JPH05172732A - 液体中微粒子検出装置およびその検出方法 - Google Patents

液体中微粒子検出装置およびその検出方法

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JPH05172732A
JPH05172732A JP3342822A JP34282291A JPH05172732A JP H05172732 A JPH05172732 A JP H05172732A JP 3342822 A JP3342822 A JP 3342822A JP 34282291 A JP34282291 A JP 34282291A JP H05172732 A JPH05172732 A JP H05172732A
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liquid
flow cell
light
fine particles
particles
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JP3342822A
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English (en)
Inventor
Kazuo Takeda
一男 武田
Yoshitoshi Ito
嘉敏 伊藤
Tadasuke Munakata
忠輔 棟方
Tadashi Suda
匡 須田
Motoo Hourai
泉雄 蓬莱
Hozumi Yamamoto
穂積 山本
Toshihiro Kimura
俊宏 木村
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】試料液体が中を流れるフローセル3に、大気の
屈折率1より大きい屈折率を有する透明物体、プリズム
3を接触させて設け、照射光をプリズム2を通してフロ
ーセル3に照射し、フローセル内で照射光が全反射する
ようにして、これを光トラップ15で除去し、試料液体
中の微粒子による散乱光のみを集光レンズ6で集光して
検出系に導き、液体中の微粒子を検出する。 【効果】検出に用いる光の中に照射光の直接透過光が存
在しないので、開口数の大きな集光立体角の大きいレン
ズが使用可能となり、粒径が0.1ミクロン以下の液体
中微粒子の検出が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液体中の微粒子を検出す
る装置およびその方法に係り、特に、半導体プロセスで
用いられる超純水中の粒径0.1ミクロン以下の超微粒
子の計数や粒径計測、レジスト剤中の混入物、細胞や細
菌などの生体微粒子計測に好適な液体中微粒子検出装置
およびその検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の従来技術として、特開昭64−
91036号公報に記載された発明がある。図4によ
り、この技術を説明する。図において、試料粒子を含む
水をノズル23から流し、水糸24を形成する。これと
同軸に、照射光源1からミラー25を介して入射光を照
射することによって、水糸中で入射光は全反射し、水糸
の外には放射されず、微粒子からの散乱光のみを水糸外
に設置したレンズ10で集光し、光検出器11で検出す
ることが可能である。しかし、この技術は、水糸の形成
は不安定であり、検出用のレンズを接近できないという
欠点がある。
【0003】また、後記するように本発明が解決しよう
とする課題の一つである照射光の除去については、例え
ば特開昭61−234339号公報に記載されたものが
ある。この公報に記載された発明は、照射光の除去に関
するものではないが、その明細書の図1が従来の照射光
の除去方法の代表例であるので、以下に説明する。これ
は、四角のフローセルに照射光をフローセル面に垂直に
照射し、フローセルの反対側に設置した光トラップで直
接透過光をトラップし、フローセル中を流れる微粒子か
らの散乱光は、側方に設置したレンズで集光して検出す
るものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】微粒子を光散乱により
検出する計測では、微粒子からの散乱光以外の透過光や
その他の散乱光が計測の障害となる。一方、微粒子を感
度良く検出するためには、微粒子からの前方散乱光を広
い立体角度で効率良く集光すればよい。この場合、計測
の障害となる直接透過光をさけて微粒子からの散乱光の
みを検出しなければならない。
