から真空槽10内を排気した後、
図面に省略したガス導入系により導入口50を通してア
ルゴン等のスパッタガスを導入し、直流電源からなるス
パッタ電源60によりシールド12a、12bおよび真
空槽10を陽極(接地)にし、磁性材料からなるターゲ
ットTa 。
Tbを陰極にしてスパッタ電圧を供給すると共にコイル
30または真空[10内に内蔵された永久磁石31によ
シ前記磁界Hを発生させることによりスパッタを行なう
。この際、基板20の磁性薄膜形成面の反対側に設けた
一対の永久磁石7oの発生する磁界H′により、基板2
0上の磁界Hsは相殺され消磁されているので、基板2
0上に形成される磁性薄膜層は磁気異方桂を有しないも
のとなる−なお、前記永久磁石70は基板20の薄膜形
成面の反対側に設けたが、基板20の薄膜形成面側に設
けてもよく、基板20上の磁界Hsを消磁し、かつ、タ
ーゲットからのスパッタ粒子をさえぎらない位置であれ
ばどこに設けてもよい。
30または真空[10内に内蔵された永久磁石31によ
シ前記磁界Hを発生させることによりスパッタを行なう
。この際、基板20の磁性薄膜形成面の反対側に設けた
一対の永久磁石7oの発生する磁界H′により、基板2
0上の磁界Hsは相殺され消磁されているので、基板2
0上に形成される磁性薄膜層は磁気異方桂を有しないも
のとなる−なお、前記永久磁石70は基板20の薄膜形
成面の反対側に設けたが、基板20の薄膜形成面側に設
けてもよく、基板20上の磁界Hsを消磁し、かつ、タ
ーゲットからのスパッタ粒子をさえぎらない位置であれ
ばどこに設けてもよい。
第3図は、前記補償手段として、第2図で示した永久磁
石70に代えて磁界H’を発生するようにした電流によ
るもの71を用いた例であり、具体的には、銅線等の電
気良導線をコイル状にし電流を適就に調節して流し磁気
コイルとして用いてもよいし、電導線を基板20面に平
行で磁界Hに垂直な方向に複数本並べ、各電導線に流す
電流を各々に調節して基板20上の磁界H8を打ち消す
ような磁界H′を発生するようにしてもよい。
石70に代えて磁界H’を発生するようにした電流によ
るもの71を用いた例であり、具体的には、銅線等の電
気良導線をコイル状にし電流を適就に調節して流し磁気
コイルとして用いてもよいし、電導線を基板20面に平
行で磁界Hに垂直な方向に複数本並べ、各電導線に流す
電流を各々に調節して基板20上の磁界H8を打ち消す
ような磁界H′を発生するようにしてもよい。
第4図は、前記補償手段として、第2図に示した永久磁
石70に代えて互いにプラズマ収束磁界Hが逆向きにな
るように配置したもう1組の磁性薄膜の形成装置72で
あり、同図に示す如く、基板支持体210両側に基板2
0を設は同時にそれぞれの基板20上に磁性薄膜を形成
することができる。また、本実施例では、磁界Hの発生
装置として真空槽10内に内蔵された永久磁石31によ
る形式のものに対して特に良好な結果を与えるものであ
る。
石70に代えて互いにプラズマ収束磁界Hが逆向きにな
るように配置したもう1組の磁性薄膜の形成装置72で
あり、同図に示す如く、基板支持体210両側に基板2
0を設は同時にそれぞれの基板20上に磁性薄膜を形成
することができる。また、本実施例では、磁界Hの発生
装置として真空槽10内に内蔵された永久磁石31によ
る形式のものに対して特に良好な結果を与えるものであ
る。
第5図は、前記補償手段として、第2図で示した永久磁
石に代えて軟鉄、ケイ素鋼、パーマロイ等の透磁率の大
きな軟磁性材73をターゲット空間と基板20との間で
ターゲットからのスパッタ粒子をさえぎらない位置に配
置するものである。
石に代えて軟鉄、ケイ素鋼、パーマロイ等の透磁率の大
きな軟磁性材73をターゲット空間と基板20との間で
ターゲットからのスパッタ粒子をさえぎらない位置に配
置するものである。
本装置においては、前記第2図〜第4図に示した各装置
のように前記補償手段自身に磁界H′の発生機能を有す
るものではないが、ターゲット間に印加されるプラズマ
収束磁界Hを軟磁性材近傍で低減させ、基板2o上の磁
界Hsを小さくし、形成する磁性薄膜の磁気異方性を低
減しようとするものである。
のように前記補償手段自身に磁界H′の発生機能を有す
るものではないが、ターゲット間に印加されるプラズマ
収束磁界Hを軟磁性材近傍で低減させ、基板2o上の磁
界Hsを小さくし、形成する磁性薄膜の磁気異方性を低
減しようとするものである。
以上、本発明を真空槽内に一対のターゲットを対向させ
た装置で説明したが、次に二層膜構造のV!膜を連続的
に形成するに適した装置を第6図により説明する。
た装置で説明したが、次に二層膜構造のV!膜を連続的
に形成するに適した装置を第6図により説明する。
