JPS60163429A - アモルフアスシリコン太陽電池の製造法 - Google Patents
アモルフアスシリコン太陽電池の製造法Info
- Publication number
- JPS60163429A JPS60163429A JP59018940A JP1894084A JPS60163429A JP S60163429 A JPS60163429 A JP S60163429A JP 59018940 A JP59018940 A JP 59018940A JP 1894084 A JP1894084 A JP 1894084A JP S60163429 A JPS60163429 A JP S60163429A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amorphous silicon
- layer
- type
- solar cell
- hydrogen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 46
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 6
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 17
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 17
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims abstract description 16
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims abstract description 4
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N [Si].[Ge] Chemical compound [Si].[Ge] LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 4
- LQJIDIOGYJAQMF-UHFFFAOYSA-N lambda2-silanylidenetin Chemical compound [Si].[Sn] LQJIDIOGYJAQMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 49
- 239000010408 film Substances 0.000 description 17
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910007264 Si2H6 Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910009201 Sn(CH3)4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N disilane Chemical compound [SiH3][SiH3] PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- VXKWYPOMXBVZSJ-UHFFFAOYSA-N tetramethyltin Chemical compound C[Sn](C)(C)C VXKWYPOMXBVZSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/075—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PIN type, e.g. amorphous silicon PIN solar cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)技術分野
本発明は、光エネルギー、を電気エネルギーに変換する
アモルファスシリコン太Is電池に関する。
アモルファスシリコン太Is電池に関する。
(ロ)背景技術
近年クリーンで、非枯渇性のエネルギーを利用する低コ
スト太陽電池として、アモ/l/ 77ヌシリコン太s
it池が注目され1いる。アモルファスシリコン太陽電
池は安価な基板を用いて低温プロセスで形成する厚さ1
μm以下の薄膜で構成できるため、低コストで製造でき
る特徴がある。このような低コストの特徴を生かすには
、より一層光電変換効率を向上し、実用に供し得る性能
にする必要がある。
スト太陽電池として、アモ/l/ 77ヌシリコン太s
it池が注目され1いる。アモルファスシリコン太陽電
池は安価な基板を用いて低温プロセスで形成する厚さ1
μm以下の薄膜で構成できるため、低コストで製造でき
る特徴がある。このような低コストの特徴を生かすには
、より一層光電変換効率を向上し、実用に供し得る性能
にする必要がある。
アモルファスシリコンを使った太陽電池の性能を向上す
るため、各種セル構成が提案されでいる。
るため、各種セル構成が提案されでいる。
ρ−1−n構造の太陽電池では、光によって高密度に生
成される電子、正孔対のうち、拡散比N+が短かい正孔
を収集しやすいようにP型層を光入射側に置いて光の総
合収集効率を高めるようにしている場合が多い。またP
