FI101750B - Menetelmä ja laite läpinäkyvän levyn optisen laadun määrittämiseksi - Google Patents

Menetelmä ja laite läpinäkyvän levyn optisen laadun määrittämiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI101750B
FI101750B FI915218A FI915218A FI101750B FI 101750 B FI101750 B FI 101750B FI 915218 A FI915218 A FI 915218A FI 915218 A FI915218 A FI 915218A FI 101750 B FI101750 B FI 101750B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
detector
plate
light rays
reflector
reflected light
Prior art date
Application number
FI915218A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI915218A (fi
FI101750B1 (fi
FI915218A0 (fi
Inventor
Joachim Bretschneider
Original Assignee
Flachglas Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Flachglas Ag filed Critical Flachglas Ag
Publication of FI915218A0 publication Critical patent/FI915218A0/fi
Publication of FI915218A publication Critical patent/FI915218A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI101750B publication Critical patent/FI101750B/fi
Publication of FI101750B1 publication Critical patent/FI101750B1/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • G01N2021/8967Discriminating defects on opposite sides or at different depths of sheet or rod

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Description

101750
Menetelmä ja laite läpinäkyvän levyn optisen laadun määrittämiseksi - Ett förfarande och en apparat tör en genomskin-lig skivas optiska kvalitetsbestämning 5 Keksintö koskee menetelmää määrittää optinen laatu läpinäkyvästä levystä, erityisesti floatlasilevystä, -jolloin kaksi yhdensuuntaista, määrätyn keskinäisen välimatkan toisistaan omaavaa valonsädettä suunnataan levyn keskinormaaliin nähden terävässä kulmassa levyyn, levystä heijastuneet säteet 10 kootaan erikseen valoherkän ilmaisimen omaavalla ilmaisin-laitteella, ia hei jastunei den valonsäteiden suunta t \ϊ 1 kitaan, sekä laitetta läpinäkyvän levyn optisen laadun määrittämiseksi 3aservalonlähteel1ä ja säteeniakolaitteel1 a kahden tietyn keskinäisen etäisyyden toisistaan omaavan 15 samansuuntaisen valonsäteen aikaansaamiseksi, jotka suunnataan levyyn levyn keskinormaa1 in suhteen terävässä kulmassa, valoherkän ilmaisimen omaavaa iImaisinlaitetta heijastuneiden valonsäteiden erikseen havaitsemiseksi ja tulkin-talaitetta levyn optisen laadun määrittämiseksi ilmaisin-20 laitteen signaaleista.
Läpinäkyvien levyjen valmistuksessa, erityisesti varsinkin tasolasin valmistuksessa, on tarpeen tarkastaa tuotettavan aineen optinen laatu säännöllisesti ja vieläpä mahdollisim-25 man pian sen valmistuksen jälkeen, jotta tarpeen tullen : . voidaan muuttaa oikea-aikaisesti tuotant.oparametrejä tai erotella vialliset levyt.
• · e · • · ♦ • · ♦ • · · ·
Keksintöä samoinkuin tekniikan nykytasoa kuvataan jäljempänä • ♦ ... 30 esimerkillä tasolasin tutkimisesta. Se on kuitenkin sovel-• · · • · · lettavissa myös muiden läpinäkyvien levynmuotoisten, esim. muovisten tuotteiden optisen laadun tutkimiseen.
• · ‘ Lasin vikojen, kuten esim. tasa-aineisuusheilahtelujen, ,;..j35 kaasukuplien tai sulkeutumien toteamisen ohella kiinnostaa ....: käytännössä ennen kaikkea lasin pinnan tasaisuus. Tasaisuu den häiriöt todetaan ennen kaikkea pystysuorassa lasiradan :·’·’· vetosuuntaa vasten niinsanottujen vetojuovien muodossa.
• « t 2 101750 Tällaisten tasaisuuspoikkeamien seurauksena ovat optiset vääristymät, jotka ilmenevät valonsäteiden hei kastumisena ia siirtymänä.
5 Lasilelevyjen optisen laadun määrällisenä mittasuureena toimii esimerkiksi niiden vaiontaittokyky, ia vieläpä yksittäisten 1evypi ntojen vaiontaittokyky, kuin myös levyn siirtymän vaiontaittovoimana. Tällöin on vaiontaittovoima määritetty sijainnin mukaan havaitun kulman, siis heijastuskulman 10 tai 1äpäisykulman poikkeamana. Se on sitä suurempi, mitä enemmän lasin pinta on paikallisesti taipunut.
Tekniikan nykytason mukaisesti suoritetaan lasilevyjen optisen laadun subjektiivinen tarkistus käytännössä erityi-15 sesti koulutetun henkilökunnan arvioinnin muodossa. Tällöin sät.ei 1 ytetään hei jastusseinäl 1 e valoa tutkittavan lasilevyn läpi. Tasaisuusvaihtel ut. johtavat ki. rkkausvaihte I. uihin (1 inssi vaikutus) ja ne voidaan siten arvioida laadullisesti. Toisaalta on jo olemassa menetelmiä ja laitteita lasilevyjen 20 optisen laadun määrälliseen arviointiin.
Keksinnön lähtökohtana oleva julkaisu DE-PS 23 61 209 kuvaa erästä menetelmää lasilevyjen optisen laadun määrittämiseksi, jolla laservalonsäde jaetaan valonjakajan avulla kahdek-25 si samansuuntaiseksi valonsäteeksi. Kummatkin valonsäteet ·;··; lankeavat levyn keskinormaal iin nähden ennalta määrätyssä .*. ί terävässä kulmassa lasilevylle ja ne heijastetaan sen etu- • · · • · : pinnalla ja siihen liittyvällä koveralla peilillä tai lasi- • · · !”.· levyn taakse si joitetulla koveralla peilillä valoherkkään • · ... 30 ilmaisimeen, joka on sijoitettu pyörivän, rumnvmun muotoisen • · · • » * * rakohimmentimen sisäpuolelle. Analysoidaan valoherkän ilmaisimen rekisteröimien kummankin valopulssin ajallinen * * etäisyys, jolloin tämä ajallinen etäisyys vastaa kummankin * · · V : heijastuneen säteen heijastumiskulmaa. Rakosuljin varmistaa ....: 35 ilmaisinlaitteen osana sen, että ilmaisini aitteen ei paikal- listava valoherkkä ilmaisin käsittää molemmat heijastuneet • säteet erillisinä, nimittäin ajallisesti lähellä toisiaan.
• · : Tunnettu menetelmä ei ole vailla varjopuolia. Niinpä voidaan · 3 101750 sillä mittauksen aikana tutkia kiinnostavista suureista vain toista, siis joko vain jomman kumman lasipinnan optista laatua tai siirron vääristymää.
