JPS60102505A - 薄板の幅測定装置 - Google Patents
薄板の幅測定装置Info
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- JPS60102505A JPS60102505A JP21019983A JP21019983A JPS60102505A JP S60102505 A JPS60102505 A JP S60102505A JP 21019983 A JP21019983 A JP 21019983A JP 21019983 A JP21019983 A JP 21019983A JP S60102505 A JPS60102505 A JP S60102505A
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- plate
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- light
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
- G01B11/046—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)技術分野
この発明は圧延工程を経た薄鋼板などの薄板状移動体の
幅をイメージセンサカメラを用いて測定する装置に関す
る。
幅をイメージセンサカメラを用いて測定する装置に関す
る。
tb+従来技術とその欠点
圧延設備を通過した薄鋼板の走行中の幅測定は、薄鋼板
の走行速度が時速数十キロメートルで非常に速く、上下
のおどりが激しく、左右の蛇行も相当あるため極めて難
しい問題である。厚板の幅測定等に利用され、板の側面
に光や音波等をあて、その反射をとる測定方式は、薄板
の幅測定に対しては板が薄いため殆ど通用不可能である
。そこで、薄板の幅測定を行うのに現在実用されている
唯一の方式は、第7図に示すようなバンクライト方式で
ある。この方式では、ローラテーブル35に載置されζ
いる板30のすぐ下に蛍光灯のような長い下部光源31
を設け、上方に光を照射する。この光を、板の上方で回
転スリット32を介して電子増倍管33で受光すると板
30の端の影の位置を検知出来るわけで1、この両端の
位置を検知して板30の幅を測定することが可能になる
。しかしながら、この方式は次の欠点を持っζいる。
の走行速度が時速数十キロメートルで非常に速く、上下
のおどりが激しく、左右の蛇行も相当あるため極めて難
しい問題である。厚板の幅測定等に利用され、板の側面
に光や音波等をあて、その反射をとる測定方式は、薄板
の幅測定に対しては板が薄いため殆ど通用不可能である
。そこで、薄板の幅測定を行うのに現在実用されている
唯一の方式は、第7図に示すようなバンクライト方式で
ある。この方式では、ローラテーブル35に載置されζ
いる板30のすぐ下に蛍光灯のような長い下部光源31
を設け、上方に光を照射する。この光を、板の上方で回
転スリット32を介して電子増倍管33で受光すると板
30の端の影の位置を検知出来るわけで1、この両端の
位置を検知して板30の幅を測定することが可能になる
。しかしながら、この方式は次の欠点を持っζいる。
(1)測定器を板30のパスラインの真上高い位置に設
置しなくてはならないことから、工場の諸震動の影響か
ら逃げるために丈夫な大きな取付架台が必要になり、こ
のための費用が非常に嵩む。
置しなくてはならないことから、工場の諸震動の影響か
ら逃げるために丈夫な大きな取付架台が必要になり、こ
のための費用が非常に嵩む。
(2)光源に拡散光を使っているので板の上下動による
誤差をMGノるためには板端の真上の狭い範囲に測定器
を設ける必要があり、かつ測定器の視野Sを極めて狭く
