JPS60105058A - 情報処理装置 - Google Patents

情報処理装置

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Publication number
JPS60105058A
JPS60105058A JP58212784A JP21278483A JPS60105058A JP S60105058 A JPS60105058 A JP S60105058A JP 58212784 A JP58212784 A JP 58212784A JP 21278483 A JP21278483 A JP 21278483A JP S60105058 A JPS60105058 A JP S60105058A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
counter
overflow
memory
trace memory
trace
Prior art date
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Granted
Application number
JP58212784A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6411977B2 (ja
Inventor
Kozo Yamano
山野 孝三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP58212784A priority Critical patent/JPS60105058A/ja
Publication of JPS60105058A publication Critical patent/JPS60105058A/ja
Publication of JPS6411977B2 publication Critical patent/JPS6411977B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/34Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は情報処理装を色に関し、特にハードウェア特性
およびソフトウェア特性の性能測定方式の改良に関する
(従来技術) 従来、ハードウェア特性およびソフトウェア特性の性能
測定機能を内蔵する情報処理装置においては、測定すべ
き項目数に応じたカウンタを必要ガ精度分のビット幅で
有する方式がとられていた。
しかし、測定精度を保持するためには、1個のカウンタ
に多大々ビット幅が必要である。例えば、平均命令実行
時間が20nsの場合には、あるプログラムの1分間に
実行した命令数を測定しようとすると1秒当だシ5千万
命令が実行されるので、1分間では30億命令を実行し
うる。これを測定可能とするためには32ビツトのカウ
ンタが必要であり、情報処理装置の性能が高くなるにつ
れて、この金物量の増加が著しく大きくなるという問題
点があった。
(発明の目的) 本発明の目的は、性能測定時には情報処理装置の動作を
トレースするだめの機能を有する内蔵ノ1−ドウエアト
レーサをトレース機能としてではなく、カウンタ機能と
して利用することによシ上記問題点を解決し、性能測定
用カウンタのビット幅の増加を軽減した情報処理装置を
提供することにある。
(発明の構成) 本発明による情報処理装置はカウント手段と。
格納手段と、読出し手段とを具備して構成したものであ
る。
カウント手段はそれぞれ被測定信号の被測定信号源に選
択的に接続されていて、被測定信号を白側することがで
き、トレースメモリを内蔵し、オーバフロー検出回路付
きのものである。
格納手段は、上記カウンタのいずれかにょレオ−バフロ
ーを検出すると、カウンタのすべてのオーバフロー検出
ピントをセントするため、トレースメモリの指定された
位置へ格納するためのものである。
読出し手段は、計測の結果の収集のためのカウンタ自身
の内容、および内蔵したトレースメモリの内容を読出す
だめのものである。
(実施例) 次に、本発明について図面を参照して詳細に説明する。
第1図は、本発明による情報処理装置の一実施例を示す
。第1図において、1は性能測定制御部、2は被測定信
号源、6は測定モードレジスタ、4は被測定信号レジス
タ、5,8.1+はそれぞれ第1〜第3の選択回路、6
はカウンタ群、7はオーバフロー検出回路、9けトレー
スメモリ書込みフリップフロップ、1oはオーバフロー
レジスタ、11j:)レース信号源、12けトレーステ
ータレジスタ、14はアドレスカウンタ、15はトレー
スメモリ、16はトレースメモリ最終ワード格納検出回
路、17は測定データ収集制御′II′11部である。
第1図において、性能測定制御部1がら指定された測定
i制御情報がモードレジスタ乙に保持され、保持された
測定制御情報は被測定信号レジスタ4を選択すると共に
、トレースメモリ15を性能測定用メモリとして使用す
るように宣言するものである。被測定信号源2からの被
測定信号は、一時的に被測定信号レジスタ4に保持され
、それぞれ測定項目群ごとに分類され、信号線1os。
106.107から第1の選択回路5に入力される。第
1の選択回路5ではモードレジスタ6からの信号線10
1によシ示された被測定信号選択モード信号により、信
号線105,106.107のいずれか一つを選択し、
係号線108上に被測定Q号群と1対1に対応づけて入
力させる。情報処理装置のマシンクロックをサンプリン
グタイミングとして被測定信号がON状態にある回数を
カウントし、カウンタ群6の内容を更新する。オーバフ
ロー検出回路7はカウンタ群6に接続され、次に被測定
信号がONになった時にカウンタがオーバフローする状
態、すなわち、一般にはカウンタの内容の全ピントの論
理値が1である状態を検出する。オーバフロー検出回路
7は上記カウンタ群6のそれぞれのカウンタに対して十
n成され、その出力は信号線110から送出されてオー
バフローレジスター0に保持される。いずれかのカウン
タにおけるオーバフロー条件をオーバフロー検出回路7
が検出すると、トレースメモリー5へのオーバフローデ
ータの書込みを指示するため、トレースメモリ1−込み
フリップフロップ9がセントされる。トレースメモリ書
込みフリップフロップ9がセットされるタイミングと同
一のタイミングにおいて、カウンタ群6のオーバフロー
検出情報がオーバフロー検出回路7からオーバフローレ
ジスタ10に対して送出され、オーバフローレジスタ1
0にセットされている。したがって、第3の選択回路1
6はオーバフローレジスタ10のf−1か、あるいはト
レース信号源11を保持するだめのトレースデータレジ
スタ12のデータかをモードレジスタ3から信号線10
3を介して送出される性能測定選択モード信号(てより
選択する。その出力は、アドレスカウンタ14により指
定される番地のトレースメモリ15へ格納し、アドレス
カウンタ14のアドレスを信号線112からの指示によ
り更新する。
アドレスカウンタ14の内容はカウンタ群6でオーバフ
ローが検出されるたびに更新され、トレースメモリ15
の全ワードへの格納が終了すると、トレースメモリ最終
ワード格納検出回路16により上記格納の終了が検出さ
れる、そこで、信号線115からカウンタ群6へ上記検
出が報告され、カウンタの更新が抑止される。さらに、
上記カウンタの更新によシ測定データ収集制御部17へ
測定データ収集の指示が行われる。測定データ収集制御
′s17では上記指示を受取ると信号線102を介して
選択信号を第2の選択回路8に送出する。
そこで、カウンタ群6からのカウンタ出力線109に接
続された第2の選択回路8によって収集すべきカウンタ
が選択される。これによって、第2の選択回路8ではカ
ウンタ値を信号線114がら絖出す。これとともに、信
号線104によりアドレスカウンタ14を初期設定しく
一般にアドレスOXアドレスカウンタ14の内容を更新
しながらトレースメモリ15の全ワードを信号線116
から読出す。トレースメモリ15から読出された全ワー
ドに対するオーバフロービットの和は、対応するカウン
タのオーバフロー回数であり、測定結果は次のようにし
てめることができる。例えば、カウンタが4ビツトで構
成され、トレースメモリ15が256ワードで構成され
ている場合には、このカウンタのオーバフローは最大2
56回まで上記トレースメモリ15に格納することが可
能である。したがって、このときの測定結果は〔256
×2 〕十 カウンタ値により算出できる。このとき、
カウンタには、みかけ上12ビットが存在することにな
る。
(発明の効果) 本発明は以上説明したように、カウンタ群のビット幅を
増加させず、内蔵トレースメモリをカウンタの代わりに
利用することにより、金物%−を増加させることなしに
カウンタの精度を向上させることができるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による情報処理装置の一部分の実施例
を示すブロック図である。 1・・・性能測定制御部 2.110・・信号源 3.4,10,12・11eレジスタ 5.8.13−11−選択回路 6・Il+1カウンタ群 7・・・オーバフロー検出回路 9・・φフリップフロップ 14・拳・アドレスカウンタ 15・・・トレースメモリ 16・・・トレースメモリ最終ワード格納検出回路 17・・・測定データ収集制御部 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ 壽

