JPS60182613A - 導電性フイルム積層体の製造方法 - Google Patents
導電性フイルム積層体の製造方法Info
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- JPS60182613A JPS60182613A JP3729284A JP3729284A JPS60182613A JP S60182613 A JPS60182613 A JP S60182613A JP 3729284 A JP3729284 A JP 3729284A JP 3729284 A JP3729284 A JP 3729284A JP S60182613 A JPS60182613 A JP S60182613A
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Landscapes
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は導電1!1クイルム積層体の製造方法に1]ル
″−を11ツ成させイ)Jj法に関する。高透明導電性
フィルl−(rr層体はその透明性と導電性を利用した
用途例えば准品ディスアレー用電極、電場発光俸用電を
似、光韓電txi光体用7「極、ブラウン管各種精密測
定器の窓部分の透明静電気遮蔽11ψ帯電防止層、発熱
体等の電気電子分野の用途に広く用いら」]、ている。
″−を11ツ成させイ)Jj法に関する。高透明導電性
フィルl−(rr層体はその透明性と導電性を利用した
用途例えば准品ディスアレー用電極、電場発光俸用電を
似、光韓電txi光体用7「極、ブラウン管各種精密測
定器の窓部分の透明静電気遮蔽11ψ帯電防止層、発熱
体等の電気電子分野の用途に広く用いら」]、ている。
これらの中で選択光透過1jを有するものはその赤外光
反射能を利用して太陽エネルギー利用のためのコレクタ
ー出窓利や建物の窓利又は輸送機関の窓材としても広く
利用さfl、ている。また情報化社会の進展とともに従
来用いられてきたCRTに代っ゛C液晶ティスフ” v
”−@エレクトロルミホンセンスディスフ0レ−、プ
ラズマディスプレー、強誘電体ディ7プ1/−などの固
体ディスプレーが開発さitてさているが、これらの電
極としても高透明な導′市性のある電極が使用される。
反射能を利用して太陽エネルギー利用のためのコレクタ
ー出窓利や建物の窓利又は輸送機関の窓材としても広く
利用さfl、ている。また情報化社会の進展とともに従
来用いられてきたCRTに代っ゛C液晶ティスフ” v
”−@エレクトロルミホンセンスディスフ0レ−、プ
ラズマディスプレー、強誘電体ディ7プ1/−などの固
体ディスプレーが開発さitてさているが、これらの電
極としても高透明な導′市性のある電極が使用される。
その他、電気悟りと光悟りとの相互作用又は相互変換を
利用した新しい電気光学素子や記録4A料が今後の情報
処即技(4:1の中心になろうとしているが、これらの
′市9C)Y学利料の構成の一部として透明性と導?+
Y +7tを11!。
利用した新しい電気光学素子や記録4A料が今後の情報
処即技(4:1の中心になろうとしているが、これらの
′市9C)Y学利料の構成の一部として透明性と導?+
Y +7tを11!。
備した拐料が請求されでいる。
また、これらの電子・電気表示素イにチー々等を入力す
る装置として透明なメンブレ゛/ノ・イノFンは、図形
等を人力するための透明なディン々イIF−等もこの高
透明導電慎フィル1、積層イイ・不・1″Jl 111
−る、二とにま、て始め゛C実用的仙j鎖を1゛丁I′
、′うX:、+ J’、 5になる6、イ::!tJ−
l’、 (讐己゛き■先子;青報(4朱II−)□・・
′)1 も自dll中・13行磯等の交通(長間の凍結
防11甲2′;4・−2−スとして透明−こ導?8)性
をイjする窓ガラ′、i、 1:、4か四ワ(くさλ]
、でいる。、−tノ、1τ1”」分イ成早物等の軍気絶
