JPS60133308A - メツキ被膜付着量測定方法 - Google Patents
メツキ被膜付着量測定方法Info
- Publication number
- JPS60133308A JPS60133308A JP24096183A JP24096183A JPS60133308A JP S60133308 A JPS60133308 A JP S60133308A JP 24096183 A JP24096183 A JP 24096183A JP 24096183 A JP24096183 A JP 24096183A JP S60133308 A JPS60133308 A JP S60133308A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measuring device
- steel plate
- plated steel
- distance
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Coating With Molten Metal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、亜鉛、亜鉛合金、アルミニウム等がメッキさ
れた電気メツキ鋼板又は溶融メー、キ鋼板のメッキ層の
厚さをケイ光Ｘ線分析により測定するに際し、測定精度
を向上する方Ｕ、に関する。
れた電気メツキ鋼板又は溶融メー、キ鋼板のメッキ層の
厚さをケイ光Ｘ線分析により測定するに際し、測定精度
を向上する方Ｕ、に関する。
（従来技術及びその問題点）
鋼板表面のメッキ付着量を測定する方法として、ケイ光
Ｘ線分析が知られている。 この方法は、鋼板表面に１
次放射線を照射し、その鋼板表面から出てくる２次Ｘ線
すなわちケイ光Ｘ線の強度を測定することにより、メッ
キ付着量をめる方法である。 この測定方法において、
測定値に与える誤差の変動要因として統計変動及び繰り
返し設定変動がある。 統計変動とは、放射線計測を行
う場合に必ず生ずるものであるが、計測時間を長くとっ
て平均値をめることにより、その影響を少なくすること
ができる。 他方、繰り返し設定変動とは、測定器と被
測定対象であるメッキ鋼板との幾何学的な位置のずれに
起因するものであり、通常この繰り返し設定変動は統計
変動に比較して小さく補正対象として扱われていない。
Ｘ線分析が知られている。 この方法は、鋼板表面に１
次放射線を照射し、その鋼板表面から出てくる２次Ｘ線
すなわちケイ光Ｘ線の強度を測定することにより、メッ
キ付着量をめる方法である。 この測定方法において、
測定値に与える誤差の変動要因として統計変動及び繰り
返し設定変動がある。 統計変動とは、放射線計測を行
う場合に必ず生ずるものであるが、計測時間を長くとっ
て平均値をめることにより、その影響を少なくすること
ができる。 他方、繰り返し設定変動とは、測定器と被
測定対象であるメッキ鋼板との幾何学的な位置のずれに
起因するものであり、通常この繰り返し設定変動は統計
変動に比較して小さく補正対象として扱われていない。
例えば、 ＩＩＩ定位置の前後にピンチロールのような
手段を使用してメッキ鋼板の振動を押えパスラインを安
定させることにより、測定器と被測定対象であるメッキ
鋼板との幾何学的な位置のずれを小さくし、繰り返し設
定変動を常に変化しないものとしてメッキ被膜の厚さを
測定していた。
手段を使用してメッキ鋼板の振動を押えパスラインを安
定させることにより、測定器と被測定対象であるメッキ
鋼板との幾何学的な位置のずれを小さくし、繰り返し設
定変動を常に変化しないものとしてメッキ被膜の厚さを
測定していた。
しかし実操業においては、通板速度が変動するときメッ
キ鋼板のパタッキが生じ、また＋ｌ＋広のメッキ鋼板で
は［口方向のたるみが生じる等が原因となって、その幾
何学的な位置のずれを無視できる程度に小さくすること
はできない。 また最近の傾向として、メッキ付着量を
高精度に測定する要求が高まっている。 このようなこ
とがら、メッキ付着量をより高精度に測定するには、繰
り返し設定変動について測定のたびにその変動を把握し
測定結果を補正する必要がある。
キ鋼板のパタッキが生じ、また＋ｌ＋広のメッキ鋼板で
は［口方向のたるみが生じる等が原因となって、その幾
何学的な位置のずれを無視できる程度に小さくすること
はできない。 また最近の傾向として、メッキ付着量を
高精度に測定する要求が高まっている。 このようなこ
とがら、メッキ付着量をより高精度に測定するには、繰
り返し設定変動について測定のたびにその変動を把握し
測定結果を補正する必要がある。
（発明の目的）
本発明は、繰り返し設定変動に起因する誤差要因を補正
項として扱うことにより、高精度のメツキ付．ｉｖ量の
測定を行うことを目的とする。
項として扱うことにより、高精度のメツキ付．ｉｖ量の
測定を行うことを目的とする。
（発明の構成）
本発明は、測定装置に取り付けたギャップセンサーによ