同図において、真空槽lo内には二対のターゲットTa
l 、 Tbl 5Ta2、Tb2とが連設されている
。
l 、 Tbl 5Ta2、Tb2とが連設されている
。
即ち、真空#J10内の同図左側のターゲラ)Taiは
ターゲットホルダー11aにより支持され、該ターゲッ
トホルダー11aは絶縁スペーサ−13aを介してシー
ルド12aに支持され、さらにシールド12aは真空槽
10に同定されている。続くターゲツトTa1K対面す
る如、〈設けられるターゲット’rbtおよびそのター
ゲラ)Tblを背面にして対称的に設けられるターゲッ
トTazは、図に示す如く、同図中央に設けられたター
ゲットホルダー11bにより支持され、前記と同様に絶
縁スペーサー13bを介してシールド12bに支持され
、真空槽1oに固定されている。さらに続くターゲラ)
Tb2は前記ターゲットTa2に対面する如く設けられ
、前記と同様にターゲットホルダー11cにより支持さ
れ、絶縁スペーサー13cを介してシールド12cに支
持され、真空槽10に固定されている。そして、真空槽
1゜内のターゲットホルダー11a 、 llb 、
llc内に図示の如く内蔵された永久磁石31a +
31b + 31cにより、ターゲラ) Tal 、
’pi)x間に垂直な方向のプラズマ収束磁界Hおよび
ターゲラ) Ta2. Tb2間に垂直な方向のプラズ
マ収束磁界Hをそれぞれ発生するようにしである。また
、図に省略した移送手段を有する繰り”出しロール22
から基板2oが移送され、巻き取りロール23に巻き取
られる如くなっている。さらに、移送される基板2oの
前記ターゲラ) Tax 、 Tbl間の空間の側方、
即ち、第1の磁性薄膜が基板2o上に形成される場所の
基板20の薄膜形成面の反対側に一対の永久磁石70a
が、また同様に前記ターゲラ) Ta2 、 Tbz間
の空間の側方、即ち、第2の磁性薄膜が基板20上に形
成される場所の基板20の薄膜形成面の反対側にもう一
対の永久磁石70bがそれぞれ基板20上での磁界H8
を打ち消す如くの磁界H′を有するように配置されてい
る。そして、ターゲットTal 。
ターゲットホルダー11aにより支持され、該ターゲッ
トホルダー11aは絶縁スペーサ−13aを介してシー
ルド12aに支持され、さらにシールド12aは真空槽
10に同定されている。続くターゲツトTa1K対面す
る如、〈設けられるターゲット’rbtおよびそのター
ゲラ)Tblを背面にして対称的に設けられるターゲッ
トTazは、図に示す如く、同図中央に設けられたター
ゲットホルダー11bにより支持され、前記と同様に絶
縁スペーサー13bを介してシールド12bに支持され
、真空槽1oに固定されている。さらに続くターゲラ)
Tb2は前記ターゲットTa2に対面する如く設けられ
、前記と同様にターゲットホルダー11cにより支持さ
れ、絶縁スペーサー13cを介してシールド12cに支
持され、真空槽10に固定されている。そして、真空槽
1゜内のターゲットホルダー11a 、 llb 、
llc内に図示の如く内蔵された永久磁石31a +
31b + 31cにより、ターゲラ) Tal 、
’pi)x間に垂直な方向のプラズマ収束磁界Hおよび
ターゲラ) Ta2. Tb2間に垂直な方向のプラズ
マ収束磁界Hをそれぞれ発生するようにしである。また
、図に省略した移送手段を有する繰り”出しロール22
から基板2oが移送され、巻き取りロール23に巻き取
られる如くなっている。さらに、移送される基板2oの
前記ターゲラ) Tax 、 Tbl間の空間の側方、
即ち、第1の磁性薄膜が基板2o上に形成される場所の
基板20の薄膜形成面の反対側に一対の永久磁石70a
が、また同様に前記ターゲラ) Ta2 、 Tbz間
の空間の側方、即ち、第2の磁性薄膜が基板20上に形
成される場所の基板20の薄膜形成面の反対側にもう一
対の永久磁石70bがそれぞれ基板20上での磁界H8
を打ち消す如くの磁界H′を有するように配置されてい
る。そして、ターゲットTal 。
Tblにスパッタ電源61が、またターゲットTa2゜
Tb2にスパッタ電源62がそれぞれ独立して設けられ
、それぞれのシールド12a 、 12b 、 12c
および真空槽10を陽極(接地)にして電力を供給する
ようにしである。
Tb2にスパッタ電源62がそれぞれ独立して設けられ
、それぞれのシールド12a 、 12b 、 12c
および真空槽10を陽極(接地)にして電力を供給する
ようにしである。
上記の装Wt、を用いて磁性薄膜を形成するには、繰り
出しロール22から巻き取りロール23に基板20を移
送させながら、従来装置と同様にスパッタさせればター
ゲットTaIH’rbt + Ta2t ’rb2の組