【0005】しかし、上記従来技術は、前者では、水糸
が不安定である上、検出用の集光レンズを接近できない
ことから、散乱光を効率良く集光できないという問題が
あり、また、後者では、照射光のフローセル界面での反
射光がフローセルの外側へ放出するので、反射光が検出
器に入射するのを防ぐためには別の工夫が必要になると
いう問題があった。
【0006】本発明の目的は、上記した直接透過光を完
全に除去して、液体中の微粒子を高感度で検出し得る液
体中微粒子検出装置およびその検出方法を提供すること
にある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、次のような手段により課題を解決して
いる。
【0008】大気の屈折率より大きい屈折率n1を有す
る透明な物体(具体的にはプリズムなど)を、屈折率n
2の材質からなるフローセル(中を屈折率n3の試料液
体が流れる)に面で接触させ、透明物体からフローセル
への照射光入射角度θについて、次式に示す条件を満足
すれば、フローセル内を流れる液体を透過した照射光
が、フローセル内で全反射する。
【0009】
【数2】
【0010】そこで、フローセルの外側に光検出器を設
置すると、照射光の直接透過光は検出されず、散乱光の
みの検出が可能となる。このため、検出用レンズを微粒
子に接近して設置することが可能であり、広立体角度で
の散乱光検出が可能となる。フローセル内で全反射した
照射光は、その光が反射する方向のフローセルの一部を
黒色にして光トラップを構成し、そこに吸収させる。
【0011】また、フローセル内の流路壁面による散乱
光が微粒子の散乱光検出の障害となるが、本発明では、
この迷光を防ぐために、散乱光検出用の集光レンズで集
光した光をいったん結像させ、その位置にピンホールを
設け、フローセル中で照射光が最も絞られている位置か
らの散乱光のみを通過させることで、微粒子以外からの
散乱光を除去する。
【0012】
【作用】上記構成の作用を、実施例1の図1をもとに記
述する。照射光をレンズ2′を通して、屈折率がn1の
プリズム2に入射する。このプリズム2はフローセル3
(屈折率n2)に面で接している。プリズム2とフロー
セル3とは、オイル(屈折率がプリズム2の値に等し
い)を介して接触させる。フローセル3には、試料粒子
を含む液体(屈折率n3)を流す。
【0013】この系では、プリズム2からフローセル3
への入射角度θについて、前記した式(1)の条件で照
射することが可能である。この条件は、フローセルから
液体への境界面では全反射しないが、フローセルから空
気への境界面で全反射が生じる条件である。
【0014】もし、プリズムがない場合は、空気(屈折
率1.0)からフローセルへの入射角度θは、式(1)
を満足することができない。
【0015】このように式(1)を満足するようにプリ
ズム2を通してフローセル3に入射した光は、フローセ
ル内の水を透過した後、フローセルと空気との境界面5
では全反射し、空気中へ出ることがない。従って、直接
透過光が集光用レンズに入らない。
【0016】また、フローセル内の水とフローセルの境
界面5′で発生する散乱光の除去は、以下のように行
う。すなわち、散乱光集光用レンズで集光した光をいっ
たん結像し、その結像面にピンホール7を設置し、散乱
光の検出領域を限定し、界面を含まないようにする。
【0017】以上によって、微粒子の散乱光検出におい
て、障害となる透過光およびフローセル界面からの散乱
光を最小限にすることが可能である。
【0018】以上の説明は、プリズムを使用した場合で
あるが、図2のように、プリズムの代わりにカージオイ
ドコンデンサを使用しても可能である。この場合は、入
射光を収束する機能も兼ねている。
【0019】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。
【0020】実施例1:図1に本発明の第1の実施例の
装置の構成を示す。照射光源1としてレーザ(例えばア
ルゴンイオンレーザ)を用い、このレーザ光を照射光集
光用のレンズ2′を通して光学ガラス(屈折率1.51
6)のプリズム2に入射する。このプリズム2は石英製
のフローセル3(屈折率1.475)に面で接してい
る。このフローセル3では、厚さ1mmの2枚の石英板
で1mmの間隙を構成し、この間隙に微粒子を含んだ水
4(屈折率1.332)を流す。プリズム2とフローセ
ル3とは、顕微鏡用液浸用オイル(屈折率1.516)
を介して接触させる。また、レーザ光の最も絞られる部
分がフローセルの流路中に位置するように、照射光集光
