JPS60158357A - 回路基板等の検査装置 - Google Patents
回路基板等の検査装置Info
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- JPS60158357A JPS60158357A JP1476084A JP1476084A JPS60158357A JP S60158357 A JPS60158357 A JP S60158357A JP 1476084 A JP1476084 A JP 1476084A JP 1476084 A JP1476084 A JP 1476084A JP S60158357 A JPS60158357 A JP S60158357A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
〔発明の技術分野〕
本発明は、接触グローブの先端を工○、ＬＳＩ等の回路
基板の検査点に接触させて電、気的試験、検査などを行
なう検査装置に関する。 〔発明の技術的Ｗ景とその問題点〕 検査すべき回路基板に対向して移動自在に設けられた支
持板に、筒状の外部導体の内部に中心導体を絶縁状態で
設けた同軸型可動接触グローブを回路基板に向かって貫
通状態で支持し、支持板の移動により接触グローブの先
端を回路基板の検査点に接触させて電気的な測定検査を
行なう回路基板等の検査装置は、し１」えげ詩公昭５８
−１７５２７３号公報に記載されているように公知であ
る。 この種の同軸型可動接触グローブは、その同軸構造のた
めに、インピーダンス整合がよい、信号の漏洩、信号レ
ベルの＠衰か少々い等の利点があシ、電気的に良好な測
定、検査を行なうことができる。 しかしながら、従来の同軸型可動接触グａ−ブでは、最
も故障、破損し易い中心導体が、故障、破損して交換し
なければならない時には、外部導体等の他の部分をも外
さないと交換作業を行なうことができない。 一方、従来の同軸型可動接触グローブは、その支持板へ
の装着構造が比較的複雑で、着脱にも手間がかかるとい
う欠点がある。 〔発明の目的〕 本発明が、す上のような問題点に鑑みなされたもので、
その主目的は、同１Ｍ＋型可動接触グローブの中心導体
のみ全簡単に挿脱することができ、これによシその交換
を瞬時に行なうことができるようにすることにある。 また、本発明の他の目的は、同軸型可動接触１０−ブの
支持板に対する装着を簡単な構造により確実に行なうこ
とができるようにすることにある。 〔発明の概要〕 本発明では、その主目的の達成のために、接触グローブ
の外部導体の内側に、中心Ｆ！１ｆＩＫ中心導体挿入用
の其通孔を有する絶縁節全固定し、中心導体は、筒状の
主体と主体の先端部にばね力に抗して後退自在に支持し
た先端ビンとによ多構成し、中心導体の主体を絶縁筒の
貫通孔内に挿脱自在に摩擦的に挿入支持し、貫通孔内へ
の中心導体主体の挿入位置決め手段をさらに設ける。 また、接触グローブの支持板への装着を簡単にするため
に、接触グローブの外部導体の外側に外筒を一体的には
め、この外筒の外周面に突出部を設け、支持板に貫設し
た接触グローブ挿通孔内に前記外部を、挿入孔へ突出部
が圧接されるようにして挿入する構成がとられる。 〔発明の実施例〕 第１図の回路基板等の検査装置の一実施例を示すもので
、同図において、ｌは平行にＦ！Ａ１えば４本設けられ
るガイドボストであり、検査装置の四隅等に固設されて
いる。 ガイドボスト１の上＠部には回路基鈑等の支承フレーム
２が固定されており、これに、検査すべきＩＣ回路基基
板が支持される。 支承フレーム２の下方には、ガイドボスト１により案内
されて上下方向に移動する接触グａ−ブ装着基板として
の支持板３が設けられている。この支持板３には同軸型
可動接触１０−ブＰが上下方向に多数支持されている。 各グローブＰけ先端（１婦）に接触部を有し、支持板３
が支承フレーム２上の回路基板Ｂに向かって上昇すると
、各グローブＰの先端が回路基板Ｂの下面の回路パター
ンに電気的に接触して測定検査が行表われるようになっ
ている。なお、支持板３を固定し、支承フレーム２を上
下動させるようにしてもよい。 支持板３の下方には、支持板３と一緒にガイドボヌト１
に沿って上下動するコネクタ保持板４が設けられており
、この保持板４に測定器（図示しない）へ到る同軸ケー
ブル５に各グローブＰを電気的に接続するコネクタ６が
保持されている。 支持板３に対する同軸型可動接触グローブＰの支持の詳
細、および接触プローブＰの構造の詳細は第２図に示す