しないと十分な精度がiMられない。そのため扱30の
幅に応じてモータ34を駆動する等して測定器のリセッ
ティングが必要であり、さらに蛇行の酷いときには自動
的にモータ34を駆動側fall bで測定器の位置を
板端に追尾させなくてはならず、このリセソテングおよ
び追尾に高い精度を要求されるので、その費用も嵩む。
誤差をMGノるためには板端の真上の狭い範囲に測定器
を設ける必要があり、かつ測定器の視野Sを極めて狭く
しないと十分な精度がiMられない。そのため扱30の
幅に応じてモータ34を駆動する等して測定器のリセッ
ティングが必要であり、さらに蛇行の酷いときには自動
的にモータ34を駆動側fall bで測定器の位置を
板端に追尾させなくてはならず、このリセソテングおよ
び追尾に高い精度を要求されるので、その費用も嵩む。
(3)測定装置のセンサ部が天井の高所にあるため保守
に不便なのは勿論、そのための足場およびそれに対する
安全対策も構しておかなければならない。
に不便なのは勿論、そのための足場およびそれに対する
安全対策も構しておかなければならない。
また、これとは別の方法として測定物体が赤熱発光して
いるときに限って、その熱線を検出して、その物体の寸
法を測る方式も発表はされているが、輝度差2表面のス
ケール、周囲の熱等の影響で誤差が大きく殆ど実用され
ていない。
いるときに限って、その熱線を検出して、その物体の寸
法を測る方式も発表はされているが、輝度差2表面のス
ケール、周囲の熱等の影響で誤差が大きく殆ど実用され
ていない。
+c+発明の目的
この発明の目的は、上記の諸欠点を除去し、高速で走行
する薄板の幅を精度よく測定するこ占の出来る装置を提
供することにある。
する薄板の幅を精度よく測定するこ占の出来る装置を提
供することにある。
[d)発明のIM成
第1図はこの発明の詳細な説明する図である。
今、イメージセンサカメラMで物体ABを写すと・その
像がabとなり、さらにAB上のPの位置に光スボソ1
−または影があれば、そのPの位置がab上のpの位置
に写し出される。また第1図(B)に示す配置において
もA’B’の像は、イメージセンサカメラM′において
a’b’となり、P′の位置に光スポットまたは影があ
れば、その位置はa’b’のP′の位置に写しだされる
。
像がabとなり、さらにAB上のPの位置に光スボソ1
−または影があれば、そのPの位置がab上のpの位置
に写し出される。また第1図(B)に示す配置において
もA’B’の像は、イメージセンサカメラM′において
a’b’となり、P′の位置に光スポットまたは影があ
れば、その位置はa’b’のP′の位置に写しだされる
。
従ってab、a′b’に沿わせてイメージセンサカメラ
M、M′を設け、p、p’がそのイメージセンサの何ヒ
ツト目にあるかを計測ずれば、AB上のPの位置および
A′B′上のP′の位置を測定することができる。
M、M′を設け、p、p’がそのイメージセンサの何ヒ
ツト目にあるかを計測ずれば、AB上のPの位置および
A′B′上のP′の位置を測定することができる。
ところで以」二の測定が正確に行われるためには1)、
+)′がAI3直線上またはA′B′直線上になりれば
ならない。P、l〕′の位置がこの直線上を外れると正
G「な測定を行うことが出来ない。例えば、αβ線上、
α゛β′β′線上位置は正確に測定することが出来ず、
γδ線上、γ′δ′線−ヒでは、全く測定することが出
来ない。一方、薄1反のIMを測定するために、第1図
(C)に示すように、薄板の上方に光源Sを配置し、そ
の両端部El、E2をイメージセンサ力、JうMl、N
2で測定しようとすると、上記第1図(A)、(13)
と同様の理由からIヱ1.E2がXlX2J二に無し」
れば、その正確な41.11定は不可能である。すなわ
ち、El、F、2が直線XlX2上に有るI?jlは、