用のレンズ2′を設置する必要がある。
【0021】この系では、入射角θについての条件式
(1)を適用すると、
【0022】
【数3】
【0023】を満足するθが存在し、その値は41.2
7度<θ<61.47度の範囲であればよい。このう
ち、41.27度<θなる条件は、フローセルから空気
への境界面5で全反射が生じる条件である。また、θ<
61.47度なる条件は、フローセルから水への境界面
5′で全反射が生じないための条件であり、これが成立
しないと水中の微粒子に光照射することが不可能であ
る。本実施例では、θ=50度にとる。
【0024】散乱光集光用の集光レンズ6として、顕微
鏡用の対物レンズ(作動距離1mmより長いもの)を用
いる。フローセル内で全反射した直接光は、それが反射
する方向のフローセルの一部を黒色にした光トラップ1
5で吸収する。
【0025】また、フローセル内の水とフローセルの界
面で発生する散乱光の除去は、以下のように行う。すな
わち散乱光集光用の集光レンズ6で集光した光を結像
し、その結像面にピンホール7を設置し、散乱光の検出
領域を限定して、界面からの散乱光を除去する。
【0026】ピンホール7を通過した光はレンズ8で平
行光にし、ハーフミラー9で分割する。そして、一方
は、レンズ12を通して2次元光検出器13に入れ、C
RTモニタ14により、散乱光による微粒子像を観察し
ながら、ピンホール7の設定位置を調整する。他方は、
レンズ10を通して光検出器11に入れる。この光検出
器11の出力信号が微粒子の検出信号である。波高分析
器16により、この信号の波高分析を行って、微粒子の
屈折率をポリスチレン標準粒子の値1.59と等しいと
仮定した場合の粒径を求める。
【0027】以上によって、微粒子の散乱光検出におい
て、障害となる透過光およびフローセル界面からの散乱
光を除くことが可能である。
【0028】なお、上記実施例では、プリズム2とフロ
ーセル3とを顕微鏡用液浸用オイルを介して接触させた
が、その代りに、透明な接着剤(固形化したときの屈折
率が1.5〜1.55のもの)を用いることも可能であ
る。
【0029】実施例2:図2に本発明の第2の実施例の
装置の構成を示す。照射光源1としてアルゴンイオンレ
ーザ(波長514.5nm)を用い、このレーザ光を光
学ガラス(屈折率1.516)製のカージオイドコンデ
ンサ17に入射する。このコンデンサ17は石英製のフ
ローセル3に面で接している。このフローセル3では、
厚さ1mmの2枚の石英板で1mmの間隙を構成し、こ
の間隙に水4(屈折率1.332)を流す。コンデンサ
17とフローセル3とは、顕微鏡用液浸用オイル(屈折
率1.516)を介して接触させる。また、レーザ光の
最も絞られる部分がフローセルの流路中に位置するよう
に、入射光の方向を調整する。
【0030】この系では、入射角θについての条件式
(1)を適用すると、
【0031】
【数4】
【0032】を満足するθが存在し、その値は41.2
7度<θ<61.48度の範囲であればよい。このう
ち、41.27度<θなる条件は、フローセルから空気
への境界面5で全反射が生じる条件である。また、θ<
61.48度なる条件は、フローセルから水への境界面
5′で全反射が生じないための条件であり、これが成立
しないと水中の微粒子に光照射することが不可能であ
る。本実施例では、θ=50度にとる。
【0033】散乱光集光用の集光レンズ6として、顕微
鏡用の対物レンズ(作動距離1mmより長いもの)を用
いる。フローセル内で全反射した直接光は、フローセル
の排水管を黒色にして構成した光トラップ15でトラッ
プする。
【0034】また、フローセル内の水とフローセルの界
面で発生する散乱光の除去は、以下のように行う。すな
わち、散乱光集光用の集光レンズ6で集光した光を結像
し、その結像面にピンホール7を設置し、散乱光の検出
領域を限定して、界面からの散乱光を除去する。
【0035】ピンホール7を通過した光はレンズ8で平
行光にし、ハーフミラー9で分割する。そして、一方
は、レンズ12を通して2次元光検出器13に入れ、C
RTモニタ14により散乱光による微粒子像を観察しな
がら、ピンホール7の設定位置を調整する。他方は、一
次元の光検出器アレイ19により、微粒子からの散乱角
度の異なる散乱光を検出する。これらの光検出器からの
複数の出力信号は、特開昭64−10150号公報に記
載されたように、同期検出回路および増幅回路、メモリ
を含む信号処理系20とそれに接続したコンピュータ
(図示せず)によって、微粒子の粒径および屈折率をM
ie散乱理論に従って計算した数表(光散乱強度VS.