型層に禁止帯幅の広い炭素または窒素を添加したアモル
ファスシリコンヲ用イることにより、PW層における光
吸収を少なくしアモルファスシリコン太陽電池においt
有効なキャリアの生成を行なうi型層に多くのホトンを
導くことにより太陽光などの短波長側の光の有効利用を
図ったり、i型層にゲルマニウムやスズヲ添加したアモ
ルファスシリコンを用いることにょシ太陽光等の長波長
側の光の有効利用が図られている。さらに曲線因子の向
上を図れば、光電変換効率を一層向上することが期待で
きる。
成される電子、正孔対のうち、拡散比N+が短かい正孔
を収集しやすいようにP型層を光入射側に置いて光の総
合収集効率を高めるようにしている場合が多い。またP
型層に禁止帯幅の広い炭素または窒素を添加したアモル
ファスシリコンヲ用イることにより、PW層における光
吸収を少なくしアモルファスシリコン太陽電池においt
有効なキャリアの生成を行なうi型層に多くのホトンを
導くことにより太陽光などの短波長側の光の有効利用を
図ったり、i型層にゲルマニウムやスズヲ添加したアモ
ルファスシリコンを用いることにょシ太陽光等の長波長
側の光の有効利用が図られている。さらに曲線因子の向
上を図れば、光電変換効率を一層向上することが期待で
きる。
(/今発明の開示
発明者うは、1型層のアモルファスシリコン1漠の組成
及び製造条件を変えることにより膜特性が大きく変わる
ことに着目し、種々検討した結果、p型層又はn型層の
上に、アモルファスシリコン層のダングリングボンドを
消去するのに有効な元素を含むアモルファスシリコン層
中のダングリングボンドを消去するのに有効な元素、例
えば水素および弗素の少なくとも一方を含む1型層モル
ファス:/IJ:Iンmt[成した後、H2プラズy<
−’/lzをし、さらに、n型層又はp型層を積層す
ることによりアモルファスシリコン太陽電池の直性抵抗
を低減し、曲線因子を改善し、光電変換効率を向上させ
ることを見出し、本発明を完成させたものである。
及び製造条件を変えることにより膜特性が大きく変わる
ことに着目し、種々検討した結果、p型層又はn型層の
上に、アモルファスシリコン層のダングリングボンドを
消去するのに有効な元素を含むアモルファスシリコン層
中のダングリングボンドを消去するのに有効な元素、例
えば水素および弗素の少なくとも一方を含む1型層モル
ファス:/IJ:Iンmt[成した後、H2プラズy<
−’/lzをし、さらに、n型層又はp型層を積層す
ることによりアモルファスシリコン太陽電池の直性抵抗
を低減し、曲線因子を改善し、光電変換効率を向上させ
ることを見出し、本発明を完成させたものである。
すなわち、本発明は、光に対する感度が高く、がηす
つ直孔抵抗の小さい、高い光電変換効率のア七ルア7ス
シリ’:v7太陽電池を提供することにるる。
シリ’:v7太陽電池を提供することにるる。
以下、p−1−n型の太陽電池の1型層に水素を含むア
モルファスシリコン層(以下a−8i : H) ヲ用
いた実施例について詳細に説明する。
モルファスシリコン層(以下a−8i : H) ヲ用
いた実施例について詳細に説明する。
第1図は、従来のアモルファスシリコン太陽電池の一実
施例を示す断面図であり、■は透明ガラス基板、2はI
TO又は5n02等の透明導電膜、3はアモルファスシ
リコン層で、7は金属電極、基板側から伝導型がp型(
4)、I型11i11n型(6)の順に形成すしている
。p型層は炭素を添加したアモルファスシリコン膜(以
下a−8iC:H)からなり、n型層は微結晶化アモル
ファスシリコン(以下μC−3i:H)、1型層は真性
aSi:Hである。p型層のJ4!′みは5O−15O
A 、45層は1500−tooooX、n型層は10
0〜500Aである。p型層には太陽光の短波長側のホ
トンを電子正孔対の発生域のi型層へ多く導くだめに炭
素を添加し禁止帯幅を大きくしている。太1−電池の変
換効率は、導入されたホトンによって1型層で得られた
電子正孔対を外部電極に取り出せるかがポイントであり
、第1に1型層の局在準位密度によつで決定されてしま
うため、できるだけ局在準位密度は低い方がよい。i型
層の最適厚さは、局在準位密度に依存し、1型層が厚い
程、太陽光は有効に吸収されるが、逆に、l界 型層内に電昇の弱い部分が現われ、シリーズ抵抗としで
出力特性の曲線因子を低下させるばかりでなく、I/n
界面で励起されたキャリアの収集効率も低下する。
施例を示す断面図であり、■は透明ガラス基板、2はI
TO又は5n02等の透明導電膜、3はアモルファスシ
リコン層で、7は金属電極、基板側から伝導型がp型(
4)、I型11i11n型(6)の順に形成すしている
。p型層は炭素を添加したアモルファスシリコン膜(以
下a−8iC:H)からなり、n型層は微結晶化アモル
ファスシリコン(以下μC−3i:H)、1型層は真性
aSi:Hである。p型層のJ4!′みは5O−15O
A 、45層は1500−tooooX、n型層は10
0〜500Aである。p型層には太陽光の短波長側のホ
トンを電子正孔対の発生域のi型層へ多く導くだめに炭
素を添加し禁止帯幅を大きくしている。太1−電池の変
換効率は、導入されたホトンによって1型層で得られた
電子正孔対を外部電極に取り出せるかがポイントであり
、第1に1型層の局在準位密度によつで決定されてしま
うため、できるだけ局在準位密度は低い方がよい。i型
層の最適厚さは、局在準位密度に依存し、1型層が厚い
