JPS60176257A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS60176257A JPS60176257A JP59031711A JP3171184A JPS60176257A JP S60176257 A JPS60176257 A JP S60176257A JP 59031711 A JP59031711 A JP 59031711A JP 3171184 A JP3171184 A JP 3171184A JP S60176257 A JPS60176257 A JP S60176257A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- semiconductor
- plate piece
- high thermal
- semiconductor devices
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/42—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
- H01L23/433—Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
- H01L23/4334—Auxiliary members in encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野):
本発明は、半導体装置にかかシ、特にメモリ用半導体装
置等に用いられているいわゆるビキーバックパッケージ
に関するものである〇 (従来技術): 従来のメモリ谷駕の小さい半導体装置を被数個用いてメ
モリ容量の大きな一つの半導体装置を構成するようにし
たいわゆるピギーバック法によシ、おのおの接続された
半導体装置の総和のメモリ容量となシ、例えは16にビ
ットの半導体装置を2個接続した場合には32にビット
の容量となシ、極めて簡単に大きなメモリ容量の半導体
装置を得ることができた。
置等に用いられているいわゆるビキーバックパッケージ
に関するものである〇 (従来技術): 従来のメモリ谷駕の小さい半導体装置を被数個用いてメ
モリ容量の大きな一つの半導体装置を構成するようにし
たいわゆるピギーバック法によシ、おのおの接続された
半導体装置の総和のメモリ容量となシ、例えは16にビ
ットの半導体装置を2個接続した場合には32にビット
の容量となシ、極めて簡単に大きなメモリ容量の半導体
装置を得ることができた。
しかしながら、それぞれの半導体装置の小型化薄化によ
シ上述のようなどキーバックパッケージはより実装密度
が向上した反面、半導体装置の実装動作時に消費される
電力による発熱によシ、該尚早導体装置を実装したシス
テムが誤動作する。
シ上述のようなどキーバックパッケージはより実装密度
が向上した反面、半導体装置の実装動作時に消費される
電力による発熱によシ、該尚早導体装置を実装したシス
テムが誤動作する。
あるいは動作しなくなる。場合によっては破壊されてし
まうという欠点があった。
まうという欠点があった。
(発明の目的):
本発明の目的は、上述のような実装時の熱的異常を生じ
ないいわゆるピギーバック法により構成された半導体装
置を提供することにある。
ないいわゆるピギーバック法により構成された半導体装
置を提供することにある。
(発明の構成):
本発明は、2個以上の半導体装置体すなわち個々の半導
体装置を上下方向に重ねるとともに、上下の半導体装置
体の相対するリードをおのおの接続するようにした半導
体装置において、そのおのおのの半導体装置体の間に、
お互いの半導体装置体に接着するようにして、高熱伝導
性の拐料からなる板片を肩°することを特徴とするもの
である。
体装置を上下方向に重ねるとともに、上下の半導体装置
体の相対するリードをおのおの接続するようにした半導
体装置において、そのおのおのの半導体装置体の間に、
お互いの半導体装置体に接着するようにして、高熱伝導
性の拐料からなる板片を肩°することを特徴とするもの
である。
(発明の作用):
上下方向に夏ねられた半導体装置体の間に、お互いの半
導体装置体に接着するようにして高熱伝導性の材料から
なる板片を設けたことによシ、個々半導体装置すなわち
個々の半導体装置体の動作時に消費される電力により発
生された熱は、高熱伝導性材料を通じて装置外界囲気に
放散され、おのおのの半導体装置の温度上昇は緩和され
る。
導体装置体に接着するようにして高熱伝導性の材料から
なる板片を設けたことによシ、個々半導体装置すなわち
個々の半導体装置体の動作時に消費される電力により発
生された熱は、高熱伝導性材料を通じて装置外界囲気に
放散され、おのおのの半導体装置の温度上昇は緩和され
る。
(発明の効果):
本発明は、以上のように、2個以上の半導体装置を上下
方向に重ねることによシ構成された半導体装置全体の熱
抵抗を低下させる効果がある。
方向に重ねることによシ構成された半導体装置全体の熱
抵抗を低下させる効果がある。
(実施例)
以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。第1図
