JPS6010632A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- JPS6010632A JPS6010632A JP58119958A JP11995883A JPS6010632A JP S6010632 A JPS6010632 A JP S6010632A JP 58119958 A JP58119958 A JP 58119958A JP 11995883 A JP11995883 A JP 11995883A JP S6010632 A JPS6010632 A JP S6010632A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 20
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 20
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 10
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 210000002374 sebum Anatomy 0.000 claims 1
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
1−
〔技術分野〕
本発明は半導体装置の製造方法に関し、特に半導体素子
の電極より延びる金属細線のリードへの接続に関連して
発生するリードと放熱板との接触全開放修正する樹脂モ
ールド方法に関するものである。
の電極より延びる金属細線のリードへの接続に関連して
発生するリードと放熱板との接触全開放修正する樹脂モ
ールド方法に関するものである。
一般に半導体装置は例えば第1図〜第2図に示すように
、放熱板Aに半導体素子BTh固定すると共に、半導体
素子BI7)電極と一端が半導体素子Bの近・傍の放熱
板A上に離隔位置するように配置された複数のリード片
01N(%よりなるリードaと全金属細線りにて接続し
、かつ半導体素子B7含む主要部分を樹脂材Eにてモー
ルド被覆して構成されている。
、放熱板Aに半導体素子BTh固定すると共に、半導体
素子BI7)電極と一端が半導体素子Bの近・傍の放熱
板A上に離隔位置するように配置された複数のリード片
01N(%よりなるリードaと全金属細線りにて接続し
、かつ半導体素子B7含む主要部分を樹脂材Eにてモー
ルド被覆して構成されている。
ところで、金属細線りのリードCへの接2続は例えばリ
ード片0+ ” Cqの一端を放熱板Aの上面に押え板
にて押しつけた状態で行われているのであるが、特にリ
ードOr、’Qqのようにタイバー(図示せず)から一
端(自由端)までの延在長さが長いも−2= のにあっては押え板全除去してもリード片0+ 、 O
?が充分に元の位置に復帰せず、第2図において点線で
示すように放熱板Aに接触したままとなり、半導体装置
としての機能7奏し得なくなるという問題がある。
ード片0+ ” Cqの一端を放熱板Aの上面に押え板
にて押しつけた状態で行われているのであるが、特にリ
ードOr、’Qqのようにタイバー(図示せず)から一
端(自由端)までの延在長さが長いも−2= のにあっては押え板全除去してもリード片0+ 、 O
?が充分に元の位置に復帰せず、第2図において点線で
示すように放熱板Aに接触したままとなり、半導体装置
としての機能7奏し得なくなるという問題がある。
それ故に、本発明の目的は簡単な構成によってリードと
放熱板とが金属細線の接続作業に起因して接触してもほ
ぼ確実に離隔させることのできる半導体装置の製造方法
全提供することにある。
放熱板とが金属細線の接続作業に起因して接触してもほ
ぼ確実に離隔させることのできる半導体装置の製造方法
全提供することにある。
そして、本発明の特徴はリードフレームの放熱板に半導
体素子全固定すると共に、半導体素子の電極とリードと
全金属細課にて接続する工程と、このリードフレーム全
モールドールド装置に、半導体素子?含む主要部分がキ
ャビティ部に位置するようにセットすると共に、型締め
する工程と、樹脂モールド装置のキャビティ部に樹脂材
全注入する工程と全含み、上記型ギ:(fめの際に、リ
ードフレームのリード及び/又は樹脂モールド装置のパ
ーティング面に形成した傾斜部或いは突起によって、リ
ードの一端全放熱板の上面から強制的に離隔させること
にある。
体素子全固定すると共に、半導体素子の電極とリードと
全金属細課にて接続する工程と、このリードフレーム全
モールドールド装置に、半導体素子?含む主要部分がキ
ャビティ部に位置するようにセットすると共に、型締め
する工程と、樹脂モールド装置のキャビティ部に樹脂材
全注入する工程と全含み、上記型ギ:(fめの際に、リ
ードフレームのリード及び/又は樹脂モールド装置のパ
ーティング面に形成した傾斜部或いは突起によって、リ
ードの一端全放熱板の上面から強制的に離隔させること
にある。
この発明によれば、リードフレームのリード及ヒ/又は
樹脂モールド装置のパーティング面に傾斜部或いは突起
が形成されているので、樹脂モールド装置の型締めに際
し、傾斜部或いは突起によってリードが屈曲されること
によりその一端が放熱板の上面から強制的に離隔させら
れる。このために、金属細線の接続作業によってリード
と放熱板とが仮に接触したとしても、樹脂モールド工程