その位置を正確に測定することができる。しかし、El
がEビまたはEl“、E2がE2’またはL32“の直
線X I X’2を外れた位置にくると、正確な測定は
もはやできなくなってしまう。すなわち、第1図(C)
に示す方法で薄板の1陥測定を行おうとすると、El、
E2がXlX21になげればその幅測定を行うことがで
きない。したがって」二下に始終踊っている薄板をこの
方法で正確にょ11定しようとすることは不可能である
。
+)′がAI3直線上またはA′B′直線上になりれば
ならない。P、l〕′の位置がこの直線上を外れると正
G「な測定を行うことが出来ない。例えば、αβ線上、
α゛β′β′線上位置は正確に測定することが出来ず、
γδ線上、γ′δ′線−ヒでは、全く測定することが出
来ない。一方、薄1反のIMを測定するために、第1図
(C)に示すように、薄板の上方に光源Sを配置し、そ
の両端部El、E2をイメージセンサ力、JうMl、N
2で測定しようとすると、上記第1図(A)、(13)
と同様の理由からIヱ1.E2がXlX2J二に無し」
れば、その正確な41.11定は不可能である。すなわ
ち、El、F、2が直線XlX2上に有るI?jlは、
その位置を正確に測定することができる。しかし、El
がEビまたはEl“、E2がE2’またはL32“の直
線X I X’2を外れた位置にくると、正確な測定は
もはやできなくなってしまう。すなわち、第1図(C)
に示す方法で薄板の1陥測定を行おうとすると、El、
E2がXlX21になげればその幅測定を行うことがで
きない。したがって」二下に始終踊っている薄板をこの
方法で正確にょ11定しようとすることは不可能である
。
本発明は第1図(D)に示すように薄板りの左右両端部
」二方に薄板の面に垂直に平行光線を照射する光源Nl
、N2を配置し、また薄Fi、Dの下方に光の反射板Z
を配置し、反射板Zがらの反射光をイメージセンサカメ
ラMl、M2で受光するように構成したものである。こ
のように構成するごとによって薄板りのKl、に2が」
二下に動いてKlkl、に2に2の距離が変化しても、
Nl、N2の投光する光が完全な平行光線であればZl
。
」二方に薄板の面に垂直に平行光線を照射する光源Nl
、N2を配置し、また薄Fi、Dの下方に光の反射板Z
を配置し、反射板Zがらの反射光をイメージセンサカメ
ラMl、M2で受光するように構成したものである。こ
のように構成するごとによって薄板りのKl、に2が」
二下に動いてKlkl、に2に2の距離が変化しても、
Nl、N2の投光する光が完全な平行光線であればZl
。
Z2方向(水平方向)のKl、に2の位置が変わらない
限りkl、に2の位置は変化しない。すなわち、kl、
に2の位置の計測値はとりもなおさずKl、に2のZl
、Z2方向の位置を正確に表すことになる。このように
、光源Nl、N2からの完全な平行光線を薄板りの両端
部に当て、反射板Zからの反射光をイメージセンサカメ
ラM1゜M2で受光することによって薄4fiDが1−
下に踊りながら進行してもK I K 2の長さを正確
に測定することができる。
限りkl、に2の位置は変化しない。すなわち、kl、
に2の位置の計測値はとりもなおさずKl、に2のZl
、Z2方向の位置を正確に表すことになる。このように
、光源Nl、N2からの完全な平行光線を薄板りの両端
部に当て、反射板Zからの反射光をイメージセンサカメ
ラM1゜M2で受光することによって薄4fiDが1−
下に踊りながら進行してもK I K 2の長さを正確
に測定することができる。
なお、反則板Zは正反射せず、乱反射をする反AJ 4
5、例えば白色ペンキを塗った板等が使用される。
5、例えば白色ペンキを塗った板等が使用される。
第2図(A)、(B)はこの発明のより詳しい構成を示
