JPS6014217A - ポリゴンミラ− - Google Patents
ポリゴンミラ−Info
- Publication number
- JPS6014217A JPS6014217A JP12306583A JP12306583A JPS6014217A JP S6014217 A JPS6014217 A JP S6014217A JP 12306583 A JP12306583 A JP 12306583A JP 12306583 A JP12306583 A JP 12306583A JP S6014217 A JPS6014217 A JP S6014217A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- base material
- polygon mirror
- plane mirror
- polygon
- Prior art date
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/12—Scanning systems using multifaceted mirrors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/08—Mirrors
- G02B5/09—Multifaceted or polygonal mirrors, e.g. polygonal scanning mirrors; Fresnel mirrors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は−レーザプリンタ等の感光ドラムにレーザビー
ムを走査する場合などに用いるポリゴンミラーに関する
ものである。
ムを走査する場合などに用いるポリゴンミラーに関する
ものである。
従来例の構成とその問題点
レーザビームを走査し画像を表示、印刷するために、ポ
リゴンミラーの精度は非常に高くなければならない。以
下−簡単にポリゴンミラーの精度について説明する0 22.−ジ 第1図はポリゴンミラーの精度を示した図で。
リゴンミラーの精度は非常に高くなければならない。以
下−簡単にポリゴンミラーの精度について説明する0 22.−ジ 第1図はポリゴンミラーの精度を示した図で。
aは側面図、bは正面図である。基準面人の平面度は0
.6μm、B面の入面に対する平行度はo、6μm 、
c面の平面度はλ/3〜λ/加(λ−0.632μm
)。
.6μm、B面の入面に対する平行度はo、6μm 、
c面の平面度はλ/3〜λ/加(λ−0.632μm
)。
0面の面粗さはo、01〜o、02μm、0面(7)1
面に対する面角度90±1“〜5“1割出し精度αは±
1o“である。
面に対する面角度90±1“〜5“1割出し精度αは±
1o“である。
このように精度の高いポリゴンミラーを従来次のような
3種類の方法で製作している。第1は光に無電解メッキ
を施こしてラッピングし形成する方法。第3はアルミニ
ューム合金を単結晶ダイヤモンドバイトによ如切削し形
成する方法。以上の方法によって鏡面を形成するのであ
るが、前述の各精度を出すために1面1面常に精度の測
定を行なわなければならず、その精度を出すことは非常
に困難である。
3種類の方法で製作している。第1は光に無電解メッキ
を施こしてラッピングし形成する方法。第3はアルミニ
ューム合金を単結晶ダイヤモンドバイトによ如切削し形
成する方法。以上の方法によって鏡面を形成するのであ
るが、前述の各精度を出すために1面1面常に精度の測
定を行なわなければならず、その精度を出すことは非常
に困難である。
また、回転軸への取り付けはポリゴンミラーの基準面と
回転軸の基準面とを組み合わせて組立て32.−ジ るのであるが−回転軸と各面の平行度等をポリゴンミラ
ー自体に要求される精度に入れることも非常に困難であ
る。さらに、金属母材のポリゴンミラーでは、取り付け
の際の締付力でポリゴンミラーが変形し1本来の精度が
得られない場合がある。
回転軸の基準面とを組み合わせて組立て32.−ジ るのであるが−回転軸と各面の平行度等をポリゴンミラ
ー自体に要求される精度に入れることも非常に困難であ
る。さらに、金属母材のポリゴンミラーでは、取り付け
の際の締付力でポリゴンミラーが変形し1本来の精度が
得られない場合がある。
発明の目的
本発明は、従来のポリゴンミラーの製作上、及び1組立
上の困難さを解決し容易にすると同時に、従来得られな
かった精度の高いポリゴンミラーを提供することを目的
としている。
上の困難さを解決し容易にすると同時に、従来得られな
かった精度の高いポリゴンミラーを提供することを目的
としている。
発明の構成
本発明は母材に複数枚の平面鏡を電歪素子を介して取υ
付は一母材の回転角に応じて各平面鏡を支持する電歪素
子への印加電圧を変化させ、各平面鏡の誤差を補正する
ようにしたポリゴンミラーを提供するものである。
