JPS6010267B2 - しや断器の短絡試験方法 - Google Patents

しや断器の短絡試験方法

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JPS6010267B2
JPS6010267B2 JP49132849A JP13284974A JPS6010267B2 JP S6010267 B2 JPS6010267 B2 JP S6010267B2 JP 49132849 A JP49132849 A JP 49132849A JP 13284974 A JP13284974 A JP 13284974A JP S6010267 B2 JPS6010267 B2 JP S6010267B2
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JP
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淳 吉永
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Mitsubishi Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は短絡事故時に直流分が重畳された交流電流が流
れるような電力系統に設けられるしや断器を試験するた
めの短絡試験方法に関するものである。
大容量発電機に於ては、過大な直流分を含んだ短絡事故
を発生した場合、直流分の時定数が、交流減衰に対して
大きく、短絡事故後数十サイクル後で電流零点が出現す
ることがある。
この様な回路に使用される電力機器に関しては、この直
流分を模擬した回路による試験が必要になってくる。一
般に、試験場に於ける発電機による短絡試験では、この
様な過大で、しかも時定数の大きい直流分を発生させる
のが困難である。この発明は、上記の点に対処して成さ
れたもので商用周波回路での直流分を含んだ交流電流に
別回路から低周波電流を重畳することにより、上記直流
分の影響を考慮した試験を可能にするしや断器の短絡試
験回路を提供することを目的としている。
第1図に示すこの発明の一実施例について説明する。
図において、1は商用周波発生装置、2は商用周波回路
の保護しや断器、3は投入用開閉器、4は供試しや断器
であり、これらを順次接続した回路が、従釆の商用周波
短絡回路であり、この回路で決まる短絡電流、直流分時
定数及び回復0電圧を供試しや断器4に与える。一方5
は低周波発生装置であり、6,7はそれぞれ、低周波回
路の保護しや断器および投入用開閉器である。
8は補助しや断器で、これらと供試しや断器4で構成す
る閉回路で低周波短絡を行夕う。
補助しや断器8は、供試しや断器4とほぼ同期したしや
断器を用い、供試しや断器4のしや断完了時に、上記商
用周波回路と、低周波回路を切りはなし、供試しや断器
に適切な回復電圧を与えるものである。0 第2図は試
験時の電流波形を示す。
時間T,では保護しや断器2、供試しや断器4、保護し
や断器6、補助しや断器8が閉成された状態で投入開閉
器7を投入することにより、低周波回路に電流9が流れ
る。この後低周波電流が下降線をたどり夕はじめる時間
Lで投入用開閉器3を投入することにより、供試しや断
器4には重畳電流10が流れる。その後適当な時間丸で
供試しや断器4および補助しや断器8を関極せしめ、T
4にて露流しや断を完了する。この場合供試しや断器4
には商用周波回路で決まる電流1川こ、低周波電流9が
直流分として加えられた露流しや断の責務が課せられる
。すなわち供試しや断器4は、実際の使用時において、
大容量の発電機を有する電力系統で過大な直流分を含ん
だ短絡事故が発生した場合と同等の条件で試験されるこ
とになり、実際の使用条件に即した信頼性の高い試験結
果が得られる。低周波電流9の電流波形は、周波数、電
圧、投入開閉器7の投入位相、或は回路定数等を変化す
ることにより、電流値又は下降の傾斜を制御できるもの
であり、これによって供試しや断器4に流れるDC分を
変化させる。尚、上記実施例においては投入用開閉器3
の投入時期を第2図に示す如く低周波電流の正極波が下
降線をたどりはじめる時庵耳r2としたが、低周波電流
の負極波が上昇線をたどりはじめる時間でも良いことは
言うまでもない。
即ち「低周波電流のピーク時以降であれば上記実施例と
同様な効果を奏する。以上は一実施例であるが、上記商
用周波回路及び低周波回路の電流としては、発電機を用
いる代りにLC振動回路を用いることも可能である。
以上のようにこの発明のしや断器の短絡試験方法は直流
分が重畳した交流電流を容易に導出し得るという効果を
奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の基本構成を示す電気回路図であり第2
図は、短絡時の電流波形を示している。 図において、1は商用周波発生装置〜 5は低周波発生
装置、4は供試しや断器、9は低周波電流「 10は重
畳電流である。第1図第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 供試しや断器の両端間に第1の投入用開閉器を介し
    て接続され上記供試しや断器に低周波電流を供給する低
    周波発生装置と、上記供試しや断器の両端間に第2の投
    入開閉器を介して接続され上記供試しや断器に商用周波
    電流を供給する商用周波発生装置を備え、上記第1の投
    入用開閉器を投入後、上記低周波電流のピーク時以降で
    上記第2の投入用開閉器を投入することを特徴としたし
    や断器の短絡試験方法。
JP49132849A 1974-11-18 1974-11-18 しや断器の短絡試験方法 Expired JPS6010267B2 (ja)

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JPS5158606A JPS5158606A (ja) 1976-05-22
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JP5175521B2 (ja) * 2007-11-08 2013-04-03 株式会社東芝 避雷器放圧試験装置および避雷器放圧試験方法

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JPS5158606A (ja) 1976-05-22

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