す図である。第2図において薄板1の上方に、その左端
部および右端部周辺に平行光線を照射する光源2,3が
配置され、また薄板lの左右αIl1部周辺の下方に反
射板4,5が配置される。
す図である。第2図において薄板1の上方に、その左端
部および右端部周辺に平行光線を照射する光源2,3が
配置され、また薄板lの左右αIl1部周辺の下方に反
射板4,5が配置される。
また斜め上方にイメージセンサカメラ6.7が配置され
る。薄板lは矢印入方向に走行し、上記反射板4.5と
の間隔はほぼI]に保たれている。なお、この場合Hは
可能な限り小さくする。光源2.3からの平行光線は薄
板lの左右両端の影をそれぞれ反射板4.5の上に落と
し、イメージセンサカメラ6.7はその影の位置を検知
し、計数器8.9はそれぞれイメージセンサカメラ6,
7の受光信号よりL2.L3を実質的にd1数する。演
算器10ば、計数器8,9からの出力と、基準値として
与えられる反射板4.5上のそれぞれL 2=0.L3
=Oの2点の幅L[とに基づいて、L=L1− (L2
+L3)を実質的に演算して薄板lの幅りをめる。表示
器11は演算器10でめた薄板1の幅りを表示する。
る。薄板lは矢印入方向に走行し、上記反射板4.5と
の間隔はほぼI]に保たれている。なお、この場合Hは
可能な限り小さくする。光源2.3からの平行光線は薄
板lの左右両端の影をそれぞれ反射板4.5の上に落と
し、イメージセンサカメラ6.7はその影の位置を検知
し、計数器8.9はそれぞれイメージセンサカメラ6,
7の受光信号よりL2.L3を実質的にd1数する。演
算器10ば、計数器8,9からの出力と、基準値として
与えられる反射板4.5上のそれぞれL 2=0.L3
=Oの2点の幅L[とに基づいて、L=L1− (L2
+L3)を実質的に演算して薄板lの幅りをめる。表示
器11は演算器10でめた薄板1の幅りを表示する。
以上の構成において、反射板4,5上の薄板1の端部の
影の位置は、光源2.3から照射される光束が平行であ
るために、板の」二下動が余り大きくない限り薄板1の
端から反射板4,5に下した垂線の位置、ずなわち図の
L2.L3の位置になる。したがって、計数器8.9の
計数出力は上記間隔L2.L3に対応する値となり、薄
板1と反射板4.5との間隔Hが変動してもその変動が
余り大きくない限り演算器10による幅りがめられるこ
とになる。
影の位置は、光源2.3から照射される光束が平行であ
るために、板の」二下動が余り大きくない限り薄板1の
端から反射板4,5に下した垂線の位置、ずなわち図の
L2.L3の位置になる。したがって、計数器8.9の
計数出力は上記間隔L2.L3に対応する値となり、薄
板1と反射板4.5との間隔Hが変動してもその変動が
余り大きくない限り演算器10による幅りがめられるこ
とになる。
ところで上記の構成において光源2,3から投射される
光線を完全な平行光線にすることは実際」二困nである
。
光線を完全な平行光線にすることは実際」二困nである
。
今、第3図において
l、:光源
Ll、Ll光源の両端
13 :ン■板
E:薄板の端1S1(
r?:反射板
E′:反射板上へ薄体の端部Eから引いた垂線E〃:反
射板R上における端部Eの影の滲みの端 (1,2とIEとを結んだ線の延長と反射板Rとの交点
。E〃より左方は面形とな る。) 八X : EttとE′との間隔 とした場合、 光源1.の投射する光が完全に平行光線であれば光はE
′より左方には入らないわりでE′のところが影の端に
なるはずであるが、完全な平行光線でばないためにE′
より左方に光が入っ°ζいき、だんだん弱くはなるが、
E〃まで光が滲んでいく。この滲んでいく間隔ΔXが測
定誤差の原因となる。ΔXが小さい程この誤差は小さく
ΔXが大きい程この誤差は大きくなる。
射板R上における端部Eの影の滲みの端 (1,2とIEとを結んだ線の延長と反射板Rとの交点