。同図において、１０は同軸型可動接触グａ−プＰの中
心導体であわ、！］はその外周に同軸的に設けられた筒
状の外部導体である。外部導体１１の内面には、電気ｆ
ｌ！縁材からなる絶縁筒１２がＩＭ定されている。絶縁
筒１２はその中心部に中心導体挿入用貫通孔１３を有し
ており、これに中心導体１０が挿入されている。 外部導体１１の外側には外筒１４が一体的にはめてあり
、その外周面には突出部１５が形成されている。 外筒ｔ４は金属等の導体によね形成してもよいし、不導
体の合成樹脂などにより形成してもよい。外筒１４は、
その突出部１５が支持板３の挿通孔１７の内面にｌＦ接
された状態で挿通孔１７内に支持されており、その挿入
位置は段部１８の支持板３への当接によシ決められる。 外筒１４の先端（上端）部の内側には凹入部１９が形成
されて外部導体１１との間に環状空間が形成され、この
環状を間に、外部導体１１の先端可動部２゜を構成する
導体からなる筒体の大径基部２０ａが摺動自在に挿入さ
れている。先端可動部２０ｔｉ、！’後からコイルばね
２１にＪニジ外方へ弾圧され、その脱出は外部１４の先
端の内折りフランジ２２にＪ：ゎ阻止されている。 中心導体１０は、節状の主体２４とその先端ビン２５と
を有し、先端ビンＵの基部２４ａは主体２４内に抜は止
め状態で挿入され、主体内のコイルげね２７によって先
端ビンＵけボール２６を介して外方へ弾圧されてｒる。 コイルげね２７の＊端は、主体飼の内側へ向かつて変形
させたビード腑に受け止めされている。主体Ｕの貫通孔
１３の軸線方向での位置決めけ位置決め手段３０Ｖｃよ
シ々されている。位置決め手段３０け図示の例ではフラ
ンジとして形成され、このフランジ３０が絶縁節１２の
先端面に当たるまで中心導体１０を貫通孔１３内に挿入
すると、中心導体ｌＯの位１＆決めがなされる。 中心導体１０が貫通孔１３から簡単に抜けないようにす
るために、中心導体１ｏは貫通孔１３に摩擦的に挿入す
る。摩擦力全発生させる手段としては、貫通孔１３ ｆ
９ ｌｃＪ導体１０ニジ幾分太き巨匠するとともに、
中心導体ｌＯの主体２４を若干湾曲させ、貫通孔１３内
への挿入時に直線状に撓ませるようにすることが考えら
れる。主体２４の湾曲加工は、主体素材に予め塑性変形
を与えることによシ行なってもよいし、主体２４に先端
ビン２５を組み込んでから主体に湾曲を与えることによ
シ行なってもよい。また、湾曲を与える代りに、湾曲の
々い主体Ｕの内側から外側へ向かって打出し突起を形成
し、この突起全幾分弾性のある絶縁筒１２に当接させる
ことにより摩擦保持機能を与えてもよい。 接触グローブＰの基端部にコネクタ６（第１図）を接続
するために、中心導体１０の基端ｔＯａを第２図に示す
ように開放するとともに、外部導体１１の基端に第３図
にも示すように切割シ３２を形成して外部導体ｔ】基端
に拡開弾性を与えておく。 コネクタ６による同軸ケーブル５との接続の詳細は第４
図に示す通りである。同軸ケーブル５け、芯線４０と、
網線４１と、それらの間に介在する絶縁体４２と、外被
４３とからなっている。網８４１の先喘部は図示のよう
に外被４３の外側に折り返され、それにコネクタの接続
プラグ金具４４が朋り付けられる。 接続プラグ金具４４は、第５図に示すように、基端側の
餘状欧付は部４５と先端側の筒状大径プラグ４６とを備
え、それらの境界部の外側に環状溝４７が形成されてい
る。４９は、切割り４８およびフランジ５０を有する小
径プラグで、その背後の突出部５１は、大径プラグ４６
の内側にはめ込まれた環状の絶縁部材５２の中心の孔に
はめ込まれている。この際、フランジ５０は絶縁部材５
２の先婦面に当接する。突出部５１はＷＭ状全なし、孔
５３を有している。 以上のような構成をもつ接続プラグ金具４４の取付は部
４５け、同軸ケーブル５の先端部に第４図に示すように
被せられて、５４で示すように絞りかしめにより同軸ケ
ーブルＩＣ覗シけけられる。また、同軸ケーブル芯線４
０の先端は、突出部５１の孔５３内に差し込剪れて５５
で示すようにはんだ付けされる。 このように同軸ケーブル５に接続された接続プラグ金具
４４は、その大径プラグ４６が外部導体１１の基端部内
にはめ込まれ、かつ小径プラグ４９が中心導体主体２４
の基＠部ｔＯａにはめ込まれることにより第４図に示す
ように接触プローブＰＫ［Ｅ気的に接続される。はめ込
みの際、外部導体１１は切込み３２の存在により弾性的
に拡開し、その先端の内側屈曲部６０は、接続プラグ金
具４４の環状溝４７（第５図）内に係合して不意の脱出
を防ぐ。一方、はめ込みの際、小径グラブ４９け弾性的