5 Lasilevyn kummankin pinnan optisen laadun sekä siirtymän poikkeaman arvioinnissa on tarpeen kolme toisiaan seuraavaa erilaista mittausta, joiden välillä lasilevy on käännettävä ja puhdistettava. Tämä johtaa levyn täydellisessä mittauksessa suureen ajantarpeeseen. Lisäksi on, kuten aiemmin, 10 mahdollista vain mittausdiagrammin joko laadullinen tai puolimääräl1inen arviointi, mikä on suoritettava kokeneen käyttäjän toimesta. Standardisoitujen mittasuureiden, esimerkiksi taittokyvyn ilmoittamista ei tunnettu laite salli.
15 Tunnettu laite omaa lisäksi merkittävän rakennekorkeuden kaikkine siitä johtuvine varjopuolineen. Lisäksi se vaatii mittauslaitteen osien sijoittelua lasin kummallekin puolelle. Koska mittaustarkkuus riippuu suuressa määrin rakosul-kimen pyörimisnopeuden vakioisuudesta, on tunnettu laite 20 suhteellisen herkkä häiriöille.
Tämän vuoksi on keksinnön tehtävänä parantaa tunnettua menetelmää ja tunnettuja laitetta siten, että lyhyen mit-tausajan kuluessa voidaan ilmoittaa määrällisesti kaikki 25 läpinäkyvän levyn oleelliset optiset tiedot yhdellä ainoalla ·; . mittaustyövaiheella. Keksinnön mukaisen laitteen tulee olla valmistettavissa siihteel 1 i sen yhtenäiseksi; erityisesti on • · ;kaikkien tarpeellisten laitteen osien oltava sijoitettavissa • · · • · · · vain levyn toiselle puolelle.
• · • · · 30 • · · • · · • Tämän tehtävän ratkaisemiseksi ehdottaa keksintö menetelmää, jossa kaikki neljä levyn kummastakin pinnasta heijastunutta valonsädettä AI, A2, B.1 , B2 kootaan paikantavaan ilmaisi- I » « meen, tulevien valonsäteiden A, B välinen etäisyys ja tulo- < ...35 kulma εο säädetään levyn paksuudesta riippuen sellaiseksi, ....: että heijastuneet valonsäteet AI, A2, Bl, B2 voidaan havaita « · • ilmaisinlaitteel1 a tilallisesti eroteltuina, ja kaikkien • · : paikantavalle ilmaisimelle heijastuneen neljän valonsäteen i · · > · a « « · · 4 101750 AI, A2, B.l , B2 osumakohdista voidaan laskea parametrit levyn optisen laadun määrittämiseksi.
Samansuuntaiset valonsäteet suunnataan mahdollisuuksien 5 mukaan levyyn levyn keskinormaaliin nähden noin 49° (46" -52") tulokulmassa εο, koska tällä kulmalla saavutetaan heijastuneiden valonsäteiden suurin säteiden välinen etäisyys.
Eräässä edullisessa suoritusmuodossa kootaan heijastuneet 10 säteet AI, A2, B1, B2 ajallisesti erotettuina paikantavalla ilmaisimella. Tällöin ne keskitetään parhaiten paikantavalle ilmaisimelle, koska määrällisten mittaussuureiden johtaminen osumakohdista on tällöin erittäin yksinkertaista. Vaihtoehtona ehdotetaan, että että heijastuneet valonsäteet AI, 15 A2, B1, B2 kootaan paikantavalle ilmaisimelle ilman keskittämistä oleellisesti, samanaikaisesti mutta tilallisesti erotettuina.
Blräs erityisen todistusvoimainen arvio tutkittavan levyn 20 optisesta laadusta on mahdollinen siten, että heijastuneiden valonsäteiden AI, A2, B.l, B2 osumakohdista paikantavalle ilmaisimelle ilmoitetaan niiden heijastuskulmat εν, εκ , ε3, ε< , jolloin heijastettujen säteitten AI, A2, B1, Β2 hei jastuskulmista εν, ea , ε.ϊ , 6η ja tulevien valonsäteiden 25 A, B välisestä etäisyydestä ai. voidaan patenttivaatimuksessa '!“· 7 esitetyn kaavan mukaan laskea kummankin levynpinnan hei- jastuksen taittovoima sekä poi kkeamakulma ja siirtymän • · • taittovoima.
• · · · • · /:-.30 Keksinnön mukainen laite omaa erityisesti keksinnönmukaisen • · · menetelmän suorituksessa tekniikan tunnetun tason edelleen-. kehitelmänä seuraavat tunnukset: ilmaisinlaite käsittää paikantavan ilmaisimen ja tulkintalaite on sovitettu levyn ' optista laatua luonnehtivien määrällisten parametrien il- -/-:35 moittamiseksi neljän levyn kummankin pinnan heijastaman valonsäteen AI, A2, Bl, B2 osumakohdista paikantavalle ilmaisimelle.
··· · Jotta keksinnön mukaisella laitteella voitaisiin tutkia • · · 1 · · 5 101750 häiriöittä eri paksuisia levyjä, koostuu säteiden jakolaite vaihtelevien etäisyyksien aikaansaamiseksi tuleville valonsäteille A, B ainakin kahdesta valonjohtimesta, jotka ovat liikuteltavissa tutkittavan levyn paksuuden mukaan laser-5 valonlähteen lähettämien säteiden säderatoja pitkin. Vaihtoehtoisesti tai lisäksi on varustauduttu siten, että säteiden jakolaitteessa on säteenjakaja, jossa on motorisesti levyn paksuudesta riipp\ivasti säädettävä säde-etäisyys.
10 Erittäin tiivis laite saadaan, kun kummankin tulevan valonsäteen sädetielle on sijoitettu ensimmäinen tasainen kään-töpeili, joka suuntaa säteet levyyn noin 49° tulokulmalla eo, sekä kun näiden neljän heijastuneen valonsäteen säde-teille on ennen katkojalaitetta sijoitettu toinen kääntöpei-15 li. Tällöin järjestetään laitteen elementit parhaiten niin, että 1. aserva 1. onl ähde ja kääntöpeili. ovat suunnatut siten, että ensimmäiseen kääntöpei 1 i i n tulevat valonsäteet, ja toisesta kääntöpei1istä heijastuneet valonsäteet Ai, A2 , B1, B2 kulkevat, levyn keskinormaal .in suhteen lähes saman-20 suuntaisina, ja vieläpä olellisesti samansuuntaisina.
Jos levyn optisesta laadusta on tehtävä laaja arviointi, järjestetään mittauslaite keksinnön mukaisesti ilmaisemaan kummankin levyn pinnan heijastuksen tai 1.t ovoimat sekä poik-V. 25 keamakulmat ja näiden neljän heijastuneen valonsäteen AI, A2, Β.Ί , B2 siirtymän tai ttovol man paikantavan ilmaisimen osumakohdissa, sekä tulevien valonsäteiden A, B välinen • · : .1· etäisyys ai. .
