JPS60124111A - 表面弾性波素子 - Google Patents
表面弾性波素子Info
- Publication number
- JPS60124111A JPS60124111A JP23244483A JP23244483A JPS60124111A JP S60124111 A JPS60124111 A JP S60124111A JP 23244483 A JP23244483 A JP 23244483A JP 23244483 A JP23244483 A JP 23244483A JP S60124111 A JPS60124111 A JP S60124111A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- acoustic wave
- surface acoustic
- film
- silicon substrate
- wave device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 40
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 37
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 29
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 29
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 26
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims abstract description 20
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims abstract description 20
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 42
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 claims description 32
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 20
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract description 7
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract description 7
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract description 7
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 abstract description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 abstract 4
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 abstract 4
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 abstract 4
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 abstract 4
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 abstract 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 48
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 3
- 241000981595 Zoysia japonica Species 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 240000005109 Cryptomeria japonica Species 0.000 description 1
- IBXOPEGTOZQGQO-UHFFFAOYSA-N [Li].[Nb] Chemical compound [Li].[Nb] IBXOPEGTOZQGQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- HFLAMWCKUFHSAZ-UHFFFAOYSA-N niobium dioxide Inorganic materials O=[Nb]=O HFLAMWCKUFHSAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009022 nonlinear effect Effects 0.000 description 1
- 239000006187 pill Substances 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000010079 rubber tapping Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02543—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
- H03H9/02574—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of combined substrates, multilayered substrates, piezoelectrical layers on not-piezoelectrical substrate
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、高効率で動作し40るttI造の表面弾性波
素子に関するものである。
素子に関するものである。
弾性体表面に沿って伝播1−る氷面弾性波ン利用した各
種表面弾性波素子が最近盛んに開発されつつある。この
坤由としては、第1代表面弾性波の伝播速度はt&Li
波速度の約10 倍であり、素子の小型化と高密度化が
可能であること0 第2に表面弾性波は物餡衣面ン伝抽するため広送路の任
意の場j3rから信号のタッピングが可能であることつ
第3に物質表面にエネルギーが集中していることから、
元や半導体のキャリアとの相互作用ン利用したデバイス
、あるいは尚いエネルギー密度により非線形効果を利用
したデバイスに応用できることつ 第4にその製造技術[IC技術が活用できるため、IC
と組み合わせた新しい素子の実現が期待でさること1等
が挙げられる。
種表面弾性波素子が最近盛んに開発されつつある。この
坤由としては、第1代表面弾性波の伝播速度はt&Li
波速度の約10 倍であり、素子の小型化と高密度化が
可能であること0 第2に表面弾性波は物餡衣面ン伝抽するため広送路の任
意の場j3rから信号のタッピングが可能であることつ
第3に物質表面にエネルギーが集中していることから、
元や半導体のキャリアとの相互作用ン利用したデバイス
、あるいは尚いエネルギー密度により非線形効果を利用
したデバイスに応用できることつ 第4にその製造技術[IC技術が活用できるため、IC
と組み合わせた新しい素子の実現が期待でさること1等
が挙げられる。
8141図および第2図は従来の状面弾性波素子の構造
を示すもので、lはニオブL俊リチウム(いNbO2)
4hからなる圧′Ftf & &で132’ Yカット
されたものからなり、2はシリコンからなる半導体基板
で(ioo)面とほぼ等価な面でカットされたものから
なり、3は酸化亜鉛(ZnO)からなる圧電薄膜で(0
001)面とほぼ等価な面が上記シリコン基板2のカッ
ト面と平行になるように形成されたものからなり、4.
5は上記ニオブ酸リチウム基数1上および酸化亜鉛膜3
上に互いVC交差するように設けられたくし型1.惨で
、レリえは4&ゴ人カ埠、極、5は出力−、極として使
用されるうここで人カー極4から励振された表(2)弾
性波は上記ニオブ酸リチウム基板1表面あるいは酸化亜
鉛膜3表面を伝播してW刀幣極5から取り出される。
を示すもので、lはニオブL俊リチウム(いNbO2)
4hからなる圧′Ftf & &で132’ Yカット
されたものからなり、2はシリコンからなる半導体基板
で(ioo)面とほぼ等価な面でカットされたものから
なり、3は酸化亜鉛(ZnO)からなる圧電薄膜で(0
001)面とほぼ等価な面が上記シリコン基板2のカッ
ト面と平行になるように形成されたものからなり、4.
