JPS60119700A - サンプルホ−ルド回路 - Google Patents
サンプルホ−ルド回路Info
- Publication number
- JPS60119700A JPS60119700A JP58228827A JP22882783A JPS60119700A JP S60119700 A JPS60119700 A JP S60119700A JP 58228827 A JP58228827 A JP 58228827A JP 22882783 A JP22882783 A JP 22882783A JP S60119700 A JPS60119700 A JP S60119700A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- hold
- current
- circuit
- transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
- G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
この発明はサンプルホールド回路に関し、特にたとえば
差動接続された1対のトランジスタで構成された差動型
スイッチを用いるようなサンプルホールド回路の改良に
関する。
差動接続された1対のトランジスタで構成された差動型
スイッチを用いるようなサンプルホールド回路の改良に
関する。
[従来技術]
第1図は従来のサンプルホールド回路の一例を示す回路
図である。図において、このサンプルホールド回路は入
力信号を一定レベルまで増幅する増幅器4と、サンプル
ホールドスイッチ回路5と、サンプルホールドパルスを
波形整形するための電圧比較器6と、一定電流を各回路
へ供給するための定電流バイアスI17とによって構成
される。なお、■1〜■3はバイアス電圧源である。
図である。図において、このサンプルホールド回路は入
力信号を一定レベルまで増幅する増幅器4と、サンプル
ホールドスイッチ回路5と、サンプルホールドパルスを
波形整形するための電圧比較器6と、一定電流を各回路
へ供給するための定電流バイアスI17とによって構成
される。なお、■1〜■3はバイアス電圧源である。
次に第1図の回路の動作を説明する。入力端子1に加え
られた入力信号は増幅器4によって増幅され、サンプル
ホールドスイッチ回路5に与えられる。今、入力端子3
に与えられるサンプルホールドパルスがハイレベルであ
るとすると、比較器6が働きトランジスタQ4をオンに
する。トラジスタQ6およびQ7は差動接続−され−(
サンプルホールドスイッチ〈差動型スイッチ)回路を構
成し、トランジスタQ4がオンではトランジスタQ6が
オフ、Q7がオンとなり、したがってトランジスタQ8
も導通状態となり、抵抗R1端に得られた増幅器出力は
トランジスタQ8を通してコンデンサC1に充電される
。この期間がサンプル期間である。
られた入力信号は増幅器4によって増幅され、サンプル
ホールドスイッチ回路5に与えられる。今、入力端子3
に与えられるサンプルホールドパルスがハイレベルであ
るとすると、比較器6が働きトランジスタQ4をオンに
する。トラジスタQ6およびQ7は差動接続−され−(
サンプルホールドスイッチ〈差動型スイッチ)回路を構
成し、トランジスタQ4がオンではトランジスタQ6が
オフ、Q7がオンとなり、したがってトランジスタQ8
も導通状態となり、抵抗R1端に得られた増幅器出力は
トランジスタQ8を通してコンデンサC1に充電される
。この期間がサンプル期間である。
次に、入力端子3に与えられたサンプルホールドパルス
がローレベルになると、トランジスタQ4はオフし、応
じてトランジスタQ6かオン、Q7がオフの状態となる
。すなわち、トランジスタQ8のエミッターベース間が
逆バイアス状態となり、コンデンサC1の電荷はそのま
ま保持される。
がローレベルになると、トランジスタQ4はオフし、応
じてトランジスタQ6かオン、Q7がオフの状態となる
。すなわち、トランジスタQ8のエミッターベース間が
逆バイアス状態となり、コンデンサC1の電荷はそのま
ま保持される。
この期間がホールド期間である。
ところで、上述のようなサンプルホールドスイッチ回路
5では、サンプルホールド期間にコンデンサC1を充放
電するに十分な電流をトランジスタQ7に流す必要があ
り、電流11の値を大きくする必要がある。この電流1
