JPS5850481A - 開閉機器の投入合成試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、開閉機器の投入容量の性能検証を行う開閉
機器の投入合成試験装置に閃するものである。

第１図は開閉機器の投入合成試験回路の一例で、（１）
は短絡発電機、（２）は短絡電流をＷｌける限流リアク
トル、（８）は短終発電機（１）を保睨する保護しゃ断
器、（４）は投入スイッチ、（５）は短終発電機（１）
の出力を昇圧して使用するタップ付の短絡変圧器で、電
圧ＶＨを発生する高圧巻線（６ａ）と（圧ＶＬを発生す
る低圧巻線とを有する。（６）はトリ力もの放もギャツ
ブ、（７）は通１ｔ［流ＩＬによる放電ギャップ（６）
の消耗を軽減するためのバイパス用投入器、（８）は通
電電流ＩＬをしゃ断するしゃ断器、（９）は開閉機器か
らなる供試器、αＱは電流Ｉｎを検出する変流器等の電
流検出器、（ロ）は高圧回路の電流ＩＨを制限し、短絡
変圧器（５）の端子電圧降下を防止する高インピーダン
ス素子、＠は放電ギャップ（６）のトリガ回路を分離し
、電流検出器（１０で検出するｍ流ＩＨの信号で動作可
能な補助ギャップ、　（＋１はりアクドル、０４はコン
デンサ、ＯＱは充電用抵抗、（至）は整流器、αηは交
流電源である。

回路構成は、上記機器（１）　〜（４）、（５ａ）、（
ＩＩ　、　Ｑｌ）　テ電圧源回路が構成され、（１）〜
（４）　、（ｂｂ）ｅ　（６）〜（８）で電流源回路が
構成され、ＣＬす〜αηで放Ｉ：ギャップ（６）のトリ
ガ回路が構成されている。また、を圧動回路の電圧及び
電流を各々ＶＨ＋　ＩＨで、電流源回路の電圧及び電流
を各々ＶＬ＊ＩＬで示している。

上記のように構成された回路において、保護しゃ断器（
３）及びしゃ断器（８）を閉略し、バイパス用投入器（
７）及び供試器（９）を開路の状態にしておき、交コン
デンサα→を充電した後、投入スイッチ（４）を閉路す
ると、供試器（９）には電圧龜回路の電圧ＶＨが高イン
ピーダンス素子αυを介して印加される。

然る後、供試器（０）に閉路信号を送り、供試器（９）
が閉路動作を開始すると、その極間船舶は除々優こ短か
くなり、電圧源回路電圧Ｖａとの相対関係により、ある
時点で供試器（９）の極間で先ねアークを生じ、電圧源
回路から高インピーダンス素子Ｑυを介した電流Ｉ■が
供試器（９）に流れ始める。この電流Ｉｎを電流検出器
（１１にて検出して補助ギヤツブ曹のトリガ回路に信号
を与え、補助ギャップ曹を橋絡させ、コンデンサαゆに
蓄えられたエネルギーをリアクトル０１を介して放電ギ
ャップ（６）のトリガエネルギーとして供給する仁とに
より、放電ギャップ（６）を橋絡させ、しゃ断器（８）
を介して％を流源回路よりｍ流ＩＬを供試器（９）に供
給する。電かｃｌＬの通ｖＩＩＬｆこよる放電ギャップ
（６）の消耗を軽減させるため、バイパス用投入器（７
）を電流ＩＬ通電開始振なるべく早い時間で閉路する。

供試器（９）が完全投入した後、数サイクル電流ＩＬを
通電し、しゃ断器（８）で電流ＩＬをしゃ断する。

以上述べた方法により、規定の％１．ａ：は眠圧縮回路
の電圧ＶＨから、規定の電流は電流源回路の電流ＩＬに
より供給して供試Ｂυ（９）の投入容量の検証を行って
いる。

なお、上記説明において、電圧温回路の電流ＩＨが流れ
始めてから、放電ギャップ（６）が橋絡し、電流源回路
の電流ＩＬが流れ始めるまでの時間は数百μＳ以下でな
ければならない。

したがって、放電ギャップ（６）の特性として、亀電圧
以上の電圧に対する絶縁耐力を有し、供試器（８）が先
行アークを生じた時の電流源回路電圧ＶＬの値で遅れ時
間が少なく橋絡可能な動作範囲の広いものでなければな
らない。