に収縮し、接続後は小径プラグ４９は中心導体主体２４
０基端部ｔＯａの内面に圧接される。かくして、外部導
体１１は大径グラブ４６および取付は部４５を介して同
軸ケーブル５の網線４１に、また中心導体１０け小径プ
ラグ４９および突出部５１ヲ介して同軸ケーブル５の芯
線４０にそれぞれ接続される。 接続プラグ金具４４により構成されるコネクタ６は、第
１図に示すようにコネクタ１呆持板４に取りつけられ、
第２図に示す所定位置にまで接触グローブＰｆ支持板３
の挿通孔
基板の検査点に接触させて電、気的試験、検査などを行
なう検査装置に関する。 〔発明の技術的Ｗ景とその問題点〕 検査すべき回路基板に対向して移動自在に設けられた支
持板に、筒状の外部導体の内部に中心導体を絶縁状態で
設けた同軸型可動接触グローブを回路基板に向かって貫
通状態で支持し、支持板の移動により接触グローブの先
端を回路基板の検査点に接触させて電気的な測定検査を
行なう回路基板等の検査装置は、し１」えげ詩公昭５８
−１７５２７３号公報に記載されているように公知であ
る。 この種の同軸型可動接触グローブは、その同軸構造のた
めに、インピーダンス整合がよい、信号の漏洩、信号レ
ベルの＠衰か少々い等の利点があシ、電気的に良好な測
定、検査を行なうことができる。 しかしながら、従来の同軸型可動接触グａ−ブでは、最
も故障、破損し易い中心導体が、故障、破損して交換し
なければならない時には、外部導体等の他の部分をも外
さないと交換作業を行なうことができない。 一方、従来の同軸型可動接触グローブは、その支持板へ
の装着構造が比較的複雑で、着脱にも手間がかかるとい
う欠点がある。 〔発明の目的〕 本発明が、す上のような問題点に鑑みなされたもので、
その主目的は、同１Ｍ＋型可動接触グローブの中心導体
のみ全簡単に挿脱することができ、これによシその交換
を瞬時に行なうことができるようにすることにある。 また、本発明の他の目的は、同軸型可動接触１０−ブの
支持板に対する装着を簡単な構造により確実に行なうこ
とができるようにすることにある。 〔発明の概要〕 本発明では、その主目的の達成のために、接触グローブ
の外部導体の内側に、中心Ｆ！１ｆＩＫ中心導体挿入用
の其通孔を有する絶縁節全固定し、中心導体は、筒状の
主体と主体の先端部にばね力に抗して後退自在に支持し
た先端ビンとによ多構成し、中心導体の主体を絶縁筒の
貫通孔内に挿脱自在に摩擦的に挿入支持し、貫通孔内へ
の中心導体主体の挿入位置決め手段をさらに設ける。 また、接触グローブの支持板への装着を簡単にするため
に、接触グローブの外部導体の外側に外筒を一体的には
め、この外筒の外周面に突出部を設け、支持板に貫設し
た接触グローブ挿通孔内に前記外部を、挿入孔へ突出部
が圧接されるようにして挿入する構成がとられる。 〔発明の実施例〕 第１図の回路基板等の検査装置の一実施例を示すもので
、同図において、ｌは平行にＦ！Ａ１えば４本設けられ
るガイドボストであり、検査装置の四隅等に固設されて
いる。 ガイドボスト１の上＠部には回路基鈑等の支承フレーム
２が固定されており、これに、検査すべきＩＣ回路基基
板が支持される。 支承フレーム２の下方には、ガイドボスト１により案内
されて上下方向に移動する接触グａ−ブ装着基板として
の支持板３が設けられている。この支持板３には同軸型
可動接触１０−ブＰが上下方向に多数支持されている。 各グローブＰけ先端（１婦）に接触部を有し、支持板３
が支承フレーム２上の回路基板Ｂに向かって上昇すると
、各グローブＰの先端が回路基板Ｂの下面の回路パター
ンに電気的に接触して測定検査が行表われるようになっ
ている。なお、支持板３を固定し、支承フレーム２を上
下動させるようにしてもよい。 支持板３の下方には、支持板３と一緒にガイドボヌト１
に沿って上下動するコネクタ保持板４が設けられており
、この保持板４に測定器（図示しない）へ到る同軸ケー
ブル５に各グローブＰを電気的に接続するコネクタ６が
保持されている。 支持板３に対する同軸型可動接触グローブＰの支持の詳
細、および接触プローブＰの構造の詳細は第２図に示す
。同図において、１０は同軸型可動接触グａ−プＰの中
心導体であわ、！］はその外周に同軸的に設けられた筒
状の外部導体である。外部導体１１の内面には、電気ｆ
ｌ！縁材からなる絶縁筒１２がＩＭ定されている。絶縁
筒１２はその中心部に中心導体挿入用貫通孔１３を有し
ており、これに中心導体１０が挿入されている。 外部導体１１の外側には外筒１４が一体的にはめてあり
