JPS60105269A - ハイブリツド回路の製造方法 - Google Patents

ハイブリツド回路の製造方法

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JPS60105269A
JPS60105269A JP59112897A JP11289784A JPS60105269A JP S60105269 A JPS60105269 A JP S60105269A JP 59112897 A JP59112897 A JP 59112897A JP 11289784 A JP11289784 A JP 11289784A JP S60105269 A JPS60105269 A JP S60105269A
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wafer
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ジヨルジユ ボニト
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    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電話設備または測定機器の如き民生設備、並
びに例えばレーダーの如き軍事設備の要件を満足するた
めのハイブリッドマイクロエレクトロニクスの分野にお
いて活用できるハイブリッド回路の製造方法に関する。
最近の傾向によると、ハイブリットロジックまたはアナ
ログ回路は、単一層または多層のプリント回路ウェーハ
上で互いに接続した、チップの形状に構成した能動部品
の集積回路及びチップの形状に構成した小型化した受動
部品から製造されている。そして、異なった回路間の電
気接続は、一方において部品に対して、他方において単
一絶縁サブストレート層または複数の積層に対して、半
田付けした小さいリード線によって達成される。
実際にこの種のハイブリッド回路を構成するには、様々
な回路の配置及び互いに関連する多数の導線の配列に関
して、理論的な設計を予めすることを必要とする。しか
し、そのような理論的な1没計は、時間を要するもので
ありまた複雑でもある。
そして、その後に続く、多層ハイブリッド回路の実際の
形成は比較的時間と費用のかかる手順でもある。
先行技術によるそのような製造方法は、短期間内に複雑
なハイブリッドロジックまたはアナログ回路のモデルを
構成することができない。
実際上の観点からは、この種のモデルの設計上の構成は
、レイアウト図面の研究及びハイブリット回路自体の実
際の製造の両方に関して、製造すべきハイブリット回路
のものと同一である。この根本的欠点に加えて、これら
の概念上のモデルが試験後に変更できない問題もある。
なぜならば、例えば2つのザブストレート層間に配置し
た導線を切断することがもはやできないからである。モ
デルを何らか変更すると、必ず部品の新しい配置をし新
たな回路を製造しなければならず、従って、最終的に完
成するモデルは、極めて高い価格となる。
そこで、本発明は、回路自体のレイアウト及び製造に要
する時間を著しく減少し且つ過大な資本投資を行うこと
なく回路変更を可能にするハイブリッド回路の製造方法
を提供せんとするものである。
すなわち、本発明によるならば、独立した及び/又は集
積化された能動部品及び/又は受動部品からつくられる
ハイブリッド回路の製造方法にして、絶縁性ザブストレ
ートウェーハの1つの表1m上に部品をボンディングす
ることから成る第1工程と、異なった部品の端子パラ)
・間を電気接続するように絶縁リード線を半田付けする
ことによって部品間の電気接続を達成することがら成る
第2工程とを含むことを特徴とするハイブリッド回路の
製造方法が提供される。
以下添付図面を参照して本発明を説明する。
異なった図面において同一の参照番号によって示された
素子は、同一の効果を達成する観点がら同一の機能を果
たすものである。
前記の如く、本発明による第1図がら第3図に示す如き
ハイブリッド回路の製造方法は、木質的に2つの工程か
ら成るものである。
第1の工程は、例えば、セラミック材料の絶縁サブスト
レートウェーハ4の1つの表面3」−に、異なった能動
素子1及び受動素子2、すなゎぢ独立したまたは集積化
した能動回路チップ、またはワンチップの形状で構成し
た小型化した抵抗またはキャパシタをボンディングする
ことから成る。
これらの部品は、組立体の全体の寸法を可能な限り小さ
くするために且つ形成すべき電気接続の幅を最小にする
ために、横に並べられて置かれる。
なお、ボンディングは接着で行われてもよい。
第2の工程におい、て、これらの異なった部品間の電気
接続が、リード線の交叉の場合における短絡を防ぐよう
に、絶縁祠料で被覆したリード線5によって達成される
。リード線5は、第1図から第3図に示す第1実施例に
おいては、部品1または2の各々に置かれた端子または
パッド6に半田付けされる。例を挙げると、前記絶縁リ
ード線5は、金、銅またはアルミニュームである。接続
すべき2つの異なった部品に付属する2つのパッド6間
をそれぞれ電気接続する場合、リード線5の両端が、従
来のマイクロ半田付けの方法によって対応するパッドに
半田付けされる。
頻繁に扱われる場合または振動を受ける場合、このよう
に半田付けされたリード線は、ザブストレートウェーハ
の支持表面に付着される樹脂によって堅く固着される。
この樹脂は、モールドされるか、またはスプレーコーテ