糾性物質におい(′、静71j eiの発生かしはしは
小人な災害の原因、: 4(−J Tいる。こJl、を
1ヅ、・庄するために例えばiih l、・νや1+−
ボン等の心事体の粉末又はi試X4tを面分i′に混ノ
\し5て成型することが試みられているが、r# f’
=5、−トI秀明化や、力学面持1ご1の+T端な劣化
がさけl”)Jl、ない。しかしこのような高分子の電
気絶縁性成形物の表面に透明導電性薄膜を投げることは
静電防止法として優れた方法である。
る装置として透明なメンブレ゛/ノ・イノFンは、図形
等を人力するための透明なディン々イIF−等もこの高
透明導電慎フィル1、積層イイ・不・1″Jl 111
−る、二とにま、て始め゛C実用的仙j鎖を1゛丁I′
、′うX:、+ J’、 5になる6、イ::!tJ−
l’、 (讐己゛き■先子;青報(4朱II−)□・・
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防11甲2′;4・−2−スとして透明−こ導?8)性
をイjする窓ガラ′、i、 1:、4か四ワ(くさλ]
、でいる。、−tノ、1τ1”」分イ成早物等の軍気絶
糾性物質におい(′、静71j eiの発生かしはしは
小人な災害の原因、: 4(−J Tいる。こJl、を
1ヅ、・庄するために例えばiih l、・νや1+−
ボン等の心事体の粉末又はi試X4tを面分i′に混ノ
\し5て成型することが試みられているが、r# f’
=5、−トI秀明化や、力学面持1ご1の+T端な劣化
がさけl”)Jl、ない。しかしこのような高分子の電
気絶縁性成形物の表面に透明導電性薄膜を投げることは
静電防止法として優れた方法である。
選択光透過性被膜は、可視光領域の光に対してはる明で
あるが、赤外光に対しては反射能をイ+’ l−でいる
ので、透明断熱膜としても有用である。
あるが、赤外光に対しては反射能をイ+’ l−でいる
ので、透明断熱膜としても有用である。
従って、太陽熱コレクター、太陽熱光νF、クリーンハ
ウス、建築物の窓イ2(等に使用することかできる。特
に近代建契物に於て壁シnjの人きな割′aを占める窓
からの人陽工不/Lギー刊f月及び−r1ルギー放散を
妨げる透明断熱窓とし−Cの機能は今後ますまず重要性
を増す。
ウス、建築物の窓イ2(等に使用することかできる。特
に近代建契物に於て壁シnjの人きな割′aを占める窓
からの人陽工不/Lギー刊f月及び−r1ルギー放散を
妨げる透明断熱窓とし−Cの機能は今後ますまず重要性
を増す。
このように高透明導電性被1jψおよび選択光透Jう膜
は、:「レフ(ロニグス、画像、1貴報イ]月、太陽エ
ネルギー利用の観点から重質であり、均質で高性能な膜
が工業的に安1曲に」]つ人1d l)l fit:給
さiすることか当該業界から強く要望されている。
は、:「レフ(ロニグス、画像、1貴報イ]月、太陽エ
ネルギー利用の観点から重質であり、均質で高性能な膜
が工業的に安1曲に」]つ人1d l)l fit:給
さiすることか当該業界から強く要望されている。
透明導電性被膜として従来から知られているものは
■金、銀、銅、パラジウム等の金属薄膜■酸化インジウ
ム、酸化スズ、ITO,ヨウ化銅等の化合物半導体薄膜
および ■金、銀、銅、パラジウム等の4屯性金妓薄膜をある波
長領域にわたり選択的に透明にしたものか知られている
。。
ム、酸化スズ、ITO,ヨウ化銅等の化合物半導体薄膜
および ■金、銀、銅、パラジウム等の4屯性金妓薄膜をある波
長領域にわたり選択的に透明にしたものか知られている
。。
赤9(光反射能のAf+い選択光透過膜として数千喝ン
))ノl−Tコームの膜厚の酸化インジウム膜、酸イL
ノ、スII々、又はITO膜および金属膜と透明誘市体
11・;lの債層脱等が知らメ1.ている。しかじなか
r−)−むぐ、!]、た1イ1:能の透明導電性膜り、
は選択光透J6”・)11φか−(′N:、的に安11
■1にJlつ大量に製造される1・こJI゛−パこ1・