これについては、放ｍギャップ（６）のトリ力が注入エ
ネルギーを増加させることが効果的であり。

従来の方法ではコンデンサＱ４）、！Ｊアクドル斡の定
数を変えたり、コンデンサａ→の充１ｋｌｋａを良える
方法が採られていた。

この発明は、試験回路の出力を使用して、コンデンサの
充電を自動的に充電するとともＩこ、コンデンサに蓄え
られるエネルギーを試験％Ｉ、比に応じて自動的に増減
することによって、　１ＩＩｊ閏機器の投入合成試験を
筒便かつ効率良〈実施することができる開閉機器の合成
試験装置を提供する。

以下、図について説明する。第２因において。

（１）〜α帖よ従来の投入合成試験回路と同じ機能を持
ツモのであるが、コンデンサα→の一端を低比巻線（５
ｂ）のタップに接続し、整流器に）の一端を高圧巻線（
５ａ）のタップに接続し、コンデンサα→の充電用電源
として試験回路の一部を使用している。（至）は高圧し
ゃ断器である。

回路構成は、上記機器Ｄ）　〜（４）　ｅ　（５ａ）、
　Ｑｌ　、　０１　ｍ（至）で電圧源回路が構成され％
（１）〜（４）　、　（５ｂ）ｌ　（６）〜（８）で電
流源回路が構成され、（Ｓ＞ａ（ロ）〜ＣＯで放電ギャ
ップ（６）のトリガ回路が構成されている。

又、電圧源回路の電圧及び電流を各々Ｖｕ　ｅ　Ｉｌｉ
で、電流源回路の電圧及び電流を各々Ｖｘ、ｅ　ＩＬＣ
”示している。上記のように構成されたものにおいて、
保護しゃ断器（３）及びしゃ断器（８）を閉路し、バイ
パス用投入器（７）、高圧しゃ断器に）及び供試器（９
）を回路の状態にしておき、投入スイッチ（４）を開路
すると。

第１の巻線（６ａ）に電圧ＶＨ（電圧源回路電圧）、第
２の巻線（５ｂ）に電圧ＶＬ（ｊＥ電流源回路電圧が各
々発生し、コンデンサ（ロ）はＶＨ−古ＱＩａ圧Ｖｃに
より、整流器（１，充電用抵抗（至）を介して直流充電
される。

然る後、高圧しゃ断器（至）を閉略すると、供試器（９
）には電圧源回路電圧ＶＨが高インピーダンス素子０す
を介して、印加される。供試器（９）に閉路信号を送り
、供試器（９）が閉路動作を開始すると、その極間距離
は除々に短かくなり、電圧源回路電圧Ｖｕとの相対関係
により、ある時点で供試器（９）の極間で先行アークを
生じ、電圧源回路から＾インビータンス素子Ｑｌ）を介
した電ｍＩａが供試器（９）に流れ始める。この電流１
ｎｔ−［流検出器（１０で検出して補助ギャップ（２）
のトリガ回路に信号を与え、補助ギャップ＠を橋絡させ
、コンデンサαゆに鬼えられたエネルギーをリアクトル
（至）を介して放電ギャップ（６）のトリガエネルギー
として供給することにより、放電ギャップ（６）を橋絡
させ、しゃ断器（８）を介して電流源回路より電流ＩＬ
を供試器（９）に供給する。電流ＩＬの通電による放電
ギャップ（６）の消耗を軽減させるため、バイパス用投
入器（７）を［＆ＩＬの通電開始後なるべく早い時間で
閉路する。供試器（９）が完全投入した後、数サイクル
電流ＩＬを通電し、しゃ断器（８）で電流■Ｌをしゃ断
する。

以上述べた方法により、規定の電圧は」圧源回路の電圧
Ｖ−λら、規定の電流は電流、細面〔路の電流、ＩＬに
よｈ％供給して供試器（９）の投入容量の検証が行われ
る。

なお、上記説明において、コンデンサα荀は（１）式の
電圧Ｖｃまで Ｖｃ＝ｖ′ｒ（Ｖｎ　　ＶＬ　）　　”・・・・・・・
（１）直流充電されるため、コンデンサ０４１に蓄えら
れるエネルギー（Ｅｎ　）は、コンデンサα（の容量を
Ｃとすると、（２）式 ％式％（２） のようになり、電流源回路電圧Ｖｎと亀１圧源回路翫圧
（供試器の試験電圧）　ＶＨにより１創的にコンデンサ
α◆に蓄えられるエネルギーを増減することができる。