ィングプロセスでイー1着させることができる。他の方
法には、ハイブリット回路自体を樹脂浴に浸漬する方法
がある。
この方法によるハイブリッド回路の製造方法は、先行技
術のものより極めて早い。その理由は、(・羊々な部品
を単一の絶縁性ザブストレートウェーハ上に適切に配置
し、サブストレートの異なった層間に置かれた接続線の
広汎なレイアウトに対する初期設計の研究を行う必要な
しに相互接続リート線を接続することだけが必要である
からである。
また、リード線が部品間で直接接続されるので、半田付
の接合部の数も半分に減らされることも留意すべきであ
る。このように、複雑なハイブリッド回路を低コストで
実現することが極めて容易である。
第4図に示す如き方法の第2実施例において、絶縁ザブ
ストレートウェーハ4には、表面3の1つに均一間隔で
、直角方向の縦横に配置した複数の導電性パッド7が設
けられている。能動素子1及び受動素子2は、ウェーハ
の表面3に置かれ、全体の寸法を最小にし且つパッド7
間の電気接続の長さを減少させると共に、2つの隣接す
る部品の間に2列のパッド7を残すようになされている
この実施例において、2つの部品間の電気接続は、ウェ
ーハ4の表面3に配置され2つの部品の1つにそれぞれ
対応する2つのパッド間を絶縁したリード線5で半田上
1けすることによって形成される。
各部品と対応するパッドとの間の電気接続は、短いリー
ド線8によってなされる。このリード線は、部品及び導
電線の間の電気接続を達成するだめの先行技術で用いら
れてる従来のボンディング方法に従って半田付けされる
この第2の製造方法は、本発明の方法の第1実施例より
も次の点で利点を有している。すなわち、それは、これ
らのリード線が+tII脂中に永久的に埋込まれていな
い場合には、電気接続を変更するように、リード線5.
8の半田イ;]けをはずことが可能である点である。
サブストレートウェーハの横断面を示す第5図並びにウ
ェーハの2つの表面の各々を斜視図で示ず第6図及び第
71ン1には、本発明のハイブリット回路の製造方法の
第3実施例が示されている。
この絶縁性ザブストレートウェーハ4は、fil Vt
の金属化孔10を有している。これら金属化孔1()は
、ずれた関係にあると否かに関係なく、均一の間隔に配
置され、ウェーハを垂直にN通し且つ直角方向の縦横に
配置されている。各パッド10の両91;^:は、ウェ
ーハ4の2つの表面3及び9に配置した金属化接続パッ
ドで終っている。能動部品1及び受動部品2は、電気接
続の長さを最小にするためにウェーハ4の2つの表面の
1つにおかれているが、2つのyf接する部品間に2列
のパッド7を残すように置かれている。
この第3の実施例において1,2つの部品間の電気接続
は、ウェーハ4の他の表面に置かれ2つの部品の1つに
各々対応する2つのパット7−の間を絶縁リード線5で
半田例けすることによって形成される。各部品と対応す
るパッドとの間の電気接続は、従来のボンディング方法
に従って表面3上で半田付けした短いリード線8によっ
て達成される。
この第3実施例は、ザブストレートウェーハ4の1つの
表面9側に、すべての絶縁リード線5を接続できる利点
を有し、このた必、能動部品1及び受動部品2を位置決
めし且つ半田付けする前に、絶縁性及び接続の良好な連
続性を試験することができる。さらに、これらの部品の
1つを変更しなければならないとき、この変更は、絶縁
リード線5を邪魔する必要なしになすことができる。
以上のようにして構成されたハイブリッド回路を、気密
状態に密封されたケーシング内に納めることにより、パ
ッケージングすることができる。
このように上述したハイブリッド回路の製造方法は、極
めて複雑な回路を今までより短期間内で且つ低コストで
構成することが一〇きる。その結果、ハイブリッド回路
のモデルの設計及び構成において本方法によって与えら
れる大きな魅力は、例えばコンピュータでのシミュレー
ションの前に、容易に且つ高速度で回路を実際に作るこ
とができることである。この方法に従って製造したハイ
ブリット回路は、計算機、コンピュータ、電話等の如き
民生用装置ばかりでなく、軍事用装置、′時にレーダー
装置において用いられることができる。なお、レーダー
装置にあっては、これらの回路は、軍事基準で規定され
た温度、すなわち−55℃から。
+125℃の範囲内の温度変化に耐えることができ且つ
最小の寸法に小型化されねばならないものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の好ましい第1実施例に従って構成し
たハイブリッド回路の横断面1ン1である。 第2図は、第1図に示す本発明のハイブリット回路の正
面図である。 第3図は、第1図に示す本発明のハイブリッド回路の斜
視図である。 第4図は、本発明に従って構成したハイブリッド回路の
第2実施例の正面図である。 第5図は、本発明の第3実施例に従っ−ご構成したハイ
ブリッド回路の横断面図である。 第6図及び第7図は、本発明の第3実施例のハイフリッ
ト回路の2つの表面の各々を示す斜視図である。 〔主な参照番号〕 1 能動部品、 2 受動部品、 3 表面4 絶縁性
ザブストレートウェーハ、 5 リ−1・線、6 パット、 7 パッド、8 リード線。 特許出eA 人)ムソンーセーエスエフ代理人弁理士新
居正彦 FIG−6 手続補正書く方式) %式% 1、事件の表示 昭和59年特許願第112897号2
、発明の名称 ハイブリッド回路の製造方法3、補正を
する者 事件との関係 特許出願人 名 称 トムソンーセーエスエフ 4、代理人 6、補正の対象 図面

