JPS60167122A - 金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法Info
- Publication number
- JPS60167122A JPS60167122A JP2235284A JP2235284A JPS60167122A JP S60167122 A JPS60167122 A JP S60167122A JP 2235284 A JP2235284 A JP 2235284A JP 2235284 A JP2235284 A JP 2235284A JP S60167122 A JPS60167122 A JP S60167122A
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- JP
- Japan
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- magnetic
- recording medium
- magnetic recording
- substrate
- film type
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法に関する
。
。
背景技術とその問題点
従来一般に普及されている磁気記録媒体は、針状の磁性
粉と面分子結合剤とを主体とする磁性塗料を非磁性基板
上に塗布して磁性層を形成した塗布型の磁気記録媒体で
ある。
粉と面分子結合剤とを主体とする磁性塗料を非磁性基板
上に塗布して磁性層を形成した塗布型の磁気記録媒体で
ある。
これに比し、Go、 Pe、 Niの磁性金属或いはこ
れらの合金を真空蒸着、スパッタリング奪によって非磁
性基板上に形成する金属薄膜型の磁気記録媒体は、その
磁性層中に非磁性の結合剤が混入されていないために高
い残留磁束密度が得れ、また磁性層を極めて薄く形成す
ることができるために高出力且つ短波長応答性にすぐれ
ているという利点がある。
れらの合金を真空蒸着、スパッタリング奪によって非磁
性基板上に形成する金属薄膜型の磁気記録媒体は、その
磁性層中に非磁性の結合剤が混入されていないために高
い残留磁束密度が得れ、また磁性層を極めて薄く形成す
ることができるために高出力且つ短波長応答性にすぐれ
ているという利点がある。
またこのような金属薄膜型磁気記録媒体として、例えば
ほぼ垂直蒸着で非磁性基板上に下地1−とし”ζBi等
の凝固時に体積膨張する非磁性金属層を被着した後、引
き続い′ζこれの上にGo、 Co−Ni合金等の強磁
性金属蒸着膜を形成することによって、商い抗磁力を有
するようになした磁気記録媒体が提案されている。
ほぼ垂直蒸着で非磁性基板上に下地1−とし”ζBi等
の凝固時に体積膨張する非磁性金属層を被着した後、引
き続い′ζこれの上にGo、 Co−Ni合金等の強磁
性金属蒸着膜を形成することによって、商い抗磁力を有
するようになした磁気記録媒体が提案されている。
しかし、かかる金属薄膜型磁気記録媒体は、電磁変換特
性の面からは優れた磁気記録媒体であるが、従来方法で
製造されたものは実用上耐久性に劣り、不満足であった
。
性の面からは優れた磁気記録媒体であるが、従来方法で
製造されたものは実用上耐久性に劣り、不満足であった
。
発明の目的
本発明は、上述の点に鑑み、耐久性が向上し、また耐錆
性も向上する金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法を提供
するものである。
性も向上する金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法を提供
するものである。
発明の概要
本発明は、非磁性基板上に形成した強磁性金属薄膜磁性
層の表面に基板温度を120℃以上に保持した状態で酸
素イオンボンバード処理を施すようにした金属薄膜型磁
気記録媒体の製造方法である。
層の表面に基板温度を120℃以上に保持した状態で酸
素イオンボンバード処理を施すようにした金属薄膜型磁
気記録媒体の製造方法である。
この発明の製法によれば、金属薄膜型磁気記録媒体の耐
久性及び耐錆性が向上する。
久性及び耐錆性が向上する。
実施例
以下本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明に適用されるボンバード処理兼用の蒸着
装置である。
装置である。
この装置(11は酸素ガス(02)の導入管(2)を備
えた真空槽(3)内に非磁性基板(21)を保持したリ
ング状ホルダー(4)が配され、このホルダー(4)に
対向する下方位置に磁性層等の蒸着源(図では便宜、F
lつだけ不す)(5)が配される。ホルダー(4)に近
い位置に直流電圧(例えばI KV)が印加されるリン
グ状のボンバード電極(6)が配され、さらに非磁性基
4N(21)の上方に基板温度を設定するための加熱制
御手段(7)が配される。この装置では、磁性J−等の
M着時には真空槽(3)内を所定の真空度にして対応す
る蒸着源(5)によって非磁性基&(21)上に磁性層
等を蒸着するようになず。又、管(2)を通じて真空槽
(3)内に酸素ガスを導入し、ボンバード電極(6)に
直流電圧を印加するごとによって酸素イオンボンバード
処理が行える。
えた真空槽(3)内に非磁性基板(21)を保持したリ
ング状ホルダー(4)が配され、このホルダー(4)に