したがって、供試器（９）の電圧１流が変化しても、コ
ンデンサαφ、リアクトルに）の値を変えることなく、
コンデンサＱ４に蓄えられるエネルギーは自動的に調整
され、供試器（９）の先行アークにより電圧源回路の電
流が流れ始めてから、放電ギャップ（６）が橋絡し、電
流源回路の電流ＩＬが流れ始めるまでの時間を数百μｓ
以下に制御できる。

又、開閉１器の高電圧大容量化に伴ない、電圧源回路電
圧−と電流源回路電圧ＶＬとの比率が大きくなるが、（
２）式に示す通りコンデンサα→に蓄えられるエネルギ
ーも自動的に大きく増加するため、本発明の試験回路の
効果がより有効となる。

第８図は、放電ギャップ（６）のトリガ回路のＩＣＥ源
として、短絡変圧器（５）の電圧源回路の高圧タップと
電流源回路の低圧タップ間の中間の電圧タップと、電流
源回路の低圧タップ間の電圧を使用し、さらにコンデン
サａ→と直列にコンデンサＱ時を接続し％電源でコンデ
ンサ６４）　、　Ｑｌに蓄えられるエネルギーの一部を
放電ギャップのトリガとして使用し′ｒ：、場合の実施
例を示したものであり、妃２図の構成で得られた効果と
同様の効果が得られる。

上記実施例において、コンデンサ斡は高圧巻線（６ａ）
の中間タップによる電圧で充電されるものについて説明
したが、高圧巻線（５ａ）の全翫圧で充電しても同様の
効果がある。

又、第４図は、電流源回路に低圧変圧器翰、電圧源回路
に高圧変圧器（２）の２台の変圧器を用いて構成した場
合の一実施例であり、泥２．第８図の構成で得られた効
果と同様の効果が得られる。

この発明によると、試験回路の出力を使用してトリガー
用コンデンサの充螺賦圧を試１Ｉｌｌｌｋ圧に応じて自
動的に増減できる回路構成とすることによって、開閉機
器の投入合成試験を簡便で効率よ〈実施できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の投入合成試験装置の侮＠Ｎ、妃２図はこ
の発明の一実施例を示す構成図、第８−及び第４図はそ
れぞれ他の実施例を示す桐戚因である。 図Ｅこおいて、（１）・・・短絡発電機、（５戸・・短
絡変圧器、（６）・・・第１の放電ギャップ、（９）・
・・供試器（開閉機器）。 ＯＱ・・・電流検出器、α９・・・高インピーダンス累
子、＠・・・第２の放電ギャップ、αΦ・・・コンデン
サ、Ｃｌ１１９・・・充電用抵抗、０時・・・整流器で
ある。 なお各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人　葛野信− Ｉｌｌｌ） 第１図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）大容量の出力が得られる交流電源によって出力が
   供給される短絡変圧器の第１の巻線から高インピーダン
   ス素子及び電流検出器を介して供試器に高電圧を印加し
   、トリガ＝されて放電する第１の放電ギャップを介して
   上記短絡変圧器の第２の巻線から上記供試器に大電流を
   供給し、上記電流検出器の出力でトリガーされる第２の
   放電ギャップを介して直流充電されたコンデンサのエネ
   ルギーによって上記第１の放電ギャップをトリガーする
   ようにしたものにおいて、上記コンデンサは整流された
   上記第１の巻線の電圧によって充電されることを特徴と
   する開閉機器の投入合成試験装置。
2. （２）コンデンサは複数個で構成され所定の個数のエネ
   ルギーを第１の放電ギャップのトリカーに使用すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の開閉機器の投
   入合成試験装置。
3. （３）高インピーダンス素子は第１の巻線との接離が可
   能であることを特徴とする特許請求の範囲第１項または
   第２項記載の開閉機器の投入合成試験装置。
4. （４）短絡変圧器は第１の巻線を有する第１の変圧器と
   第２の巻線を有する第２の変圧器とで構成されているこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし第８項のい
   ずれかに記載の開動機器の投入合成試験装置。