• · « • 4 · · • · .·;·.30 Ilmaisimena sopii käytettäväksi erityisesti valon tulotason • · « yksiulotteisesti paikantava analoginen valoilmaisin. 2 2
Eräässä erityisen edullisessa suoritusmuodossa käsittää i lmaisinlaite heijastuneiden valonsäteiden AI, A2 , B1, B2 ·:·’;35 sädetielle järjestetyn katko jal aitteen , jolloin kat.koja-·;·· laite ja säteiden jakolaite on ovat säädettävissä siten, . että nämä nel jä hei jastxmutta valonsädettä AI, A2, Bl, B2 ·;;/ osuvat paikantavalle ilmaisimelle ajallisesti erotettuina.
« « · 6 101750 Tällöin on keksinnön mukaisessa laitteessa heijastuneiden säteiden AI, A2, B1, B2 säderadoille ja ensisijaisesti vielä katkojalaitteen ja paikantavan ilmaisimen väliin sijoitet-5 tu keskittämisl ai te, jonka levystä poispäin olevalla polttotasolla paikantava ilmaisin sijaitsee.
Katkojalaitteen tehtävänä on antaa näiden neljän heijastuneen valonsäteen osua paikantavalle ilmaisimelle peräk-10 käin. Rakenteeltaan erittäin pieni katkojalaite, joka ei aiheuta virheitä levyn yläpinnan tulotasoa pitkin olevien vääristymien aiheuttamien heijastuneiden valonsäteiden poikkeamiin tulotasossa, muodostuu rummusta, missä on ainakin yksi rummun akselin kanssa samansuuntaisesti suunnattu 15 rakosuljin, jolloin rumpu on sijoitettu siten kallistetuksi, että vain sen levystä poispäin oleva rummunsei nämä katkaisee heijastuneiden valonsäteiden AI, A2, B l., B2 säderadan.
Suuren mittaustaajuuden saavuttamiseksi puolustettavissa olevilla rummun kierrosnopeuksi11 a on laite suunniteltu 20 siten, että rummun seinämässä on ainakin neljä tasavälein sijoitettua rakosuljinta.
Eräässä toisessa suoritusmuodossa on säteiden jakoi ai te säädettävissä siten, että nämä neljä heijastunutta valon- 25 sädettä Α.Ί , A2, Β.Ί., B2 osuvat paikantavaan ilmaisimeen •;i . tilallisesti erotettuina ja ilmaisin on sovitettu neljän ;*·,· heijastuneen säteen AI, A2, B1, B2 samanaikaiseen paikan- * · : tavaan vastaanottoon. Ilmaisin koostuu tässä tapauksessa • · · • · · · useista yksittäisistä, valon tulotasoon vierekkäin sijoite- • · ... 30 tusta, erikseen vastaavasta valoherkästä elementistä.
• · « • · «
Keksinnön mukaista menetelmää ja keksinnön mukaista laitetta käytetään erittäin edullisesti tasolasilevyjen, erityisesti i i • « f 1 oatlasi 1 evyjen laadun tarkastukseen.
* ...·:35 i * ....: Keksintö hyödyntää sitä yllättävää tietoa, että samanaikai- •# nen lasin kummankin pinnan heijastusoptiikan sekä levyn • · · :·: · siirto-optiikan arviointi on mahdollista, vaikka valonsäteet • · « • · • · • · · 7 101750 suunnataan yksinomaan toiselle 1 evyp.innal 1 e ia havainnoidaan ainoastaan heijastuneita valonsäteitä. Erityisen edullista on, ettei, levyn valonlähteestä poispäin olevalla puolella tarvita mitään laitteen osia ja ettei levyä tarvitse kään-5 tää. Tämän lisäksi on mittaustulos suurin piirtein riippumaton levyn etäisyydestä mittalaitteesta. Täten saavuttaa keksintö tehtävän ratkaisun hämmästyttävän yksinkertaisin keinoin.
10 Keksinnön mukainen laite voidaan sijoittaa tuotantolinjan halutulle kohtaa, koska sen tilantarve on äärimmäisen pieni. Mitt.axisten suorittamiseksi kuljetetaan läpinäkyvät levyt yhdenmukaisina mittalaitteen ohi. Vaihtoehtoisesti laitetaan itse mittalaite levyihin nähden liikuteltavaksi. Keksinnön 15 mukaisen menetelmän ja laitteen edulliset suoritusmuodot ovat niitä koskevien muiden patenttivaatimusten kohteena.
Keksintöä kuvataan jäljempänä lähemmin piiroksen yhteydessä. Tällöin kuvataan 20 kuviossa 1 laitteen kaaviollista rakennetta, kuviossa 2 kaaviollista esitystä tulevista lasersäteistä A ja B sekä heijastuneista lasersäteistä AI, A2, Bl, B2 lasilevyssä, jolla on ihanteelliset tasot ja samansuuntaiset ulkopinnat, V 25 kuviossa 3 kaaviollista esitystä tulevista lasersäteistä A *1“- ja B ja heijastuneista lasersäteistä AI, A2, Bl, B2 aal- tomaiset ulkopinnat omaavassa lasilevyssä.
• · • · • · « • · · • · · ·
Kuviossa 1 kuvataan ensin ei mittakaavaista esitystä keksin- ,·;·.30 nön mukaisen laitteen periaatteellisesta rakenteesta.
• ♦ · . Laserista 10, esimerkiksi helium-neonlaserista, tulee suun nilleen levyn keskinormaalin kanssa samansuuntainen valonsäde, joka jaetaan säteenjakajassa 14 kahdeksi keskenään :":35 yhdensuuntaiseksi valonsäteeksi, joilla on toisistaan kiin-«'<·· teä etäisyys.
a · • · Tässä voidaan käyttää vaihtoehtoisesti säteen jakajaa 12 tai I · « « I I · 8 101750 säteen jakajaa 14, jotka antavat mitattavan levyn paksuudesta riippuen esimerkiksi 2,0 mm ia 4,5 mm olevan säteiden välisen etäisyyden.
5 Kummatkin valonsäteet tulevat kääntöpei1iin 16, joka heijastaa säteet siten, että ne osuvat levyyn parhaiten 49“ tulo-kulmassa, mikä on heijastettujen säteiden keskinäisellä etäisyydellä toisistaan suurin saavutettavissa oleva.
10 Tulevien valonsäteiden heijastumisesta kummastakin levyn ulkopinnasta syntyy neljä heijastunutta valonsädettä Ai, A2, B1, B2, jotka tulevat käänt.öpei 1 i i n 18 ja ohjataan siitä i. lmaisinl ai t teeseen . Se koostuu vakionopeudella pyörivästä katkoja! ai tteest.a 20, keski tys] ai tteesta (linssistä) 22 15 sekä paikantavasta valoherkästä ilmaisimesta 24.