程、太陽光は有効に吸収されるが、逆に、l界 型層内に電昇の弱い部分が現われ、シリーズ抵抗としで
出力特性の曲線因子を低下させるばかりでなく、I/n
界面で励起されたキャリアの収集効率も低下する。
本発明者らは、上記欠点をなくすため直型層の局在準位
密度を発生させるダングリングボンドを消去する水素や
弗素を添加する方法について請意検肘することにより、
膜質向上を図ることができた。
密度を発生させるダングリングボンドを消去する水素や
弗素を添加する方法について請意検肘することにより、
膜質向上を図ることができた。
第2図に本発明の実施例について示す。第1図の場合、
p+’+n型層は、連続的に形成されるのに対し、本発
明では、i型層を形成後、H2中でプラズマアニールを
施した後、n型層を形成したことが異なる。第1表は、
従来法で得られた太陽電池と本発明による太陽電池の出
力特性を比較したものである。各層の膜厚は、それぞれ
p型層t5oX、1型層5000A、n型層300父で
ある。本発明ではj型層成膜後のH2プラズマニールと
して、基板温度はi5層形成時と同じ250″Cとし、
1.0Torr下で18.56 MHzの高周波で、5
0Wの放電パワーを用い1約lO分間行なった。太陽電
池の出力特性はAM−1ソーラーシュミレータ−(t
o otxm/era )でめた。表に示すように本発
明によれば短絡電流(Jsc)、曲線因子(FF)の増
加が著しく、変換効率(η)の向上に大きく寄与してい
ることがわかる。
p+’+n型層は、連続的に形成されるのに対し、本発
明では、i型層を形成後、H2中でプラズマアニールを
施した後、n型層を形成したことが異なる。第1表は、
従来法で得られた太陽電池と本発明による太陽電池の出
力特性を比較したものである。各層の膜厚は、それぞれ
p型層t5oX、1型層5000A、n型層300父で
ある。本発明ではj型層成膜後のH2プラズマニールと
して、基板温度はi5層形成時と同じ250″Cとし、
1.0Torr下で18.56 MHzの高周波で、5
0Wの放電パワーを用い1約lO分間行なった。太陽電
池の出力特性はAM−1ソーラーシュミレータ−(t
o otxm/era )でめた。表に示すように本発
明によれば短絡電流(Jsc)、曲線因子(FF)の増
加が著しく、変換効率(η)の向上に大きく寄与してい
ることがわかる。
第1表
第8図は、本発明の別の構造のア七ルファヌシリコン太
陽電池の断面図を示しており、8はモリブデン、アルミ
ニウム、SUSのような金属基板であり\ p型(4)
、1型(5)、n型16+の各アモルファスシリコン層
、透明導電膜(2)の順に積層され1いる。
陽電池の断面図を示しており、8はモリブデン、アルミ
ニウム、SUSのような金属基板であり\ p型(4)
、1型(5)、n型16+の各アモルファスシリコン層
、透明導電膜(2)の順に積層され1いる。
この時、i型層を所定の厚みに形成した後、基板温度は
300℃、ITorr下13.56MHzの高周波で3
0Wの放電パワーで約10分間のH2プラズマアニー〜
を施し1いる。第2表は1.型、1型、。型の各アモル
ファスシリコン層の厚みを同じとし、112プラズマア
ニールとしなかった太陽電池の出力特性を用いた。
300℃、ITorr下13.56MHzの高周波で3
0Wの放電パワーで約10分間のH2プラズマアニー〜
を施し1いる。第2表は1.型、1型、。型の各アモル
ファスシリコン層の厚みを同じとし、112プラズマア
ニールとしなかった太陽電池の出力特性を用いた。
第2表
本発明によれば、JscXFFの向上が著しく、その結
果、大幅にηが向上しているのがわかる。
果、大幅にηが向上しているのがわかる。
一般にアモルファスシリコン膜は、膜中のダングリング
ボンドを消去するために、水素又は弗素を含ませており
、本発明では、水素を含めアモルファスシリコン膜につ
いてのみ示したが、弗素を含んだアモルファスシリコン
膜につい又も同様に、良好な出力特性をもつ太陽電池が
得られている。
ボンドを消去するために、水素又は弗素を含ませており
、本発明では、水素を含めアモルファスシリコン膜につ
いてのみ示したが、弗素を含んだアモルファスシリコン
膜につい又も同様に、良好な出力特性をもつ太陽電池が
得られている。
又本発明では、I]2ガスでプラズマアニー〜のみで示
したが、H2ガヌを、含む不活性ガスを用いで実施して
も十分な効果を持つのはいうまでもない。又i型層を作
製した後、真空中でアニールすることも試みたが、H2
ガス中でプラズマアニールする方がはるかに効果があシ
、同一アニール時間で比較した場合、10倍の効果があ
り、短時間でアニールを完了することができる利点が認
められた。
したが、H2ガヌを、含む不活性ガスを用いで実施して
も十分な効果を持つのはいうまでもない。又i型層を作
製した後、真空中でアニールすることも試みたが、H2
ガス中でプラズマアニールする方がはるかに効果があシ
、同一アニール時間で比較した場合、10倍の効果があ
り、短時間でアニールを完了することができる利点が認
められた。
実施例1,2では、1型層とし1水素添加アモルファス
シリコン膜を用いた単層セルについて示したが、さらに
光電変換効率を向上させるためには太陽光等のうち長波
長光の有効利用を図る必要があり、この為に、第4図に
示すような太陽電池を多層に積層した多層構造型太陽電
池が考えられておシ、第1層目の太陽電池のi型層より
