JPS60161548A - 流動微小粒子状物体の散乱光測定装置 - Google Patents
流動微小粒子状物体の散乱光測定装置Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
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Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59016577A JPS60161548A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 流動微小粒子状物体の散乱光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59016577A JPS60161548A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 流動微小粒子状物体の散乱光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60161548A true JPS60161548A (ja) | 1985-08-23 |
| JPH0442621B2 JPH0442621B2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1992-07-14 |
Family
ID=11920140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59016577A Granted JPS60161548A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 流動微小粒子状物体の散乱光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60161548A (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02128142A (ja) * | 1988-11-08 | 1990-05-16 | Fuji Electric Co Ltd | 光学的微粒子測定装置 |
| JP2010286491A (ja) * | 2009-06-15 | 2010-12-24 | Wyatt Technol Corp | 粒子の懸濁液の光散乱特性を測定するための円形の試料セルおよびシステム、ならびに粒子の懸濁液によって散乱された光を測定する方法 |
| ES2607633A1 (es) * | 2015-10-01 | 2017-04-03 | Universidad Carlos Iii De Madrid | Dispositivo de carga múltiple para microscopio de haz láser plano |
| JP2017529526A (ja) * | 2014-08-20 | 2017-10-05 | リサーチ トライアングル インスティテュート | 粒子検出のための装置、システム、及び方法 |
-
1984
- 1984-01-31 JP JP59016577A patent/JPS60161548A/ja active Granted
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH02128142A (ja) * | 1988-11-08 | 1990-05-16 | Fuji Electric Co Ltd | 光学的微粒子測定装置 |
| JP2010286491A (ja) * | 2009-06-15 | 2010-12-24 | Wyatt Technol Corp | 粒子の懸濁液の光散乱特性を測定するための円形の試料セルおよびシステム、ならびに粒子の懸濁液によって散乱された光を測定する方法 |
| JP2015111163A (ja) * | 2009-06-15 | 2015-06-18 | ワイアット テクノロジー コーポレイションWyatt Tecknology Corporation | 粒子の懸濁液の光散乱特性を測定するための円形の試料セルおよびシステム、ならびに粒子の懸濁液によって散乱された光を測定する方法 |
| JP2017529526A (ja) * | 2014-08-20 | 2017-10-05 | リサーチ トライアングル インスティテュート | 粒子検出のための装置、システム、及び方法 |
| ES2607633A1 (es) * | 2015-10-01 | 2017-04-03 | Universidad Carlos Iii De Madrid | Dispositivo de carga múltiple para microscopio de haz láser plano |
| WO2017055673A1 (es) * | 2015-10-01 | 2017-04-06 | Universidad Carlos Iii De Madrid | Dispositivo de carga múltiple para microscopio de haz láser plano |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0442621B2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1992-07-14 |
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