、その外周面には突出部１５が形成されている。 外筒ｔ４は金属等の導体によね形成してもよいし、不導
体の合成樹脂などにより形成してもよい。外筒１４は、
その突出部１５が支持板３の挿通孔１７の内面にｌＦ接
された状態で挿通孔１７内に支持されており、その挿入
位置は段部１８の支持板３への当接によシ決められる。 外筒１４の先端（上端）部の内側には凹入部１９が形成
されて外部導体１１との間に環状空間が形成され、この
環状を間に、外部導体１１の先端可動部２゜を構成する
導体からなる筒体の大径基部２０ａが摺動自在に挿入さ
れている。先端可動部２０ｔｉ、！’後からコイルばね
２１にＪニジ外方へ弾圧され、その脱出は外部１４の先
端の内折りフランジ２２にＪ：ゎ阻止されている。 中心導体１０は、節状の主体２４とその先端ビン２５と
を有し、先端ビンＵの基部２４ａは主体２４内に抜は止
め状態で挿入され、主体内のコイルげね２７によって先
端ビンＵけボール２６を介して外方へ弾圧されてｒる。 コイルげね２７の＊端は、主体飼の内側へ向かつて変形
させたビード腑に受け止めされている。主体Ｕの貫通孔
１３の軸線方向での位置決めけ位置決め手段３０Ｖｃよ
シ々されている。位置決め手段３０け図示の例ではフラ
ンジとして形成され、このフランジ３０が絶縁節１２の
先端面に当たるまで中心導体１０を貫通孔１３内に挿入
すると、中心導体ｌＯの位１＆決めがなされる。 中心導体１０が貫通孔１３から簡単に抜けないようにす
るために、中心導体１ｏは貫通孔１３に摩擦的に挿入す
る。摩擦力全発生させる手段としては、貫通孔１３ ｆ
９ ｌｃＪ導体１０ニジ幾分太き巨匠するとともに、
中心導体ｌＯの主体２４を若干湾曲させ、貫通孔１３内
への挿入時に直線状に撓ませるようにすることが考えら
れる。主体２４の湾曲加工は、主体素材に予め塑性変形
を与えることによシ行なってもよいし、主体２４に先端
ビン２５を組み込んでから主体に湾曲を与えることによ
シ行なってもよい。また、湾曲を与える代りに、湾曲の
々い主体Ｕの内側から外側へ向かって打出し突起を形成
し、この突起全幾分弾性のある絶縁筒１２に当接させる
ことにより摩擦保持機能を与えてもよい。 接触グローブＰの基端部にコネクタ６（第１図）を接続
するために、中心導体１０の基端ｔＯａを第２図に示す
ように開放するとともに、外部導体１１の基端に第３図
にも示すように切割シ３２を形成して外部導体ｔ】基端
に拡開弾性を与えておく。 コネクタ６による同軸ケーブル５との接続の詳細は第４
図に示す通りである。同軸ケーブル５け、芯線４０と、
網線４１と、それらの間に介在する絶縁体４２と、外被
４３とからなっている。網８４１の先喘部は図示のよう
に外被４３の外側に折り返され、それにコネクタの接続
プラグ金具４４が朋り付けられる。 接続プラグ金具４４は、第５図に示すように、基端側の
餘状欧付は部４５と先端側の筒状大径プラグ４６とを備
え、それらの境界部の外側に環状溝４７が形成されてい
る。４９は、切割り４８およびフランジ５０を有する小
径プラグで、その背後の突出部５１は、大径プラグ４６
の内側にはめ込まれた環状の絶縁部材５２の中心の孔に
はめ込まれている。この際、フランジ５０は絶縁部材５
２の先婦面に当接する。突出部５１はＷＭ状全なし、孔
５３を有している。 以上のような構成をもつ接続プラグ金具４４の取付は部
４５け、同軸ケーブル５の先端部に第４図に示すように
被せられて、５４で示すように絞りかしめにより同軸ケ
ーブルＩＣ覗シけけられる。また、同軸ケーブル芯線４
０の先端は、突出部５１の孔５３内に差し込剪れて５５
で示すようにはんだ付けされる。 このように同軸ケーブル５に接続された接続プラグ金具
４４は、その大径プラグ４６が外部導体１１の基端部内
にはめ込まれ、かつ小径プラグ４９が中心導体主体２４
の基＠部ｔＯａにはめ込まれることにより第４図に示す
ように接触プローブＰＫ［Ｅ気的に接続される。はめ込
みの際、外部導体１１は切込み３２の存在により弾性的
に拡開し、その先端の内側屈曲部６０は、接続プラグ金
具４４の環状溝４７（第５図）内に係合して不意の脱出
を防ぐ。一方、はめ込みの際、小径グラブ４９け弾性的
に収縮し、接続後は小径プラグ４９は中心導体主体２４
０基端部ｔＯａの内面に圧接される。かくして、外部導
体１１は大径グラブ４６および取付は部４５を介して同
軸ケーブル５の網線４１に、また中心導体１０け小径プ
ラグ４９および突出部５１ヲ介して同軸ケーブル５の芯
線４０にそれぞれ接続される。 接続プラグ金具４４により構成されるコネクタ６は、第
１図に示すようにコネクタ１呆持板４に取りつけられ、