。E〃より左方は面形とな る。) 八X : EttとE′との間隔 とした場合、 光源1.の投射する光が完全に平行光線であれば光はE
′より左方には入らないわりでE′のところが影の端に
なるはずであるが、完全な平行光線でばないためにE′
より左方に光が入っ°ζいき、だんだん弱くはなるが、
E〃まで光が滲んでいく。この滲んでいく間隔ΔXが測
定誤差の原因となる。ΔXが小さい程この誤差は小さく
ΔXが大きい程この誤差は大きくなる。
ΔXを小さくするには、
(1)光源りと薄板Bとの距離を大きくする。
(21)W坂13と反射板Rとを近づける。
(3)光源l、の投射光を平行光線に近づける。
(4)光源1.の大きさを小さくする。(L I L
2を小さくする。) のそれぞれを実施すればよい。ところが、このうち光源
を小さくすると測定範囲もそれに応じて狭くなってしま
う。そこで誤差を小さくし、且つ測定範囲を広くするた
めには光源を次のように構成すればよい。
2を小さくする。) のそれぞれを実施すればよい。ところが、このうち光源
を小さくすると測定範囲もそれに応じて狭くなってしま
う。そこで誤差を小さくし、且つ測定範囲を広くするた
めには光源を次のように構成すればよい。
すなわら、光源を薄板に平行に一直線に配列させた複数
の光源部で構成し、薄板の両端部直上の光源部のみを点
灯するようにする。このようにすることによって薄板を
測定している距離、ずなわら第3図σ月尤の位置に応じ
てそのIKの直上の唯一の光源だりが点灯し、その他は
消灯するためにΔXを人きくするごとなく測定範囲を広
げることができる。
の光源部で構成し、薄板の両端部直上の光源部のみを点
灯するようにする。このようにすることによって薄板を
測定している距離、ずなわら第3図σ月尤の位置に応じ
てそのIKの直上の唯一の光源だりが点灯し、その他は
消灯するためにΔXを人きくするごとなく測定範囲を広
げることができる。
(cl実施例
第4図はこの発明の実施例である幅測定装置の各部分の
位置関係図である。平行光線を照射する光源2としては
、例えば薄板に平行に一直線に配列した複数個のスポッ
トライ;・を使用し、複数個のスポットライトの内、板
端部の直上にあるlケたりを点灯するように制御する。
位置関係図である。平行光線を照射する光源2としては
、例えば薄板に平行に一直線に配列した複数個のスポッ
トライ;・を使用し、複数個のスポットライトの内、板
端部の直上にあるlケたりを点灯するように制御する。
本実施例でば3111i1のスポットライl−L 1〜
L3を配置している。
L3を配置している。
また、反射板20ば薄板lの最大幅よりも長く、かつ表
面に反射をよくする白色塗料を塗布したものを使用する
。イメージセンサカメラ6はセンサ素子60および光学
系レンズ61を含み、センサ素子60は、その受光面が
反射光の結像位置に沿うように光軸に垂直な面Sに対し
角度θにて斜めに設置されている。このようにすること
によって所謂1あおり」を利用して、測定範囲を拡大す
ることが出来る。なお、イメージセンサカメラ6は薄板
1の端部から1メートル0;1後離れた斜め上刃に設置
される。第5図はセンサ素子Goの受光状態の−・例を
示す図である。図において間隔w1は第4図の幅L2に
対応する。薄板1が矢印B方向に移動すれば間隔W1は
狭くなり、C方向に移動すれば間隔W1は広くなる。ま
た、薄板1の左端部に配置したイメージセンサカメラ(
図示せず)のセンサ受光面では、移動体1が矢印B方向
に移動すれば幅Wlは広くなり、矢印C方向に移動すれ
ば幅W1は狭くなる。
面に反射をよくする白色塗料を塗布したものを使用する
。イメージセンサカメラ6はセンサ素子60および光学
系レンズ61を含み、センサ素子60は、その受光面が
