JPS60102509A - 被測定物の位置検出装置 - Google Patents

被測定物の位置検出装置

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JPS60102509A
JPS60102509A JP21021083A JP21021083A JPS60102509A JP S60102509 A JPS60102509 A JP S60102509A JP 21021083 A JP21021083 A JP 21021083A JP 21021083 A JP21021083 A JP 21021083A JP S60102509 A JPS60102509 A JP S60102509A
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hole
manipulator
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大槻 寿則
Teruo Maruyama
照雄 丸山
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B17/00Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S15/00Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
    • G01S15/02Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems using reflection of acoustic waves
    • G01S15/06Systems determining the position data of a target

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  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は超音波を利用した被測定物の形状検出装置に関
する。
従来例の構成とその問題点 従来の被測定物の形状検出装置としては超音波送受波素
子を被測定物に対して回転走査して得られた反射信号強
度から、被測定物の位置と姿勢を検出するものがある。
以下その内容の概略を説明する。
第1図は従来の装置の概略の構成を示すシステム図であ
る。第2図は従来の装置を用いた形状検出を示す斜視図
である。第1図において超音波送受波素子1に第3図に
示す高電圧パルス17を印加すると空気中に所定の周波
数の超音波パルスが発射される。この超音波パルスが第
2図の対象物体13で反射され、対象物体13の各辺1
4,15゜16からの反射信号が超音波送受波素子1に
到達し、受波信号増巾器3で増幅された後、アナログ−
デジタル変換されてメモ1115に記憶される。
第3図は、メモリ16に記憶された超音波送受波素子1
の動作波形を示すもので、37 、38 。
39はそれぞれ対象物体13の各辺14,15゜16か
らの反射信号を示す。メモリ16に記憶された反射信号
は小型電子計算機6に一転送され、第3図に示した反射
信号37.38.39の伝播時間40,41.42及び
反射信号強度43 、44 。
46を検出している。
また第2図において超音波送受素子1は、小型電子割算
機6からの制御信号によりパルスモータドライバ11と
パルスモータ1oを介して矢印ム、B方向に回転走査す
る構成となっており、超音波送受波素子1を所定の角度
でステップしながら前述の被測定物間で反射信号の伝播
時間及び強度の検出を行なっている。第4図は、超音波
送受波素子1を回転走査させた時の被測定物13がらの
反射信号強度を横軸に超音波送受波素子の回転角、縦軸
に反射信号強度をとってプロットしたものである。46
,47.48はそれぞれ被測定物13の各辺14..1
5.16からの反射信号を整理したものであり、それぞ
れの反射信号強度が最大となるときの超音波送受波素子
1の回転走査角度から被測定物13の各辺14,15.
16の方向を検出している。また前述の反射信号の伝播
時間から被測定物の各辺までの距離が得られるので被測
定物13の各辺13,14.15の座標をめることがで
き、被測定物13の位置と姿勢を検出することができる
しかしながら、従来の位置姿勢検出装置を穴・溝の形状
検出に適用した場合、大径穴あるいは大巾溝ではその形
状検出が可能であるが、小径穴あるいは小+13溝では
、穴・溝の各辺からの反射信号が重畳され、超音波送受
波素子の減衰性を大幅に向上しないと形状検出ができな
いという問題点があった。
本発明者らは上記従来の問題点を解決するためにすでに
被測定物の形状検出装置を提案している。
第6図はすでに本発明者らによって提案した被測定物の
形状検出装置のシステム図である。また第6図は、本形
状検出装置を穴82の位置検出に適用した場合の斜視図
である。第7図は同平面図である。第7図において超音
波送受波素子73は対象物体81に対してe 傾斜して
対向する形でマニピュレータ72に取付けられX軸方向
に平行移動する。第6図において83は超音波送受素子
73から送波される゛超音波ビームの中心位置を示して
おり、超音波送受波素子73は走査開始位置84から走
査終了位置86の間を一定距離間隔で送受波しながら移