第２図に示す所定位置にまで接触グローブＰｆ支持板３
の挿通孔
【７に挿入すると、その下方に位置している接
続プラグ金具４４に対し接触グローブＰが接続される。 々お、コネクタ６は図示のような構造のため、接触グロ
ーブＰと同じ程度の径を有するものにすることができ、
コネクタ６が接触グローブＰより太くなることがないた
め、接触グローブ装着密匿ヲ大きくすることができる。 以上のようにして構成さｈた本発明の回路基板等の検査
装＃け、その接触グローブ支持板３およびコネクタ保持
板４を、支承フレーム２ＶＣ取り付けられた回路基板Ｂ
の回路パターンに向かって相対的に上昇させることによ
り検査を行なうものであり、各接触プローブＰの中心導
体ｌＯおよび外部導体ｌ】の先端にある先端ビン２５お
よび先端可動部２０が回路パターンの所定点にＷ後のげ
ね２７および２Ｉの力により圧接され、電気的接続状態
が得られる。そして、各接触グローブＰ、″：１ネクタ
６お工び同軸ケーブル５を経て図示しない測定器に信号
が送られ、測定検査が行々われる。 この際、接触グローブの中心導体ｌＯと外部導体１１の
間が絶縁体１２により満たされているのでインピーダン
スの変ｒヒが生じることがなく、測定システムから被測
定物までのインピーダンスの乱れも々〈信号を送ること
ができる。また、中心導体１０および外部導体ＩＪとも
可動接触子としての先端ビン２５お工び先端可動部２０
全有して贋るので、接触グローブＰの装着密度が向上す
る。 なお、接触グローブＰが細径のものである場合には、外
筒１４を省略し、外部導体（１の一部に内側から外側に
打ち出された突起を形成し、この突起を支持板３の挿通
孔１７の内面に摩擦接触させることにより接触グローブ
Ｐの支持板３への装着を行なってもよい。 外部導体ｌ］の側はアース側であり、アースは外部導体
１１から図示し力い導体を介してとることもぺできる。 本発明の原理は、渠２図に示すように先端部に先端可動
部２０お工び先端ビン２５を有し、基端部がコネクタ６
に接続される形式の同ｍ＊可動接触グローブアのみでは
なく、第６図に示すように接触グローブＰの基端側も先
端側と同じ構造を有し、基熾可動部２０ｂよび基端ビン
２５！もつ形式の接触グローブにも適用することができ
る。 この笑施し１１でも、中ｊｃＪ導体！０の主体飼は、第
２図について説明したと同様に、絶縁時１２の貫通孔１
３内に挿脱自在に挿入され、摩擦により保持され、位置
決め手段３０により位（置決めされる。また、外部１４
は支持板３の挿通孔ｔ７内に摩擦により保持される。 第６図に示す形式の接触グローブは、第７図に示すよう
なコネクタ６’により同瞥ケーブル５に接続することが
できる。同軸ケーブル５は、第４図ｏ楊＆と同様に、芯
′ａ４０、網線４１、ＰＩ緑鉢体４２外被４３を有し、
外被４３は先端側で剥離されて網線４１が露出される。 露出した網線４１の外周には藺状導体７０が絞シかしめ
部７１によシをり付けられる。一方、節状導体７０の内
側には絶縁体７３を介して芯導体７４がはめ込まれてお
り、この芯導体７４の中央孔内に芯線４０の先端部が挿
入され、その先端がはんだ付け７５される。また、筒状
導体７０、芯導体７４および絶縁体７３の先端面は同じ
平面に形成される。 そして、以上のようがコネクタ６′の筒状導体７０はコ
ネクタ保持板４の孔に圧入によシ装着され、その段部７
６により位置決めされる。 このような構成により、支持板３の挿通孔１７に接触グ
ロープルｙ装着すると、第７図に示すように基端ビン２
５１および基端可動部２０１はそれらの背後のげね２７
および２１を圧縮して幾分か後退し、それぞれ芯導体７
４お↓び筒状導体７０の表面に圧接されて電気的接続状
態が得られる。 との笑７１Ｉｌｉ例もさきに述べた実施列と同様力効果
を有することは明らかである。 々お、本発明は回路基板のみならず、それと類似のもの
の測定、検食にも利用できるものであり、また接触プロ
ーブＰの上下方向の向きは逆であってもよい。 〔発明の効果〕 以上に述べたように、本発明では、同軸型可動接触グロ
ーブの中心導体はその特有の構造により、簡単に挿入、
覗り外しを行なうことができ、故障、破損時におけるそ
の交換が容易になる。また、その挿入時の位置決めも瞬
時に行なうことができ、挿入後はみだりに脱出すること
がない。 また、併合発明によれば、同一型可動接触グロ
続プラグ金具４４に対し接触グローブＰが接続される。 々お、コネクタ６は図示のような構造のため、接触グロ
ーブＰと同じ程度の径を有するものにすることができ、