ないのが現状である。
))ノl−Tコームの膜厚の酸化インジウム膜、酸イL
ノ、スII々、又はITO膜および金属膜と透明誘市体
11・;lの債層脱等が知らメ1.ている。しかじなか
r−)−むぐ、!]、た1イ1:能の透明導電性膜り、
は選択光透J6”・)11φか−(′N:、的に安11
■1にJlつ大量に製造される1・こJI゛−パこ1・
ないのが現状である。
従来は、これらの透1111導電性薄膜又は選択光透ゾ
・間膜′−9は例えは真空4≦ra法、イオンブレーデ
ィンク法、スパッタリンク法等の真空中にオケ4)薄膜
11’) lj〜・、法て形成さJl、ろ。また従来よ
り酸化ノ、ノ薄膜を+IBs成させるために塩化スス浴
液を熱分解−4る方法か用いらilているか、基板温J
ψを500 ’((是度に保一つ必要かあり、熱的ヒズ
ミの問題−C人面債、に板の使用が困難である。炉にこ
の方法ではlW:I分子Gl料を基イνとして用いる場
合li+iJilの低いA・(料をその基板として使用
てきない等の問題がある。
・間膜′−9は例えは真空4≦ra法、イオンブレーデ
ィンク法、スパッタリンク法等の真空中にオケ4)薄膜
11’) lj〜・、法て形成さJl、ろ。また従来よ
り酸化ノ、ノ薄膜を+IBs成させるために塩化スス浴
液を熱分解−4る方法か用いらilているか、基板温J
ψを500 ’((是度に保一つ必要かあり、熱的ヒズ
ミの問題−C人面債、に板の使用が困難である。炉にこ
の方法ではlW:I分子Gl料を基イνとして用いる場
合li+iJilの低いA・(料をその基板として使用
てきない等の問題がある。
酸化インシラl5、酸化スズまたはITO等の栃、F、
rt体薄膜は、従来真空蒸着法、イオソブレーディン
ク法、スパッタリング法等によ1て的接形成させる方法
がとられているが、嘆の生成速度が著るしく遅くなるば
かりでなく、弘盾薄膜が形成さiM、た時に酸化反応が
イ1464すぎたり、又はスパッタリンク法の場合には
逆に金属酸(L物が還元されてメタリックな薄1;ψか
11ε成される等の問題か存在する。より具体的には0
空2A iγイ法又はイメンプレーアイング法でITO
を・的接蒸着する(侍には、酸化インジウムと酌イヒソ
、ズの融点の違いにより蒸発速度か異り、J発させる前
の物質の酸化インジウムと酸化ススの比とI、超薄膜の
酸化インジウムと酸化スズの組成比か違つものになり、
この組成比のコント「1−ルか難しいという問題の他に
蒸発中に酸化状態か変化し透明1コ1−と導電1イ1の
ハランヌを欠く場合がある。捗だ一つの方法としてイン
ジウム・ススの合金を蒸発物質と1−7で真空蒸Ja法
又はイオンブレーティンク法で直接インジウム・ススの
僑゛金薄膜を基板」−に形成した後、酸化性雰囲気中に
曝して後で酸化させ、結果としてI T Oil)膜を
形成するという方法か提案(特公昭5l−37667)
されている。しかしこの方法によって・(、イ゛/シウ
ムとスズの組成比の制御はAil記理由と同様に非常に
困暉であるばかりてなく、後酸化を行うための条M’
ff1l儒1が非常に難かしく、また高γ品・を妊時間
の処理を必要とし、安価に且つ犬h1に製造4〜るため
の方法とし2ては採用しにくい。
rt体薄膜は、従来真空蒸着法、イオソブレーディン
ク法、スパッタリング法等によ1て的接形成させる方法
がとられているが、嘆の生成速度が著るしく遅くなるば
かりでなく、弘盾薄膜が形成さiM、た時に酸化反応が
イ1464すぎたり、又はスパッタリンク法の場合には
逆に金属酸(L物が還元されてメタリックな薄1;ψか
11ε成される等の問題か存在する。より具体的には0
空2A iγイ法又はイメンプレーアイング法でITO
を・的接蒸着する(侍には、酸化インジウムと酌イヒソ
、ズの融点の違いにより蒸発速度か異り、J発させる前
の物質の酸化インジウムと酸化ススの比とI、超薄膜の
酸化インジウムと酸化スズの組成比か違つものになり、
この組成比のコント「1−ルか難しいという問題の他に