第2、第3層目の太陽電池の1型層に、禁止帯幅の小さ
いアモルファスシリコンゲルマニアムあるいはアモルフ
ァスシリコンスズヲ用いていルカ、ケルシマニウムやス
ズの添加と共に膜質低下がみられるため十分な光電変換
効率は得られていなかった。本発明では、こうした多層
構造型太陽電池についても適用でき、各太陽電池の1型
層形成後にH2プラズマアニールをそれぞれわずか約5
〜IO分間施すことにより、大幅な光電変換効率の向上
が認められた。ゲルマニウムやスズをアモルファスシリ
コン膜 Sn(CH3)4のゲルマニウムと水素あるいはハロゲ
ンとの化合物あるいは炭化水素との化合物があり、シリ
コンの供給源とし’7.. SiH4、Si2H6、S
iF4ガヌとを同時に供給したブロー放電分解法、ある
いは固体原料としISIとGeあるいはSiとSnとを
水素あるいは弗素を含むガス中で同時にスパッタするこ
とによってもアモルファスシリコンゲルマニアムやアモ
ルファスシリコンスズが得られる。このようにして得ら
れた膜表面付近には欠陥準位が多く存在するためH2プ
ラズマアニールは、特に有効であることがわかった。
シリコン膜を用いた単層セルについて示したが、さらに
光電変換効率を向上させるためには太陽光等のうち長波
長光の有効利用を図る必要があり、この為に、第4図に
示すような太陽電池を多層に積層した多層構造型太陽電
池が考えられておシ、第1層目の太陽電池のi型層より
第2、第3層目の太陽電池の1型層に、禁止帯幅の小さ
いアモルファスシリコンゲルマニアムあるいはアモルフ
ァスシリコンスズヲ用いていルカ、ケルシマニウムやス
ズの添加と共に膜質低下がみられるため十分な光電変換
効率は得られていなかった。本発明では、こうした多層
構造型太陽電池についても適用でき、各太陽電池の1型
層形成後にH2プラズマアニールをそれぞれわずか約5
〜IO分間施すことにより、大幅な光電変換効率の向上
が認められた。ゲルマニウムやスズをアモルファスシリ
コン膜 Sn(CH3)4のゲルマニウムと水素あるいはハロゲ
ンとの化合物あるいは炭化水素との化合物があり、シリ
コンの供給源とし’7.. SiH4、Si2H6、S
iF4ガヌとを同時に供給したブロー放電分解法、ある
いは固体原料としISIとGeあるいはSiとSnとを
水素あるいは弗素を含むガス中で同時にスパッタするこ
とによってもアモルファスシリコンゲルマニアムやアモ
ルファスシリコンスズが得られる。このようにして得ら
れた膜表面付近には欠陥準位が多く存在するためH2プ
ラズマアニールは、特に有効であることがわかった。
以上述べたように、この発明によれば、いろいろな構造
のアモルファスシリコン太陽電池においで1型層を形成
した後に、水素又は水素と不活性ガスを混合した気体中
で、プラズマアニールを行なうことにより、著しく光電
変換効率を向」ニしたアモルファスシリコン太陽電池を
実現できる。
のアモルファスシリコン太陽電池においで1型層を形成
した後に、水素又は水素と不活性ガスを混合した気体中
で、プラズマアニールを行なうことにより、著しく光電
変換効率を向」ニしたアモルファスシリコン太陽電池を
実現できる。
第1図は従来のアモルファスシリコン太陽電池の断面図
、第2図(alは水素プラズマでアニールしている状態
で示し、第2図(b)は本願発明によるアモルファス太
陽電池の断面図を示し、第3図、第4図は本願発明によ
る別の断面構造を持ったアモルファスシリコン太陽電池
である。 l ガラス基板 2、透明導電膜 8、 アモルファスシリコン膜 4 p型層 5 I型層 45. n型層 7 金属電極 8 金属基板 9、 アモルファスシリコンゲルマニウム1摸10、水
素プラズマ
、第2図(alは水素プラズマでアニールしている状態
で示し、第2図(b)は本願発明によるアモルファス太
陽電池の断面図を示し、第3図、第4図は本願発明によ
る別の断面構造を持ったアモルファスシリコン太陽電池
である。 l ガラス基板 2、透明導電膜 8、 アモルファスシリコン膜 4 p型層 5 I型層 45. n型層 7 金属電極 8 金属基板 9、 アモルファスシリコンゲルマニウム1摸10、水
素プラズマ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 fil p i n Wアモルファスシリコン太陽電池
においで、アモルファスシリコンを主成分とするiW層
を形成した後に、水素又は水素と不活性ガスを混合した
気体中で、プラズマアニールすることを特徴とするアモ
ルファスシリコン太陽電池の製造法。 (2)アモルファスシリコンを主成分とする1型層カ、
アモルファスシリコン、アモルファスシリコンゲルマニ
ウムまだはアモルファスシリコンスズであることを特徴
とする特許請求の範囲第(1)項記載のアモルファスシ
リコン太陽電池の製造法。 (3)アモルファスシリコンを主成分とするi型層が水
素または弗素の1種以上を含有することを特徴とする特
許請求の範囲第(1)項記載のアモルファスシリコン太