付は一母材の回転角に応じて各平面鏡を支持する電歪素
子への印加電圧を変化させ、各平面鏡の誤差を補正する
ようにしたポリゴンミラーを提供するものである。
実施例の説明
以下本発明を実施例にもとづいて詳細に説明する。
第2図は、本発明の一実施例のポリゴンミラー待lI昭
GO−14217(2) の構成を示す。aは正面図−すは側面図である0母材の
ポリゴン1のそれぞれの面に、平面鏡2が上下に伸縮す
る3つの電歪素子3上に接着し取り付けられている。3
つの電歪素子3への印加電圧はスリップリング4を介し
てそれぞれの電源5より供給され、各面に応じて3つの
変位量を調整するために回転角度センサー6と電圧切換
のコントローラ7が設けられる。
GO−14217(2) の構成を示す。aは正面図−すは側面図である0母材の
ポリゴン1のそれぞれの面に、平面鏡2が上下に伸縮す
る3つの電歪素子3上に接着し取り付けられている。3
つの電歪素子3への印加電圧はスリップリング4を介し
てそれぞれの電源5より供給され、各面に応じて3つの
変位量を調整するために回転角度センサー6と電圧切換
のコントローラ7が設けられる。
本発明のポリゴンミラーを走査回転鏡として用いるには
、各面がどれだけの誤差があるかをまず調べておく必要
がある。電歪素子3による調整範囲は、その変化量が数
ミクロンであるので各ミラー面の誤差は10秒以内であ
る。したがって、母材1との接着による各面の誤差はそ
れ以内に入れなければならない。
、各面がどれだけの誤差があるかをまず調べておく必要
がある。電歪素子3による調整範囲は、その変化量が数
ミクロンであるので各ミラー面の誤差は10秒以内であ
る。したがって、母材1との接着による各面の誤差はそ
れ以内に入れなければならない。
第3図は本発明によるポリゴンミラーの誤差を測定する
系を含む駆動装置である。母材1に電歪素子3を3点取
り付は−これに平面鏡2をとり付けた4面ポリゴンミラ
ーが軸11に取り付けられて、2つのV溝軸受12上に
載っている0軸115、、 、・ の一端に割出台13が取り付けられている。平面鏡2に
直角にオートコリメータ14がセクテングされ、平面鍾
2と軸11との平行度を測定できる0割出し精度は割出
台13とオートコリメータ14によって測定される。こ
のように測定しながら平面鏡2の各面を微調し誤差を修
正するに必要な3点の電歪素子3への印加電圧を把握す
る。このデータを第2図に示したコントローラ7にセツ
ティングし、センサー6でレーザビーム等ヲスキャンし
ている面を検出してその面に応じて各電歪素子2への印
加電圧を変化させ一レーザビームの反射角等の誤差が生
じないように各ミラー面を微調させる。
系を含む駆動装置である。母材1に電歪素子3を3点取
り付は−これに平面鏡2をとり付けた4面ポリゴンミラ
ーが軸11に取り付けられて、2つのV溝軸受12上に
載っている0軸115、、 、・ の一端に割出台13が取り付けられている。平面鏡2に
直角にオートコリメータ14がセクテングされ、平面鍾
2と軸11との平行度を測定できる0割出し精度は割出
台13とオートコリメータ14によって測定される。こ
のように測定しながら平面鏡2の各面を微調し誤差を修
正するに必要な3点の電歪素子3への印加電圧を把握す
る。このデータを第2図に示したコントローラ7にセツ
ティングし、センサー6でレーザビーム等ヲスキャンし
ている面を検出してその面に応じて各電歪素子2への印
加電圧を変化させ一レーザビームの反射角等の誤差が生
じないように各ミラー面を微調させる。
この微調操作はポリゴンミラーの回転中すなわち使用時
に行なうことができるので、ポリゴンミラー自体の光学
系での誤差補正が不要となり、製作が著しく容易になる
。
に行なうことができるので、ポリゴンミラー自体の光学
系での誤差補正が不要となり、製作が著しく容易になる
。
発明の効果
以上のように2本発明は母材に平面鏡を電歪素子を介し
て取り付け1回転角に応じて電歪素子へ62.−ジ の印加電圧を変化させて平面鏡の誤差を補正するように
したポリゴンミラーで、各ミラー面にそれぞれ誤差の修
正を行なう機構を持っているため次のような利点がある
。第1に、従来得られなかった高精度なポリゴンミラー
を得ることができる。
て取り付け1回転角に応じて電歪素子へ62.−ジ の印加電圧を変化させて平面鏡の誤差を補正するように
したポリゴンミラーで、各ミラー面にそれぞれ誤差の修
正を行なう機構を持っているため次のような利点がある
。第1に、従来得られなかった高精度なポリゴンミラー
を得ることができる。
第2に、ポリゴンミラー自身に回転中に誤差修正できる
°機構があるため1周辺の光学系での誤差補正が不必要
となる。第3に1.製作上の精度及び組立上の精度が従
来より高い必要がない。
°機構があるため1周辺の光学系での誤差補正が不必要
となる。第3に1.製作上の精度及び組立上の精度が従
来より高い必要がない。
第1図(a)、[有])はポリゴンミラーに要求される
精度を説明するだめの側面図および正面図、第2図(&