(粒径、屈折率))と照合することによって、微粒子の
粒径と屈折率を求める。微粒子に単一波長の光を照射
し、複数の散乱角度の散乱光強度を測定することによっ
て微粒子の粒径および屈折率を求める原理は、「アプラ
イド オプティックス、第19巻、1980年、975
頁−983頁(Applied Optics, 19(1980), pp975-98
3)」、および「アプライド オプティックス、第19
巻、1980年、3370頁−3372頁(Applied Op
tics, 19(1980),pp3370-3372)に記載されている。
【0036】なお、実施例1と実施例2は、フローセル
部分と検出光学系部分と信号処理系部分とがそれぞれ異
なるが、それぞれ異なる組み合わせの実施例も可能であ
る。
【0037】実施例3:図3に本発明の第3の実施例の
装置の構成を示す。本実施例は、複数の照射光源を用い
る例であり、照射光源1と照射光源22を有している。
この2つの照射光源1および22として、波長の異なる
2種類のレーザ、HeNeレーザ(波長632.8n
m)およびHeCdレーザ(波長441.6nm)を用
い、これらレーザ光をカージオイドコンデンサ17にそ
れぞれ入射する。このカージオイドコンデンサ17およ
びこれと接触するプリズム2は、実施例2で示したもの
と同じであるので、説明は省略する。そして、それぞれ
のレーザ光について、レーザ光の最も絞られる部分がフ
ローセルの流路中に位置するように、入射光の方向を調
整する。
【0038】この系の入射角θについては、実施例2で
述べたのと同様に、41.27度<θ<61.48度の
範囲であればよく、本実施例では、θ=50度にとる。
【0039】また、散乱光集光用の集光レンズ6として
顕微鏡用の対物レンズを用いる点、フローセル内で全反
射した直接光を光トラップ15でトラップする点、散乱
光集光用の集光レンズ6で集光した光を結像し、その結
像面にピンホール7を設置して、フローセル内の水とフ
ローセルの界面で発生する散乱光を除去する点は、実施
例2で説明したのと同様である。
【0040】ピンホール7を通過した光はレンズ8で平
行光にし、ハーフミラー9で分割する。そして、一方
は、レンズ12を通して2次元光検出器13に入れ、C
RTモニタ14により、散乱光による微粒子像を観察し
ながら、ピンホール7の設定位置を調整する。他方は、
ダイクロイックミラー21で散乱光を波長ごとに分離
し、それぞれの波長ごとに一次元の光検出器アレイ19
で、微粒子からの散乱角度の異なる散乱光を検出する。
これらの光検出器からの複数の出力信号は、前記した特
開昭64−10150号公報に記載されたように、同期
検出回路および増幅回路、メモリを含む信号処理系20
とそれに接続したコンピュータ(図示せず)によって、
微粒子の粒径および屈折率をMie散乱理論に従って計
算した数表(光散乱強度VS.(粒径、屈折率))と照
合することによって、微粒子の粒径と屈折率を求める。
【0041】本実施例のように、微粒子に波長の異なる
光で照射する理由は、次の通りである。微粒子からの散
乱光は、照射波長と微粒子の直径(粒径)との比に依存
するため、波長の異なる散乱光強度情報を得ることによ
り、単一波長の照射の場合に比較して正確に粒径および
屈折率を測定することが可能であるからである。
【0042】
【発明の効果】本発明によれば、光を照射して液体中の
微粒子を検出するに際し、直接透過光を除去して、微粒
子からの散乱光のみを検出できるので、微粒子を高感度
で検出することができる。その結果、粒径が0.1ミク
ロン以下の液体中微粒子の検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の装置の構成図である。
【図2】本発明の第2の実施例の装置の構成図である。
【図3】本発明の第3の実施例の装置の構成図である。
【図4】従来の液体中微粒子検出方法の一例を示す説明
図である。
【符号の説明】
1…照射光源 2…プリズム 2′…レンズ 3…フローセル 4…水 5…フローセルと空気と
の境界面 5′…フローセルと水との境界面 6…集光レンズ 7…ピンホール 8…レンズ 9…ハーフミラー 10…レンズ 11…光検出器 12…レンズ 13…2次元光検出器 14…CRTモニタ 15…光トラップ 16…波高分析器 17…カージオイドコンデンサ 18…レンズ 19…一次元の光検出器
アレイ 20…信号処理系 21…ダイクロイックミ
ラー 22…照射光源 23…ノズル 24…水糸 25…ミラー