反射光の結像位置に沿うように光軸に垂直な面Sに対し
角度θにて斜めに設置されている。このようにすること
によって所謂1あおり」を利用して、測定範囲を拡大す
ることが出来る。なお、イメージセンサカメラ6は薄板
1の端部から1メートル0;1後離れた斜め上刃に設置
される。第5図はセンサ素子Goの受光状態の−・例を
示す図である。図において間隔w1は第4図の幅L2に
対応する。薄板1が矢印B方向に移動すれば間隔W1は
狭くなり、C方向に移動すれば間隔W1は広くなる。ま
た、薄板1の左端部に配置したイメージセンサカメラ(
図示せず)のセンサ受光面では、移動体1が矢印B方向
に移動すれば幅Wlは広くなり、矢印C方向に移動すれ
ば幅W1は狭くなる。
第6図は上記反射板20からの反射信号より長さを計測
し、さらにその結果から薄板lの幅をめる装置のゾロツ
ク図を示す。
し、さらにその結果から薄板lの幅をめる装置のゾロツ
ク図を示す。
図において、センサ素子60からの信号はシフ1−レジ
スタ62に入力し、発振器63のタイミングによりカウ
ンタ64およびサンプルボールド回路65に導かれる。
スタ62に入力し、発振器63のタイミングによりカウ
ンタ64およびサンプルボールド回路65に導かれる。
コンパレータ回路66はサンプルボールドされた信号と
一定の茫準しヘルとを比較し、&準しヘル以上の信号、
ずなわぢ明の部分に対応する信号のあるときにはハイ信
号を、また一定の基準レベル以下の信号、ずなわう暗の
部分に対比、する信号に対してはロー信号を出力する。
一定の茫準しヘルとを比較し、&準しヘル以上の信号、
ずなわぢ明の部分に対応する信号のあるときにはハイ信
号を、また一定の基準レベル以下の信号、ずなわう暗の
部分に対比、する信号に対してはロー信号を出力する。
第7図にコンパレータ出力aの波形の一例を示す。図に
おいC、パルス幅W1′は第5図の間隔Wlに対応し、
パルス幅W2′は第5図の間隔W2に対応する。カウン
タ64は、コンパレータ出力信号aのW1’ゲート信号
としζその期間のシフトレジスタ出力を計数する。薄板
1の右側に配置されるセンザ部S Rでは以上の構成に
よって、カウンタ64の出力として幅L2に対応するパ
ルス幅Wl’の計数値を得る。また、同様にして薄板1
の左側部に配置されるセンザ部SLでは、カウンタ72
によって幅L3に対応するパルス幅Wl′のn1数値を
得る。
おいC、パルス幅W1′は第5図の間隔Wlに対応し、
パルス幅W2′は第5図の間隔W2に対応する。カウン
タ64は、コンパレータ出力信号aのW1’ゲート信号
としζその期間のシフトレジスタ出力を計数する。薄板
1の右側に配置されるセンザ部S Rでは以上の構成に
よって、カウンタ64の出力として幅L2に対応するパ
ルス幅Wl’の計数値を得る。また、同様にして薄板1
の左側部に配置されるセンザ部SLでは、カウンタ72
によって幅L3に対応するパルス幅Wl′のn1数値を
得る。
加算器66は上記カウンタ64□ 72のそれぞれの計
数値を加算する。また、減算器67は幅Llにり・l
I+6する一定の値Kから上記加算結果を減じて表示器
68に出力する。
数値を加算する。また、減算器67は幅Llにり・l
I+6する一定の値Kから上記加算結果を減じて表示器
68に出力する。
以上の構成によって、加算器66および減算器67でL
=Ll−(L2+L3)の演算が実質的に行われること
になるため、表示器68にば常に薄板1の幅りに相当す
る値が表示されるようになる。
=Ll−(L2+L3)の演算が実質的に行われること
になるため、表示器68にば常に薄板1の幅りに相当す
る値が表示されるようになる。
以上の実施例では、薄板10幅を反射板20がらの反射
信号より長さを計数するごとによってめるようにしたが
、第5図に示すように暗部の幅W2は反射板20に対す