) 、 03)は本発明によるポリゴンミラーの実施例
を示す正面図および側面図、第3図(a) 、 (b)
は本発明のポリゴンミラーの駆動装置の実施例を示す平
面図および側面図である。 1・・・・・・母材、2・・・・・・平面鏡、3・・・
・・・電歪素子、4・−・・・・スリップリング、6・
・・・・・電圧源−6・・・・・・回転角度センサー、
7・−・・・・コントローラ、11・・・・・・軸、1
2・・・・・・V溝軸受、13・・・・・・割出台、1
4・・・7ページ ・・・オートコリメータ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 Cα) (b) 第2図 /41 lb) 第3図
精度を説明するだめの側面図および正面図、第2図(&
) 、 03)は本発明によるポリゴンミラーの実施例
を示す正面図および側面図、第3図(a) 、 (b)
は本発明のポリゴンミラーの駆動装置の実施例を示す平
面図および側面図である。 1・・・・・・母材、2・・・・・・平面鏡、3・・・
・・・電歪素子、4・−・・・・スリップリング、6・
・・・・・電圧源−6・・・・・・回転角度センサー、
7・−・・・・コントローラ、11・・・・・・軸、1
2・・・・・・V溝軸受、13・・・・・・割出台、1
4・・・7ページ ・・・オートコリメータ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 Cα) (b) 第2図 /41 lb) 第3図
Claims (2)
- (1)回動可能の母材に複数枚のミラーを電歪素子を介
して取シ付け、母材の回転角に応じ電歪素子への印加電
圧を変化させることを特徴とするポリゴンミラー。 - (2)電歪素子が各ミラーに対して3点設けられた特許
請求の範囲第1項記載のポリゴンミラー0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12306583A JPS6014217A (ja) | 1983-07-05 | 1983-07-05 | ポリゴンミラ− |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12306583A JPS6014217A (ja) | 1983-07-05 | 1983-07-05 | ポリゴンミラ− |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6014217A true JPS6014217A (ja) | 1985-01-24 |
JPH0412456B2 JPH0412456B2 (ja) | 1992-03-04 |
Family
ID=14851324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12306583A Granted JPS6014217A (ja) | 1983-07-05 | 1983-07-05 | ポリゴンミラ− |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6014217A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52101055A (en) * | 1976-02-20 | 1977-08-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Finely adjusting device for microscope |
JPS547943A (en) * | 1977-06-21 | 1979-01-20 | Olympus Optical Co Ltd | Rotary reflecting mirror of polygonal type |
-
1983
- 1983-07-05 JP JP12306583A patent/JPS6014217A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52101055A (en) * | 1976-02-20 | 1977-08-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Finely adjusting device for microscope |
JPS547943A (en) * | 1977-06-21 | 1979-01-20 | Olympus Optical Co Ltd | Rotary reflecting mirror of polygonal type |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0412456B2 (ja) | 1992-03-04 |
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