蒸発中に酸化状態か変化し透明1コ1−と導電1イ1の
ハランヌを欠く場合がある。捗だ一つの方法としてイン
ジウム・ススの合金を蒸発物質と1−7で真空蒸Ja法
又はイオンブレーティンク法で直接インジウム・ススの
僑゛金薄膜を基板」−に形成した後、酸化性雰囲気中に
曝して後で酸化させ、結果としてI T Oil)膜を
形成するという方法か提案(特公昭5l−37667)
されている。しかしこの方法によって・(、イ゛/シウ
ムとスズの組成比の制御はAil記理由と同様に非常に
困暉であるばかりてなく、後酸化を行うための条M’
ff1l儒1が非常に難かしく、また高γ品・を妊時間
の処理を必要とし、安価に且つ犬h1に製造4〜るため
の方法とし2ては採用しにくい。
一方、蒸発物質としての酸化インジウムと酸化スズの組
成比と蒸JR薄膜の組成比がほぼ一致する方法として低
温高速クパッタリング法が提案さ)]、ている。しかし
ながらこの方法によってもインジウムとスズの組成比は
略々均一化するとはいえその酸化伏jルは、真空槽内の
プラズマの状態によって変動し、スパックされたITO
オニ1γrかプラズマ中て還元され”C蒸R薄膜がメタ
リック色を呈I2,2透明性が著しく損なわれる場合か
ある。
成比と蒸JR薄膜の組成比がほぼ一致する方法として低
温高速クパッタリング法が提案さ)]、ている。しかし
ながらこの方法によってもインジウムとスズの組成比は
略々均一化するとはいえその酸化伏jルは、真空槽内の
プラズマの状態によって変動し、スパックされたITO
オニ1γrかプラズマ中て還元され”C蒸R薄膜がメタ
リック色を呈I2,2透明性が著しく損なわれる場合か
ある。
かかる状況に鑑み、本発明者らはベースフィルムを連続
的に捲き取りながら高速で透明導電性(選択光透過性)
フィルムを製造する方法について鋭意検層した結果有機
透明フィルム+1・こインジウム・錫合金(賜のF−プ
単2〜20重量%)ターグツ1−を使用し、1蔽密に調
節tまた酸素ガスを導入しながら、反応D C低温高速
スパッタリング法でITO薄膜を形成させることしこよ
って初めて連続的に安定し7た高透明溝7E性フィルム
@層体を経済的に製造し得ることを見い出し本発明を完
成した。
的に捲き取りながら高速で透明導電性(選択光透過性)
フィルムを製造する方法について鋭意検層した結果有機
透明フィルム+1・こインジウム・錫合金(賜のF−プ
単2〜20重量%)ターグツ1−を使用し、1蔽密に調
節tまた酸素ガスを導入しながら、反応D C低温高速
スパッタリング法でITO薄膜を形成させることしこよ
って初めて連続的に安定し7た高透明溝7E性フィルム
@層体を経済的に製造し得ることを見い出し本発明を完
成した。
本発明において使用する酸素ガスは純度9999%以上
のものであり、その導入率は容積で20〜24%対アル
ゴンガスに精密にコン1−ロールすることが必要である
。酸素ガスの導入率が20%以下の場合には形成さil
、るITO薄膜は還元状態が強く高抵抗で低透明性のメ
タリックな色調をもった膜になってしまい、酸素ガスの
導入率が24%を越えると高透明てはあるが高抵抗の完
全酸化膜になって1〜まり傾向がある。
のものであり、その導入率は容積で20〜24%対アル
ゴンガスに精密にコン1−ロールすることが必要である
。酸素ガスの導入率が20%以下の場合には形成さil
、るITO薄膜は還元状態が強く高抵抗で低透明性のメ
タリックな色調をもった膜になってしまい、酸素ガスの
導入率が24%を越えると高透明てはあるが高抵抗の完
全酸化膜になって1〜まり傾向がある。
導入する混合ガス中の酸素の最適a度はターゲットの組
成、真空度その曲各神の条件に」:]て乙1変動−1−
るか」記の86”L回内で適宜選択すれはよい。
成、真空度その曲各神の条件に」:]て乙1変動−1−
るか」記の86”L回内で適宜選択すれはよい。
本発明による効果としてはくDベースフィルレムを連続
的に捲き取f)ながら低温重速で高透明導!1虻14i
フィルム積層休を製造できること。Q)イソンウj・・