1は、ホールド期間はトランジスタQ6を流れるため、
抵抗R1にて電圧降下が発生ずるが、劃11の値が大き
すぎると、トランジスタQ6のコレクタ電位もしくはト
ランジスタQ2のコレクタ電位が下がり、トランジスタ
Q6もしくはQ2が飽和状態となってしまう(゛ホール
ド期間)。そのため、サンプルホールドのスイッチング
速度等に問題が生じ好ましくない。これを避けるために
は、抵抗R1の値もしくは電流11が制約を受けること
になり、増幅器の利得設定、サンプル時の充放電時間等
に問題が生じる。また、上述の回路では、サンプルホー
ルドスイッチ回路5がバイアス電圧mV2を有している
ため、電源電圧が低いような場合トランジスタQ6が飽
和しない条件はざらに厳しくなる。
5では、サンプルホールド期間にコンデンサC1を充放
電するに十分な電流をトランジスタQ7に流す必要があ
り、電流11の値を大きくする必要がある。この電流1
1は、ホールド期間はトランジスタQ6を流れるため、
抵抗R1にて電圧降下が発生ずるが、劃11の値が大き
すぎると、トランジスタQ6のコレクタ電位もしくはト
ランジスタQ2のコレクタ電位が下がり、トランジスタ
Q6もしくはQ2が飽和状態となってしまう(゛ホール
ド期間)。そのため、サンプルホールドのスイッチング
速度等に問題が生じ好ましくない。これを避けるために
は、抵抗R1の値もしくは電流11が制約を受けること
になり、増幅器の利得設定、サンプル時の充放電時間等
に問題が生じる。また、上述の回路では、サンプルホー
ルドスイッチ回路5がバイアス電圧mV2を有している
ため、電源電圧が低いような場合トランジスタQ6が飽
和しない条件はざらに厳しくなる。
[発明の概II]
この発明は、上記のような従来のものの欠点を解決する
ためになされたもので、差動型スイッチを電流ミラー回
路によって駆動することにより、低電圧にても安定に使
用できるサンプルホールド回路を提供することを目的と
している。
ためになされたもので、差動型スイッチを電流ミラー回
路によって駆動することにより、低電圧にても安定に使
用できるサンプルホールド回路を提供することを目的と
している。
[発明の実施例コ
以下、図面に示ず実施例とともにこの発明をより具体的
に説明する。
に説明する。
第2図はこの発明の一実施例を示す回路図である。図に
おいて、この実施例は以下の点を除いて第1図の回路と
同様であり、相−当する部分には同一の参照番号を付し
その説明を省略16゜この実施例はトランジスタQ6お
よびQ7でmliされる差動スイッチをトランジスタQ
14およびQ15の電流ミラー回路で駆動していること
が特徴である。
おいて、この実施例は以下の点を除いて第1図の回路と
同様であり、相−当する部分には同一の参照番号を付し
その説明を省略16゜この実施例はトランジスタQ6お
よびQ7でmliされる差動スイッチをトランジスタQ
14およびQ15の電流ミラー回路で駆動していること
が特徴である。
以下、第2図の実施例の動作について説明する。
なお、サンプルホールドの基本動作は第1図の回路と同
様であるのでその詳細な説明は省略する。
様であるのでその詳細な説明は省略する。
まず、サンプル期間は、比較器6の動作によってトラン
ジスタQ14および抵抗R13にトランジスタQ11よ
り供給される電流が流れる。このときトランジスタQ7
はオンQ6はオフとなり、トランジスタQ7には抵抗R
13とR6の抵抗比に応じた劃11が流れることになる
。第3図はこの状態をわかりやす(するために第2図の
回路の特定部分を抜き書きしたもので、電流ミラー回路
が構成されていることが理解されよう。すなわち、トラ
ンジスタQ7とQ14の■も[(ベース−エミッタ間電
圧)が等しいとすると、トランジスタQ7に流れる電流
は次式(1)で表わせることになり、抵抗R13とR6
の比によって任意に設定できる。
ジスタQ14および抵抗R13にトランジスタQ11よ
り供給される電流が流れる。このときトランジスタQ7
はオンQ6はオフとなり、トランジスタQ7には抵抗R
13とR6の抵抗比に応じた劃11が流れることになる
。第3図はこの状態をわかりやす(するために第2図の
回路の特定部分を抜き書きしたもので、電流ミラー回路
が構成されていることが理解されよう。すなわち、トラ
ンジスタQ7とQ14の■も[(ベース−エミッタ間電
圧)が等しいとすると、トランジスタQ7に流れる電流