においてそれぞれの接触は確実に開放修正され、半導体
装置としての機能全充分に期待することができる。
樹脂モールド装置のパーティング面に傾斜部或いは突起
が形成されているので、樹脂モールド装置の型締めに際
し、傾斜部或いは突起によってリードが屈曲されること
によりその一端が放熱板の上面から強制的に離隔させら
れる。このために、金属細線の接続作業によってリード
と放熱板とが仮に接触したとしても、樹脂モールド工程
においてそれぞれの接触は確実に開放修正され、半導体
装置としての機能全充分に期待することができる。
次に本発明の一実施例について第3図〜第5図全参照し
て説明する。
て説明する。
まず、第3図に示すように、平行に延びる枠部分1.1
間に放熱板2全、枠部分1,1より延び する吊りビン
3,3全利用して支持すると共に、枠部分1,1全橋絡
するタイバー4,5にて複数のリード片61〜6丁より
なるリード6全支持してリードフレーム?構成する。こ
のリードフレームの放熱板2の上面に半導体素子7全固
定すると共に、それの電極とリード片61〜61と全金
属細線8にて接続する。尚、この接続時に、リード片6
.〜6.の一端は放熱板2に押え板にて押しつけられる
。次に、第4図に示すように、リードフレーム全m 脂
モールド装置9の下部金型9aに、放熱板2がキャビテ
ィ部に位置するようにセットする。尚、下部金型9aの
キャビティ部に隣接するパーティング面にはキャビティ
部に向けU−Iニリ勾配の傾斜部10が形成されている
。次に、第5図に示すように、下部金型9 a 、−J
一部会型9bによってリードフレーム’に挾持(型締め
)する。これによって、リード片61〜6丁は傾斜部1
0に沿って変形させられ、それぞれの一端は放熱板2か
ら強制的に離隔させられる。この傾斜部10の傾斜角度
θはタイバー4からリード片6. 、6.0一端までの
長さが8II程度の場合、1度位が最適である。次に、
樹脂モールド装置9のキャビティ部に樹脂材k 注入す
5− ることによって組立を完了する。
間に放熱板2全、枠部分1,1より延び する吊りビン
3,3全利用して支持すると共に、枠部分1,1全橋絡
するタイバー4,5にて複数のリード片61〜6丁より
なるリード6全支持してリードフレーム?構成する。こ
のリードフレームの放熱板2の上面に半導体素子7全固
定すると共に、それの電極とリード片61〜61と全金
属細線8にて接続する。尚、この接続時に、リード片6
.〜6.の一端は放熱板2に押え板にて押しつけられる
。次に、第4図に示すように、リードフレーム全m 脂
モールド装置9の下部金型9aに、放熱板2がキャビテ
ィ部に位置するようにセットする。尚、下部金型9aの
キャビティ部に隣接するパーティング面にはキャビティ
部に向けU−Iニリ勾配の傾斜部10が形成されている
。次に、第5図に示すように、下部金型9 a 、−J
一部会型9bによってリードフレーム’に挾持(型締め
)する。これによって、リード片61〜6丁は傾斜部1
0に沿って変形させられ、それぞれの一端は放熱板2か
ら強制的に離隔させられる。この傾斜部10の傾斜角度
θはタイバー4からリード片6. 、6.0一端までの
長さが8II程度の場合、1度位が最適である。次に、
樹脂モールド装置9のキャビティ部に樹脂材k 注入す
5− ることによって組立を完了する。
この実施例によれば、金属細線8の接続によってリード
片61.6?が第4図において点線で示すように放熱板
2vc接触しても、樹脂モールド装置9の型締めによっ
てリード片6+ 、 kは傾斜部10によって強制的に
変形させられ、第5図において点線で示すように放熱板
2から離隔させられる。このために、リード片6X〜6
.と放熱板2との接触全樹脂モールド時に開放修正でき
、半導体装置としての機能全充分に期待できる。
片61.6?が第4図において点線で示すように放熱板
2vc接触しても、樹脂モールド装置9の型締めによっ
てリード片6+ 、 kは傾斜部10によって強制的に
変形させられ、第5図において点線で示すように放熱板
2から離隔させられる。このために、リード片6X〜6
.と放熱板2との接触全樹脂モールド時に開放修正でき
、半導体装置としての機能全充分に期待できる。
尚、本発明において、樹脂モールド装置のパーティング
面における傾斜部は第6図に示すように突起]−1にて
代用することもできるし、パーティング面にて挾持され
るリード部分に突起など全形成してリード端に変形に生
じさせるようにすることもできる。又、リードの形状1
本数は適宜に変更できる。
面における傾斜部は第6図に示すように突起]−1にて
代用することもできるし、パーティング面にて挾持され
るリード部分に突起など全形成してリード端に変形に生
じさせるようにすることもできる。又、リードの形状1
本数は適宜に変更できる。
第1図は従来の半導体装置の横断面図、第2図 6 −
は第1図の要部側断面図、第31て〜第5図は本発明方
法の説明図であって、第3図はリードフレームへの半導
体素子のマウント状gf示す平面図、第4図はリードフ
レームの樹脂モールド装置へのセット状態7示す側断面
図、第5図は型締め状態7示す側断面図、第6図は本発
明に係る樹脂モールド装置の他の実施例を示す側断面図
である。 図中、2は放熱板、6はリード、61〜6丁はリード片
、7は半導体素子、パは金属細線、9は樹脂モールド装
置、10は傾斜部、11は突起である。 7− 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 ]○ 第6図