成に応じた磁性薄膜が基板20上に連続的に形成できる
。特にターゲラ) Tax 、 TbxおよびTag
、 Tb2を異なった材料を用いることによシ二層膜構
造の薄膜が連続的に形成できる。
出しロール22から巻き取りロール23に基板20を移
送させながら、従来装置と同様にスパッタさせればター
ゲットTaIH’rbt + Ta2t ’rb2の組
成に応じた磁性薄膜が基板20上に連続的に形成できる
。特にターゲラ) Tax 、 TbxおよびTag
、 Tb2を異なった材料を用いることによシ二層膜構
造の薄膜が連続的に形成できる。
第6図において、前記補償手段として永久磁石70a
、 70bを用いたが、前述の第3図〜第5図に示した
如く、永久磁石70a 、 70bに代えて、磁界を発
生するようにした電流によるもの71、もう−組の磁性
薄膜形成装置72、軟磁性材を用いるもの73、それぞ
れを前記補償手段に用いれば、前記と同様の二層膜構造
の薄膜を前述したと同様に連続的に形成することができ
る。
、 70bを用いたが、前述の第3図〜第5図に示した
如く、永久磁石70a 、 70bに代えて、磁界を発
生するようにした電流によるもの71、もう−組の磁性
薄膜形成装置72、軟磁性材を用いるもの73、それぞ
れを前記補償手段に用いれば、前記と同様の二層膜構造
の薄膜を前述したと同様に連続的に形成することができ
る。
以下、本発明をさらに具体的に実施例および比較例によ
り説明するが、本発明はこれによυ限定されるものでは
ない。
り説明するが、本発明はこれによυ限定されるものでは
ない。
比較例1
第6図に示した装置において、基板20の裏側に配置し
た永久磁石70a 、 70bを設けないで、以下の条
件で行った。
た永久磁石70a 、 70bを設けないで、以下の条
件で行った。
ターゲットTa1.Tb1材料として250 m X
80 m、厚さ5mのパーマロイ(Fe−Ni合金、F
e 19wt%、Ni 81 wt%)を用い、ターゲ
ットTa2 、 Tbz材料として同形状のCo−Cr
合金(Co 82wt%、 Cr 18wt%)を用い
、それぞれのターゲット間距離を100調とし、ターゲ
ット表面中央部に1200eとなるようにプラズマ収束
磁界Hを印加した。ターゲット端部より30曜の位置に
厚さ5μmのポリイミド基板20を搬送させながら、A
r圧2 m Torr で、それぞれのターゲット間に
700V、2.OAの直流グロー放′i!Lをおこし、
前記基板20上に第1の磁性層としてパーマロイ(Fe
19wt % 、 Ni 81wt%)を4000X
の厚さでスパッタし、続いてその上に連続して第2の磁
性層としてCo−Cr合金(Co 82wtチ、Cr
18wt % )を200OAの厚さでスパッタし、二
層膜構造の磁性薄膜を連続的に形成した。
80 m、厚さ5mのパーマロイ(Fe−Ni合金、F
e 19wt%、Ni 81 wt%)を用い、ターゲ
ットTa2 、 Tbz材料として同形状のCo−Cr
合金(Co 82wt%、 Cr 18wt%)を用い
、それぞれのターゲット間距離を100調とし、ターゲ
ット表面中央部に1200eとなるようにプラズマ収束
磁界Hを印加した。ターゲット端部より30曜の位置に
厚さ5μmのポリイミド基板20を搬送させながら、A
r圧2 m Torr で、それぞれのターゲット間に
700V、2.OAの直流グロー放′i!Lをおこし、
前記基板20上に第1の磁性層としてパーマロイ(Fe
19wt % 、 Ni 81wt%)を4000X
の厚さでスパッタし、続いてその上に連続して第2の磁
性層としてCo−Cr合金(Co 82wtチ、Cr
18wt % )を200OAの厚さでスパッタし、二
層膜構造の磁性薄膜を連続的に形成した。
得られた磁性薄膜を5.25インチの円形に打ち抜き、
70KBPIで垂直磁気記録し、再生したところ、?4
)られた再生エンベロープは図7の如くであった。記録
再生時の出力変動は25%であった。
70KBPIで垂直磁気記録し、再生したところ、?4
)られた再生エンベロープは図7の如くであった。記録
再生時の出力変動は25%であった。
なお、ターゲット間中央側方での基板20上での磁界は
200eであった。
200eであった。
実施例1
第6図に示した装置、即ち基板20の裏側に配置した2
対の永久磁石70a 、 70bによシそれぞれのター
ゲット間中央側方での基板20上の磁界Hsと逆向きで
200eの磁界H’t−印加するようにして、前記比較
例1と同様の条件で二層膜構造の磁性薄膜を形成した。
対の永久磁石70a 、 70bによシそれぞれのター
ゲット間中央側方での基板20上の磁界Hsと逆向きで
200eの磁界H’t−印加するようにして、前記比較