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)独立した及び/又は集積化された能動部品及び/
    又は受動部品からつくられるハイブリッド回路の製造方
    法にして、 前記部品間に達成すべき電気接続の長さを最小にするよ
    うに絶縁性ザブストレー1−ウェーハの1つの表面上に
    前記部品をボンディングすることから成る第1工程と、 前記界なった部品の端子パッド間を電気接続するように
    絶縁リード線を半田付けすることによって前記部品間に
    電気接続を達成するこよから成る第2工程と、 を含むことを特徴とするハイフリット回路の製造方法。 (2)前記リード線が絶縁性材料で被覆されている金線
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
    ハイブリッド回路の製造方法。 (3)前記接続パッドが前記部品自体の上に設けられて
    いることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のハ
    イブリッド回路の製造方法。 (4)前記接続パッドは、前記部品がボンディングされ
    る前記絶縁性ザフストレートウエーハの一方の表面上の
    各部品の各側に設けられていることを特徴とする特許請
    求の1・π間第1項に記載のハイフリット回路の製造方
    法。 (5)前記接続バットは、前記絶縁性ザブストレー)−
    ウェーハの全表面にわたって、直角方向にる縦横に、均
    一隔間に配置位されていることを特徴とする’IJl許
    請求の範囲第4項に記載のハイブリット回路の製造方法
    。 (6)前記部品を前記ウニ〜ハの1つの表面にボンディ
    ングする前記第1工程は、2つの隣接する部品間に縦2
    列又は横2列の接続パッドが残るようになされ、電気接
    続を前記部品間で達成する第2工程は、前記ウェーハ表
    面に配置され七つ2つの部品にそれぞれ対応する2つの
    パッド間を接続するように絶縁リード線を半田付けする
    第1操作と、部品と対応する接続パッドとの間を接続す
    るようにリード線を半田付けする第2操作とからなるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第5項に記載のハイブリ
    ット回路の製造方法。 (7)前記ザブストレートウェーハは、直角方向に縦横
    に均一の間隔で配置した複数の金属化孔を有し、各金属
    化孔が前記ウェーハの2つの表面上に配置した金属化接
    続パッドで終ることを特徴とする特許請求の範囲第2項
    に記載のハイブリット回路の製造方法。 (8)前記部品を前記ウェーハの1つの表面にボンデイ
    ンクする前記第1工程は、2つの隣接するF18品間に
    、金属化接続バットで終る縦2列または横2列の金属化
    孔が残るようになされ、電気接続を前記部品間に達成す
    る前記第2工程は、前記ウェーハ表面に配置され且つ2
    つの部品にそれぞれ対応する2つのパッド間を接続する
    ように絶縁リード線を半田付けする第1操作と、部品と
    対応する金属化孔との間を接続するようにリード線を半
    田付けする第2操作とからなるこ吉を特徴とする特許請
    求の範囲第7項に記載のハイブリット回路の製造方法。 (9)前記第1工程が前記ザブストレートウェーハの1
    つの表面上に前記部品を接着することがら成ることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項に記載の方法。 00 2つの接続パッド間の絶縁リード線によって達成
    される各電気接続は、前記リード線の両端を、対応する
    パッドに、マイクロ半田付けの方法にょって半田付けす
    ることによってなされることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項に記載のハイブリット回路の製造方法。 (11) 絶縁性樹脂の中に前記リート線を堅く固着す
    ることから成る第3工程をさらに含むことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項に記載のハイブリッド回路の製造
    方法。 (12) 気密状態に密封されたケーシング内に前記ハ
    イブリッド回路を納めることから成る第3工程を含むこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のハイブリ
    ッド回路の製造方法。
JP59112897A 1983-06-03 1984-06-01 ハイブリツド回路の製造方法 Pending JPS60105269A (ja)