コネクタ６が接触グローブＰより太くなることがないた
め、接触グローブ装着密匿ヲ大きくすることができる。 以上のようにして構成さｈた本発明の回路基板等の検査
装＃け、その接触グローブ支持板３およびコネクタ保持
板４を、支承フレーム２ＶＣ取り付けられた回路基板Ｂ
の回路パターンに向かって相対的に上昇させることによ
り検査を行なうものであり、各接触プローブＰの中心導
体ｌＯおよび外部導体ｌ】の先端にある先端ビン２５お
よび先端可動部２０が回路パターンの所定点にＷ後のげ
ね２７および２Ｉの力により圧接され、電気的接続状態
が得られる。そして、各接触グローブＰ、″：１ネクタ
６お工び同軸ケーブル５を経て図示しない測定器に信号
が送られ、測定検査が行々われる。 この際、接触グローブの中心導体ｌＯと外部導体１１の
間が絶縁体１２により満たされているのでインピーダン
スの変ｒヒが生じることがなく、測定システムから被測
定物までのインピーダンスの乱れも々〈信号を送ること
ができる。また、中心導体１０および外部導体ＩＪとも
可動接触子としての先端ビン２５お工び先端可動部２０
全有して贋るので、接触グローブＰの装着密度が向上す
る。 なお、接触グローブＰが細径のものである場合には、外
筒１４を省略し、外部導体（１の一部に内側から外側に
打ち出された突起を形成し、この突起を支持板３の挿通
孔１７の内面に摩擦接触させることにより接触グローブ
Ｐの支持板３への装着を行なってもよい。 外部導体ｌ］の側はアース側であり、アースは外部導体
１１から図示し力い導体を介してとることもぺできる。 本発明の原理は、渠２図に示すように先端部に先端可動
部２０お工び先端ビン２５を有し、基端部がコネクタ６
に接続される形式の同ｍ＊可動接触グローブアのみでは
なく、第６図に示すように接触グローブＰの基端側も先
端側と同じ構造を有し、基熾可動部２０ｂよび基端ビン
２５！もつ形式の接触グローブにも適用することができ
る。 この笑施し１１でも、中ｊｃＪ導体！０の主体飼は、第
２図について説明したと同様に、絶縁時１２の貫通孔１
３内に挿脱自在に挿入され、摩擦により保持され、位置
決め手段３０により位（置決めされる。また、外部１４
は支持板３の挿通孔ｔ７内に摩擦により保持される。 第６図に示す形式の接触グローブは、第７図に示すよう
なコネクタ６’により同瞥ケーブル５に接続することが
できる。同軸ケーブル５は、第４図ｏ楊＆と同様に、芯
′ａ４０、網線４１、ＰＩ緑鉢体４２外被４３を有し、
外被４３は先端側で剥離されて網線４１が露出される。 露出した網線４１の外周には藺状導体７０が絞シかしめ
部７１によシをり付けられる。一方、節状導体７０の内
側には絶縁体７３を介して芯導体７４がはめ込まれてお
り、この芯導体７４の中央孔内に芯線４０の先端部が挿
入され、その先端がはんだ付け７５される。また、筒状
導体７０、芯導体７４および絶縁体７３の先端面は同じ
平面に形成される。 そして、以上のようがコネクタ６′の筒状導体７０はコ
ネクタ保持板４の孔に圧入によシ装着され、その段部７
６により位置決めされる。 このような構成により、支持板３の挿通孔１７に接触グ
ロープルｙ装着すると、第７図に示すように基端ビン２
５１および基端可動部２０１はそれらの背後のげね２７
および２１を圧縮して幾分か後退し、それぞれ芯導体７
４お↓び筒状導体７０の表面に圧接されて電気的接続状
態が得られる。 との笑７１Ｉｌｉ例もさきに述べた実施列と同様力効果
を有することは明らかである。 々お、本発明は回路基板のみならず、それと類似のもの
の測定、検食にも利用できるものであり、また接触プロ
ーブＰの上下方向の向きは逆であってもよい。 〔発明の効果〕 以上に述べたように、本発明では、同軸型可動接触グロ
ーブの中心導体はその特有の構造により、簡単に挿入、
覗り外しを行なうことができ、故障、破損時におけるそ
の交換が容易になる。また、その挿入時の位置決めも瞬
時に行なうことができ、挿入後はみだりに脱出すること
がない。 また、併合発明によれば、同一型可動接触グロ
第１図は本発明の回路基板等の検査装置の正面図、第２
図は第１図の同軸型可動接触グローブの部分の拡大縦断
面図、第３図は第２図の■−■線断面図、第４図は第２
図に示す接触グローブの基端部に接続されるコネクタの
詳細を示す縦断面図、第５図は第４図に示すコネクタの
接続プラグ金具のみの拡大縦断面図、第６図は異なる形
式の同軸型可動接触グローブの部分を示す第２図と同様
な拡大縦断面図、第７図は第６図の接触グローブの基端