動する。第8図は超音波送受波素子7s’6x軸方向に
平行走査したときの対象物体81からの反射信号強度を
、横軸に超音波送受波素子73の平行走査量、縦軸に反
射信号強度をとってプロットしたものである。ここで反
射信号強度が極小値をとる時の超音波送受波素子73の
平行走査m k検出し、超音波送受波素子73の走査開
始位置84の座標に前記平行走査量を加えることにより
X軸上における穴82の中心位置を検出することができ
る。またY軸上における穴82の中心位置も同様に検出
できる。
一方上記の構成の形状検出装置を用いて穴82の位置検
出を行なう場合には穴82の位置検出精度は検出感度S
によって決まるため、検出の高感度化ヲ割ることにより
、高位置検出精度化の実現が望まれている。
発明の[]的 本発明者らは超音波送受波素子を用いた被測定物の形状
検出装置の高検出感度化について鋭意検討し前記超音波
送受波素子と前記被測定物の中心軸との傾斜角の適正値
を見出すことにより上記問題をすべて解決できることを
見出し本発明に列った。
すなわち本発明は、上述の欠点をなくし、簡易な構成で
、被測定物の高精度な位置検出が出来る装置を提供する
ことを目的とする。
発明の構成 本発明は超音波送受波素子を用いて被測定物に超音波を
送受波する手段と、前記被測定物と前記超音波送受素子
の相対位置関係を変化する手段と、前記被測定物からの
反射信号強度を信号処理して前記被測定物の形状を検出
する信号処理手段からなる被測定物の位置検出装置にお
いて、前記超音波送受波素子が送受波する超音波の波長
をλ、前記超音波送受波素子の直径をD1θ= s i
v* 1.22λ/D(rad)としたとき、前記超音
波送受波素子を前記被測定物の中心軸に対して前記θと
ほぼ等しく傾斜して構成してなり、被測定物の位置検出
を高精度で行なう装置を得るものである。
実施例の説明 以下本発明の第1の実施例について図面を参照しながら
説明する。
本発明の第1実施例における穴の位置検出装置の概略の
システム図は前述の第6図と同様でありその構成につい
て説明する。
第6図において72は被測定物と超音波送受波噂素子(
以下超音波トランスデユーサという)の相対位置関係を
変化させる手段(以下マニピュレータという)であり、
データ処理制御装置70からの制御信号によりマニピュ
レータ制御装置71を介して動作を制御している。また
マニピュレータ72上には、送受波兼用の超音波トラン
スデユーサ73が設置されている。
超音波トランスデユーサ73は、発振器80Vcより所
定の周波数の超音波を対象物体に向けて送波し、1だそ
の反射信号を受波している。超音波トランスデユーサ7
3が出力する受渡信号は受波信号増幅器74を経て、ア
ナログ−デジタル変換器76(以下A/D変換器という
。)によってデジタル値に変換され、メモリ76Vc記
憶される。
さらにデータ処理制御装置了0が設けられるが、このデ
ータ処理制御装置70はインタフェイスコントロールユ
ニット77(以下ICUという。)フロッピディスクド
ライブ装置7B(以下FDDという。)および小′型電
子計算機79(以下CPUという。)から構成される。
I 0U77はFDD78およびcpuyeに接続され
るとともに、前述の発振器80とメモリ76に接続され
る。FDD7Bは本位置検出装置を用いて位置検出を行
なうためのプログラム或は諸条件全入力する。このデー
タ処理制御装置70においては、発振器80を動作させ
るための制御信号の出力、マニピュレータT2の動作を
制御するマニピュレータ制御装置71への制御信号の出
力を行なうとともにメモリ76から転送された人力デー
タの前処理を行ない、FDD78から予め入カスドアさ
れたプログラムに従ってCPU79で反射信号強度の検
出、対象物体の穴の位置の演算処理、マニピュレータ7
2の移動量の演算処理を行なう。
次に上記のように構成した位置検出装置の動作を説明す
る。なお本実施例では、第6図及び第7図に示す超音波
トランスデユーサ73の直径が36118、駆動周波数
がesexiiz(波長λ=5.14朋)、対象物体8
1と超音波トランスデユーサ73の距離が100111
M、対象物体81の穴82の直径が5顛で、超音波トラ
ンスデユーサ73の送受波面は対象物体81に対して所
定の角度O(本実施例では1oO)傾斜して配置されて
おり、0.1鰭のステップでX軸方向へ、対象物体81
と一定の距離金保って平行走査した場合について説明す
る。
位置検出はFIID7Bから予め入カスドアされた第9
図のフローチャートに示す位置検出プログラムの手順に
従って行なわれる。第9図のフローチャートにおいて、
まずステップ1でデータ処理制御装置70からの制御信
号によりマニビュレーク告11額I誌若71を今1イマ
ニ?°−1ノー47リル販動して超音・波トランスデユ
ーサ73をセンシング開始位置84に移動する。第6図
において83は超音波トランスデユーサ73から送波さ
れる超音波ビームの中心位置を示す。また84はセンシ
ング開始時の、また86はセンシング完了時の、超音波
ビームの中心位置と対象物体81の交点を示し、X軸方
向のセ/ンングは、この区間内で行なわれる。なお本実
施例ではセンシング区間は40Mである。
次にステップ2でデータ処理制御装置7oからの制御信
号により発振器ao6動作させ超音波トランスデユーサ
73で所定の周波数の超音波を被測定物811C向けて
送波すると同時に、A/D変換器76、メモリ76を動