11h合金り〜デフ1−を使用するためクー組成jしを
自由にコン10−/1/でき、月っ使用済のターグツ1
−ヲ回収再生1″ることが容易であり経済的であること
。(3)酸素カスを導入しながら反応スパッタリングす
るために酸素濃度を精密tココン1[1−ルすることに
よ−)でインジウム・1゛易酸化物薄膜の酸化状態を容
易にコントロールることができる。
的に捲き取f)ながら低温重速で高透明導!1虻14i
フィルム積層休を製造できること。Q)イソンウj・・
11h合金り〜デフ1−を使用するためクー組成jしを
自由にコン10−/1/でき、月っ使用済のターグツ1
−ヲ回収再生1″ることが容易であり経済的であること
。(3)酸素カスを導入しながら反応スパッタリングす
るために酸素濃度を精密tココン1[1−ルすることに
よ−)でインジウム・1゛易酸化物薄膜の酸化状態を容
易にコントロールることができる。
本発明に使用さ、l]、る反応DCjユ’& tL・高
速スパッタリング3+iρとしては、アルゴンガスト同
時にi′lJi密にカス流1八をコントロールできるマ
スフ11−コント「1−“ノーを有する酸素ガス導入口
及び真空チャンバー内でこれらのガスが均一に混合流入
されるようにした装置を有するものか必要である。また
プラズマの安定性並びにスバ。
速スパッタリング3+iρとしては、アルゴンガスト同
時にi′lJi密にカス流1八をコントロールできるマ
スフ11−コント「1−“ノーを有する酸素ガス導入口
及び真空チャンバー内でこれらのガスが均一に混合流入
されるようにした装置を有するものか必要である。また
プラズマの安定性並びにスバ。
夕効率の向上のために、ターゲットの裏側に強力な磁石
を装備したマグネトロン型で電源としては、高電圧のI
) C電源を装備する必要がある。
を装備したマグネトロン型で電源としては、高電圧のI
) C電源を装備する必要がある。
また、使用するペースフィルl、としては、自機透明フ
ィルムを使用する関係上、ベースフィルムが高i晶にさ
らされることのないような(苦ス告と同時にスパッタリ
ングされる時に裏面はクーリンクキャンで冷却し得る構
造とすることが必要である。
ィルムを使用する関係上、ベースフィルムが高i晶にさ
らされることのないような(苦ス告と同時にスパッタリ
ングされる時に裏面はクーリンクキャンで冷却し得る構
造とすることが必要である。
本発明に使用される有機透明フィルムとしては、例えば
ポリエチレンテレフクレー1−、ポリエチレンナフグレ
ー ト等のポリニスデル系uJ IIRフィルム、ポリ
スチレン、AS、ABS等のスチレン系樹脂フィルム、
ポリ]二チレン、ポリフ′ロピレン等のポリ第1/フイ
ンm mt 脂フィルム、可塑性樹脂フィルム、更をこ
例えばエポギン樹脂ジアリールフクレート樹脂、ジエチ
レングリコ、−ル、ビス−アリルカーボネート樹脂、ウ
レタン系樹脂、ケイ素樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、
フェノール系樹脂、尿素系樹脂等の熱硬化1’l I<
fJ脂フィルム及びポリビニールアルコール、ポリアク
リロニトリル、ポリウレタン、芳香族ポリアミド、ポリ
イミド樹脂等の溶剤可溶型樹脂のキャスティングフィル
ム等が挙げられる。
ポリエチレンテレフクレー1−、ポリエチレンナフグレ
ー ト等のポリニスデル系uJ IIRフィルム、ポリ
スチレン、AS、ABS等のスチレン系樹脂フィルム、
ポリ]二チレン、ポリフ′ロピレン等のポリ第1/フイ
ンm mt 脂フィルム、可塑性樹脂フィルム、更をこ
例えばエポギン樹脂ジアリールフクレート樹脂、ジエチ
レングリコ、−ル、ビス−アリルカーボネート樹脂、ウ
レタン系樹脂、ケイ素樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、
フェノール系樹脂、尿素系樹脂等の熱硬化1’l I<
fJ脂フィルム及びポリビニールアルコール、ポリアク
