JPS60180770A - 研削盤用測定ヘツド - Google Patents

研削盤用測定ヘツド

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JPS60180770A
JPS60180770A JP60002309A JP230985A JPS60180770A JP S60180770 A JPS60180770 A JP S60180770A JP 60002309 A JP60002309 A JP 60002309A JP 230985 A JP230985 A JP 230985A JP S60180770 A JPS60180770 A JP S60180770A
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measuring
scanning
measuring head
diameter
axis
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B49/00Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
    • B24B49/02Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation according to the instantaneous size and required size of the workpiece acted upon, the measuring or gauging being continuous or intermittent
    • B24B49/04Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation according to the instantaneous size and required size of the workpiece acted upon, the measuring or gauging being continuous or intermittent involving measurement of the workpiece at the place of grinding during grinding operation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/0002Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、%M請求の範囲第1項の上位概念に記載の研
削盤用の測定ヘッドに関する。
研削上の多様な課題を満足させる研A11盤としての円
筒研削盤は今日では一般にいわゆる直径測定ヘッドおよ
び附加的にいわゆる副長ヘッドを備えている。直径測定
ヘッドは研削工程の間或いは研削工程後の一つ或いは多
数の直径を測定するのに役立つ。測長ヘンドは材料屑部
の理想的な一定の肩部位置(基準−位置)に対する相対
的な軸方向の位置の相違を記録するのに役立つ。即ち、
厳格に云えば「副長ヘッド」と云う表現は全く正しくな
い。しかし、この表現は一般的になっている。差のこの
決定はいわゆる縦矯正に役立つ。縦矯正とは、材料の軸
方向での基準−位置からの差を連続的に測定し、この差
が許容限界値を下廻るまで、即ち材料がその基準−位置
に達するまで、この固定された材料を軸方向で摺動させ
ることである。今日において、現代の研削盤にあっては
、この差の均側のためには別の方法をとるのが一般的で
ある。例えば、材料のその基準−位置からの差を検出し
、機械制御機構において修正値として計算する。
この方法のためにも「縦矯正」と云う概念が使用される
このような測長ヘッドは従来、材料方向へそL7て材料
からの戻り運動のための附加的な制御軸をも含めて複雑
な測定装置の形での著しい構造的上の費用を要するのみ
ならず、作業員にとっての著しい場所的な障害をももた
らす。
こう云ったことから本発明の課題は、縦矯正のための構
造上の経費を低減し、かつ材料の手前における副長ヘッ
ドによる場所上の妨げを排除することである。
根本的に、上記の課題は、直径測定ヘンドを測長を実施
するのにも使用し得るように配設することによって解決
される。この目的のため直径測定ヘッドは特許請求の範
囲第1項の特徴部分に記載の%徴で構成される。
本発明の他の特別外構成は特許請求の範囲第2項から第
7唄に=r=載した。
以下に添付図面に図示した実施例につき本発明を詳説す
る。
第1図には、ベット11、このベット11上で矢印Xの
方向で運動可能でありかつといし車12を有するといし
送り2およびベット11上でX一方向に対して横方向(
図面の囲に対して垂直方向)で移動可能なかつ公知様式
で直径測定ヘンド14および測長ヘッド15を有する材
料送りスライダ13とを備えた円筒研削盤1が概略図で
示されている。直径測定ヘッド14はコラム4に材料送
9スライダ16に対して平行に摺動可能に案内されてい
る横送りスライダ3 ”に、2重矢印5の方向で軸6を
中心として揺動駆動部19によシ実線で示した測定位置
7から一点鎖線で示した静止位置8へと揺動可能に軸受
されている。直径測定ヘッド14には、この直径測定ヘ
ンド14の走査部材1(S’、17を材料18の測定す