対向する下方位置に磁性層等の蒸着源(図では便宜、F
lつだけ不す)(5)が配される。ホルダー(4)に近
い位置に直流電圧(例えばI KV)が印加されるリン
グ状のボンバード電極(6)が配され、さらに非磁性基
4N(21)の上方に基板温度を設定するための加熱制
御手段(7)が配される。この装置では、磁性J−等の
M着時には真空槽(3)内を所定の真空度にして対応す
る蒸着源(5)によって非磁性基&(21)上に磁性層
等を蒸着するようになず。又、管(2)を通じて真空槽
(3)内に酸素ガスを導入し、ボンバード電極(6)に
直流電圧を印加するごとによって酸素イオンボンバード
処理が行える。
実施例1
第1図の装置(11内に、厚さ30μのポリイミドフィ
ルムよりなる非磁性基板(21)を配し、真空槽(3)
内に92.ガスを導入して、先づ、非磁性基板(21)
上に02イオンのボンバード処理(22)を1Tった。
ルムよりなる非磁性基板(21)を配し、真空槽(3)
内に92.ガスを導入して、先づ、非磁性基板(21)
上に02イオンのボンバード処理(22)を1Tった。
ボンバード条件は次の通りである。
02ガス圧 : 6.5Pa
印加電圧 :IKシ
イオン電流 : ’100Il^
基娠温度 :150’c
次いで、真空槽(3)を10−’ Paの真空度にし、
蒸着源(5)をBiとして非磁性基板(21)上に基板
温度を150℃に保持した状態で下地層(23)として
のBiを電子ビーム加熱法により50人の厚みで蒸着し
、引き続き蒸着源(5)としてCo−3ONi (Co
が70%、Niが30%)を用いζ同じく電子ビーム加
熱法によりGo−Ni合金磁性層(24)を350人の
厚みに蒸着した。次で、この様にして形成された磁性層
表面に前述と同じボンバード条件で、02イオンのボン
バード処理(22)を行って第2図に承ず金属薄膜型磁
気記録媒体を作製した。
蒸着源(5)をBiとして非磁性基板(21)上に基板
温度を150℃に保持した状態で下地層(23)として
のBiを電子ビーム加熱法により50人の厚みで蒸着し
、引き続き蒸着源(5)としてCo−3ONi (Co
が70%、Niが30%)を用いζ同じく電子ビーム加
熱法によりGo−Ni合金磁性層(24)を350人の
厚みに蒸着した。次で、この様にして形成された磁性層
表面に前述と同じボンバード条件で、02イオンのボン
バード処理(22)を行って第2図に承ず金属薄膜型磁
気記録媒体を作製した。
実施例2
ボンバード処理時の基板温度を2θo℃とし、その他は
実施例1と同じにして、第2図と同様の金属薄1型磁気
記録媒体を作製した。
実施例1と同じにして、第2図と同様の金属薄1型磁気
記録媒体を作製した。
比較例1
ボンバード処理時の基板温度を100℃とし、その他は
実施例1と同じにして、第2図と同様の金属薄膜型磁気
記録媒体を作製した。
実施例1と同じにして、第2図と同様の金属薄膜型磁気
記録媒体を作製した。
比較例2
ボンバード処理時の基板温度を100’Cとし、その他
は実施例1と同じにして、第2図と同様の金bls薄膜
型磁気記録媒体を作製した。
は実施例1と同じにして、第2図と同様の金bls薄膜
型磁気記録媒体を作製した。
上記各側の磁気記録媒体から直径3.5インチのディス
ク状媒体を得、ソニー製ディスク駆動装置に装着し走行
させて記録、再生を行い、再生出方が初期出力より6d
B減少するまでの時間を測定して耐久性の評価を行った
。その結果を下記表に示す。
ク状媒体を得、ソニー製ディスク駆動装置に装着し走行
させて記録、再生を行い、再生出方が初期出力より6d
B減少するまでの時間を測定して耐久性の評価を行った
。その結果を下記表に示す。
表
Iif 1iliのO印は良好、×印は不良をボす。耐
久性としては、60分以上であれば実用に供し得る。
久性としては、60分以上であれば実用に供し得る。
上記表から明らかなように実施例1及び2におい−C1
耐久性が向上している。この理由は磁性層(24)表面
を120t’以上の高温で02イオンボンバード処理す
ることにより、より表向の酸化が進んで緻密な酸化膜が
形成されるためと考えられる。
耐久性が向上している。この理由は磁性層(24)表面
を120t’以上の高温で02イオンボンバード処理す
ることにより、より表向の酸化が進んで緻密な酸化膜が
形成されるためと考えられる。
この緻密な酸化膜によって耐#+1悟、も向上する。ま
た、非磁性基板表面への晶温の02イオンボンバード処
理によって、下地層(23)となるBiの被着強度が」
二がる。
た、非磁性基板表面への晶温の02イオンボンバード処
理によって、下地層(23)となるBiの被着強度が」
二がる。
第3図乃至第7図に本製造方法で作製される金属s模型
磁気記録媒体の応用例を示す。
磁気記録媒体の応用例を示す。
第3図はポリイミドフィルムによる非磁性基板(21)
上にBiの下地1(23)及びその上にGo−Ni合金
の磁性層(24)を被着形成し、磁性層(24)の表面
に02イオンボンバード処理(22)を施した場合であ
る。
上にBiの下地1(23)及びその上にGo−Ni合金
の磁性層(24)を被着形成し、磁性層(24)の表面
に02イオンボンバード処理(22)を施した場合であ
る。
第・4図は非磁性基板(21)の表向と磁性層(24)
の表面に02イオンボンバード処理を施した場合である
。
の表面に02イオンボンバード処理を施した場合である
。