フロントページの続き (72)発明者 須田 匡 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 日 立電子エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 蓬莱 泉雄 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 日 立電子エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 山本 穂積 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 日 立電子エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 木村 俊宏 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 日 立電子エンジニアリング株式会社内

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】照射光源と、その照射光を集光するレンズ
    と、フローセルと、フローセル中を流れる液体中の微粒
    子からの散乱光を集光するレンズと、その集光した散乱
    光を検出する検出器とからなる液体中微粒子検出装置に
    おいて、前記フローセルに、屈折率が1より大きい透明
    物体を接触させて設け、光照射のとき入射光を該透明物
    体を通してフローセルに照射し、フローセル内で照射光
    が全反射するようにしたことを特徴とする液体中微粒子
    検出装置。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の液体中微粒子検出装置に
    おいて、屈折率が1より大きい透明物体がプリズムであ
    ることを特徴とする液体中微粒子検出装置。
  3. 【請求項3】請求項1に記載の液体中微粒子検出装置に
    おいて、屈折率が1より大きい透明物体がカージオイド
    コンデンサを構成していることを特徴とする液体中微粒
    子検出装置。
  4. 【請求項4】請求項1ないし3のいずれか1項に記載の
    液体中微粒子検出装置において、照射光がレーザ光であ
    ることを特徴とする液体中微粒子検出装置。
  5. 【請求項5】請求項1ないし4のいずれか1項に記載の
    液体中微粒子検出装置において、フローセル中を流れる
    液体中の微粒子からの散乱光強度を、散乱角度別に測定
    する手段を設けたことを特徴とする液体中微粒子検出装
    置。
  6. 【請求項6】請求項1ないし4のいずれか1項に記載の
    液体中微粒子検出装置において、フローセル中を流れる
    液体中の微粒子からの散乱光強度を、波長別に測定する
    手段を設けたことを特徴とする液体中微粒子検出装置。
  7. 【請求項7】請求項5に記載の液体中微粒子検出装置に
    おいて、照射光源として波長の異なる複数のレーザ光源
    を用い、微粒子からの散乱角度別散乱光強度を、各波長
    ごとに複数の検出器で測定する手段を設けたことを特徴
    とする液体中微粒子検出装置。
  8. 【請求項8】請求項1ないし7のいずれか1項に記載の
    液体中微粒子検出装置において、微粒子からの散乱光を
    集光するレンズが微粒子の像を結ぶ位置に開口を設けた
    ことを特徴とする液体中微粒子検出装置。
  9. 【請求項9】請求項1ないし8のいずれか1項に記載の
    液体中微粒子検出装置において、フローセルの一部分を
    黒色にして、フローセル内で全反射した照射光を吸収す
    るようにしたことを特徴とする液体中微粒子検出装置。
  10. 【請求項10】照射光源と、その照射光を集光するレン
    ズと、フローセルと、フローセル中を流れる液体の中の
    微粒子からの散乱光を集光するレンズと、その集光した
    散乱光を検出する検出器とからなる装置を用いて、該液
    体中の微粒子を検出する方法において、空気中の屈折率
    1.0より大きい屈折率n1を有する透明物体を、前記
    液体の屈折率n3より大きい屈折率n2を有するフロー
    セルに、屈折率が前記n1又はn2に有効桁数4まで等
    しい物質を介して接触させ、入射光を、前記透明物体を
    透してフローセルに、入射角度θが下記の条件を満足す
    るように照射することを特徴とする液体中微粒子検出方
    法。 【数1】
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2380792A (en) * 1998-05-16 2003-04-16 Microbial Systems Ltd Optically transmissive plate with orifice for particle detectors
WO2005088270A3 (en) * 2004-03-15 2007-02-22 Evanesco Ltd Fluid monitoring apparatus and methods