べき直径に相応して位置決めするため、プログラム化可
能なIC−軸yが必要である。即ち、走査部材16.1
7は2重矢印yの方向で運動可能に案内されている。
測長ヘッド15はベット11と固く結合されている片持
部22上で2重矢印Uの方向で摺動可能である。したが
って走査部材20は実線で示したその静止位置から一点
鎖線で示した作業位置20aへと移行可能である。その
都度材料18の必要な縦矯正を行う前に、走査部材20
はその作業位置20aにおいてほぼ材料1Bの走査すべ
き肩部21の中央半径上で位置決めされる。これは一点
鎖線で示した位置20aが示している。図面から明瞭で
あるように、公知の円筒研削盤における測長ヘッド15
のこの一般的な配設はその所属しているプログラム化可
能なNC−軸Uと測長ヘッドを担持している片持部22
とによシ、材料18への接近が著しく阻割される。した
がって、作業員にとって研削盤の操作が困難となる。
こう云ったことから本発明によp1直径測定ヘッド14
は、これが材料18の肩部21を走査するためにも使用
可能であるよう−に変形される。これは本発明によシ以
下のようにして達せられる。即ち、測定ヘンド14の少
くとも一つの走査部材を、直径測定のための材料@巌に
対して垂直方向での走食兼測尾機Wb以外に、測長のだ
めの材料@UfIMに対して平行方向での走査兼測定機
能をも行い得るように、形成することによって達せられ
る。
このように変更された直径測定ヘッドは第2図および第
3図に図示されてお9、参照符号14aで示した。この
実施形の場合、上方の測定走査部材16aは、これがそ
の直径測定の機能に加えて測長のための走査部材の機能
をも兼ねることが可能であるよゲに、有利には同じ測定
機構30を直径測定にも、副長にも利用し得るように、
形成される。この目的のため第2図および第3図による
実施形にあっては、上方の測定走査部材16aは軸72
上に固定されておp、この軸は上端部にブロック64を
担持している管33内に回転可能に支承されており、か
つ長手方向で摺動可能に案内されており、このブロック
34はこのような直径測定ヘッドの通常の構造にあって
測定ロンド會収谷しているスリーブに相応して測定ヘッ
ド14に対して定置して設けられている。軸62はその
上端部にあぶみ状部材65を担持して2す、このあぶみ
状部材は、第3図に図示したように、直、ti、或いは
公知様式で間挿され測定ロンドを介して測定機構30の
測定ツイーン29に当接している。このあぶみ状部材3
5は2重楔面36を備えており、この喫面内にボルト3
7が係合しており、このボルトはブロック64の端面に
軸62の方向に対して垂直に突出している。IQII3
2に対して直径方向で相対している側面において、あぶ
み状部材65はばね46によって負荷されている中央位
置調節部材69内に係合しているロンド38が担持して
いる。この中央位置調節部材は、ロンド38が間に設け
られている二つの軸方向に突出しているボルト40を備
えていてかつ軸45全中心にして回転可能な円板44の
様式で構成されている。ばね43の引張り力によりボル
ト40は相反する側からロンドロ8に対して押付けられ
、したがってこのロンドはその零位置の方向で押付けら
れ、この零位置を維持しようと働く。t!りぶみ状部材
65と固く結合されている軸62を介して、副長のため
2重矢印23の方向で偏向可能な走査部材16aは、測
定工程時外はその零位置に復帰している。
第2図に図示した肩部21ai有する材料18は、図示
していないテールストックの鋭端24と略示した材料ス
ピンドルストック25の肉厚な鋭端との間に回転可能に
固定されている。
上記の測定ヘッド14aによる直径の測定の際、作業は
通常の直径測定ヘッドと同じ様式で行われる。上方の測
定走査部材16aは材料18の外周に当接され、場合に
よっては軸32を持上げ、これによりあぶみ状部材35
は測定機構50の測定フイーラを持上げる。この場合通
常のように平行な測定が下方の測定走査部材17aで行
われる。もちろん、専ら一つの測定走査部材−図示の実
施例の場合は上方の測定走査部材16a−で測定を行わ
れ、下方の測定走査部材17aは補正にのみ利用すにと
も可能である。
材料18を加工する以前に、その軸方向の位置が軸方向
の基準位置と一致すること、即ち材料18の軸方向の位
置が研削盤の制御機構内に記憶された位置と一致するこ
とが保証されなければならない。材料18の軸方向の正
確な位置を確定するため、走査部材16aで長さ測定が
行われる。この長さ測定の場合、走査部材16aは側面
で材料肩部21aに当接され、場合によってはその位置
から側方へと偏向される。したがって軸32は旋回され
る。軸32の旋回の際、この軸と固く結合さ五ている今
ぶみ状部材35は2重喫面36の相応する部分でボルト
37に対して押付けられ、この場合走査部材16aの四
方への偏向に比例して上方へと測定機構の測距フイーラ
29方向へ摺動される。このことは直径測定における走
査部材16aの持上シにおけると同じ様式で測定機s3
oに作用が行われる。この場合、2電侯面56tlCよ
p1重量部材16aが左方向に或いは右方向に旋回しよ
うが刺青問題とならない。楔面36を適当に改造するこ
とによりもちろん、他の運動様式、例えば過大比例の或
いは過少比例の持上9運動、或いは一方の方向での回転
の際の持上り運動および他の方向での同転の際の降下運
動を達することも可能である。測長後、測定走査部材1