例1と同様の条件で二層膜構造の磁性薄膜を形成した。
得られた磁性薄膜を比較例1と同様に処理した。
得られた再生エンベロープは図8の如くであった。
実施例2
前記実施例1の永久磁石70a 、 70bの代わシに
銅線を基板20に平行でプラズマ収束磁界Hに垂直な方
向に複数本並べ、名調線に流す電流を調整し、スパッタ
粒子が被着する基板20面上全てでほぼ磁界Hsを消磁
するようにした以外は実施例1と同様にして、磁性薄膜
を形成し、記録再生を行った。得られた再生エンベロー
プを図9に示す。
銅線を基板20に平行でプラズマ収束磁界Hに垂直な方
向に複数本並べ、名調線に流す電流を調整し、スパッタ
粒子が被着する基板20面上全てでほぼ磁界Hsを消磁
するようにした以外は実施例1と同様にして、磁性薄膜
を形成し、記録再生を行った。得られた再生エンベロー
プを図9に示す。
記録再生時の出力変動は全くなかった。
実施例3
前記実施例1の永久磁石70a 、 70bの代わりに
互いにプラズマ収束磁界Hが逆向きの2組の対向ターゲ
ットを基板20に対称的に配置して、基板20上での磁
界Hsを消磁するようにした以外は実施例1と同様にし
て、磁性薄膜を基板20の両面形成し、記録再生を行っ
た。記録再生時の出力変動は全くなかった。
互いにプラズマ収束磁界Hが逆向きの2組の対向ターゲ
ットを基板20に対称的に配置して、基板20上での磁
界Hsを消磁するようにした以外は実施例1と同様にし
て、磁性薄膜を基板20の両面形成し、記録再生を行っ
た。記録再生時の出力変動は全くなかった。
実施例4
前記実施例1の永久磁石70a 、 70bの代わυに
基板20と各ターゲットとの間に厚さ6簡の軟鉄からな
る軟磁性板73を設けた以外は実施例1と同様にして磁
性薄膜を形成し、記録再生を行った。
基板20と各ターゲットとの間に厚さ6簡の軟鉄からな
る軟磁性板73を設けた以外は実施例1と同様にして磁
性薄膜を形成し、記録再生を行った。
記録再生時の出力変動は13%であった。なお、基板2
0上で磁界は200eから40eに減少していたO 発明の詳細 な説明した如く、本発明によれば、出力変動を大幅に低
減または完全になくした磁性薄膜の形成を可能とし、高
密度磁気記録の実用性に大きく寄与するものである。
0上で磁界は200eから40eに減少していたO 発明の詳細 な説明した如く、本発明によれば、出力変動を大幅に低
減または完全になくした磁性薄膜の形成を可能とし、高
密度磁気記録の実用性に大きく寄与するものである。
第1図は従来方式の磁性薄膜形成装置の説明図、第2図
〜第6図および第8図および第9図は本発明の一実施例
を示すもので、第2図は補償、手段として永久磁石を用
いた装置の説明図、第3図は補償手段として電流による
ものを用いた装置の説明いた装置の説明図、第5図は補
償手段として軟磁性材を用いた装置の説明図、第6図は
2層膜構造の磁性薄膜を連続的に形成する装置の説明図
、第7図は従来方式で得られた磁性薄膜の記録再生エン
ベロープ、第8図は実施例1で得られた磁性薄膜の記録
再生エンベロープ、第9図は実施例2で得られた磁性薄
膜の記録再生エンペローブを示す010・・・真空槽、
lla 、 llb 、 Ilc・・・ターゲットホ
ルダー、12a + 12b + 12c ・・・シー
ルド、13a 、 13b 、 13c・・・絶縁スペ
ーサー、 20・・・基板、22・・・繰り出しロール
、 23・・・巻き取りロール、Tar Tb、Tat
、Tbt + Ta2+ Tb2−・・ターゲット、
30・・・コイル、 31・・・永久磁石、60.61
.62・・・スパッタ電源、70、70a、 70b、
71.72.73−・・補償手段特許出願人 小西六
写真工業株式会社 代 理 人 弁理士 市之瀬 宮 夫r申瀬士 第1図 第2図 第3図 第4図
〜第6図および第8図および第9図は本発明の一実施例
を示すもので、第2図は補償、手段として永久磁石を用
いた装置の説明図、第3図は補償手段として電流による
ものを用いた装置の説明いた装置の説明図、第5図は補
償手段として軟磁性材を用いた装置の説明図、第6図は
2層膜構造の磁性薄膜を連続的に形成する装置の説明図
、第7図は従来方式で得られた磁性薄膜の記録再生エン
ベロープ、第8図は実施例1で得られた磁性薄膜の記録
再生エンベロープ、第9図は実施例2で得られた磁性薄
膜の記録再生エンペローブを示す010・・・真空槽、
lla 、 llb 、 Ilc・・・ターゲットホ
ルダー、12a + 12b + 12c ・・・シー
ルド、13a 、 13b 、 13c・・・絶縁スペ
ーサー、 20・・・基板、22・・・繰り出しロール
、 23・・・巻き取りロール、Tar Tb、Tat
