JPS6011652Y2 - 樹脂モ−ルド型の半導体装置 - Google Patents

樹脂モ−ルド型の半導体装置

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JPS6011652Y2
JPS6011652Y2 JP19028780U JP19028780U JPS6011652Y2 JP S6011652 Y2 JPS6011652 Y2 JP S6011652Y2 JP 19028780 U JP19028780 U JP 19028780U JP 19028780 U JP19028780 U JP 19028780U JP S6011652 Y2 JPS6011652 Y2 JP S6011652Y2
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JP
Japan
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resin
semiconductor device
moisture
epoxy resin
mold
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Application number
JP19028780U
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English (en)
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JPS57113448U (ja
Inventor
正雄 武広
孝弘 百合野
Original Assignee
富士通株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、耐湿性を向上させた樹脂モールド型の半導体
装置の新規な構造に関するものである。
従来の樹脂モールド型の半導体装置は、内部リード端子
、外部リード端子及びチップ搭載部を有する、−zt<
−ル(Fe、 Ni、 Co合金)あるいは42アロイ
(FeとNiの合金)の導体リードに、半導体チップを
搭載し、エポキシ樹脂等によるモールドで封止していた
この様な樹脂モールド型は、気密封止ではないが製造が
簡単でコスト安なため広く利用されている。
従来の樹脂モールド型の半導体装置は、樹脂そのものの
もつ吸湿性や、樹脂と導体リード間の界面から侵入する
水分等により内部の半導体チップが侵され、耐湿性のな
いことが大きな欠点であった。
そこで本考案は、上記の樹脂そのもののもの吸湿性によ
る耐湿性の低下を解決することを目的とするもので、そ
の特徴は、内部リード端子、外部リード端子及び半導体
チップの搭載部を有する導体リードに該半導体チップを
搭載し、樹脂モールドにより封止した樹脂モールド型の
半導体装置において、内側のエポキシ樹脂によるモール
ド部と、外側のエポキシ樹脂によるモールド部と、該内
側及び外側のモールド部の間に設けられたA1防湿板と
を有してなることにある。
以下本考案の一実施例を図面に従って詳細に説明する。
図面は本考案の一実施例の断面図である。
1は半導体チップで、内部リード端子2、外部リード端
子3及び搭載部4を有する導体リードに搭載されている
導体リードは従来と同様にコバール等で形成されている
5はチップ1と内部リード端子2を接続するワイヤーで
ある。
本実施例ではまずエポキシ樹脂により内側のモールド部
6を形成する。
その工程は従来と同様で、モールド温度が約150〜1
80℃で数分間で完了する。
次に内側のモールド部6の表面に接着剤として溶剤に溶
かしたエポキシ樹脂をぬって防湿板をとりつける。
そしてエポキシ樹脂(内側モールド部6及び接着剤を含
む)を硬化させるために、温度約150〜180℃程度
、数時間のキュア一工程を施こす。
防湿板7としてはN板に陽極酸化によるアルマイト処理
を施こして表面を絶縁体にし、内部リード2との接触に
よる短絡が生じないようにしておく。
次に同様にして外側のモールド部8をエポキシ樹脂によ
り形成する。
この様な構造にすることにより、外側のモールド部8が
吸収した水分は、防湿板7により内側のモールド部6に
は吸収されないので、耐湿性が飛躍的に向上する。
また、A1はエポキシ樹脂とほぼ同じ熱膨張係数を有し
ているので、N防湿板とエポキシ樹脂間において、熱が
加わったときの熱ストレスによる歪や破壊を引き起こさ
ず、熱ストレスによって耐湿性は低下しない。
ここで、もし、内側及び外側のモールド部の樹脂とその
間に設けられた防湿板の熱膨張係数が異なると、熱スト
レスによる歪や破壊が生じ、その部分から水分が浸入し
やすくなり、十分な耐湿性が得られない。
以上説明した様に本考案によれば、耐湿性の高い樹脂モ
ールド型の半導体装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
図は本考案の一実施例の断面図である。 図中、1:半導体チップ、2:内部リード端子、3:外
部リード端子、4:搭載部、5:ワイヤー、6:内側の
モールド部、7:防湿板、8:外側のモールド部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 内部リード端子、外部リード端子及び半導体チップの搭
    載部を有する導体リードに該半導体チップを搭載し、樹
    脂モールドにより封止した樹脂モールド型の半導体装置
    において、内側のエポキシ樹脂によるモールド部と、外
    側のエポキシ樹脂によるモールド部と、該内側及び外側
    のモールド部の間に設けられたA1防湿板とを有してな
    ることを特徴とする樹脂モールド型の半導体装置。
JP19028780U 1980-12-29 1980-12-29 樹脂モ−ルド型の半導体装置 Expired JPS6011652Y2 (ja)

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JPS57113448U JPS57113448U (ja) 1982-07-13
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