法の説明図であって、第3図はリードフレームへの半導
体素子のマウント状gf示す平面図、第4図はリードフ
レームの樹脂モールド装置へのセット状態7示す側断面
図、第5図は型締め状態7示す側断面図、第6図は本発
明に係る樹脂モールド装置の他の実施例を示す側断面図
である。 図中、2は放熱板、6はリード、61〜6丁はリード片
、7は半導体素子、パは金属細線、9は樹脂モールド装
置、10は傾斜部、11は突起である。 7− 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 ]○ 第6図
Claims (1)
- リードフレームの放熱板に半導体素子全固定すると共に
、半導体素子の電極とリードとを金属細線にて接続する
工程と、このリードツレ−ムラ樹脂モールド装置に、半
導体累子を含む主要部分がキャビティ部に位置するよう
にセットすると共に、型締めする工程と、樹脂モールド
装置のキャビティ部に櫃脂材全注入する工程と全含み、
上記型締めの際に、リードフレームのリード及び/又は
膚脂モールド装置のパーティング面に形成した傾斜部或
いは突起によって、リードの一端全放熱板の上面から強
制的に離隔させること全特徴とする半導体装置の製造方
法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58119958A JPS6010632A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 半導体装置の製造方法 |
KR1019840003098A KR890002136B1 (ko) | 1983-06-29 | 1984-06-04 | 반도체 장치의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58119958A JPS6010632A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6010632A true JPS6010632A (ja) | 1985-01-19 |
Family
ID=14774412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58119958A Pending JPS6010632A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6010632A (ja) |
KR (1) | KR890002136B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0484297A2 (en) * | 1990-10-31 | 1992-05-06 | STMicroelectronics S.r.l. | Process for assembling and resin-encapsulating a semiconductor power device mounted on a heat sink |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS554913A (en) * | 1978-06-26 | 1980-01-14 | Hitachi Ltd | Resin molding method |
-
1983
- 1983-06-29 JP JP58119958A patent/JPS6010632A/ja active Pending
-
1984
- 1984-06-04 KR KR1019840003098A patent/KR890002136B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS554913A (en) * | 1978-06-26 | 1980-01-14 | Hitachi Ltd | Resin molding method |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0484297A2 (en) * | 1990-10-31 | 1992-05-06 | STMicroelectronics S.r.l. | Process for assembling and resin-encapsulating a semiconductor power device mounted on a heat sink |
US5370517A (en) * | 1990-10-31 | 1994-12-06 | Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. | Apparatus for assembling and resin-encapsulating a heat sink-mounted semiconductor power device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR850000784A (ko) | 1985-03-09 |
KR890002136B1 (ko) | 1989-06-20 |
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