、Tbt + Ta2+ Tb2−・・ターゲット、
30・・・コイル、 31・・・永久磁石、60.61
.62・・・スパッタ電源、70、70a、 70b、
71.72.73−・・補償手段特許出願人 小西六
写真工業株式会社 代 理 人 弁理士 市之瀬 宮 夫r申瀬士 第1図 第2図 第3図 第4図
Claims (9)
- (1) 陰極となる一対のターゲットを、そのスパッタ
面が空間を隔てて対面するよう配置し、該スパッタ面に
垂直な方向に磁界を発生する手段によシ磁界を発生しな
がら、前記ターゲット間の側方に、前記空間に対面する
ように配置した基板上にスパッタにより薄膜を形成する
ようにした磁性薄膜の形成方法において、前記磁界発生
手段により前記基板上に生じる磁界の補償手段により、
前記基板上の磁界を消磁しながら薄膜を形成するように
したことを特徴とする磁性薄膜の形成方法。 - (2)前記基板上に生じる磁界の補償手段が、前記基板
近傍に配置した永久磁石であることを特徴とする特許請
求の範囲第(1)項記載の磁性薄膜の形成方法。 - (3)前記基板上に生じる磁界の補償手段が、前記基板
近傍に磁界を発生するようにした電流によるものである
ことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の磁性
薄膜の形成方法− - (4)前記基板上に生じる磁界の補償手段が、前記基板
の磁性薄膜形成面の反対側に配置したもう一組の対向タ
ーゲットスパッタ装置であることを特徴とする特許請求
の範囲第(1)項記載の磁性薄膜の形成方法。 - (5)前記基板上に生じる磁界の補償手段が、前記ター
ゲット空間と前記基板との間に配置した軟磁性材よりな
るものであることを特徴とする特許請求の範囲第(1)
項記載の磁性薄膜の形成方法。 - (6) 陰極となる一対のターゲットを、そのスノくツ
タ面が空間を隔てて対面するよう配置し、該スパッタ面
に垂直な方向に磁界を発生する手段を設け、前記ターゲ
ット間の側方に、前記空間に対面するように配置した基
板上にスパッタによシ成膜するようになした磁性薄膜の
形成装置において、前記磁界発生手段により前記基板上
に生じる磁界の補償手段を設けたことを特徴とする磁性
薄膜の形成装置。 - (7)前記基板上に生じる磁界の補償手段が、前記基板
近傍に配置した永久磁石であることを特徴とする特許請
求の範囲第(6)項記載の磁性薄膜の形成装置。 - (8)前記基板上に生じる磁界の補償手段が、前記基板
近傍に磁界を発生するようにした電流によるものである
ことを特徴とする特許請求の範囲第(6)項記載の磁性
範膜の形成装置。 - (9) 前記基板上に生じる磁界の補償手段が、前記基
板の磁性薄膜形成面の反対側に配置したもう一組の対向
ターゲットスパッタ装置であることを特徴とする特許請
求の範囲第(6)項記載の磁性薄膜の形成装置。 (至)前記基板上に生じる磁界の補償手段が、前記ター
ゲット空間と前記基板との間に配置した軟磁性材よりな
るものであることを特徴とする特許請求の範囲第(6)
項記載の磁性薄膜の形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3823784A JPS60182711A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 磁性薄膜の形成方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3823784A JPS60182711A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 磁性薄膜の形成方法およびその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60182711A true JPS60182711A (ja) | 1985-09-18 |
JPH0572733B2 JPH0572733B2 (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=12519689
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3823784A Granted JPS60182711A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 磁性薄膜の形成方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60182711A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62232911A (ja) * | 1986-04-03 | 1987-10-13 | Hitachi Ltd | 磁性膜形成装置 |