Linssi 22 toimii näiden neljän heijastuneen valonsäteen keskittävänä ilmaisimeen 24 siten, että kaikki valonsäteet osuvat, vaikkakin eri aikoina, samaan pisteeseen, sikäli 20 kuin niiden heijastuskulmat ovat samat. Linssi 22 on parhaiten katkojalaitteen 20 ja ilmaisimen 24 välissä.
Katkojalaite 20 on vinosti säderadalle sijoitettu rumpu, jossa on rummun seinämässä rakoja 28, joiden etureunan yli V 25 valonsäteet voivat edetä, kun ne taas voivat läpäistä rummun ' takaseinän vain raon 28 kautta.
« · • * ♦ • · · • · • Laitetta täydennetään tässä vain viitatulla tul kintal ai t-«·« · ....j teella 34 sekä ohjauslaitteella 36 säteiden välisen etäisyy- ,*:*.30 den muuttamiseksi tutkittavan levyn 26 paksuudesta riip- • · · puen. Tällainen etäisyyden muuttaminen on tarpeen silloin, . kun heijastuneet säteet eivät jollain määrätyllä levyn paksuudella ole enää tarpeeksi tilallisesti erotettuja
I
'·' ‘ toisistaan katkojalaitteeseen 20 osuessaan. Siinä tapaukses- ·:··:35 sa on valosignaalien riittävästä erotuksesta huolehdittava ·;·· lisäämällä tai vähentämällä säteiden välistä etäisyyttä.
Tutkittavan levyn paksuus ilmoitetaan tässä ei kuvatun • · · ·;!/ paksuusmittarin avulla, se otetaan tuotetietopankista, tai « · « · • · · 9 101750 annetaan käyttäiän toimesta.
Tulkintalaite 24 koostuu tavallisesti signaalien käsittelyvaiheesta ilmoittamaan neljän heijastuneen valonsäteen 5 osumakohdat paikantavalle ilmaisimelle 24, sekä tietojen käsittelyvaiheesta, joka laskee osumakohdista etsityt optiset suureet.
Keksinnönmukaisen menetelmän puitteissa tapahtuva tutkit-10 tavien, levyjen 26 optisen laadun määrittävien suureiden havaitseminen selitetään jäljempänä kuvioissa 2 ja 3. Tällöin esittää kuvio 2 ihanteellistettua lasilevyä, jolla on tasoyhdensuuntai set. ja virheettömät pinnat, kun taas kuviossa 3 on kuvattu - voimakkaasti liioiteltuna - suhteita 15 aaltomaisilla pinnoilla.
Havaittavissa on kulloinkin kulmassa so, noin 49“ levyn keskinormaalista mitattuna (kuvio 3), lasilevylle tulevat yhdensuuntaiset valonsäteet A, B. Niiden välinen etäisyys 20 on ai.. Heijastumalla etummaisesta levyn pinnasta 30 syntyy heijastuneet valonsäteet AI, B1, jotka tällöin ovat kulmassa ei ja e.3 levyn keskinormaaliin OA. Vastaavasti syntyy levyn takapinnasta 32 heijastumalla heijastuneet valonsäteet A2, B2, jotka jättävät lasilevyn kulmassa e? sekä e.4 .
* I • « ( /< 25 *i“‘ Kuvioiden 2 ja 3 vertailu osoittaa, että vääristymän omaa- :*V. vassa lasilevyssä (kuvio 3) eivät heijastuneet valonsäteet • AI, A2, B1, B2 kulje samansuuntaisina, kuten on laita ihan-*·· · teellisen lasilevyn (kuvio 2) tapauksessa. Tulokulmaan eo 30 nähden muuttuneista heijastuskulmista ej , e?, E3 , E* voidaan • · « keksinnön mukaisen menetelmän ja laitteen käytöllä ja hyväk- . symällä pienet tasaisuuden poikkeamat, laskea seuraavat, • · ,,, optista laatua määrittävät suureet: # i-
Siirtymän poikkeamakulma •:";35 = e* - ei
Siirtymän taittovoima . = vakio · ((e· - E3) - (ε? - ei))/ai.
Cl
Etupinnan (30) heijastustaittovoima « e • · e * 10 101750 = vakio · (es - ei )/aj.
Takapinnan (32) heiiastustaittovoima = vakio · (e4 - £7 + e3 -ei )/aj.
5 Näin saadut mittasuureet voidaan nyt alistaa seuraavaan ratkaisuun. Näin voidaan esimerkiksi laskea uudelleen 49“ tulokulmasta johdettu mittasuure tulokulmalle 0" (kohtisuora tulo). Tämän lisäksi on matemaattisten menetelmien avulla tai elektronisella suodatuksella mahdollista erottaa tait-10 tovoimat ja poikkeutuskulma paikan funktiona pitkäaaltoi sei -le ja lyhytaaltoiselle osuudelle.
Kuvion 2 yhteydessä on vielä selvitettävä, millä tavalla etäisyys ai. on eri levyn paksuuksilla sovitettava. Jos levyn 15 26 paksuutta lisätään kuvion 2 esitykseen nähden, lähestyvät valonsäteet B1 ja AI lisääntyvästi toisiaan, kunnes ne lopulta tietyllä levyn paksuudella yhtyvät. Koska keksinnön mukainen menetelmä on sovellettavissa vain silloin, kun paikantavaan ilmaisimeen 24 osuu todellisesti neljä heijas-20 tunutta valonsädettä AI, A2, B1, ja B4, on tässä tapauksessa muutettava etäisyyttä a», niin pal jon, että kaikkien neljän heijastuneen valonsäteen, erityisesti B1 ja A2 välille saadaan aikaan riittävä etäisyys. Tämä voi tapahtua vaihtamalla säteenjakajia 12 ja 14, tai tapahtua myös - motori-25 sesti ohjatun - säteiden välisen etäisyyden ai. säädöllä.
• «.
Edellä olevassa kuvauksessa, kuvioissa sekä patenttivaati- • * | ·*; muksissa esi tetyt keksinnön tunnukset ovat sekä yksinään • · · · että haluttuna yhdistelmänä oleellisia keksinnön toteutuk- • · ,···, 30 sessa sen eri suoritusmuotoina.