る薄板1の晶さHlに対応する間隔となるため、この幅
w2の期間での発振出力を計数することによって幅w2
、すなわち高さ)11に対応する値も得ることが可能で
ある。
信号より長さを計数するごとによってめるようにしたが
、第5図に示すように暗部の幅W2は反射板20に対す
る薄板1の晶さHlに対応する間隔となるため、この幅
w2の期間での発振出力を計数することによって幅w2
、すなわち高さ)11に対応する値も得ることが可能で
ある。
なお、本実施例において、例えば−っのスポットライト
の【」径を30龍φとし、2m上方から投光し、さらに
薄板と反射板との間隔を100++aにすると、薄板が
50鰭位踊ったとき、実際のエラーは0.3〜0.4龍
位に押えることができる。また、上記の平行光線は実際
には完全な理想的な平行光線でないために、上記の測定
では薄板Iと反射板20との間隔Hlが変化すれば、■
、■およびL2にもそれに応じた誤差が生ずるが、上記
の暗部の幅W2を利用して、この誤差をある程度補正出
来るので、特に精度の高い測定を要求される場合には、
この?di正を使用すればよい。
の【」径を30龍φとし、2m上方から投光し、さらに
薄板と反射板との間隔を100++aにすると、薄板が
50鰭位踊ったとき、実際のエラーは0.3〜0.4龍
位に押えることができる。また、上記の平行光線は実際
には完全な理想的な平行光線でないために、上記の測定
では薄板Iと反射板20との間隔Hlが変化すれば、■
、■およびL2にもそれに応じた誤差が生ずるが、上記
の暗部の幅W2を利用して、この誤差をある程度補正出
来るので、特に精度の高い測定を要求される場合には、
この?di正を使用すればよい。
ff)発明の効果
以」二のようにこの発明によれば、
(1)測定器であるイメージセンサカメラは薄板の両端
部の斜め上方に設置すればよいので、測定器を大力部に
取イマ]りる必要のある従来のバンクライト方式を利用
する装置に比較して工場の諸震動の影響を回避すること
がはるかに容易である。
部の斜め上方に設置すればよいので、測定器を大力部に
取イマ]りる必要のある従来のバンクライト方式を利用
する装置に比較して工場の諸震動の影響を回避すること
がはるかに容易である。
(2) 平行光線による影の位置の測定から板幅を計る
構成であるため、測定器の視野を特に絞る必要がない。
構成であるため、測定器の視野を特に絞る必要がない。
ずなわら視野を広げておけるために板幅によるリセッテ
ィングが不要である。したがって測定器は固定状態にし
ておけばよく、しかも測定精度が1−る。
ィングが不要である。したがって測定器は固定状態にし
ておけばよく、しかも測定精度が1−る。
(3)光源だけを天井部に設置し、測定器を含む制御盤
などの装置の主要部はすべて地上に設置出来るため、保
守、修理などに特別な配慮が不要であるなどのリノ果が
あり、薄板の測定分野において極めて自益な幅測定装置
を得ることが出来る。
などの装置の主要部はすべて地上に設置出来るため、保
守、修理などに特別な配慮が不要であるなどのリノ果が
あり、薄板の測定分野において極めて自益な幅測定装置
を得ることが出来る。
第1図はこの発明の詳細な説明する図である。
第2図はこの発明の詳細な説明する図であり、同図(A
)は薄板を正面から見たときの幅測定装置の配置図兼1
1j路ブロック図であり、同図(13)は薄板を」三方
から見たときの幅測定装置の配置図である。また第3図
は測定誤差を説明するための図である。 第4図はこの発明の実施例である幅測定装置の要部配置
図、第5図は同測定装置でのイメージセンサ受光面の受
光状態の一例を示す図、第6図は同幅測定装;ξの回路
ブロック図、第7図はコンパレータ出力波形図である。 また、第8図は従来の薄板幅測定装置の概略構成図であ
る。 ■−薄板、2.3−光源、4,5.20−反射板、6.