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定信号の被測定信号源に選択的に接続されていて前
    記被測定信号を計測することができ、トレースメモリを
    内蔵したオーバフロー検出回路付きのカウント手段と、
    前記カウンタのいずれかによジオ−バフローを検出する
    と前記カウンタのすべてのオーバフロー検出ビットをセ
    ットするため前記トレースメモリの指定された位置へ格
    納するための格納手段と、前記計測の結果の収集のため
    の前記カウンタ自身および前記内蔵したトレースメモリ
    の内容を読出すだめの読出し手段とを具備して構成した
    ことを特徴とする情報処理装置。
JP58212784A 1983-11-11 1983-11-11 情報処理装置 Granted JPS60105058A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58212784A JPS60105058A (ja) 1983-11-11 1983-11-11 情報処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58212784A JPS60105058A (ja) 1983-11-11 1983-11-11 情報処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60105058A true JPS60105058A (ja) 1985-06-10
JPS6411977B2 JPS6411977B2 (ja) 1989-02-28

Family

ID=16628325

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58212784A Granted JPS60105058A (ja) 1983-11-11 1983-11-11 情報処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60105058A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6390738A (ja) * 1986-10-03 1988-04-21 Fuji Heavy Ind Ltd 電子制御装置
JPH0553855A (ja) * 1991-08-23 1993-03-05 Nec Corp コンピユータシステムの性能測定回路

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5329774A (en) * 1976-09-01 1978-03-20 Hitachi Ltd Recording method for occurrence of phenomenon

Patent Citations (1)

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JPH0553855A (ja) * 1991-08-23 1993-03-05 Nec Corp コンピユータシステムの性能測定回路

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JPS6411977B2 (ja) 1989-02-28

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