6aの中央位置がその都度中央位置円節装置69によっ
て強制的に行われる。
第4図には、第2図による直径測定ヘッドの変形14b
が示されている。この実施形にあっては、下方の測定走
査部材17bは第3図に図示した実施形による上方の測
定走査部材16と同様に形成されている。したがってこ
の走査部材17bは縦矯正にも使用できる。第4図にお
いては、第1図と等しい部材は等しい参照符号で示した
第5A図と第5B図には第2図に図示した実施例による
測長のだめの装置を備えた直径測定ヘッドと異る実施例
が図示されている。第5A図はこのような測定ヘッドの
一部分の正面図を第5B図はその側面図を図示している
。両側定走査部材16Cと170は公知様式でy−軸の
方向で摺動可能である。しかし、これに加えて上方の測
定走査部材16Cはy−軸に対しておよび材料軸線26
に対して垂直な軸線46を中心にして旋回可能である。
この目的のため上方の測定走査部材16cは相応して軸
46に対して同心的に設けられている軸42上に座して
おり、この軸42は一端において概略図で示したアング
ル収容部41と固く、或いは遊びの々い中間軸に介して
結合されている。アングル収容部41自体はその際y−
軸の方向で摺動可能であるが、しかし他の方向では摺動
不能であり、また図示していない測定ヘッドに対して揺
動不能である。この実施例の場合も、第3図に図示した
と同じ中央位装置調節装置が設けられているが、図面を
見易くするため図示されていない。
第5A図および第5B図によるこの実施例の場合、上方
の走査部材16cはアングル収容部41と共にy一方向
で揺動可能なロッド27の下端部に揺動可能に固足され
ている。
この実施例の場合ももちろん下方の走査部材17cは測
長走査部材として形成することが可能である。
本発明により、第5A図、第5B図および第2図もしく
は第3図による測定走査部材の実施形を互いに組合せる
ことも可能である。この場合、(第5B図における)ア
ングル収容部41の精度はそう強くめられない。なぜな
ら、このアングル収容部はこの場合、丁度測長が行われ
ていることを示すためにのみ利用されているからである
。その際本来の測長は測定走査部材16a/16Cの第
3図に相応する矢印23の方向での偏向によって行われ
る。この場合、その際測定機構301Cよって得られた
値はア、ングル収容部41によって信号が与えられるの
で明白に長さ測定値として確認される。このことは特に
有利である。なぜなら、とにかく直径測定機構30にめ
られる精度が極めて高くなければならないからである。
本発明の他の実施形を第6図において側面図で示した。
この実施例の場合も材料は参照符号18で図示されてお
り、かつ肩部21を有している。測定走査部材16dと
17dは通常の様式で直径測定走査部材として働く。ロ
ンド27に固定されていて、走査部材17dのように直
径検出のためy一方向で運動可能である測定走査部材1
(Sdは材料18において長さを測定するための測定走
査部48t−有する市販の測長機構47を担持している
。即ち、この実施例の場合、材料18の縦位置決めのた
め測定ヘッド14aに附加的な走査部材48が設けられ
ている0 本発明のすべての実施形の作動態様は等しい。
その都度、図示していない機械制御機構により、測長の
ため設けられている走査部材は測定ヘッド14aもしく
は14bのy−軸の方向で所望の走査半径方向に、即ち
ほぼ走査すべき/N部21の中央にもたらされる。この
場合、副長走査のために設けられた走査部材は既に弾性
的にこの肩部21に当接しているか、或いはこの走査部
材はy−軸方向でのその位置決めの後材斜送9スライダ
13を相応して運動させるか或いは測定ヘッドを担持し
ている横送シスライタ3を相応して運動させることによ
シ肩部21に当接させられる。材料送9スライダ16と
横送シスライダ3のその都度の位置が正確に知られるの
で、走査されるべき肩部21に当接している走査部材1
6a 、’17b、、 16c ;4’8は材料肩部2
1の正確な実測位置を与える。材料の縦矯正を行うため
、この実測位置はここでその基準位置と比較される。実
測位置の基準位置からの差に相当する修正値が機械制御
機構にとられるか、或いは材料は材料テーブル13が摺
動されることによりその基準位置にもたらされる。
この縦矯正後、測定ヘッドは通常の公知の様式で直径y
4+1定ヘッドとして使用される。 ′本発明は、y−
軸が機械制御機構においてプログラム化されておらず、
大量生産においてしばしば見られるように予め一定の材
料直径に調節されている直径測定ヘッドにも適用できる
【図面の簡単な説明】
第1図は直径測定ヘッドと別個の測長ヘッドとを有して
いる公知の円筒形研削盤の一部断面で図示した側面図、
第2図は本発明によシ変形された直径測定ヘッドの透視
図、第3図は第2図による測定ヘッドの上記測定ジョー
の概略図、第4図は本発明の第二の実施例の一部断面で
示した側面図、第5A図と第5B図は本発明の第三の実
施例の走査部材一部分の概略図、第6図は本発明の第四
の実施例の走査部材一部分の概略図。 図中符号は 14.14a、14b・=測定ヘッド 16a、17b、16c、4B・−走査部材26・・・
材料軸 30.41.47・・・測定機構 52.46・・・垂直な軸 代理人 江 崎 光 好 代理人 江 崎 光 史 FIG、6 手続補正書 昭和60年 4月 ぐ1」 特許庁長官 志賀 学 殿 1、 事件の表示 昭和60年特許願第2309号 3、補正をする者 事件との関係 出願人 4、代理人 住 所 東京都港区虎ノ門二丁18番1号岐の門市気ビ