作させて、対象物体81からの反射信号をメモリ76に
記憶する。第10図にはメモリ76に記憶された反射信
号を示す。90は対象物体81からの反射信号を示す。
次にステップ3でメモ1176 K記憶された反射信号
f I OU 77を介してCPLT79に転送する。
C1PU79でq F D D 78から予め入カスド
ア大れでいるプログラムに従って対象物体81からの反
射信号90の反射信号強度p、1検出する。
次にステップ4ではマニピュレータ72’iX軸方向へ
o、iim移動して上記ステップ2.ステップ3を繰返
して所定のセンシング回数(本実施例では400回)を
完了すればステップ6へ進む。
ステップ6では、上記ステップ2.ステップ3で得られ
た検出対象穴82’jz含む対象物体81からの反射信
号強度をもとにして検出対象穴82の中心位置を検出す
る。第11図は直径が36朋。
駆動周波数がe6KHz (波長λ−6,14M)の超
音波トランスデユーサ73を対象物体に対して0=1o
C11:li斜してX軸方向に平行走査したときの対象
物体81からの反射信号強度を、横軸に超音波トランス
デユーサ73の平行走査量、縦軸に反射信号強度をとっ
て10点おきにプロットしたものであり、cptry9
では、FDD78から予め人カスドアされたプログラム
に従って反射信号弾1現の極小値を検1」Aシて穴82
のX 4%b方向の中心位置全検出している。この時の
氷検出感度S、は、−16dBであった。なお氷検出感
度Sは以下のように定義している。
すなわち対象物体81からの反射信号の極小値Ip、、
対象物体81からの反射信号の極大値をP2とすると穴
82の検出感度5(dB)はS=2o5og(P、/P
2)(dB) −(1)である。また詳細な説明は省略
するが、Y軸方向の中心位置も同様に検出できる。
以上のように本実施例によれば穴82を有する対象物体
81に対して直径が3611Mの超音波トランスデユー
サ73の送受波面を1σ傾斜して、駆動周波数66KH
2の超音波を送受波すると同時にマニピュレータ72を
動作させて対象物体81Vc対して超音波トランスデユ
ーサを一定の距離を保って走査することにより得られる
反射信号強度を処理することによって最大の穴検出感度
sl得ることができ、これからo、1amの穴位置検出
精度が得られた。
なお本実施例では、超音波トランスデユーサ73の送受
波面は、検出対象の穴82の中心軸に対して走査方向V
c1σ傾斜して構成したものについて述べたが、この傾
斜角度を変化することにより穴82の検出感度も変化す
る。第12図aは本実施例と同様の構成で超音波トラン
スデユーサ63の送受波面を穴82の中心軸に対してX
軸方向に傾斜させX軸方向に平行走査した時の対象物体
54からの反射信号強度を、横軸に超音波トランスデユ
ーサ73の傾斜角度、縦軸に穴82の検出感度をとった
ものであり、傾斜角度0.が10゜の時に穴82の検出
感度が最大値を示した。
本実施例で用いた超音波トランスデユーサ73の第1零
ふく射角θ。は超音波トランスデユーサの直径をD(闘
)、駆動周波数をf(KHz)、音速IC(arm/S
)とすると2式よりまる。
本実施例ではθ。牟1o0となり穴82の検出感度が最
大値を示すときの超音波トランスデユーサ72の傾斜角
度とほぼ一致することが分る。
また第12図すは本実施例と同様の構成で超音波トラン
スデユーサ73の駆動周波数i’51(KHz)にして
送受波面を穴82の中心軸に対してX軸方向に傾斜させ
X軸方向に平行走査した時の対象物体64からの反射信
号強度を整理したものであり、傾斜角度01が13°の
時に穴82の検出感度が最大値を示し、この時の氷検出
感度S2は一13dBであった。またこの時の超音波ト
ランスデユーサ73の第1零ふく射角θは上述の2式よ
り0゜÷13°となり穴82の検出感度が最大値を示す
ときの超音波トランスデユーサ73の傾斜角度とほぼ一
致した。
発明の効果 以上のように本発明は、超音波送受波素子を被測定物の
中心軸に対して傾斜して配置し、その傾斜角度は超音波
送受波素子の第1零ふく射角とほぼ等しくすることによ
り、検出感度の最大値を得るので、高精度の位置検出装
置を得ることができ、その実用的効果は犬なるものがあ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の超音波形状検出装置の概略の構成を示す
システム図、第2図は従来の装置を用いた形状検出の斜
視図、第3図は従来の装置の動作波形を示す図、第4図
は従来の装置の動作波形を整理した図、第6図は本発明
者らによって提案した被測定物の形状検出装置の概略の
構成を示すシステム図、第6図は同穴位置検出の斜視図
、第7図は同平面図、第8図は同じく装置の動作波形を
整理した図、第9図は本発明の第1実施例における穴位
置検出のためのプログラムの1例を示すフローチャー1
・図、第10図、第11図は本発明の第1実施例におけ
る装置の動作波形を示す図、第12図は本発明の第1実
施例における穴検出感度を示す図である。 72・・・・・・マンビュレータ、了3・・・・・・超
音波トランスデユーサ、61・・・・・・CPU、82
・川・・穴。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図 第4図 定1腎ラオ(匹受涼系1の”回転光31再(■第5図 第7図 第8図 a音ジ廻ドラシスヂ!−71平オテ走Aト量(田□。 第9図 第10図 0