リロニトリル、ポリウレタン、芳香族ポリアミド、ポリ
イミド樹脂等の溶剤可溶型樹脂のキャスティングフィル
ム等が挙げられる。
本発明のITO薄膜の厚味は50〜500人、好ましく
は100〜400Xであり、薄すぎると導電性赤外線反
射性および耐熱性、耐薬品性が低くなりすぎまた厚すぎ
ると可視光の透過率が著しく低下して実用に供されない
。
は100〜400Xであり、薄すぎると導電性赤外線反
射性および耐熱性、耐薬品性が低くなりすぎまた厚すぎ
ると可視光の透過率が著しく低下して実用に供されない
。
導入して装置内の真空度を適当に調整した圧力範囲まで
含まれる。真空度で表わすとlXl0’−I X 10
’Torrであり、好ましくは1×10″んI X
1−0 ’Torrテある。
含まれる。真空度で表わすとlXl0’−I X 10
’Torrであり、好ましくは1×10″んI X
1−0 ’Torrテある。
以下実施例によって本発明の詳細な内容を説明するが、
これによって本発明が限定されるものではない。
これによって本発明が限定されるものではない。
実施例1〜5、比較例1〜6
2軸延伸ポリエステルフイルム(厚味125μm 24
7χX l 3 Q m巻ロール)を乾燥器中で100
0.2日間乾燥し、汲応DC低温高速スパッタリング装
置(ULVAC製連続巻取式スパッタリング機)fこ装
着し、ターゲットとしてI T O(In/Sn =9
515)を使用した。
7χX l 3 Q m巻ロール)を乾燥器中で100
0.2日間乾燥し、汲応DC低温高速スパッタリング装
置(ULVAC製連続巻取式スパッタリング機)fこ装
着し、ターゲットとしてI T O(In/Sn =9
515)を使用した。
その後表面清浄化及び活性仕のために05■′!1/ス
を十分除去するためにpn 7m i n の速度てフ
ィルムを走行させ全ロール範囲内で、5 XIO’To
rr 以下まて減圧した。ついでアルゴンガスを3 X
10 ’Torr まで導入しプレスパツタリングを
行った。この段階でプラズマが安定するまでに約20分
間のプレスパツタリングを行った後高純度酸素ガスをガ
ヌマスフロー二1ン10−ラーによって精密に制御しな
がら別表1の分率て導入した。その後プラズマの安定す
るのを待ってンヤノターを開き、フィルムを0.5+n
/minの速度で走行させた。別表1記載の各酸素分率
て上記フィルムを約1. OmずつスパッタリングIT
O薄膜を形成し、その後チャンバーJ:り取り出し光線
透過率、表面抵抗、ITO薄膜JIl味をθU定した結
果を第1表に示す。
を十分除去するためにpn 7m i n の速度てフ
ィルムを走行させ全ロール範囲内で、5 XIO’To
rr 以下まて減圧した。ついでアルゴンガスを3 X
10 ’Torr まで導入しプレスパツタリングを
行った。この段階でプラズマが安定するまでに約20分
間のプレスパツタリングを行った後高純度酸素ガスをガ
ヌマスフロー二1ン10−ラーによって精密に制御しな
がら別表1の分率て導入した。その後プラズマの安定す
るのを待ってンヤノターを開き、フィルムを0.5+n
/minの速度で走行させた。別表1記載の各酸素分率
て上記フィルムを約1. OmずつスパッタリングIT
O薄膜を形成し、その後チャンバーJ:り取り出し光線
透過率、表面抵抗、ITO薄膜JIl味をθU定した結
果を第1表に示す。
第1表
光線透過率は日本分光■、UVIDEC505をFil
い波長550nmの透過率でもって表わした。表面抵抗
は国際電気■脂化抵抗測定器MODEL VR30Aを
もって測定し、ITO膜厚は島??製作11斤■螢光X
線分析装置によりめた。酸素分圧18%以下の領域では
表面抵抗が4.5にΩ/口LSI下光線透過率は50%
以下となり透明性および導電性を目的とした用途には使
用できなり・。
い波長550nmの透過率でもって表わした。表面抵抗
は国際電気■脂化抵抗測定器MODEL VR30Aを
もって測定し、ITO膜厚は島??製作11斤■螢光X