7−−−イメージセンサカメラ、8.9−計数器、1〇
−演算Z4゜ 出願人 三/jJL]二業株式会社 代理人 弁理士 小森久夫 第3図 図面の浄書(内容ζこ変更なし) 第4図 ・;、8パ・ 手続ネMjE摺: (方式) %式% 1 事件の表示 昭和58年特許願第210199号 2 発明の名称 薄板の幅測定装置 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 横浜山中区かもめIll’ 4 Q番地名称 三
波二[業株式会社 代表者 松本遠離 4 代理人 住所 の543大阪市天王寺区四天王寺1丁目14番2
2号l」進ビル702号
)は薄板を正面から見たときの幅測定装置の配置図兼1
1j路ブロック図であり、同図(13)は薄板を」三方
から見たときの幅測定装置の配置図である。また第3図
は測定誤差を説明するための図である。 第4図はこの発明の実施例である幅測定装置の要部配置
図、第5図は同測定装置でのイメージセンサ受光面の受
光状態の一例を示す図、第6図は同幅測定装;ξの回路
ブロック図、第7図はコンパレータ出力波形図である。 また、第8図は従来の薄板幅測定装置の概略構成図であ
る。 ■−薄板、2.3−光源、4,5.20−反射板、6.
7−−−イメージセンサカメラ、8.9−計数器、1〇
−演算Z4゜ 出願人 三/jJL]二業株式会社 代理人 弁理士 小森久夫 第3図 図面の浄書(内容ζこ変更なし) 第4図 ・;、8パ・ 手続ネMjE摺: (方式) %式% 1 事件の表示 昭和58年特許願第210199号 2 発明の名称 薄板の幅測定装置 3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 横浜山中区かもめIll’ 4 Q番地名称 三
波二[業株式会社 代表者 松本遠離 4 代理人 住所 の543大阪市天王寺区四天王寺1丁目14番2
2号l」進ビル702号
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 川 搬送1/&上を長手方向に走行する薄板の左右両端
部の上刃に、薄板の面に垂直に平行光線を照射する光源
を、前記両端部の下方に光の反射板を、また前記両端部
の斜め上方にイメージセンサカメラを配置し、前記薄板
が前記反射板に落とす前記平行光線による影の位置を、
前記イメージセンサカメラ内のイメージセンサによって
計測する手段と、その計測値と予め設定した基準値とに
基づいて前記薄板の幅をめる演算手段と、を備えてなる
薄板の幅測定装置。 (2)前記光源が薄板に平行に一直線に配列された複数
の光源部からなり、薄板の両端部直上の光源部のみを点
灯させるようにした特許請求の範囲第1項記載の薄板の
幅測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21019983A JPS60102505A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 薄板の幅測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21019983A JPS60102505A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 薄板の幅測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60102505A true JPS60102505A (ja) | 1985-06-06 |
JPH032402B2 JPH032402B2 (ja) | 1991-01-16 |
Family
ID=16585424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21019983A Granted JPS60102505A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 薄板の幅測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60102505A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6332304A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-02-12 | Hitachi Ltd | 位置決め組付装置 |
KR20000074247A (ko) * | 1999-05-19 | 2000-12-15 | 이구택 | 씨씨디 카메라의 기울임을 이용한 피측정체의 폭 측정방법 |
KR100360374B1 (ko) * | 2000-08-25 | 2002-11-13 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 카메라 이용시 발생하는 측정오차를 보상한 폭 측정장치 |
JP2008020379A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-01-31 | Topy Ind Ltd | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
-
1983
- 1983-11-08 JP JP21019983A patent/JPS60102505A/ja active Granted
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6332304A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-02-12 | Hitachi Ltd | 位置決め組付装置 |
JPH0658206B2 (ja) * | 1986-07-28 | 1994-08-03 | 株式会社日立製作所 | 位置決め組付装置 |
KR20000074247A (ko) * | 1999-05-19 | 2000-12-15 | 이구택 | 씨씨디 카메라의 기울임을 이용한 피측정체의 폭 측정방법 |
KR100360374B1 (ko) * | 2000-08-25 | 2002-11-13 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 카메라 이용시 발생하는 측정오차를 보상한 폭 측정장치 |
JP2008020379A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-01-31 | Topy Ind Ltd | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
JP4716433B2 (ja) * | 2006-07-14 | 2011-07-06 | トピー工業株式会社 | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH032402B2 (ja) | 1991-01-16 |
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