• · e t • · <: 35 * a r c

Claims (23)

101750 11
1. Menetelmä optisen laadun määrittämiseksi läpinäkyvässä levyssä (26), erityisesti floatlasilevyssä, jolloin kaksi 5 yhdensuuntaista, tietyn keskinäisen etäisyyden (aL) toisiinsa omaavaa valonsädettä (A, B) suunnataan levyn keskinormaalin (OA) suhteen terävässä kulmassa (e0) levyyn, levyn heijastamat säteet kootaan erikseen valoherkän ilmaisimen (24) omaavalla ilmaisinlaitteella, ja heijastuneiden valonsäteiden 10 suunnat tulkitaan, tunnettu siitä, että kaikki neljä levyn kummankin pinnan heijastamaa valonsädettä (AI, A2, Bl, B2) kootaan paikantavalla ilmaisimella, että tulevien valonsäteiden (A, B) keski-näinen etäisyys ja tulokulma (€0) säädetään levyn paksuudesta riippuen siten, että heijastuneet 15 valonsäteet (AI, A2, Bl, B2) voidaan ottaa ilmaisinlaitteella vastaan tilallisesti erotettuina, ja että kaikkien neljän heijastuneen valonsäteen (AI, A2, Bl, B2) osumakohdista paikantavalle ilmaisimelle voidaan laskea parametrit levyn optisen laadun määrittämiseksi määrällisesti. 20
2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att de infallande 1jussträlarna (A, B) ges en infallsvinkel (e0) pä omkring 49° mot skivan. 5 3. Förfarande enligt nägot av de föregäende patentkraven, kannetecknat av att de reflekterade 1jussträlarna (AI, A2, Bl, B2) upptas av den punktupplösande detektorn pä ett tids-mässigt ätskilt sätt. 10 4. Förfarande enligt patentkrav 3, kannetecknat av att de reflekterade 1jussträlarna (AI, A2, Bl, B2) fokuseras pä den punktupplösande detektorn.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että tulevat valonsäteet (A, B) suunnataan levyyn noin 49° tulokulmassa e0. « « « « « « « <
3. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetel- < mä, tunnettu siitä, että heijastuneet valonsäteet (AI, A2, • · · Bl, B2) kootaan paikantavalle ilmaisimelle ajallisesti ero- *:1·: tettuina. • ·· • · · • · ·
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että heijastuneet valonsäteet (AI, A2, Bl, B2) tar- • · · kennetaan paikantavalle ilmaisimelle. • · · · · • ’.· 5. Patenttivaatimuksen l tai 2 mukainen menetelmä, tunnet- 35 tu siitä, että heijastuneet valonsäteet (AI, A2, Bl, B2) .···. kootaan paikantavalle ilmaisimelle ilman tarkennusta oleel- • · · * lisesti samanaikaisesti, mutta tilallisesti erotettuina. • · 101750 12
5. Förfarande enligt nägot av patentkraven 1 eller 2, 15 kännetecknat av att de reflekterade 1jussträlarna (AI, A2, Bl, B2) upptas av den punktupplösande detektorn i huvudsak samtidigt men rumsmässigt isärskilt.
6. Förfarande enligt nägot av de föregäende patentkraven, 20 kännetecknat av att reflexionsvinklarna (e,, e2, e3, e4) fast- ställs med utgängspunkt frän de reflekterade ljussträlarnas (AI, A2, Bl, B2) träffpunkter pä den punktupplösande detektorn. 25 7. Förfarande enligt patentkrav 6, kännetecknat av att de bäda skivytornas reflexionssträlbrytning liksoin avlänknings- • vinkel ooh transmissionssträlbrytning beräknas med utgängs- * · · · ·:··· punkt frän ref lexionsvinklarna (e,, e2, e3, e4) avseende de reflekterade 1 jussträlarna (AI, A2, Bl, B2) och det inbördes 30 avständet (aL) hos de infallande 1jussträlarna (A, B) enligt följande: • · · • · ··· • · · •. Transmi s s i onsavlänkningsvinkel TV = e2 - e,
35 Transmissionssträlbrytning = konstant · [(e4 - e3) - (e2 - e,)] /aL « · · . Reflexionssträlbrytning avseende den Övre ytan = konstant (e3, ei)/aL 101750 17 Reflexionssträlbrytning avseende den undre ytan = konstant (€4-643+63-6^ /aL
6. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että heijastuneiden valonsäteiden (Ai, A2, Bl, B2) osumakohdista paikantavalle ilmaisimelle ilmoitetaan niiden heijastuskulmat (e,, e2, e3, e4) . 5
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että heijastuneiden valonsäteiden (Ai, A2, Bl, B2) heijastuskulmista (elf e2, e3, e4) ja tulevien valonsäteiden (A, B) välisestä etäisyydestä ilmoitetaan levyn kummankin 10 pinnan heijastustaittovoima, sekä poikkeutuskulma ja siirron taittovoima lasketaan seuraavasti: Siirron poikkeutuskulma = e2 - e,
8. Anordning för bestämning av en transparent skivas (26) 5 optiska kvalitet, speciellt för genomförande av förfarandet enligt nägot av föregäende patentkrav, med en laserijuskalla (10) och en sträldelningsanordning (12, 14) för alstring av tvä ett inbördes avständ (aL) uppvisande parallella ljussträ-lar (A, B), vilka under en spetsig vinkel med avseende pä 10 skivnormalen (OA) inriktas mot skivan, en, en ljuskänslig detektor (24) uppvisande detektoranordning för separat fastställning av de reflekterade ljussträlarna och med en utvärderignsanordning (34) för bestämning av skivans optiska kvalitet med utgängspunkt frän signalen frdn detektoranord-15 ningen, kännetecknad av att detektoranordningen uppvisar en punktupplösande detektor (24) och att utvärderingsanordnin-gen, för utvärderingen av de skivans optiska kvalitet känne-tecknande kvantitativa parametrarna, är inriktad utifrän de fyra frän de bäda ovanytorna reflekterade ljussträlarna (AI, 20 A2, Bl, B2) mot den punktupplösande detektorn.
8. Laite läpinäkyvän levyn (26) optisen laadun määrittämiseksi, erityisesti jonkin edellisen patenttivaatimuksen me- • · · netelmän suorittamiseksi, jossa on laservalonlähde (10) ja '·' ' 25 säteenjakolaite (12, 14) kahden keskinäisen etäisyyden (aL) • · toisistaan omaavan samansuuntaisen valonsäteen (OA) aikaan- • · ;tj · saamiseksi, jotka suunnataan levyyn levyn keskinormaaliin ·:*·: nähden terävässä kulmassa, valoherkän ilmaisimen (24) omaava ilmaisinlaite heijastuneiden valonsäteiden havaitsemiseksi 30 erillisinä, ja tulkintalaite (34) levyn optisen laadun mää-rittämiseksi ilmaisinlaitteen signaaleista, tunnettu siitä, • · · #I.*# että ilmaisinlaitteessa on paikantava ilmaisin (24) , ja että • · · tulkintalaite (34) on asennettu ilmoittamaan levyn (26) op- II' • V tista laatua luonnehtivat määrälliset parametrit levyn (26) « I < 35 kummastakin ulkopinnasta (30, 32) heijastuneiden valonsätei-den (AI, A2, Bl, B2) osumakohdista paikantavaan ilmaisimeen (24) . « « 101750 13
9. Anordning enligt patentkrav 8, kännetecknad av att sträldelningsanordningen för alstring av olika avständ mel-lan de infallande ljussträlarna (A, B) bestär av ätminstone 25 tvä sträldelare (12, 14), vilka är förbara i de frän laser-ljuskällan (10) utsända 1 jussträlarnas strälgäng alltefter \m\ · den undersökta skivans (26) tjocklek. • · ;*·*: 10. Anordning enligt patentkrav 8, kännetecknad av att 30 sträldelingsanordningen uppvisar en sträldelare med ett sj-älvgäende och i beroende av skivans tjocklek inställbart • · · strälavständ. • · · • · · • • 11. Anordning enligt nägot av de föregäende patentkraven, 35 kännetecknad av att de bäda ljussträlarna, som infaller i strälgängen och som utgär frän sträldelningsanordningen, har • « ’ . en första omlänkningsspegel (16) , vilken riktar ljussträlar- • · 101750 18 na (A, B) mot en infallsvinkel pä ungefär 49° i förhällande till skivan (26).