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FR8304287 1983-06-03

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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2588696B1 (fr) * 1985-10-16 1988-10-07 Thomson Csf Circuit hybride et procede de fabrication d'un tel circuit
JP2516403B2 (ja) * 1988-06-01 1996-07-24 富士通株式会社 ウエハ・スケ―ル・メモリ
KR900702569A (ko) * 1988-06-01 1990-12-07 원본미기재 웨이퍼스케일 집적회로
EP0398628A3 (en) * 1989-05-15 1991-09-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device
JP2522837B2 (ja) * 1989-09-19 1996-08-07 富士通株式会社 ウエハ・スケ―ル半導体装置
WO1993023982A1 (en) * 1992-05-11 1993-11-25 Nchip, Inc. Stacked devices for multichip modules
WO1998026452A1 (en) * 1996-12-09 1998-06-18 Microbonds, Inc. High density integrated circuits and the method of packaging the same
US8125060B2 (en) 2006-12-08 2012-02-28 Infineon Technologies Ag Electronic component with layered frame
US20180098437A1 (en) * 2016-10-04 2018-04-05 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Wiring system
JP6646077B2 (ja) * 2018-01-10 2020-02-14 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置及び計測機器

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE639640A (ja) * 1962-05-25 1900-01-01
US3469148A (en) * 1967-11-08 1969-09-23 Gen Motors Corp Protectively covered hybrid microcircuits
US4241360A (en) * 1978-08-10 1980-12-23 Galileo Electro-Optics Corp. Series capacitor voltage multiplier circuit with top connected rectifiers
FR2484171A1 (fr) * 1980-06-04 1981-12-11 Commissariat Energie Atomique Amplificateur lineaire hybride ultra-rapide

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