は次式(1)で表わせることになり、抵抗R13とR6
の比によって任意に設定できる。
■1崎(R13/R6)12 ・・・(1)また、ホー
ルド期間では、トランジスタQ15およびQ6がオンに
なり、電流■1は次式(2)で表わせる。
ルド期間では、トランジスタQ15およびQ6がオンに
なり、電流■1は次式(2)で表わせる。
11#(R14/R6)12 ・・・(2)したがって
、抵抗R6はR13との比、抵抗R6とR14との比を
任意に選ぶことによって、サンプル期間に必要な充放電
電流11.ホールド期間でのトランジスタQ6に流れる
電流を個別的にかつ自由に設定することができ、トラン
ジスタQ2゜Q6の飽和や増幅器利得設定用抵抗R1の
Ibl約等をなくすことができる。
、抵抗R6はR13との比、抵抗R6とR14との比を
任意に選ぶことによって、サンプル期間に必要な充放電
電流11.ホールド期間でのトランジスタQ6に流れる
電流を個別的にかつ自由に設定することができ、トラン
ジスタQ2゜Q6の飽和や増幅器利得設定用抵抗R1の
Ibl約等をなくすことができる。
また、上述の実施例では、第一1図の従来回路で必要で
あったトランジスタQ5および抵抗R6で構成される定
電流源やトランジスタQ6.Q7スイッヂのためのバイ
アス電圧源V2が不要となるため、低mm電圧でも動作
することが可能であり応用範囲を拡大することができる
。
あったトランジスタQ5および抵抗R6で構成される定
電流源やトランジスタQ6.Q7スイッヂのためのバイ
アス電圧源V2が不要となるため、低mm電圧でも動作
することが可能であり応用範囲を拡大することができる
。
なお、上述の実施例における増幅器4の部分を2重平衡
型差動増幅−器等に!!換えることにより、この発明を
位相検波回路へ応用することも可能である。
型差動増幅−器等に!!換えることにより、この発明を
位相検波回路へ応用することも可能である。
[発明の効果]
以上のようにこの発明によれば、サンプルホールド回路
にむける差動型スイッチの駆動をIf流ミラー回路で行
なうようにしたので、サンプル期間におけるコンデンサ
の充放電il流の大きさとホールド期間における差動型
スイッチに流れる電流の大ぎさとを個別に自由に設定す
ることができる。
にむける差動型スイッチの駆動をIf流ミラー回路で行
なうようにしたので、サンプル期間におけるコンデンサ
の充放電il流の大きさとホールド期間における差動型
スイッチに流れる電流の大ぎさとを個別に自由に設定す
ることができる。
したがって、ホールド期間において差動型スイッチのト
ランジスタを飽和状態にさせることなくサンプル期間に
おけるコンデンサの充放mm流を十分に大ぎくすること
ができ、コンデンサの充放電時間を早めることができる
。そして、増幅器の利得設定抵抗が制約を受けることが
なくなるので増幅器の利得設定に悪影響を与えることが
ない。また、この発明では、従来必要であった差動型ス
イッチ駆動のためのバイアス電圧源が不要となるため、
低電源電圧でも動作させることが可能であり、その応用
範囲を拡大することができる。
ランジスタを飽和状態にさせることなくサンプル期間に
おけるコンデンサの充放mm流を十分に大ぎくすること
ができ、コンデンサの充放電時間を早めることができる
。そして、増幅器の利得設定抵抗が制約を受けることが
なくなるので増幅器の利得設定に悪影響を与えることが
ない。また、この発明では、従来必要であった差動型ス
イッチ駆動のためのバイアス電圧源が不要となるため、
低電源電圧でも動作させることが可能であり、その応用
範囲を拡大することができる。
第1図は従来のサンプルホールド回路の一例を示す回路
図である。第2図はこの発明の一実施例を示す回路図で
ある。第3図は第2図の実施例の動作の理解を容易にす
るため第2図の回路の特定の部分を抜き出した図である
。 図において、1は入力端子、2は出力端子、3はサンプ
ル小−ルドバルスが入力される入力端子、4は増幅器、
5はサンプルホールドスイッチ回路、6は比較器、7は
低電源バイアス源を示す。 代 理 人 大 岩 増 雄 第2図 第3図 電シ胛、 手続補正書(自発) l、事件の表示 特願昭58−228827号2、発明
の名称 サンプルホールド回路 3、補正をする者 代表者片由仁へ部 4、代理人 5−補正の対象 細書の発明の詳細な説明の欄および図面の簡説明の− 6、補正の内容 (1) 明細−第2頁第17行ないし同頁第18行の[