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 超音波送受波素子を用いて被測定物に超音波を送受波す
    る手段と、前記被測定物と前記超音波送受波素子の相対
    位置関係全変化する手段と、前記被測定物からの反射信
    号強度を信号処理して前記被測定物の形状を検出する信
    号処理手段からなり前記超音波送受波素子が送受波する
    超音波の波長をλ、前記超音波送受波素子の直径iD、
    θ=siT11.22λ/D(rad)としたとき、前
    記超音波送受波素子は前記被測定物の中心軸に対して前
    記θとほぼ等しく傾斜して構成された被測定物の位置検
    出装置。
JP21021083A 1983-06-06 1983-11-08 被測定物の位置検出装置 Granted JPS60102509A (ja)

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JP21021083A JPS60102509A (ja) 1983-11-08 1983-11-08 被測定物の位置検出装置
EP84902085A EP0148952B1 (en) 1983-06-06 1984-06-05 Apparatus for detecting position of object being measured
PCT/JP1984/000287 WO1984004961A1 (en) 1983-06-06 1984-06-05 Apparatus for detecting position of object being measured
DE8484902085T DE3485371D1 (de) 1983-06-06 1984-06-05 Stellungsdetektor eines zu messenden gegenstandes.
US06/705,470 US4627291A (en) 1983-06-06 1984-06-05 Position sensing apparatus for an object to be measured

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JPH0257278B2 JPH0257278B2 (ja) 1990-12-04

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60108704A (ja) * 1983-11-17 1985-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 被測定物の溝または穴の中心位置検出装置
JPS6214389U (ja) * 1985-07-12 1987-01-28

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60108704A (ja) * 1983-11-17 1985-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 被測定物の溝または穴の中心位置検出装置
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