9. Patenttivaatimuksen 8 mukainen laite, tunnettu siitä, että säteiden jakolaite koostuu tulevien valonsäteiden A, B välisten erilaisten etäisyyksien aikaansaamiseksi ainakin kahdesta säteenjakajasta (12, 14), jotka on liikuteltavissa 5 tutkittavan levyn (26) paksuuden mukaan laservalonlähteen (10) lähettämän valonsäteen sädetietä pitkin.
10. Patenttivaatimuksen 8 mukainen laite, tunnettu siitä, että säteenjakolaitteessa on säteenjakaja, jolla on levyn 10 (26) paksuudesta riippuva, motorisesti säädettävä säteiden välinen etäisyys.
11. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen laite, tunnettu siitä, että kummankin tulevan, säteenjakolaitteesta 15 lähtevän valonsäteen sädetielle on sijoitettu ensimmäinen tasomainen kääntöpeili (16), joka suuntaa valonsäteet (A, B), levyyn (26) noin 49° tulokulmassa.
12. Anordning enligt nägot av de föregäende patentkraven, 5 kännetecknad av att en andra omlänkningsspegel (18) är anor-dnad i de fyra reflekterade 1jussträlarnas (AI, A2, Bl, B2) strälgäng.
12. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen laite, 20 tunnettu siitä, että neljän heijastuneen valonsäteen (AI, A2, Bl, B2) sädetielle on sijoitettu toinen kääntöpeili (18) . • · • · · ’·*·* 13. Patenttivaatimuksen 11 ja 12 mukainen laite, tunnettu * * 25 siitä, että laservalonsäde (10) ja kääntöpeilit (16, 18) on • « suunnattu siten, että ensimmäiseen kääntöpeiliin (16) osuvat • · · ja toisen kääntöpeilin heijastamat valonsäteet (AI, A2, Bl, ·:··· B2) kulkevat lähes samansuuntaisina, ja vieläpä oleellisesti samansuuntaisina levyn (26) keskinormaalien kanssa. 30
13. Anordning enligt patentkraven 11 och 12, kännetecknad 10 av att laserijuskällan (10) och omlänkningsspeglarna (16, 18) är sä inriktade att de den första omlänkningsspegeln (16) träffande 1jussträlarna och de frän den andra omlänkningsspegeln (18) reflekterade 1jussträlarna (AI, A2, Bl, B2), löper i det närmaste parallellt i förhällande tili va-15 randra och närmare bestämt huvudsakligen parallellt i förhällande tili skivans (26) skivnormal.
14. Anordning enligt nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknad av att utvärderingsanordningen (34) för fast- 20 ställande av reflexionssträlbrytningen frän de bäda skivyor-na (30, 32) liksom avlänkningsvinkeln och transmissionsst-rälbrytningen är inriktad med utgängspunkt frän de fyra reflekterade ljussträlarnas (AI, A2, Bl, B2) träffpunkter pä den punktupplösande detektorn (24), liksom utgäende frän 25 strälavständet (aL) för de infallande 1jussträlarna (A, B). « V * • · : 15. Anordning enligt nägot av de föregäende patentkraven, ·:·♦♦ kännetecknad av att detektorn (24) utgörs av en i ljusin- fallsplanet en dimensionell punktupplösande analog fotode-30 tektor. • · • ♦ · ♦ · ♦
14. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen laite, « · · 1/. tunnettu siitä, että tulkintalaite (34) on sovitettu il- • · · *. moittamaan levyn kummankin pinnan (30, 32) heijastustaitto- ** * • ',* voimat sekä poikkeutuskulma ja siirron taittovoima neljän : 35 heijastuneen valonsäteen (AI, A2, Bl, B2) osumakohdista pai- .j., kantavalle ilmaisimelle (24) , ja tulevien valonsäteiden (A, • · · ‘ . B) välinen etäisyys (aL) . • ♦ 101750 14
15. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen laite, tunnettu siitä, että ilmaisin (24) on valon tulotasossa yksiulotteisesti paikantava analoginen valoilmaisin.
15 Siirron taittovoima = vakio · ((€4 - €3) - (e2 - 6,)) / aL Etupinnan heijastustaittovoima = vakio (e3 - ej) / aL Takapinnan heijastustaittovoima 20 = vakio · (e4 - e2 + e3 - e,) / aL
16. Anordning enligt patentkrav 15, kännetecknad av att • ♦ ♦ *\ detektoranordningen innefattar en i de reflekterade ljus- i '/< strälarnas (AI, A2, Bl, B2) strälgäng anordnad uppdelnings- 35 anordning (20), och att uppdelningsanordningen (20) och « 4 · sträldelningsanordningen (12, 14, 16) är sä inriktningsbara, ' . att de fyra reflekterade 1jussträlarna (AI, A2, Bl, B2) • · 19 101750 träffar den punktupplösande detektorn (24) vid tidsmässigt ätskilda tidpunkter.
16. Patenttivaatimuksen 15 mukainen laite, tunnettu siitä, että ilmaisinlaite käsittää heijastuneiden säteiden (AI, A2, Bl, B2) sädetielle sijoitetun katkojalaitteen (20), ja että katkojalaite (20) ja säteenjakolaite (12, 14, 16) on asennettu siten, että nämä neljä heijastunutta valonsädettä (Ai, 10 A2, Bl, B2) osuvat paikantavaan ilmaisimeen (24) ajallisesti erotettuina.
17. Anordning enligt patentkrav 16, kännetecknad av att en 5 fokuseringsanordning (22) är anordnad i de reflekterade ljussträlarnas (AI, A2, Bl, B2) stralgang och att den punktupplösande detektorn (24) är anordnad i fokusering-sanordningens (22) skivfränvända brännplan.