陽電池の製造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59018940A JPS60163429A (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | アモルフアスシリコン太陽電池の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59018940A JPS60163429A (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | アモルフアスシリコン太陽電池の製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60163429A true JPS60163429A (ja) | 1985-08-26 |
Family
ID=11985636
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59018940A Pending JPS60163429A (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | アモルフアスシリコン太陽電池の製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60163429A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03136380A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 光起電力装置の製造方法 |
JPH03200374A (ja) * | 1989-12-27 | 1991-09-02 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 太陽電池の製造方法 |
JPH03212976A (ja) * | 1990-01-18 | 1991-09-18 | Agency Of Ind Science & Technol | 透明導電酸化膜を含むcis構造の処理方法 |
-
1984
- 1984-02-03 JP JP59018940A patent/JPS60163429A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03136380A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 光起電力装置の製造方法 |
JPH03200374A (ja) * | 1989-12-27 | 1991-09-02 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 太陽電池の製造方法 |
JPH03212976A (ja) * | 1990-01-18 | 1991-09-18 | Agency Of Ind Science & Technol | 透明導電酸化膜を含むcis構造の処理方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6242686B1 (en) | Photovoltaic device and process for producing the same | |
US5336623A (en) | Process for producing integrated solar cell | |
KR100847487B1 (ko) | 탠덤형 박막 광전변환 장치의 제조방법 | |
WO2021004525A1 (zh) | 一种异质结电池分层氢钝化方法、氢钝化装置、电池、电池组件及太阳能供电站 | |
US6566159B2 (en) | Method of manufacturing tandem thin-film solar cell | |
US6383898B1 (en) | Method for manufacturing photoelectric conversion device | |
JPH0117272B2 (ja) | ||
US5419783A (en) | Photovoltaic device and manufacturing method therefor | |
JPH0595126A (ja) | 薄膜太陽電池およびその製造方法 | |
JPS60163429A (ja) | アモルフアスシリコン太陽電池の製造法 | |
JP2002237608A (ja) | タンデム型薄膜太陽電池の製造方法 | |
JP2004363577A (ja) | 半導体薄膜およびそれを用いた光電変換装置ならびに光発電装置 | |
JP3762086B2 (ja) | タンデム型シリコン系薄膜光電変換装置 | |
JP4187328B2 (ja) | 光起電力素子の製造方法 | |
JP3672471B2 (ja) | 光電変換素子の製造方法 | |
JP2698115B2 (ja) | 光起電力装置の製造方法 | |
JP2775460B2 (ja) | 非晶質太陽電池の製造方法 | |
JPH0121634B2 (ja) | ||
JP3245962B2 (ja) | 薄膜太陽電池の製造方法 | |
JP4441298B2 (ja) | 光電変換装置およびその製造方法 | |
JP4471963B2 (ja) | 光電変換素子の製造方法 | |
JP3753556B2 (ja) | 光電変換素子及びその製造方法 | |
JP2002237609A (ja) | タンデム型薄膜太陽電池の製造方法 | |
JPH0927627A (ja) | 薄膜太陽電池およびその製造方法 | |
JPH0262482B2 (ja) |