JP2008191151A (ja) * 2007-02-05 2008-08-21 Palo Alto Research Center Inc 物体の識別
WO2011138896A1 (ja) * 2010-05-06 2011-11-10 シャープ株式会社 濁度検知器
JP2012195337A (ja) * 2011-03-15 2012-10-11 Sony Corp レーザー照射装置および微小粒子測定装置
KR20140114364A (ko) * 2012-01-17 2014-09-26 에프. 호프만-라 로슈 아게 결합 친화성 탐지에 사용하는 장치
WO2016170681A1 (ja) * 2015-04-24 2016-10-27 株式会社島津製作所 光学測定装置
CN109443445A (zh) * 2018-12-18 2019-03-08 苏州同阳科技发展有限公司 一种颗粒物在线监测装置与方法
CN109791103A (zh) * 2016-09-22 2019-05-21 Imec 非营利协会 使用薄透镜进行粒子检测
WO2021199797A1 (ja) * 2020-03-31 2021-10-07 国立研究開発法人産業技術総合研究所 粒子の屈折率計測方法

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2380792A (en) * 1998-05-16 2003-04-16 Microbial Systems Ltd Optically transmissive plate with orifice for particle detectors
GB2380792B (en) * 1998-05-16 2003-07-23 Microbial Systems Ltd Particle detection system and components thereof
WO2005088270A3 (en) * 2004-03-15 2007-02-22 Evanesco Ltd Fluid monitoring apparatus and methods
JP2008191151A (ja) * 2007-02-05 2008-08-21 Palo Alto Research Center Inc 物体の識別
WO2011138896A1 (ja) * 2010-05-06 2011-11-10 シャープ株式会社 濁度検知器
JP2011237191A (ja) * 2010-05-06 2011-11-24 Sharp Corp 濁度検知器
JP2012195337A (ja) * 2011-03-15 2012-10-11 Sony Corp レーザー照射装置および微小粒子測定装置
JP2015503757A (ja) * 2012-01-17 2015-02-02 エフ.ホフマン−ラ ロッシュ アーゲー 結合親和性の検出に用いる装置
KR20140114364A (ko) * 2012-01-17 2014-09-26 에프. 호프만-라 로슈 아게 결합 친화성 탐지에 사용하는 장치
US10006866B2 (en) 2012-01-17 2018-06-26 Hoffmann-La Roche Inc. Device for use in the detection of binding affinities
WO2016170681A1 (ja) * 2015-04-24 2016-10-27 株式会社島津製作所 光学測定装置
JPWO2016170681A1 (ja) * 2015-04-24 2017-10-19 株式会社島津製作所 光学測定装置
CN107532992A (zh) * 2015-04-24 2018-01-02 株式会社岛津制作所 光学测定装置
US10126229B2 (en) 2015-04-24 2018-11-13 Shimadzu Corporation Optical measurement device
CN109791103A (zh) * 2016-09-22 2019-05-21 Imec 非营利协会 使用薄透镜进行粒子检测
CN109443445A (zh) * 2018-12-18 2019-03-08 苏州同阳科技发展有限公司 一种颗粒物在线监测装置与方法
CN109443445B (zh) * 2018-12-18 2023-10-27 苏州同阳科技发展有限公司 一种颗粒物在线监测装置与方法
WO2021199797A1 (ja) * 2020-03-31 2021-10-07 国立研究開発法人産業技術総合研究所 粒子の屈折率計測方法

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