17. Patenttivaatimuksen 16 mukainen laite, tunnettu siitä, että heijastuneiden valonsäteiden (AI, A2, Bl, B2) sädetiel- 15 le on sijoitettu tarkennuslaite (22) ja paikantavan ilmaisin (24) on sijoitettu kiinteästi tarkennuslaitteen (22) levystä poispäin olevalle polttotasolle.
18. Anordning enligt patentkrav 17, kännetecknad av att fokuseringsanordningen (22) är anordnad mellan uppdelnings-anordningen (20) och den punktupplösande detektorn (24).
18. Patenttivaatimuksen 17 mukainen laite, tunnettu siitä, 20 että tarkennuslaite (22) on sijoitettu katkojalaitteen (20) ja paikantavan ilmaisimen (24) väliin.
19. Anordning enligt nägot av patentkraven 16 tili 18, 15 kännetecknad av att en fokuseringsanordning för fokusering av de infallande 1jussträlarna (A, B) pä uppdelningsanord-ningen (20) är anordnad mellan laserijuskällan (10) och sträldelningsanordningen (12, 14) i strälgängen för de infallande ljussträlarna (A, B).
19. Jonkin patenttivaatimuksen 16-18 mukainen laite, • · :.V tunnettu siitä, että tulevien valonsäteiden (A, B) säde- t 25 tielle on laservalonlähteen (10) ja säteenjakolaitteen (12, 14) väliin sijoitettu keskityslaite tulevien valonsäteiden • · • (A, B) keskittämiseksi katkojalaitteeseen (20) . ··· · • ·
20. Anordning enligt nägot av patentkraven 16 tili 19, kännetecknad av att uppdelningsanordningen (20) är bildad av en trumma med ätminstone en parallellt med trumaxeln inriktad '''‘ slitsbländare (28) i trumväggen, varvid trumman är sä sned- 25 ställt anordnad, att endast dennas frän skivan (26) vända % trumvägg inrymmer de reflekterade ljussträlarnas (AI, A2, ·.« j Bl, B2) strälgäng. • «
20. Jonkin patenttivaatimuksen 16-19 mukainen laite, tun- • · · 30 nettu siitä, että katkojalaite (20) on muodostettu rummusta, . . jossa rummun seinässä on ainakin kaksi rummun akselin kanssa • · · *;1;1 samansuuntaisesti suunnattua rakosuljinta (28) , jolloin rum- • · · *·1 1 pu on järjestetty siten vinoon asennetuksi, että vain rummun levystä (26) poispäin käännetty seinämä katkaisee heijastu-."‘, 35 neiden valonsäteiden (AI, A2, Bl, B2) sädetien. i < < lit • I · • · « · 101750 15
21. Anordning enligt patentkrav 20, kännetecknad av att det 30 pä trumväggen finns ätminstone fyra likformigt utmed trum- väggen fördelade slitsbländare (28) . ♦ · · • » • · · • · « • · · \ 22. Anordning enligt nägot av patentkraven 8 tili 14, känne- • · · • *.· tecknad av att sträldelningsanordningen (12, 14, 16) är sä • · « 35 inställbar, att de fyra reflekterade ljussträlarna (AI, A2, Bl, B2) träffar den punktupplösande detektorn (24) rumsmäs-sigt uppdelat, och att detektorn (24) är inriktad för samti- • * 101750 20 dig punktuppiösande upptagning av de fyra reflekterade 1jussträlarna (AI, A2, Bl, B2).
21. Patenttivaatimuksen 20 mukainen laite, tunnettu siitä, että laitteessa on ainakin neljä rummun seinämälle tasavälein jaettua rakosuljinta (28).
22. Jonkin patenttivaatimuksen 8-14 mukainen laite, tunnet tu siitä, että säteenjakolaite (12, 14, 16) on säädettävissä siten, että neljä heijastunutta valonsädettä (AI, A2, Bl, B2) osuvat ilmaisimelle (24) tilallisesti erotettuina, ja että ilmaisin (24) on asennettu näiden neljän heijastuneen 10 valonsäteen (Ai, A2, Bl, B2) samanaikaiseen paikantavaan vastaanottoon.
23. Patenttivaatimuksen 22 mukainen laite, tunnettu siitä, että paikantava ilmaisin (24) koostuu lukuisista yksittäi-15 sistä, valon tulotasoon vierekkäin sijoitetuista, erikseen vastaavista valoherkistä elementeistä. 20 1. Förfarande för bestämning av den optiska kvaliteten hos en transparent skiva (26), speciellt en flytglasskiva vid vilken tvä parallella och ett inbördes avständ (aL) uppvisan-de ljussträlar (A, B) riktas mot skivan under spetsig vinkel f < V,: (e0) med avseende pä skivnormalen (OA) , varvid de frän skivan 25 reflekterade 1jussträlarna fängas upp separat medelst en, en :t'.j ljuskänslig detektor (24) uppvisande detektoranordning, för : att utvärdera riktningen hos de reflekterade 1 jussträlarna, ··« · ·;··· kannetecknat av att alla fyra frän de bäda ovanytorna (30, .·:·. 32) pä skivan (26) reflekterade 1 jussträlarna (Ai, A2, Bl,
30 B2) fängas upp av en punktupplösande detektor (24), att det . . inbördes avständet och infallsvinkeln (e0) hos de infällande • · · I.*. 1 jussträlarna (A, B) ställs in sä i beroende av skivtjockle- • · · * ken, att de reflekterade 1jussträlarna (AI, A2, Bl, B2) kan ί uppfattas rumsmässigt isärskiljbart av detektoranordningen, 35 och att utgäende frän träffpunkterna för alla de fyra ref-lekterade 1jussträlarna (AI, A2, Bl, B2) pä den punktupplö- • · · * . sande detektorn, parametrarna för kvantitativ bestämning av skivans optiska kvalitet beräknas. 101750 16
23. Anordning enligt patentkrav 22, kännetecknad av att den 5 punktupplösande detektorn bestär av ett flertal enskilda, i 1jusinfallsplanet under varandra anordnade, separatavläsbara ljuskänsliga element. « < i < t « « • ♦ • · • · · • · · • «· · ♦ • · ··· • · ♦ • · · • ♦ » · · • · 1 • · ··· • · ♦ • · · * 1 · t « « • · • · « · · • ♦ • · t 4 « • « · • « · » · 1 ♦
FI915218A 1990-11-06 1991-11-05 Menetelmä ja laite läpinäkyvän levyn optisen laadun määrittämiseksi FI101750B1 (fi)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4035168 1990-11-06
DE4035168A DE4035168A1 (de) 1990-11-06 1990-11-06 Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der optischen qualitaet einer transparenten platte

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI915218A0 FI915218A0 (fi) 1991-11-05
FI915218A FI915218A (fi) 1992-05-07
FI101750B true FI101750B (fi) 1998-08-14
FI101750B1 FI101750B1 (fi) 1998-08-14

Family

ID=6417687

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI915218A FI101750B1 (fi) 1990-11-06 1991-11-05 Menetelmä ja laite läpinäkyvän levyn optisen laadun määrittämiseksi

Country Status (16)

Country Link
US (1) US5210592A (fi)
EP (1) EP0485043B1 (fi)
JP (1) JPH0776752B2 (fi)
AR (1) AR246351A1 (fi)
AT (1) ATE115288T1 (fi)
AU (1) AU640058B2 (fi)
BR (1) BR9104819A (fi)
DE (2) DE4035168A1 (fi)
DK (1) DK0485043T3 (fi)
ES (1) ES2067142T3 (fi)
FI (1) FI101750B1 (fi)
GR (1) GR3015315T3 (fi)
MX (1) MX9101932A (fi)
PL (1) PL167918B1 (fi)
RU (1) RU2072510C1 (fi)
ZA (1) ZA918798B (fi)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9205655D0 (en) * 1992-03-14 1992-04-29 Roke Manor Research Improvements in or relating to surface curvature measurement
CN1087424A (zh) * 1992-09-29 1994-06-01 昆士兰大学 检测的玻璃中缺陷
DE4318358C2 (de) * 1993-05-28 1996-09-05 Visolux Elektronik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Streulicht erzeugenden Oberflächenfehlern von optischen Medien, wie Glas oder Kunststoff, insbesondere von Fahrzeugscheiben
ES2076083B1 (es) * 1993-06-04 1996-06-01 Fuesca Sl Aparato y metodo de medida y control de la densidad de reticulacion de los tratamientos en caliente y frio del vidrio aligerado.