ル)〔電話03 (502) 1476 (代表)〕&
補正の内奏 1、 明細書第9頁第3行の「72」を「52」と補正
する。 2 明細書第9頁第9行の「14」を「14aJと補正
する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 t 直径測定の際直径方向で相対している材料の位置に
    自接し、測定された直径の方向で摺動可能である二つの
    走査部材を備え、この場合上記間走査部材の少くとも一
    つが直接或いは中間に設けた測定ロンドを介して測定機
    構と結合されている様式の研削盤用の測定ヘッドにおい
    て、測定ヘッド(14,14a。 14b)が同じ測定ヘッドにより附加的に長さ測定を行
    う目的で材料軸線(26)に対して垂直な軸(32,4
    6)を中心にして揺動可能な少くとも一つの走査部材(
    +6a、。 17b、16c、48)を有していること、およびこの
    走査部材の材料軸線に対して垂直な軸を中心とした揺動
    運動を検出する測定機構(30,41,47)が設けら
    7tていることを%徴とする、研削盤用の測定ヘッド。 2、 材料直径を検出する両走査部材(16a。 17a;16b、17b;16c’、17c)の少くと
    も一つ(16a、17b、16c)が材料軸?5(26
    )に対して垂直な軸(32゜46ンを中心として揺動可
    能でら9、この走査部材の材料軸線に対して垂直な柵を
    中心とした揺動運動を検出する測定機構(60゜149
    が設けられている、前ml特IvFM求の範囲一1項に
    記載の測定ヘッド。 5、 揺動可能な走査部材(16c)の揺動軸(46)
    が直径測定の際走査部材の摺動運動(y)に対して垂直
    方向をとり、かつ揺動運動を検出するためのアングル収
    容部(41)が設けられている、前記特許請求の範囲第
    1項或いは第2項に記載の測定ヘッド。 4、揺動可能な走査部材(16a、17b’)が、測定
    ヘッド(14a、14b)に対して定置して設けられた
    構造部分(64)に対して回転かつ摺動可能な軸(32
    )上に固定されており、この軸が揺動運動の際少くとも
    軸を測定ヘッドに対して相対的に摺動させる摺動装置(
    36,37)を作動させる揺動要素(35)を担持して
    おり、軸が測定機構(30)に、場合によっては測定ロ
    ンドを介して、当接しておシ、シたがって直径測定の際
    の走査部材の軸方向の摺動も、また長さ測定の際の走査
    部材の揺動運動も同じ測定機構で検出可能であるように
    構成されている前記特許請求の範囲第1項或いは第2項
    に記載の測定ヘッド。 5 あぶみ状部材(65)として形成されている揺動要
    素が、軸方向で突出している二つのポル)(40)i備
    えかっばね(43)によって負荷されている回転可能な
    円板(44)から成る中央位置調節装置(69)内に係
    合しているロンド(3a−)*担持している、前記特許
    請求の範囲第4項に記載の測定ヘッド。 & 走査偏向部材を備えた測長のための附加的な走査部
    材(48)が材料軸線の検出を行う測定機構(47)に
    対して垂直に測定ヘッドに設けられている、前記特許請
    求の範囲第1項に記載の測定ヘッド。 Z 附加的な走査部材(48)と所属する測定機構(4
    7)とが直径測定のだめの走査部材(16d)の一つに
    設けられている、前記特許請求の範囲第6項に記載の測
    定ヘッド。
JP60002309A 1984-01-13 1985-01-11 研削盤用測定ヘツド Granted JPS60180770A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3401081.5 1984-01-13
DE3401081 1984-01-13

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JPS60180770A true JPS60180770A (ja) 1985-09-14
JPH0545384B2 JPH0545384B2 (ja) 1993-07-09

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ID=6224936

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JP60002309A Granted JPS60180770A (ja) 1984-01-13 1985-01-11 研削盤用測定ヘツド

Country Status (5)

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US (1) US4606130A (ja)
JP (1) JPS60180770A (ja)
FR (1) FR2558097B1 (ja)
GB (1) GB2152409B (ja)
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