トラジスタQ6Jを[トランジスタQ6Jに補正する。 (2) 明細書第6jj第11行の[抵抗R6は013
との」を「抵抗R6とR13どのJに補正、3) 明細
自第8頁第15行の「低電源バイアス源」を[定’m*
バイアスlll1i−1に補正する。 以上
図である。第2図はこの発明の一実施例を示す回路図で
ある。第3図は第2図の実施例の動作の理解を容易にす
るため第2図の回路の特定の部分を抜き出した図である
。 図において、1は入力端子、2は出力端子、3はサンプ
ル小−ルドバルスが入力される入力端子、4は増幅器、
5はサンプルホールドスイッチ回路、6は比較器、7は
低電源バイアス源を示す。 代 理 人 大 岩 増 雄 第2図 第3図 電シ胛、 手続補正書(自発) l、事件の表示 特願昭58−228827号2、発明
の名称 サンプルホールド回路 3、補正をする者 代表者片由仁へ部 4、代理人 5−補正の対象 細書の発明の詳細な説明の欄および図面の簡説明の− 6、補正の内容 (1) 明細−第2頁第17行ないし同頁第18行の[
トラジスタQ6Jを[トランジスタQ6Jに補正する。 (2) 明細書第6jj第11行の[抵抗R6は013
との」を「抵抗R6とR13どのJに補正、3) 明細
自第8頁第15行の「低電源バイアス源」を[定’m*
バイアスlll1i−1に補正する。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 差動接続された1対のトランジスタでII成された差動
型スイッチと、この1対のトランジスタの一方のトラン
ジスタに関連して接続されたコンデンナとを含み、サン
プルホールド1<)レスに同期して前記Mill型スイ
ッチを相補的にオンオフすることにより任意のvI刻に
おける入力信号の値を抜き出して婉記コンデンナでホー
ルドするサンプルホールド回路において、 前記サンプルホールドパルスに同期して前記差動型スイ
ッチをオンオフさせるための電流ミラー回路を備えたこ
とを特徴とする、サンプルホールド
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58228827A JPS60119700A (ja) | 1983-12-01 | 1983-12-01 | サンプルホ−ルド回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58228827A JPS60119700A (ja) | 1983-12-01 | 1983-12-01 | サンプルホ−ルド回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60119700A true JPS60119700A (ja) | 1985-06-27 |
JPS638560B2 JPS638560B2 (ja) | 1988-02-23 |
Family
ID=16882475
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58228827A Granted JPS60119700A (ja) | 1983-12-01 | 1983-12-01 | サンプルホ−ルド回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60119700A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54109353A (en) * | 1978-02-15 | 1979-08-27 | Nec Corp | Sample holding circuit |
-
1983
- 1983-12-01 JP JP58228827A patent/JPS60119700A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54109353A (en) * | 1978-02-15 | 1979-08-27 | Nec Corp | Sample holding circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS638560B2 (ja) | 1988-02-23 |
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