第5図は非磁性基板(21)の表面のみを02イオンボ
ンバード処理した場合である。
ンバード処理した場合である。
第6図はCo−Nj合金の磁性層(24)の表面に02
イオンボンバード処理を施した後、その上に5i(bあ
るいはCr20a等の如き保H1l* (26)を形成
し、この保鏝膜(26)の表面にさらに02イオンボン
バード処理(22)を施した場合である。
イオンボンバード処理を施した後、その上に5i(bあ
るいはCr20a等の如き保H1l* (26)を形成
し、この保鏝膜(26)の表面にさらに02イオンボン
バード処理(22)を施した場合である。
第7図はBiの一ト地層(23)及びGo−Ni合金の
磁性Jl(24)を多層に構成し、非磁性基板(21)
表向、中間のCo−Ni合金磁性層(24)表面、及び
最上1−のGo−Ni合金磁性層(24)表面に夫々0
2イオンボンバード処理(22)を施した場合である。
磁性Jl(24)を多層に構成し、非磁性基板(21)
表向、中間のCo−Ni合金磁性層(24)表面、及び
最上1−のGo−Ni合金磁性層(24)表面に夫々0
2イオンボンバード処理(22)を施した場合である。
この様な多J−構造では中間層のボンバード処理でBi
の1地層(27)の被着強度も上がる。
の1地層(27)の被着強度も上がる。
面、下地層となる凝固時に体積膨張する非磁性金属とし
ては、Biの他、Sb+ Ga、 Ge、 st、 T
ll及びこれつ、9合金、金属間化合物等を用いること
ができる。また磁性層としては、Co−Niの他、Co
。
ては、Biの他、Sb+ Ga、 Ge、 st、 T
ll及びこれつ、9合金、金属間化合物等を用いること
ができる。また磁性層としては、Co−Niの他、Co
。
Ni、 Fe等の磁性金属及びその合金等を用いること
ができる。
ができる。
非磁性支持体としては、例えばポリエチレンテレフタレ
ート、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリイミド等の
^分子フィルム、ガラス、セラミック、サファイア或い
は表面を酸化した金属板等を用いることができる。
ート、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリイミド等の
^分子フィルム、ガラス、セラミック、サファイア或い
は表面を酸化した金属板等を用いることができる。
発明の効果
」二連の本発明によれば、非磁性支持体の強磁性金属@
欣磁性)−の表向に基板温度を120℃以上に保持した
状態で酸化イオンボンバード処理を施すごとにより、磁
性1−表面の酸化が進み、緻密な酸化膜が形成される。
欣磁性)−の表向に基板温度を120℃以上に保持した
状態で酸化イオンボンバード処理を施すごとにより、磁
性1−表面の酸化が進み、緻密な酸化膜が形成される。
この結果、金属薄膜型磁気記録媒体において、その耐久
性が向上し、また耐錆性も向上する。
性が向上し、また耐錆性も向上する。
第1図は本発明に通用されるボンバード処理兼用の蒸着
装置の一例を示す構成図、第2図は本発明の詳細な説明
に供する金属W#膜型磁気記録媒体のVliikI図、
第3図乃至第7図は本発明の製造方法で作製される金属
vs、膜型離型磁気記録媒体用例を示す断面図1である
。 (21)は非磁性基板、(22)ば02イオンボンバー
ド処理、(23)は下地層、(24)に磁性層である。 第1り函コ 12図 5
装置の一例を示す構成図、第2図は本発明の詳細な説明
に供する金属W#膜型磁気記録媒体のVliikI図、
第3図乃至第7図は本発明の製造方法で作製される金属
vs、膜型離型磁気記録媒体用例を示す断面図1である
。 (21)は非磁性基板、(22)ば02イオンボンバー
ド処理、(23)は下地層、(24)に磁性層である。 第1り函コ 12図 5
Claims (1)
- 非磁性基板上に強磁性金属S膜磁性層を形成し、該磁性
層表面に上記基板を120℃以上に保持した状態で酸素
イオンボンバード処理を施すことを特徴とする金属薄膜
型磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2235284A JPS60167122A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2235284A JPS60167122A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60167122A true JPS60167122A (ja) | 1985-08-30 |
Family
ID=12080256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2235284A Pending JPS60167122A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 金属薄膜型磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60167122A (ja) |
-
1984
- 1984-02-09 JP JP2235284A patent/JPS60167122A/ja active Pending
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