部に接続されるコネクタを示す縦断面図である。 ２・・・回路基板支承フレーム、３・・・接触グローブ
支持板、４・・・コネクタ保持板、６．６’・・・コネ
クタ、５・・・同軸ケーブル、Ｂ・・・回路基板、Ｐ出
量軸型可動接触グローブ、１０・・・中心導体、１１・
・・外部導体、１２・・・絶縁筒、１３・・・貢通孔、
１４・・・外部、１９・・・凹入部、１７・・・挿通孔
、２０・・・外部導体先端可動部、２０′・・・基端可
動部、２１・・・コイルばね、２４・・・中心導体主体
、２５・・・先端ビン、２５′・・・基端ビン、３ｏ・
・・位置決め手段、４０・・・芯線、４１・・・網線、
４３・・・外被、４４・・・接続グラブ金具、４５・・
・取付は部、４６・・・大径プラグ、４９・・・小径プ
ラグ、５０・・・突出部、５１・・・絶縁部材、５４・
・・絞りがしめ部、５５・・・はんだ付は部、７ｏ・・
・筒状導体、７３・・・絶縁体、７４・・・芯導体、７
５・・・けんｆｆ付は部。 出願人代理人 猪 股 清 第 ｆ 図 Ｂ 茶 ７ 図 第２ 固 弗 ５ 図 弗 ６ 図 ５
図は第１図の同軸型可動接触グローブの部分の拡大縦断
面図、第３図は第２図の■−■線断面図、第４図は第２
図に示す接触グローブの基端部に接続されるコネクタの
詳細を示す縦断面図、第５図は第４図に示すコネクタの
接続プラグ金具のみの拡大縦断面図、第６図は異なる形
式の同軸型可動接触グローブの部分を示す第２図と同様
な拡大縦断面図、第７図は第６図の接触グローブの基端
部に接続されるコネクタを示す縦断面図である。 ２・・・回路基板支承フレーム、３・・・接触グローブ
支持板、４・・・コネクタ保持板、６．６’・・・コネ
クタ、５・・・同軸ケーブル、Ｂ・・・回路基板、Ｐ出
量軸型可動接触グローブ、１０・・・中心導体、１１・
・・外部導体、１２・・・絶縁筒、１３・・・貢通孔、
１４・・・外部、１９・・・凹入部、１７・・・挿通孔
、２０・・・外部導体先端可動部、２０′・・・基端可
動部、２１・・・コイルばね、２４・・・中心導体主体
、２５・・・先端ビン、２５′・・・基端ビン、３ｏ・
・・位置決め手段、４０・・・芯線、４１・・・網線、
４３・・・外被、４４・・・接続グラブ金具、４５・・
・取付は部、４６・・・大径プラグ、４９・・・小径プ
ラグ、５０・・・突出部、５１・・・絶縁部材、５４・
・・絞りがしめ部、５５・・・はんだ付は部、７ｏ・・
・筒状導体、７３・・・絶縁体、７４・・・芯導体、７
５・・・けんｆｆ付は部。 出願人代理人 猪 股 清 第 ｆ 図 Ｂ 茶 ７ 図 第２ 固 弗 ５ 図 弗 ６ 図 ５
Claims (4)
- （１）検査すべき回路基板に対向して相対的に移動自在
に設けられた支持板に、節状の外部導体の内部に中心導
体を絶縁状態で設けた同軸型可動接触グローブを回路基
板に向かって貫通状態で支持し、支持板の回路基板に対
する相対移動により接触グローブの先端を回路基板の検
査点に接触させて電気的な測定検査を行なう回路基板等
の検査装置であって、接触グローブの外部導体の内側に
、中心部に中心導体挿入用の貫通孔を有する絶縁時を固
定し、中心導体は、節状の主体と主体の先端部にばね力
に抗して後退自在に支持した先端ビンとにより構成し、
中心導体の主体を絶縁筒の貫通孔内に挿脱１舊に摩擦的
に挿入支持し、貫通孔内への中心導体主体の挿入位置決
め手段をさらに設けてなる回路基板等の検査装置。 - （２）挿入位置決め手段を、中心導体主体の先端部に設
けられ、絶縁鰺の端面に当接するフランジにより構成し
てなる特許請求の範囲第１項記載の回路基板等の検査装
置。 - （３）Ｐ査すべき回路基板に対向して相対的に移動自在
に設けられた支持板に、節状の外部導体の内部に中心導
体を絶縁状態で設けた同軸型可動接触グローブを回路基
板に向かって貫通状態で支持し、支持板の回路基板に対
する相対移動により接触グローブの先端を回路基板の検
査点に接触させて電気的な測定検査を行なう回路基板等
の検査装置であって、接触グローブの外部導体の内側に
、中心部に中心導体挿入用の貫通孔を有する絶Ｒ時全固
定し、中心導体は、筒状の主体と主体の先端部にばね力
に抗して後退自在に支持した先端ビンとによシ構成し、
中心導体の主体を絶縁筒の貫通孔内に挿脱自在に摩擦的
に挿入支持し、貫通孔内への中心導体主体の挿入位置決
め手段をさらに設け、接触グローブの外部導体の外側に
外筒を一体的にはめ、この列笥の外周面に突出部を設け
、支持板に貫設した接触グローブ挿通孔内に前記外筒を
、該挿通孔へ突出部が１接されるようにして挿入して々
る回路基板等の検査装置。 - （４）外筒の少乞とも先端側端部とその内側の外部導体