5は上記ニオブ酸リチウム基数1上および酸化亜鉛膜3
上に互いVC交差するように設けられたくし型1.惨で
、レリえは4&ゴ人カ埠、極、5は出力−、極として使
用されるうここで人カー極4から励振された表(2)弾
性波は上記ニオブ酸リチウム基板1表面あるいは酸化亜
鉛膜3表面を伝播してW刀幣極5から取り出される。
これらの構造において第1図においては入[W弾性波と
してレイリー波ン用いて伝播さセた場合。
してレイリー波ン用いて伝播さセた場合。
素子特性上貞曽な指標である嵯気機械結合係舷にの二来
値には約5.5%と大きな値が得られるので、この利点
をf&かしてガ々の分Wfttr一応用されている。
値には約5.5%と大きな値が得られるので、この利点
をf&かしてガ々の分Wfttr一応用されている。
しかしその反面基板が単一材料から構成されているため
VC,電気機械結合係数Kが基板結晶軸方向およびそれ
に対する表面弾性波の伝播方向によって固定化されてし
まう欠点かある。
VC,電気機械結合係数Kが基板結晶軸方向およびそれ
に対する表面弾性波の伝播方向によって固定化されてし
まう欠点かある。
この点記2図においては表面弾性波としてセザワ波ヶ用
いてシリコン基板2の(011)軸方向とほぼ等価な方
向に伝播させた場合、M化亜鉛膜3の膜厚hJ’rs折
によって不まる成る値に選ふことによりに2特性に柔軟
性ンbたセることができ。
いてシリコン基板2の(011)軸方向とほぼ等価な方
向に伝播させた場合、M化亜鉛膜3の膜厚hJ’rs折
によって不まる成る値に選ふことによりに2特性に柔軟
性ンbたセることができ。
また第1図構造よりも大きな札気樟械結合係数Kt得る
ことができる。■えは上d己醒化亜鉛膜厚h1をωh1
=8000(ωは表面弾性波の角周波数)に選ぶことに
よりKは約6.04%を得ることができる。
ことができる。■えは上d己醒化亜鉛膜厚h1をωh1
=8000(ωは表面弾性波の角周波数)に選ぶことに
よりKは約6.04%を得ることができる。
しかしこの構造では酸化亜鉛膜3はスパッタ技術等によ
り形成されるが、上記のように最適特性乞待るにはその
膜厚ン比較的大きく形成する必しがあるため生産性の点
でコストアップになるのが避けられない欠点がある。こ
のためできるだけ不さな膜厚でできるだけ太さな竜気機
械結合係林Kが得られるような構造が望まれている。
り形成されるが、上記のように最適特性乞待るにはその
膜厚ン比較的大きく形成する必しがあるため生産性の点
でコストアップになるのが避けられない欠点がある。こ
のためできるだけ不さな膜厚でできるだけ太さな竜気機
械結合係林Kが得られるような構造が望まれている。
本発明は以上の問題に対処してなされたもので。
(100)面とほぼ等価な面でカットされたシリコン基
板と、このシリコン基板上に形成された二酸化シリコン
膜と、この二敵化シリコン膜上に(0001)面とほぼ
等価な面が上記シリコン基板のカット面と平行になるよ
うに形成された鹸化亜鉛膜と、この酸化亜鉛膜上に形F
ltされた電極とを含み、上記シリコン基板の〔O1l
〕軸方向とほぼ等価な方向に表面弾性波を伝播させるよ
うに構成して従来欠点を除去するようにした我面弾性波
素子ン提供することを目的とするものである。以下図面
を参照して本発明実施例〉説1!IQTる。
板と、このシリコン基板上に形成された二酸化シリコン
膜と、この二敵化シリコン膜上に(0001)面とほぼ
等価な面が上記シリコン基板のカット面と平行になるよ
うに形成された鹸化亜鉛膜と、この酸化亜鉛膜上に形F
ltされた電極とを含み、上記シリコン基板の〔O1l
〕軸方向とほぼ等価な方向に表面弾性波を伝播させるよ
うに構成して従来欠点を除去するようにした我面弾性波
素子ン提供することを目的とするものである。以下図面
を参照して本発明実施例〉説1!IQTる。
第3−は本発明実施例による表面弾性波素子馨示す断面
図で、11は(100)面とほぼ等価な面でカットされ
たシリコン基板、12はこのシリコン基板11上に形成
された膜)kJh2を有する三酸化シリコン(5i02
)膜、13はこの二酸化シリコン膜12上[(0001
)(2)とほぼ等価な面が上記シリコン基板11のカッ
ト面と平行になるように形成された膜JすhIY:有す
る酸化亜鉛膜、14.15は各々互いに交差するように
形成されたくし型電極からなる人力電極および出力電極
、 16は上記酸化亜鉛膜13と二酸化シリコン膜12
間に形成された導電膜で膜厚は無限に小さいことが望ま
しい。
図で、11は(100)面とほぼ等価な面でカットされ
たシリコン基板、12はこのシリコン基板11上に形成
された膜)kJh2を有する三酸化シリコン(5i02
)膜、13はこの二酸化シリコン膜12上[(0001
)(2)とほぼ等価な面が上記シリコン基板11のカッ
ト面と平行になるように形成された膜JすhIY:有す
る酸化亜鉛膜、14.15は各々互いに交差するように
形成されたくし型電極からなる人力電極および出力電極
、 16は上記酸化亜鉛膜13と二酸化シリコン膜12
間に形成された導電膜で膜厚は無限に小さいことが望ま
しい。
なお上記導電膜16あるいは酸化亜鉛膜13はくし型電
極14.15の少な(とも反差幅部分の真下に位11す
るよ5に形成されることが望ましい。
極14.15の少な(とも反差幅部分の真下に位11す
るよ5に形成されることが望ましい。
以上の構造(Zn0(0001)/ 5in2/ Si
(100) (011)と略記)の表面弾性波素子に
対し1表面弾性波としてセザワ波を用いてシリコン基板
11の(011)軸方向とほぼ等価な方向に伝播させる
ことにより第4図および第5図のようなに%性曲線が得
られた。
(100) (011)と略記)の表面弾性波素子に
対し1表面弾性波としてセザワ波を用いてシリコン基板
11の(011)軸方向とほぼ等価な方向に伝播させる
ことにより第4図および第5図のようなに%性曲線が得
られた。
#44図において横軸は二酸化シリコン膜12の膜厚h
2の厚さをωh2(ωは角周波数)で示し、縦動は電気
機械結合係iKの二乗値に2Y百分率で示すものである
。また第5図において横軸は酸化亜鉛膜h1の厚さ馨ω
h+ (ωは角周波&7りで示し。
2の厚さをωh2(ωは角周波数)で示し、縦動は電気
機械結合係iKの二乗値に2Y百分率で示すものである
。また第5図において横軸は酸化亜鉛膜h1の厚さ馨ω
h+ (ωは角周波&7りで示し。
縦軸は一気機械結合係iKの二乗値Kg百分率で示すも
のであろう第4図においてはωhl = 7000に設
定した状態でωh2Y変化させた(望ましくは126〜
10000の範囲内で)場合のKの変化を示し、第5図
においてはωh2 = 1000に設定した状態でωh
1を変化させた(望ましくは4200〜15000の範
囲内で)場合のに2の変化7示している。
のであろう第4図においてはωhl = 7000に設
定した状態でωh2Y変化させた(望ましくは126〜
10000の範囲内で)場合のKの変化を示し、第5図
においてはωh2 = 1000に設定した状態でωh
1を変化させた(望ましくは4200〜15000の範
囲内で)場合のに2の変化7示している。
第4図および第5図から明らかなように、[化亜鉛膜1
3の膜厚h1および二酸化シリコン膜12の膜厚h2ン
各々ωh1 = 7000およびωb2 = 1000
に遺ぷことにより、A点において極大値に2=6.12
%が得られた。
3の膜厚h1および二酸化シリコン膜12の膜厚h2ン
各々ωh1 = 7000およびωb2 = 1000
に遺ぷことにより、A点において極大値に2=6.12
%が得られた。
上記値は第2図の従来tM造でtbられた値(K= 6
.04%、ωhl = 8000)よりも大であり、し
かも酸化亜鉛13の膜厚h1は二酸化シリコン膜12を
介在させることにより従来のωJ = 8000からω
h、=7000へと/J%さく′することかできる。
.04%、ωhl = 8000)よりも大であり、し
かも酸化亜鉛13の膜厚h1は二酸化シリコン膜12を
介在させることにより従来のωJ = 8000からω
h、=7000へと/J%さく′することかできる。
これにより生並性の点でコストダウンを創ることができ
る。
る。
また酸化亜鉛膜13の膜厚Jおよび二酸化シリコン膜1
2の膜厚h2を前記した範囲内で釉々W、を整すること
により、特性の点でbe米構造より優れた柔軟性を持っ
た表面弾性波素子を実現することかできる。
2の膜厚h2を前記した範囲内で釉々W、を整すること
により、特性の点でbe米構造より優れた柔軟性を持っ
た表面弾性波素子を実現することかできる。
なおシリコン基板11のカット面は(100)面とほぼ
等価な面、酸化亜鉛膜13は(0001)面とほぼ等価
な面およびシリコン基板11の伝播軸は(011)軸方
向とほぼ等価な方向の場合VC例をとって説明したが、
それらに示した所定値から10a以下の傾きを有してい
る場合でも素子特性には本質的差異は認められない。
等価な面、酸化亜鉛膜13は(0001)面とほぼ等価
な面およびシリコン基板11の伝播軸は(011)軸方
向とほぼ等価な方向の場合VC例をとって説明したが、
それらに示した所定値から10a以下の傾きを有してい
る場合でも素子特性には本質的差異は認められない。
第6図は本発明の池の実施例としてコンボルバ用素子に
適用した例を示すもので、17は酸化亜鉛膜13上の人
力電極14と出力電極15間に設けられたゲート電極で
あるう この構造によれば導電膜16がそのまま設けられている
ので前実施例同様に1<特性KF!Ikれた素子を得る
ことができる。
適用した例を示すもので、17は酸化亜鉛膜13上の人
力電極14と出力電極15間に設けられたゲート電極で
あるう この構造によれば導電膜16がそのまま設けられている
ので前実施例同様に1<特性KF!Ikれた素子を得る
ことができる。
なお(し型電極の代りK、シリコン基板11 、二酸化
シリコン膜12および酸化亜鉛膜13内に発生する電気
的ポテンシャルン利用することかできる。
シリコン膜12および酸化亜鉛膜13内に発生する電気
的ポテンシャルン利用することかできる。
以上述べて明らかなように本発明によれは。
(100)面とほぼ等価な面でカントされたシリコン基
板と、このシリコン基板上に形成された二酸化’/リコ
ン膜と、この二酸化シリコンM上iC(0001)面と
ほぼ等価な面が上記シリコン基板のカット面と平行にな
るように形成された酸化亜鉛膜と、この酸化亜鉛膜上に
形成された一極とを含み。
板と、このシリコン基板上に形成された二酸化’/リコ
ン膜と、この二酸化シリコンM上iC(0001)面と
ほぼ等価な面が上記シリコン基板のカット面と平行にな
るように形成された酸化亜鉛膜と、この酸化亜鉛膜上に
形成された一極とを含み。
上記シリコン基板の(011)軸方向とほぼ等価な方向
に表面弾性波を伝播させるように構成したものであるか
ら、電気機械結合係数を大きくとることができるので表
面弾性波素子を効率よく動作させることかできる。
に表面弾性波を伝播させるように構成したものであるか
ら、電気機械結合係数を大きくとることができるので表
面弾性波素子を効率よく動作させることかできる。
なお本発明によればシリコン基板として集積回路と共通
基板ン用いることにより、集積回路技術〉活用して機能
素子と牛専体素子を一体化した小型かつ高密度な素子の
実現が可能である。
基板ン用いることにより、集積回路技術〉活用して機能
素子と牛専体素子を一体化した小型かつ高密度な素子の
実現が可能である。
第1図および第2図は共に従来例を示す断面図。
第3図および第6図は共に本発明実施例〉示′1− t
nr面図、第4図および第5図は共に本発明によって得
られ1こ結果を示す特性図である。 11・・・シリコン基数、12・・・二酸化シリコン膜
、13・・・酸化亜鉛膜、14・・・人力電極、15・
・・出力電極、16・・・導電膜、17・・・ゲート電
極。 特許出願人 クラリオン株式会社 ≠/B r2履 蒸3図 手続補正書 昭和59年488日 特許庁長官 着 杉 相 夫 殿 1 事件の表示 昭和58年特許願 第232444号 2 発明の名称 表面弾性波素子 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 名 称 (i48) クラリオン株式会社4代理人〒1
05 住 所 東京都港区芝3丁目2番14号芝三丁目ピル5
補正の対象 明細書の尭9Jの詳細な説明の欄 (11本頗明aSン下記の通り補正する。 頁 行 補正前 補正後 7 6 「三酸化」 「二酸化」 10 7 「の代りにJ rv用いずとも」10 9
「ことができる」 「素子の実現が期待できる」 (2) 同書第10頁第4行乃至第5行1等電膜L6が
そのまま設けられているので」を削除する。
nr面図、第4図および第5図は共に本発明によって得
られ1こ結果を示す特性図である。 11・・・シリコン基数、12・・・二酸化シリコン膜
、13・・・酸化亜鉛膜、14・・・人力電極、15・
・・出力電極、16・・・導電膜、17・・・ゲート電
極。 特許出願人 クラリオン株式会社 ≠/B r2履 蒸3図 手続補正書 昭和59年488日 特許庁長官 着 杉 相 夫 殿 1 事件の表示 昭和58年特許願 第232444号 2 発明の名称 表面弾性波素子 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 名 称 (i48) クラリオン株式会社4代理人〒1
05 住 所 東京都港区芝3丁目2番14号芝三丁目ピル5
補正の対象 明細書の尭9Jの詳細な説明の欄 (11本頗明aSン下記の通り補正する。 頁 行 補正前 補正後 7 6 「三酸化」 「二酸化」 10 7 「の代りにJ rv用いずとも」10 9
「ことができる」 「素子の実現が期待できる」 (2) 同書第10頁第4行乃至第5行1等電膜L6が
そのまま設けられているので」を削除する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、(100)面とほぼ等仙1な而でカットされたシリ
コン基板と、このシリコン基板上に形成された二酸化シ
リコン膜と、この二数化シリコン物上に(0001)面
とほぼ等1曲な面か上記シリコン基板のカット面と平行
になるように形成された酸化亜鉛膜と、この酸化亜鉛膜
上に形成された1、儲とを含み、上記シリコン基数の(
011’)軸方向とほぼ等価な方向に表面弾性波素子抽
さセるように構成したこと馨特戯とする表面弾性波素子
。 2 上記結晶面およびその伝播軸が所定結晶向および@
播軸方回から10a以内の1嘆きを持つことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の表面弾性波素子。 3、 上記表面弾性波素子としてセザワ波ン用いること
ぞ%醋とする特許請求のホ[ll囲第1項又は第2項記
載の表面弾性波素子。 4、 上記酸化亜鉛膜の膜厚1]1か、 4200 <
ωh、<15000 (ただし、ωは表面弾性波の角周
波数)の範囲に属することを特徴とする特許請求の範囲
第1項乃至第3埃のいずれかに記載の表面弾性波素子。 5、 上記二酸化シリコン膜の膜厚h2が、 i26<
ωh2<10000(ただし、ωは表面弾性波の角周波
数)の範囲に纏1−ることを特徴とする特許請求の範囲
8141狙乃至第4項のいずれかに記載の表面弾性波素
子。 6、 上記ば化亜鉛膜と二酸化シリコン膜間に専一膜が
形成されること馨特顛と1−る特許請求の範囲第1項乃
至第5項のいずれかに記載の表面弾性波素子。 7、 上記電極がくし型構造7自することぞ特徴とする
特許請求の範囲第1項乃至第6狽のいずれかに記載の表
面弾性波素子。 8、 上記専一膜が上記(し型1極の少な(とも父走幅
部分の兵1圧位籠することン特歎とする特許請求の範題
第i、II4乃至81!7項のいずれかに記載の表面弾
性波素子。 9. 上記鹸化亜鉛膜が上記くし型電、極の少な(とも
交差幅部分の真下に位&1−ることを特徴とする特許請
求のkI四第1項乃至第8項のいずれかに記載の表面弾
性波素子つ 11J、上記シリコン基板として集積回路と共通の基板
ン用いたことン特−と1゛るl持杆錆求の範囲第1項乃
至第9項のいずれかに記載の表面弾性波素子。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23244483A JPS60124111A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 表面弾性波素子 |
US06/677,712 US4567392A (en) | 1983-12-09 | 1984-12-04 | Sezawa surface-acoustic-wave device using ZnO(0001)/SiO2 / Si(100)(011) |
GB08430699A GB2152315B (en) | 1983-12-09 | 1984-12-05 | Surface acoustic wave device |
DE3444749A DE3444749C2 (de) | 1983-12-09 | 1984-12-07 | Akustische Oberflächenwellen ausbildendes Bauelement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23244483A JPS60124111A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 表面弾性波素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60124111A true JPS60124111A (ja) | 1985-07-03 |
JPH0311685B2 JPH0311685B2 (ja) | 1991-02-18 |
Family
ID=16939365
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23244483A Granted JPS60124111A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 表面弾性波素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60124111A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5852702A (en) * | 1996-02-28 | 1998-12-22 | Minolta Co., Ltd. | Thin film optical waveguide and optical deflecting device |
WO2012107388A1 (de) | 2011-02-07 | 2012-08-16 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Transparente akustisch wirksame vorrichtung |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5856513A (ja) * | 1981-03-05 | 1983-04-04 | Clarion Co Ltd | 表面弾性波素子 |
-
1983
- 1983-12-09 JP JP23244483A patent/JPS60124111A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5856513A (ja) * | 1981-03-05 | 1983-04-04 | Clarion Co Ltd | 表面弾性波素子 |
JPS5863214A (ja) * | 1981-03-05 | 1983-04-15 | Clarion Co Ltd | 表面弾性波素子 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5852702A (en) * | 1996-02-28 | 1998-12-22 | Minolta Co., Ltd. | Thin film optical waveguide and optical deflecting device |
WO2012107388A1 (de) | 2011-02-07 | 2012-08-16 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Transparente akustisch wirksame vorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0311685B2 (ja) | 1991-02-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0336326B2 (ja) | ||
JPH025327B2 (ja) | ||
JP3358688B2 (ja) | 弾性表面波素子 | |
US3591813A (en) | Lithium niobate transducers | |
JPS60169210A (ja) | 表面波装置 | |
JPH0213488B2 (ja) | ||
JPS60124109A (ja) | 表面弾性波素子 | |
JPS60124111A (ja) | 表面弾性波素子 | |
JPS5835404B2 (ja) | 弾性表面波パラメトリック装置 | |
JPS60124112A (ja) | 表面弾性波素子 | |
US3413187A (en) | Glass bonding medium for ultrasonic devices | |
JPH08228398A (ja) | 横波トランスデューサ | |
JPH025329B2 (ja) | ||
JPH04253412A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JP3090219B2 (ja) | 弾性表面波装置 | |
WO1997047085A1 (fr) | Element a onde acoustique de surface | |
JPH01114085A (ja) | 圧電体多層膜およびその製造方法 | |
JPH0249566B2 (ja) | ||
JPS5844809A (ja) | 周波数選択装置 | |
JPS594309A (ja) | 弾性表面波装置 | |
JPH0314362B2 (ja) | ||
JPS5844810A (ja) | 周波数選択装置 | |
JPS6141449B2 (ja) | ||
JPH025330B2 (ja) | ||
Trent | Fabrication of electroacoustic RF amplifiers |