って測定装ととメッキ鋼板との間の距離及び測定装置の
メッキ鋼板に対する＃ｉ！Ａ角度な測定し、その測定結
果をケイ光Ｘ線強度と共に演算処理することによって、
測定装置とメッキ鋼板との間の距離及び測定装置のメッ
キ鋼板に対する傾斜角度に起因する誤差の変動要因を補
正するものである。
って測定装ととメッキ鋼板との間の距離及び測定装置の
メッキ鋼板に対する＃ｉ！Ａ角度な測定し、その測定結
果をケイ光Ｘ線強度と共に演算処理することによって、
測定装置とメッキ鋼板との間の距離及び測定装置のメッ
キ鋼板に対する傾斜角度に起因する誤差の変動要因を補
正するものである。
（具体的な説明）
本発明を、図面に示す測定装置を使用して具体的に説明
する。 、 測定装置１の放射線発生器２からメッキ鋼板に向けて放
射線αを照射すると、メッキ被膜ａからケイ光Ｘ線β１
が、また地金すからケイ光Ｘ線β２が出てくる。 亜鉛
付着量が多くなればなるほど、ケイ光Ｘ線β１の強度は
増加し、ケイ光Ｘ線β２の強度は減衰する。 このケイ
光Ｘ線β１の強度を測定するのが励起法であり、ケイ光
Ｘ線β２の強度を測定するのが吸収法である。 このよ
うにしてメッキ鋼板から出てくるケイ光Ｘ線βｌ又はβ
２の強度をケイ光Ｘ線検出器３で測定することにより、
メッキ被膜の厚さをめる。
する。 、 測定装置１の放射線発生器２からメッキ鋼板に向けて放
射線αを照射すると、メッキ被膜ａからケイ光Ｘ線β１
が、また地金すからケイ光Ｘ線β２が出てくる。 亜鉛
付着量が多くなればなるほど、ケイ光Ｘ線β１の強度は
増加し、ケイ光Ｘ線β２の強度は減衰する。 このケイ
光Ｘ線β１の強度を測定するのが励起法であり、ケイ光
Ｘ線β２の強度を測定するのが吸収法である。 このよ
うにしてメッキ鋼板から出てくるケイ光Ｘ線βｌ又はβ
２の強度をケイ光Ｘ線検出器３で測定することにより、
メッキ被膜の厚さをめる。
この測定方法において、本発明にあっては、測定装置１
にギャップセンサー４〜７を取り付ける。 キャップセ
ンサーとしては、被測定物との距離に応じてインタフタ
ンスが変化することを利用した渦流式変位計などが適し
ている。 このギャップセンサーにより、測定装置とメ
、ンキ鋼板との間の距離及び測定装置のメッキ鋼板に対
する傾斜角度を測定する。 即ち、ギャップセンサー４
〜７で測定された距離をそれぞれｄ ４ 、ｄｓ 、ｄ
Ｉ。
にギャップセンサー４〜７を取り付ける。 キャップセ
ンサーとしては、被測定物との距離に応じてインタフタ
ンスが変化することを利用した渦流式変位計などが適し
ている。 このギャップセンサーにより、測定装置とメ
、ンキ鋼板との間の距離及び測定装置のメッキ鋼板に対
する傾斜角度を測定する。 即ち、ギャップセンサー４
〜７で測定された距離をそれぞれｄ ４ 、ｄｓ 、ｄ
Ｉ。
及びｄ７とし、ギャップセンサー６及び７の間の距離を
文１とし、ギャップセンサー４及び５の間の距離を１２
とすると、測定装置とメッキ鋼板との間の距離ｄ並びに
測定装置のメッキ鋼板に対する放射線発生ｒｉ２−検出
器３方向傾斜角度θ及び直角方向傾斜角度φは５次式で
められる。
文１とし、ギャップセンサー４及び５の間の距離を１２
とすると、測定装置とメッキ鋼板との間の距離ｄ並びに
測定装置のメッキ鋼板に対する放射線発生ｒｉ２−検出
器３方向傾斜角度θ及び直角方向傾斜角度φは５次式で
められる。
ｄ＝（ｄ４＋ｄｓ＋ｄｒ、＋ｄ、ｔ）／４０ ＝ａｒｃ
ｔａｎ（（ｄ ７−ｄ Ｇ ） ／ｌ＋ １φ＝ａｒｃ
ｔａｎ（（ｄ ｓ −ｄ ４ ） ／１２）そして、あ
らかじめメッキ付着量ｘがわかっている種々のサンプル
につき、その時々の距離ｄ、＃ｉ創角度０、φ及び検ｍ
強度２をめておく。
ｔａｎ（（ｄ ７−ｄ Ｇ ） ／ｌ＋ １φ＝ａｒｃ
ｔａｎ（（ｄ ｓ −ｄ ４ ） ／１２）そして、あ
らかじめメッキ付着量ｘがわかっている種々のサンプル
につき、その時々の距離ｄ、＃ｉ創角度０、φ及び検ｍ
強度２をめておく。
このとき
ｚ＝ｆ （ｄ、θ、 φ、 Ｘ）
の関係がある。 函数ｆは、種々のＸ、’ｄ、０、φ及
び２につき多重回帰分析を行うことで決定できるが、あ
るｄ、０、φの近傍では次式のように扱うことができる
。
び２につき多重回帰分析を行うことで決定できるが、あ
るｄ、０、φの近傍では次式のように扱うことができる
。
ｚ＝ｒ ＋ （ｄ； ｘ）＋ｆ２ （０，ｘ）＋ｆ 。
（φ、Ｘ）
この式をＸについて解いて、次式を得る。
ｘ＝ｇ（ｄ、ｏ、φ、２）
この式から、距＃ｄ、傾斜角度０、φ及び検出強度２に
応じたメッキ付着ｎ：、 ｘをめる。
応じたメッキ付着ｎ：、 ｘをめる。
（実施例）
未発明方法に従ってメツキイ・Ｊ’ Ｒ量を側だした結
果を、従来法と比較して次表に示す。
果を、従来法と比較して次表に示す。
（△ｄ＝ｄ−ｄ（１ｄ（１＝４ｈｍ（基準イ〆１））（
発明の効果） 以上に説明したように１本発明によれば、１１１定装置
とメッキ鋼板との間の距離及びＪ１１定装置のメッキ鋼
板に対する傾斜角度に起因する誤差の変動要因を考慮に
入れて測定結果を補正するので、メッキ被膜の正確な測
定が可能となる。 この測定方法は、通板速度が変化し
たりＩＩＩ広の鋼板をメッキするときのように、メッキ
鋼板に対する測定装置の位置関係が変化する場合、４．
シに効果的である。
発明の効果） 以上に説明したように１本発明によれば、１１１定装置
とメッキ鋼板との間の距離及びＪ１１定装置のメッキ鋼
板に対する傾斜角度に起因する誤差の変動要因を考慮に
入れて測定結果を補正するので、メッキ被膜の正確な測
定が可能となる。 この測定方法は、通板速度が変化し
たりＩＩＩ広の鋼板をメッキするときのように、メッキ
鋼板に対する測定装置の位置関係が変化する場合、４．
シに効果的である。
第１図は、ケイ光Ｘ線分析におけるＸ線の進行状ｙ島を
示す。 第２図は、本発すｊで使用する装置を示し、第
３図（ａ） 、 （ｂ） 、 （ｃ）は、その正面図、
側面図及び平面図を示す。 図中の符合は、次のとおり
である。 ｌ 測定装置 ａ メッキ被膜 ２ 放射線発生器 ｂ 地金 ３ 検出器 ４〜７ ギャップセンサー α １次放射線 β１、β２ ケイ光Ｘ線 ｄ 測定装置とメッキ鋼板との間の距離０、φ 傾斜角
度 代理人 ブｒ理士 佐々木 俊哲 第１図 第２図 第３図 （＆）
示す。 第２図は、本発すｊで使用する装置を示し、第
３図（ａ） 、 （ｂ） 、 （ｃ）は、その正面図、
側面図及び平面図を示す。 図中の符合は、次のとおり
である。 ｌ 測定装置 ａ メッキ被膜 ２ 放射線発生器 ｂ 地金 ３ 検出器 ４〜７ ギャップセンサー α １次放射線 β１、β２ ケイ光Ｘ線 ｄ 測定装置とメッキ鋼板との間の距離０、φ 傾斜角
度 代理人 ブｒ理士 佐々木 俊哲 第１図 第２図 第３図 （＆）
Claims (1)
- 測定装置に取り付けたギャップセンサーによって、測定
装置とメッキ鋼板との間の距離及び測定装置のメッキ鋼
板に対する傾斜角瓜を測定して、その測定結果をケイ光
Ｘ線強度と共に演算処理することを特徴とするメッキ被
膜付着昂測定力法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24096183A JPS60133308A (ja) | 1983-12-22 | 1983-12-22 | メツキ被膜付着量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24096183A JPS60133308A (ja) | 1983-12-22 | 1983-12-22 | メツキ被膜付着量測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60133308A true JPS60133308A (ja) | 1985-07-16 |
Family
ID=17067226
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24096183A Pending JPS60133308A (ja) | 1983-12-22 | 1983-12-22 | メツキ被膜付着量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60133308A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6060109A (en) * | 1996-03-27 | 2000-05-09 | Nisshin Steel Co., Ltd. | Atomic absorption analysis for measuring and controlling the amount of a metal vapor in vapor deposition coating line and apparatus therefor |
| CN104833688A (zh) * | 2015-04-20 | 2015-08-12 | 绍兴文理学院 | 水底原位x荧光光谱分析不平度效应弱化装置 |
-
1983
- 1983-12-22 JP JP24096183A patent/JPS60133308A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6060109A (en) * | 1996-03-27 | 2000-05-09 | Nisshin Steel Co., Ltd. | Atomic absorption analysis for measuring and controlling the amount of a metal vapor in vapor deposition coating line and apparatus therefor |
| CN104833688A (zh) * | 2015-04-20 | 2015-08-12 | 绍兴文理学院 | 水底原位x荧光光谱分析不平度效应弱化装置 |
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