との間に環状空間が形成されるように外筒全形成し、そ
の環状空間内に外側導体の先端可動部の基幻を挿入し、
環状空間内に挿入したげねに抗して先惜可動部が後退自
在となるようにしてなる特許請求の範囲第３項記載の回
路基板等の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1476084A JPS60158357A (ja) | 1984-01-30 | 1984-01-30 | 回路基板等の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1476084A JPS60158357A (ja) | 1984-01-30 | 1984-01-30 | 回路基板等の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60158357A true JPS60158357A (ja) | 1985-08-19 |
| JPH0146829B2 JPH0146829B2 (ja) | 1989-10-11 |
Family
ID=11870035
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1476084A Granted JPS60158357A (ja) | 1984-01-30 | 1984-01-30 | 回路基板等の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60158357A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6265562U (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-23 | ||
| US4801876A (en) * | 1986-04-18 | 1989-01-31 | Sagami Tsushin Kogyo Kabushiki Kaisha | Printed wiring board tester |
| JPH02115175U (ja) * | 1989-03-03 | 1990-09-14 | ||
| JP2011089918A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Nidec-Read Corp | 接触子 |
| CN105006676A (zh) * | 2014-04-24 | 2015-10-28 | 富士通电子零件有限公司 | 连接器 |
-
1984
- 1984-01-30 JP JP1476084A patent/JPS60158357A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6265562U (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-23 | ||
| US4801876A (en) * | 1986-04-18 | 1989-01-31 | Sagami Tsushin Kogyo Kabushiki Kaisha | Printed wiring board tester |
| JPH02115175U (ja) * | 1989-03-03 | 1990-09-14 | ||
| JP2011089918A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Nidec-Read Corp | 接触子 |
| CN105006676A (zh) * | 2014-04-24 | 2015-10-28 | 富士通电子零件有限公司 | 连接器 |
| EP2937950A3 (en) * | 2014-04-24 | 2015-11-04 | Fujitsu Component Limited | Connector |
| US9281640B2 (en) | 2014-04-24 | 2016-03-08 | Fujitsu Component Limited | Connector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0146829B2 (ja) | 1989-10-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |