JPS60122355A - 溶融金属直接分析用微粒子生成プロ−ブ - Google Patents
溶融金属直接分析用微粒子生成プロ−ブInfo
- Publication number
- JPS60122355A JPS60122355A JP58229898A JP22989883A JPS60122355A JP S60122355 A JPS60122355 A JP S60122355A JP 58229898 A JP58229898 A JP 58229898A JP 22989883 A JP22989883 A JP 22989883A JP S60122355 A JPS60122355 A JP S60122355A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inert gas
- tube
- molten metal
- counter electrode
- cylinder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/40—Concentrating samples
- G01N1/4022—Concentrating samples by thermal techniques; Phase changes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/20—Metals
- G01N33/205—Metals in liquid state, e.g. molten metals
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明け、溶融金属表面と対電極間に高電圧をかけてス
パークなどの電気的放電を行わせ、溶融金属中の成分組
成を代表する超微粒子を蒸発させ、これを離れた場所に
設定しであるプラズマ発光分光分析装置に不活性ガス流
しで搬送し、溶融金属中の各種成分含有率をオンライン
リアルタイムで分析する際の微粒子生成プローブに関す
るものである。従って、製鉄業あるいけ非鉄金属製造業
などにおける製造工程管理分析の分野で利用されるもの
である。
パークなどの電気的放電を行わせ、溶融金属中の成分組
成を代表する超微粒子を蒸発させ、これを離れた場所に
設定しであるプラズマ発光分光分析装置に不活性ガス流
しで搬送し、溶融金属中の各種成分含有率をオンライン
リアルタイムで分析する際の微粒子生成プローブに関す
るものである。従って、製鉄業あるいけ非鉄金属製造業
などにおける製造工程管理分析の分野で利用されるもの
である。
（従来技術）
金属製造業における製造工程管理分析には、溶融金属を
サンプリングして固化させたブロック試料を対象とする
ス・ξ−り発光分光分析法が多用されている。しかし、
近年とぐに鉄鋼業に見られるようにより迅速な製造工程
管理あるいけ多段精錬製鋼法などの新製造プロセスの操
業管理のために、溶鉄や溶鋼のような溶融金属を直接対
象とするオンラインリアルタイムの分析手法の開発が強
く要請されている。
サンプリングして固化させたブロック試料を対象とする
ス・ξ−り発光分光分析法が多用されている。しかし、
近年とぐに鉄鋼業に見られるようにより迅速な製造工程
管理あるいけ多段精錬製鋼法などの新製造プロセスの操
業管理のために、溶鉄や溶鋼のような溶融金属を直接対
象とするオンラインリアルタイムの分析手法の開発が強
く要請されている。
以上のような目的からこれ１で、溶融金属をＡ、ｒガス
を用いた特殊な噴霧器によって微粉化して発光分光分析
する方法（ＢＩＳＲＡ Ａｎｎｕａｌ Ｒｅｐｎｒｔ
： ７８（１９６６）、６５．７８（１９６７）、３５
（１９６８））など各種の手法が研究されてきた。しか
し、これらの方法はこれ昔で実際に製造現場で実用され
ておらず、いずれも実験室規模で試みられたに過ぎない
。
を用いた特殊な噴霧器によって微粉化して発光分光分析
する方法（ＢＩＳＲＡ Ａｎｎｕａｌ Ｒｅｐｎｒｔ
： ７８（１９６６）、６５．７８（１９６７）、３５
（１９６８））など各種の手法が研究されてきた。しか
し、これらの方法はこれ昔で実際に製造現場で実用され
ておらず、いずれも実験室規模で試みられたに過ぎない
。
実際の製造現場で実用可能な溶融金属の直接分析の実現
をはかるには、製造現場を高温、振動、ダスト等測定環
境が非常に悪い点を考慮しなけね、ばならない。
をはかるには、製造現場を高温、振動、ダスト等測定環
境が非常に悪い点を考慮しなけね、ばならない。
（発明の目的）
従って、悪い測定環境の下では、トラブルが起る分光・
検出器等の精密測定機器は溶融金属の存在場所から離し
て設置し、溶融金属は、電気的放電などによって微粉化
して搬送する方法が有望に′なる。本発明け、溶融金属
の成分組成を代表し、粒度分布域が狭く０．１μｍ以下
のような超微粒子を安定して発生させるためのプローブ
を提供するものである。
検出器等の精密測定機器は溶融金属の存在場所から離し
て設置し、溶融金属は、電気的放電などによって微粉化
して搬送する方法が有望に′なる。本発明け、溶融金属
の成分組成を代表し、粒度分布域が狭く０．１μｍ以下
のような超微粒子を安定して発生させるためのプローブ
を提供するものである。
（発明の構成・作用・実施例）
第１図に示す本発明の装置例をもとに本発明の構成、作
用について説明する。本発明の装置は、大別すると微粒
子生成用円筒１、試料電極２、固定用フランジ３、微粒
子搬送管４、対電極用電源ケーブル５、試料電極用電源
ケーブル６、不活性ガス供給管７および二重円筒管８な
どから構成される。微粒子生成用円筒１け、溶融金属９
と対電極１０間に高電圧をかけてスパーク放電を行わせ
、溶融金属を局部的に更に高温の過熱状態に保ち、金属
の組成を代表する微粒子と煙状に蒸発させる働きをする
部分である。
用について説明する。本発明の装置は、大別すると微粒
子生成用円筒１、試料電極２、固定用フランジ３、微粒
子搬送管４、対電極用電源ケーブル５、試料電極用電源
ケーブル６、不活性ガス供給管７および二重円筒管８な
どから構成される。微粒子生成用円筒１け、溶融金属９
と対電極１０間に高電圧をかけてスパーク放電を行わせ
、溶融金属を局部的に更に高温の過熱状態に保ち、金属
の組成を代表する微粒子と煙状に蒸発させる働きをする
部分である。
微粒子生成用円筒１け上部円筒Ｉ２、下部円筒１３から
構成されている。下部円筒１３け、溶融金属中に浸漬し
てス・ξ−り放電２１を形成するので、耐熱性、絶縁性
、気密性が要求てれる。そのため窒化ホウ素などの耐火
材が適しているが、消耗するので交換が必要で、上部円
筒１２で要求される材質との相違および装置の保守管理
上などから２分割構造が適当である。上部円筒１２ば、
直接溶融金属と接触しないので下部円筒１３に比べ耐熱
性はある程度低下しても構わないが、精密な機械加工性
が要求されるので通常ステンレス鋼などの材質が適して
いる。下部円筒１３の上部周囲は固定用フランジ３の下
部に固定され下部円筒１３の上端面と上部円筒１２の下
端面ば互に接触して密閉状態を保つように固定保持され
ている。上部円筒１２の上部には、対電極１０の保持部
１４、微粒子搬送管４の接続部１５、不活性ガス供給管
７の接続部１６を有している。対電極１０は上部円筒１
２の上部の保持部１４で取りはずし可能で、かつ密閉状
態に保持され、同電極１０は、上部円筒１２から、下部
円筒１３の内側に位置し上部円筒下端に取り付けられた
内筒管２２の中心に貫通して挿入され、先端が溶融金属
９表面と一定間隔を保つように固定される。不活性ガス
供給管７の接続部１６は、上記内筒管２２が内包した対
電極周囲の貫通穴と接続しており、不活性ガスは貫通孔
の開口部の不活性ガス吹込み口１７からス／ξ−り放電
室２１に送り込まれる。円筒管２２下端の不活性ガス吹
込み口は対電極１０の先端位置よりも上部に開口してい
る。アルゴンガス等の不活性ガスは、スパーク放電室２
１内を不活性ガス雰囲気として対電極１０の先端部と溶
融金属９表面間で行われるスパーク放電を飛び易くし、
スパーク放電カラム１１から生成する微粒子を微粒子導
入口１８へ送り込む働きをする。微粒子搬送管４から微
粒子導入口１８へ不活性ガスを吹込み、開口部１７へ微
粒子を導入する本法と逆の経路が考えられるか、本法は
上に述べた上部円筒１２下端部と下部円筒上端部との密
閉が溶融金属から熱影響等によって不完全になった場合
に起る拡散放電等の放電不良を防止でき、安定した微粒
子生成に有利な方法である。微粒子導入口１８から導入
された微粒子は、微粒子搬送管接続部１５を経て、微粒
子搬送管４を経由して分゛析装置まで移送させる。
構成されている。下部円筒１３け、溶融金属中に浸漬し
てス・ξ−り放電２１を形成するので、耐熱性、絶縁性
、気密性が要求てれる。そのため窒化ホウ素などの耐火
材が適しているが、消耗するので交換が必要で、上部円
筒１２で要求される材質との相違および装置の保守管理
上などから２分割構造が適当である。上部円筒１２ば、
直接溶融金属と接触しないので下部円筒１３に比べ耐熱
性はある程度低下しても構わないが、精密な機械加工性
が要求されるので通常ステンレス鋼などの材質が適して
いる。下部円筒１３の上部周囲は固定用フランジ３の下
部に固定され下部円筒１３の上端面と上部円筒１２の下
端面ば互に接触して密閉状態を保つように固定保持され
ている。上部円筒１２の上部には、対電極１０の保持部
１４、微粒子搬送管４の接続部１５、不活性ガス供給管
７の接続部１６を有している。対電極１０は上部円筒１
２の上部の保持部１４で取りはずし可能で、かつ密閉状
態に保持され、同電極１０は、上部円筒１２から、下部
円筒１３の内側に位置し上部円筒下端に取り付けられた
内筒管２２の中心に貫通して挿入され、先端が溶融金属
９表面と一定間隔を保つように固定される。不活性ガス
供給管７の接続部１６は、上記内筒管２２が内包した対
電極周囲の貫通穴と接続しており、不活性ガスは貫通孔
の開口部の不活性ガス吹込み口１７からス／ξ−り放電
室２１に送り込まれる。円筒管２２下端の不活性ガス吹
込み口は対電極１０の先端位置よりも上部に開口してい
る。アルゴンガス等の不活性ガスは、スパーク放電室２
１内を不活性ガス雰囲気として対電極１０の先端部と溶
融金属９表面間で行われるスパーク放電を飛び易くし、
スパーク放電カラム１１から生成する微粒子を微粒子導
入口１８へ送り込む働きをする。微粒子搬送管４から微
粒子導入口１８へ不活性ガスを吹込み、開口部１７へ微
粒子を導入する本法と逆の経路が考えられるか、本法は
上に述べた上部円筒１２下端部と下部円筒上端部との密
閉が溶融金属から熱影響等によって不完全になった場合
に起る拡散放電等の放電不良を防止でき、安定した微粒
子生成に有利な方法である。微粒子導入口１８から導入
された微粒子は、微粒子搬送管接続部１５を経て、微粒
子搬送管４を経由して分゛析装置まで移送させる。
試料電極２は炭素あるいけタングステン等の高融点金属
棒が適当であるが、微粒子生成用円筒１と同様に固定用
フランジ３に絶縁体１９を介して固定され、下端は溶融
金属９中に浸漬している。
棒が適当であるが、微粒子生成用円筒１と同様に固定用
フランジ３に絶縁体１９を介して固定され、下端は溶融
金属９中に浸漬している。
試料電極２の上端は試料電極用電源ケーブル６に接続さ
れ、この電源ケーブル６け上部より圧縮空気が吹き込捷
れる絶縁管２０で囲繞され、圧縮空気が試料電極２の上
部に噴出して空冷されるようになっている。同様に対電
極１０の上端部も対電極用電源ケーブル５に接続され、
圧縮空気による冷却機構を有している。各々の電源ケー
ブル５．６けスパーク放電用電源装置に接続されるが、
通常試料電極２け陰極に、対電極１０１−を陽極に結線
され、両極間に高電圧をかけてスパーク放電を行い、溶
融金属９を微粒子として蒸発生成させる。
れ、この電源ケーブル６け上部より圧縮空気が吹き込捷
れる絶縁管２０で囲繞され、圧縮空気が試料電極２の上
部に噴出して空冷されるようになっている。同様に対電
極１０の上端部も対電極用電源ケーブル５に接続され、
圧縮空気による冷却機構を有している。各々の電源ケー
ブル５．６けスパーク放電用電源装置に接続されるが、
通常試料電極２け陰極に、対電極１０１−を陽極に結線
され、両極間に高電圧をかけてスパーク放電を行い、溶
融金属９を微粒子として蒸発生成させる。
微粒子生成用円筒１の上部円筒１２、及びこれに接続す
る不活性ガース供給管７、微粒子搬送管４、電源’１−
−ｊル５．６等はたて長のステンレスＷ二重円筒管８に
内包され、外部からの溶融金属の輻射熱等を遮断される
とともに上述の圧縮空気による冷却効率をよくしている
。更に同二重円筒管８には圧縮空気を吹き込んで冷却を
確実にしている。
る不活性ガース供給管７、微粒子搬送管４、電源’１−
−ｊル５．６等はたて長のステンレスＷ二重円筒管８に
内包され、外部からの溶融金属の輻射熱等を遮断される
とともに上述の圧縮空気による冷却効率をよくしている
。更に同二重円筒管８には圧縮空気を吹き込んで冷却を
確実にしている。
二重円筒管８の上部には圧縮空気排出口２３が設けてあ
り、冷却のために吹き込１れたすべての圧縮空気はこの
排出口２３から排出される。溶融金属として溶鉄等を対
象とする場合、圧縮空気をプローグの下部から排出する
と溶鉄温度を低下させ、溶湯表面にグラファイトが析出
するなどの不都合を生ずることがある。この二重円筒管
８の下端は前述の固定用フランジ３とセラミックス等で
できた断熱を兼ねる耐火絶縁材を介してボルトにょる固
定を行っている。溶融金属を微粒子として蒸発搬送し、
同金属中の各種含有成分量を分析するためには、含有成
分の組成を代表する微粒子を安定して発生式せることか
特に重要であるが、スパ−ク放電における各放電定数の
設定の仕方も影響を与える。自己誘導１０μＩ（、静電
容量３μＦ、抵抗１Ω、電圧１０００Ｖに設定したスパ
ークライクのスパーク放電と各定数を１５０μＨ１８μ
Ｆ、０Ω、７００ｖに設定したアークライクのスパーク
放電（放電電流波形からみると前者はピーク電流値２０
０Ａ、保持時間３０μｓ、後者は各々が８ ＯＡ、４０
０μｓ）の両放電条例で溶鋼を対象に微粒子を発生させ
、高周波誘導結合型プラズマ発光分光分析装置に搬送し
て各成分を繰り返して分析した結果、０５０％含有する
Ｓｉの分析値の変動係数は前者が２５％、後者が１１６
係、１．０４％含有するＭｎは各３．８％、１２．６％
、０．３０％含有するＣＬＩけ各々５．１係、１４２チ
などの結果が得られた。すなわち、上記のようにアーク
ライクよりもスパークライクのスパーク放電の方が安定
して溶融金属中の各成分を微粒子として蒸発源せるのに
適している。一般のアークやプラズマアークでは蒸気圧
の差に基づく各成分の選択蒸発が起る問題もあり、微粒
子生成の蒸発源としてはスパーク放電がもつとも適して
いた。微粒子生成にあたっては、対電極１４先端部と溶
融金属９表面との電極間間隙が影響する。実験結果によ
れば、電極間間隙を５ ｍｍに設定した場合±２龍の変
動は分析精度にほとんど影響を与えなかったが、これ以
上の変＠け問題となった。従って、電極間間隙は一定に
保つ必要があり、湯面変動が少ない場合には初期の位置
設定を正確に行えばよいが、変動が比較的大きい場合に
は湯面レベル計との連動によって電極間間隙を調整する
必要がある。このようにして安定して生成された微粒子
は金属・ξイブの搬送管中を５０ｍのように長距離を不
活性ガス気流によって搬送することができ、良好な分析
結果を得ることができた。
り、冷却のために吹き込１れたすべての圧縮空気はこの
排出口２３から排出される。溶融金属として溶鉄等を対
象とする場合、圧縮空気をプローグの下部から排出する
と溶鉄温度を低下させ、溶湯表面にグラファイトが析出
するなどの不都合を生ずることがある。この二重円筒管
８の下端は前述の固定用フランジ３とセラミックス等で
できた断熱を兼ねる耐火絶縁材を介してボルトにょる固
定を行っている。溶融金属を微粒子として蒸発搬送し、
同金属中の各種含有成分量を分析するためには、含有成
分の組成を代表する微粒子を安定して発生式せることか
特に重要であるが、スパ−ク放電における各放電定数の
設定の仕方も影響を与える。自己誘導１０μＩ（、静電
容量３μＦ、抵抗１Ω、電圧１０００Ｖに設定したスパ
ークライクのスパーク放電と各定数を１５０μＨ１８μ
Ｆ、０Ω、７００ｖに設定したアークライクのスパーク
放電（放電電流波形からみると前者はピーク電流値２０
０Ａ、保持時間３０μｓ、後者は各々が８ ＯＡ、４０
０μｓ）の両放電条例で溶鋼を対象に微粒子を発生させ
、高周波誘導結合型プラズマ発光分光分析装置に搬送し
て各成分を繰り返して分析した結果、０５０％含有する
Ｓｉの分析値の変動係数は前者が２５％、後者が１１６
係、１．０４％含有するＭｎは各３．８％、１２．６％
、０．３０％含有するＣＬＩけ各々５．１係、１４２チ
などの結果が得られた。すなわち、上記のようにアーク
ライクよりもスパークライクのスパーク放電の方が安定
して溶融金属中の各成分を微粒子として蒸発源せるのに
適している。一般のアークやプラズマアークでは蒸気圧
の差に基づく各成分の選択蒸発が起る問題もあり、微粒
子生成の蒸発源としてはスパーク放電がもつとも適して
いた。微粒子生成にあたっては、対電極１４先端部と溶
融金属９表面との電極間間隙が影響する。実験結果によ
れば、電極間間隙を５ ｍｍに設定した場合±２龍の変
動は分析精度にほとんど影響を与えなかったが、これ以
上の変＠け問題となった。従って、電極間間隙は一定に
保つ必要があり、湯面変動が少ない場合には初期の位置
設定を正確に行えばよいが、変動が比較的大きい場合に
は湯面レベル計との連動によって電極間間隙を調整する
必要がある。このようにして安定して生成された微粒子
は金属・ξイブの搬送管中を５０ｍのように長距離を不
活性ガス気流によって搬送することができ、良好な分析
結果を得ることができた。
（発明の効果）
本発明は以上説明したように、これまでのように溶融金
属試料中の含有成分の分析にあたってすンプリング等の
操作を行わずに、迅速かつ精度よく直接分析することが
でき、金属の精錬や製鋼プロセスの操業管理に極めて効
果が太きい。
属試料中の含有成分の分析にあたってすンプリング等の
操作を行わずに、迅速かつ精度よく直接分析することが
でき、金属の精錬や製鋼プロセスの操業管理に極めて効
果が太きい。
第１図は本発明装置の説明図である。
１・・・微粒子生成用円筒、２・・・試料電極、３・・
・固定用フランジ、４・・・微粒子搬送管、５・・・対
電極用電源ケーブル、６・・・試料電極用電源ケーブル
、７・・・不活性ガス供給管、８・・・二重円筒管、９
・・・溶融金属、１０・・・対電極、２１・・・ス・ξ
−り放電室第１図
・固定用フランジ、４・・・微粒子搬送管、５・・・対
電極用電源ケーブル、６・・・試料電極用電源ケーブル
、７・・・不活性ガス供給管、８・・・二重円筒管、９
・・・溶融金属、１０・・・対電極、２１・・・ス・ξ
−り放電室第１図
Claims (1)
- 一端が分析装置に接続し、他端が不活性ガス吹込み口の
周囲に開口した微粒子導入口につながる微粒子搬送管、
対電極を間隙をもって内包し対電極下部先端よりも上部
でスパーク放電室に向って不活性ガス吹込み口を開口し
た内筒管、一端から不活性ガスを供給し他端が前記不活
性ガス吹込み口に通ずる不活性ガス供給管、およびス、
ｏ−り放電用電源装置の陽極ケーブルに接続しスパーク
放電室内の溶融金属表面に一定間隔をもって垂直に設け
られた対電極を備へ、円筒の下部周囲を溶融金属中に浸
漬してその内部の不活性ガス吹込み口の下部にスパーク
放電室を形成した微粒子生成用円筒、下端を溶融金属中
に浸漬し、上端をスパーク放電用電源装置の陰極ケーブ
ルに接続した試料電極、前記微粒子生成用円筒および試
料電極を絶縁体を介して一体化する固定用フランジ、上
部に圧縮空気吹込み口、下端に同吐出口を有した絶縁管
で各々囲繞した微粒子搬送管、対電極用電源ケーブル、
試料電極用電源ケーブル、および前記微粒子搬送管、対
電極用電源ケーブル試料電極用電源ケーブル、不活性ガ
ス供給管の最上部を除いた部分を内包し、上部に圧縮空
気排出口を設け、外管上部側壁に圧縮空気吹込み口、内
管下部側壁に圧縮空気吐出口および下端に前記固定用フ
ランジと接合するフランジを設けた二重円筒管を主体に
構成したことを特徴とする溶融金属直接分析用微粒子生
成プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58229898A JPS60122355A (ja) | 1983-12-07 | 1983-12-07 | 溶融金属直接分析用微粒子生成プロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58229898A JPS60122355A (ja) | 1983-12-07 | 1983-12-07 | 溶融金属直接分析用微粒子生成プロ−ブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60122355A true JPS60122355A (ja) | 1985-06-29 |
| JPH035548B2 JPH035548B2 (ja) | 1991-01-25 |
Family
ID=16899452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58229898A Granted JPS60122355A (ja) | 1983-12-07 | 1983-12-07 | 溶融金属直接分析用微粒子生成プロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60122355A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0194492A2 (en) * | 1985-03-13 | 1986-09-17 | Allied Corporation | In-situ analysis of a liquid conductive material |
| JP2007514941A (ja) * | 2003-12-17 | 2007-06-07 | ヘレーウス エレクトロ−ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイ | 溶融金属の分析のための装置及び浸漬センサ及び方法 |
| CN112296343A (zh) * | 2020-09-04 | 2021-02-02 | 武汉科技大学 | 一种空心电极熔炼制备超细金属粉末的方法 |
-
1983
- 1983-12-07 JP JP58229898A patent/JPS60122355A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0194492A2 (en) * | 1985-03-13 | 1986-09-17 | Allied Corporation | In-situ analysis of a liquid conductive material |
| EP0194492A3 (en) * | 1985-03-13 | 1987-06-16 | Allied Corporation | In-situ analysis of a liquid conductive material |
| JP2007514941A (ja) * | 2003-12-17 | 2007-06-07 | ヘレーウス エレクトロ−ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイ | 溶融金属の分析のための装置及び浸漬センサ及び方法 |
| JP2011141293A (ja) * | 2003-12-17 | 2011-07-21 | Heraeus Electro-Nite Internatl Nv | 溶融金属の分析のための装置及び浸漬センサ及び方法 |
| CN112296343A (zh) * | 2020-09-04 | 2021-02-02 | 武汉科技大学 | 一种空心电极熔炼制备超细金属粉末的方法 |
| CN112296343B (zh) * | 2020-09-04 | 2023-05-26 | 武汉科技大学 | 一种空心电极熔炼制备超细金属粉末的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH035548B2 (ja) | 1991-01-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Broekaert | State of the art of glow discharge lamp spectrometry. Plenary lecture | |
| Hayhurst et al. | Mass spectrometric sampling of ions from atmospheric pressure flames—i: characteristics and calibration of the sampling system | |
| JPS60122355A (ja) | 溶融金属直接分析用微粒子生成プロ−ブ | |
| US5650618A (en) | Compact mass spectrometer for plasma discharge ion analysis | |
| JPS60122354A (ja) | 溶融金属分析用微粒子生成プロ−ブ | |
| JPH0151939B2 (ja) | ||
| US3449563A (en) | Sample insertion probe having integral sample introduction control means and mass spectrometer means using same | |
| JPH0148498B2 (ja) | ||
| JPS59157539A (ja) | 微粒子生成プラズマ発光分光法による深層部溶融金属の直接分析装置 | |
| JPH0148499B2 (ja) | ||
| JPS59157543A (ja) | 溶融金属の電極間隙自動調節型微粒子生成プラズマ発光分光分析装置 | |
| Clausing et al. | Arcing studies in ISX-B | |
| JPH0149892B2 (ja) | ||
| DE19518374A1 (de) | Verfahren zur hochfrequenzbetriebenen Magnetron-Glimmentladungsionisation, sowie Ionenquelle | |
| JPH0238901B2 (ja) | ||
| Imamura et al. | Development of a carbon cluster ion source with a hollow cathode | |
| JPS60219538A (ja) | 不活性ガス吹き込み微粒子回収溶融金属分析方法および装置 | |
| JPS59210330A (ja) | 溶融金属の電極間間隔自動調節型微粒子長距離搬送プラズマ発光分光分析装置 | |
| GB1371104A (en) | Methods of and apparatus for analysing mixtures | |
| Kumar et al. | Study on characterization of SrO Aerosols Generated by Optimized Thermal Plasma Torch Aerosol Generator | |
| Decker | Electrode temperatures of a dc arc used in spectrographic analysis | |
| US3209144A (en) | Method and apparatus for mass spectrograph evacuation with respect to an atmosphere-interchange relationship | |
| EP0193821A2 (en) | In-situ analysis of a liquid conductive material | |
| Schuy et al. | Process gas analysis in the iron and steel industry by mass spectrometry | |
| JPS6214774B2 (ja) |