線分析装置によりめた。酸素分圧18%以下の領域では
表面抵抗が4.5にΩ/口LSI下光線透過率は50%
以下となり透明性および導電性を目的とした用途には使
用できなり・。
又酸素分圧が25%以」二の領域では高透明C)膜質は
得られるが表面抵抗が高くなるた2/)これもまた使用
できない。酸素分圧を20〜24%領域に調整しながら
スパッタリンクを行えば非常をこ低抵抗かつ高透明な;
1位質が得られ液晶ディスプレー用電極、電場発光体用
″型棒、光導電性感光体用電極、ブラウン管各種精密測
定器の窓部分の透明静電気縞蔽膜膜帯電防止層、発熱体
等の分野ばかりでなく、電気光学拐料分野あるいは太陽
エネルギー旬月]分野等広い用途展開が可能となる。
得られるが表面抵抗が高くなるた2/)これもまた使用
できない。酸素分圧を20〜24%領域に調整しながら
スパッタリンクを行えば非常をこ低抵抗かつ高透明な;
1位質が得られ液晶ディスプレー用電極、電場発光体用
″型棒、光導電性感光体用電極、ブラウン管各種精密測
定器の窓部分の透明静電気縞蔽膜膜帯電防止層、発熱体
等の分野ばかりでなく、電気光学拐料分野あるいは太陽
エネルギー旬月]分野等広い用途展開が可能となる。
実施例 6
実施例1〜5に於いてターゲットのみI n/S n(
85/15)に変えて酸素分率20%と23%と。
85/15)に変えて酸素分率20%と23%と。
で行って第2表のフィルム積層体を得た。
第2表
Claims (1)
- ・インジウム・錫合金クーデ71−を使用しアルゴンガ
スと酸素との容積比か80〜76:20〜24のγ昆合
ガ−7・をチーオンハー内へ導入しつつJゾ1.l’p
、1(1〆dε低温、グ6連スパ、タリング法で透明フ
イルムトに酸化インシラl、・酸化錫薄膜を形成さ、扶
ることを特徴とする導電性づイルムl¥f層体の小9i
告 力 l去 。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3729284A JPS60182613A (ja) | 1984-03-01 | 1984-03-01 | 導電性フイルム積層体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3729284A JPS60182613A (ja) | 1984-03-01 | 1984-03-01 | 導電性フイルム積層体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60182613A true JPS60182613A (ja) | 1985-09-18 |
Family
ID=12493630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3729284A Pending JPS60182613A (ja) | 1984-03-01 | 1984-03-01 | 導電性フイルム積層体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60182613A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01268859A (ja) * | 1988-04-20 | 1989-10-26 | Casio Comput Co Ltd | 透明導電膜の形成方法および形成装置 |
-
1984
- 1984-03-01 JP JP3729284A patent/JPS60182613A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01268859A (ja) * | 1988-04-20 | 1989-10-26 | Casio Comput Co Ltd | 透明導電膜の形成方法および形成装置 |
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