JPS63303065A (ja) * | 1987-06-03 | 1988-12-09 | Bridgestone Corp | 表面処理方法 |
JPH0229455U (ja) * | 1988-08-18 | 1990-02-26 | ||
JPH042773A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-07 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 高速成膜スパッタリング装置 |
JP2008156743A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-07-10 | Kobe Steel Ltd | 対向ターゲットスパッタ装置及び対向ターゲットスパッタ方法 |
JP2008255389A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Choshu Industry Co Ltd | ミラートロンスパッタ装置 |
JP2013235634A (ja) * | 2012-05-09 | 2013-11-21 | Iza Corp | 垂直磁気記録媒体の製造方法及び製造装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5778123A (en) * | 1980-11-04 | 1982-05-15 | Hitachi Ltd | Manufacture of anisotropic thin magnetic film |
JPS5855566A (ja) * | 1981-09-29 | 1983-04-01 | Teijin Ltd | 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP3823784A patent/JPS60182711A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5778123A (en) * | 1980-11-04 | 1982-05-15 | Hitachi Ltd | Manufacture of anisotropic thin magnetic film |
JPS5855566A (ja) * | 1981-09-29 | 1983-04-01 | Teijin Ltd | 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62232911A (ja) * | 1986-04-03 | 1987-10-13 | Hitachi Ltd | 磁性膜形成装置 |
JPH0584657B2 (ja) * | 1986-04-03 | 1993-12-02 | Hitachi Ltd | |
JPS63303065A (ja) * | 1987-06-03 | 1988-12-09 | Bridgestone Corp | 表面処理方法 |
JPH0229455U (ja) * | 1988-08-18 | 1990-02-26 | ||
JPH042773A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-07 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 高速成膜スパッタリング装置 |
JP2008156743A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-07-10 | Kobe Steel Ltd | 対向ターゲットスパッタ装置及び対向ターゲットスパッタ方法 |
JP2008255389A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Choshu Industry Co Ltd | ミラートロンスパッタ装置 |
JP2013235634A (ja) * | 2012-05-09 | 2013-11-21 | Iza Corp | 垂直磁気記録媒体の製造方法及び製造装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0572733B2 (ja) | 1993-10-12 |
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