は、従来のピギーバック法により構成された半導体装置
の側面図である。図示のように、半導体装置体1は、そ
の下方の半導体装置体1′とその側面から導出された各
々相対する複数のリード2によシ半田あるいはスポット
溶接等にょシ接続されている。
は、従来のピギーバック法により構成された半導体装置
の側面図である。図示のように、半導体装置体1は、そ
の下方の半導体装置体1′とその側面から導出された各
々相対する複数のリード2によシ半田あるいはスポット
溶接等にょシ接続されている。
第2図は、本発明の半導体装置を示す側面図である。お
のおのの半導体装置体1.1′の間に銅等の高熱伝導性
の拐料よシなる板片3がリード2に接触しないように接
着されている。このことにょシ半導体装置動作時の発熱
による温度上昇を緩和することができ、従来の半導体装
置における熱抵抗値(無風測定の場合)をその板片の材
料を選択したシ、またその板片の形状を選択したシする
ことによシ10℃/W〜50°O/W程度減少させるこ
とができる。
のおのの半導体装置体1.1′の間に銅等の高熱伝導性
の拐料よシなる板片3がリード2に接触しないように接
着されている。このことにょシ半導体装置動作時の発熱
による温度上昇を緩和することができ、従来の半導体装
置における熱抵抗値(無風測定の場合)をその板片の材
料を選択したシ、またその板片の形状を選択したシする
ことによシ10℃/W〜50°O/W程度減少させるこ
とができる。
このことは、第3図、第4図に示されるようなミニフラ
ットパッケージについてはその効果が顕著である。さら
に本発明は、メモリー相生導体に限らす、一般的な半導
体装置にも適用できることは1うまでもない。
ットパッケージについてはその効果が顕著である。さら
に本発明は、メモリー相生導体に限らす、一般的な半導
体装置にも適用できることは1うまでもない。
(発明のまとめ):
以上のように、本発明の半導体装置によれは、従来のピ
ギーバック法によシ構成された半導体装置の熱抵抗値を
減少でき、半導体装置の実装動作中の発熱による動作異
常を防止することができる。
ギーバック法によシ構成された半導体装置の熱抵抗値を
減少でき、半導体装置の実装動作中の発熱による動作異
常を防止することができる。
第1図は、従来のピギーバック法にょシ構成された半導
体装置の1111面図、第2図は、本発明の一実施例を
示す側面図、第3図、第4図は、本発明の他の実施例を
示す半導体装置の斜視図である。 1.1′・・・・・・半導体装置体、2・旧・・リード
、3・・・・・・高熱伝導性材料からなる板片。
体装置の1111面図、第2図は、本発明の一実施例を
示す側面図、第3図、第4図は、本発明の他の実施例を
示す半導体装置の斜視図である。 1.1′・・・・・・半導体装置体、2・旧・・リード
、3・・・・・・高熱伝導性材料からなる板片。
Claims (1)
- 2個以上の半導体装置体を上下方向に重ねるとともに、
上下の半導体装置体の相対するリードをおのおの接続す
るようにした半導体装置において、そのおのおのの半導
体装置体の間に、お互いの半導体装置体に接着するよう
にして、高熱伝堺性の材料の板片を設けたことを特徴と
する半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59031711A JPS60176257A (ja) | 1984-02-22 | 1984-02-22 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59031711A JPS60176257A (ja) | 1984-02-22 | 1984-02-22 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60176257A true JPS60176257A (ja) | 1985-09-10 |
Family
ID=12338654
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59031711A Pending JPS60176257A (ja) | 1984-02-22 | 1984-02-22 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60176257A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62261166A (ja) * | 1986-05-08 | 1987-11-13 | Matsushita Electronics Corp | 半導体装置 |
-
1984
- 1984-02-22 JP JP59031711A patent/JPS60176257A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62261166A (ja) * | 1986-05-08 | 1987-11-13 | Matsushita Electronics Corp | 半導体装置 |
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