US5726749A (en) * 1996-09-20 1998-03-10 Libbey-Owens-Ford Co. Method and apparatus for inspection and evaluation of angular deviation and distortion defects for transparent sheets
US5724140A (en) * 1996-10-28 1998-03-03 Ford Motor Company Method and apparatus for determining the quality of flat glass sheet
US5880843A (en) * 1997-09-03 1999-03-09 Vitro Flotado, S.A. De C.V. Apparatus and method for determining the optical distortion of a transparent substrate
US6285451B1 (en) * 1999-04-30 2001-09-04 John M. Herron Noncontacting optical method for determining thickness and related apparatus
US6359686B1 (en) * 1999-06-29 2002-03-19 Corning Incorporated Inspection system for sheet material
DE10027473B4 (de) * 2000-06-02 2007-04-19 Basler Ag Verfahren zum Ermitteln der Neigungen von wenigstens zwei übereinander angeordneten Flächen
US6985231B2 (en) * 2001-09-20 2006-01-10 Strainoptics, Inc. Method and apparatus for measuring the optical quality of a reflective surface
US6857937B2 (en) * 2002-05-30 2005-02-22 Komag, Inc. Lapping a head while powered up to eliminate expansion of the head due to heating
US7435941B2 (en) * 2003-03-14 2008-10-14 Inphase Technologies, Inc. Methods for measuring optical characteristics by differential diffractive scanning
DE102004005019A1 (de) * 2004-01-30 2005-08-18 Isra Glass Vision Gmbh Verfahren zur Bestimmung der Tiefe eines Fehlers in einem Glasband
JP2005233773A (ja) * 2004-02-19 2005-09-02 Denso Corp 距離検出装置
DE102004010311A1 (de) 2004-03-03 2005-09-22 Isra Glass Vision Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Dicke einer transparenten Probe
US8023110B1 (en) * 2007-02-07 2011-09-20 Kla-Tencor Corporation Priori crack detection in solar photovoltaic wafers by detecting bending at edges of wafers
JP5817721B2 (ja) 2010-06-07 2015-11-18 旭硝子株式会社 形状測定装置、形状測定方法、およびガラス板の製造方法
TW201144751A (en) 2010-06-15 2011-12-16 Asahi Glass Co Ltd Shape measurement device, shape measurement method and glass plate manufacturing method
CN102455290B (zh) * 2010-10-18 2013-03-27 北京众智同辉科技有限公司 电致液晶雾化玻璃光学不均匀性的测试方法
RU2475726C1 (ru) * 2011-06-16 2013-02-20 Некоммерческая организация Научно-техническое учреждение "Инженерно-технический центр" открытого акционерного общества "Ижевский мотозавод "Аксион-холдинг" (НТУ "ИТЦ") Устройство контроля качества стекла
KR101700109B1 (ko) * 2015-02-03 2017-02-13 연세대학교 산학협력단 결함 분포 3차원 광 계측 장치 및 방법
CN110050184B (zh) * 2016-11-02 2023-06-13 康宁股份有限公司 检查透明基材上的缺陷的方法和设备及发射入射光的方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3799679A (en) * 1972-06-27 1974-03-26 Ppg Industries Inc Glass distortion scanning system
US3788750A (en) * 1972-12-06 1974-01-29 Libbey Owens Ford Co Inspecting glass
DE2847935A1 (de) * 1978-11-04 1980-05-14 Herbert Dipl Ing Dr Schreiner Vorrichtung zum automatischen auffinden von fehlern und/oder verschmutzungen an prueflingen aus transparenten plattenfoermigen werkstoffen, insbesondere flachglas
US4255055A (en) * 1979-05-11 1981-03-10 Libbey-Owens-Ford Company Surface inspection system for detecting flatness of planar sheet materials
DE3800053A1 (de) * 1988-01-04 1989-07-13 Sick Optik Elektronik Erwin Optische fehlerinspektionsvorrichtung
DE3816392A1 (de) * 1988-05-13 1989-11-23 Ver Glaswerke Gmbh Verfahren zur bestimmung der optischen qualitaet von flachglas oder flachglasprodukten

Also Published As

Publication number Publication date
FI915218A (fi) 1992-05-07
ATE115288T1 (de) 1994-12-15
US5210592A (en) 1993-05-11
JPH0776752B2 (ja) 1995-08-16
FI101750B1 (fi) 1998-08-14
BR9104819A (pt) 1992-06-23
DK0485043T3 (da) 1995-05-01
AU8698091A (en) 1992-05-14
ZA918798B (en) 1992-08-26
ES2067142T3 (es) 1995-03-16
EP0485043A3 (en) 1992-12-09
PL167918B1 (pl) 1995-12-30
RU2072510C1 (ru) 1997-01-27
MX9101932A (es) 1992-07-08
PL292250A1 (en) 1992-08-24
DE59103804D1 (de) 1995-01-19
GR3015315T3 (en) 1995-06-30
EP0485043A2 (de) 1992-05-13
DE4035168A1 (de) 1992-05-07
FI915218A0 (fi) 1991-11-05
AU640058B2 (en) 1993-08-12
AR246351A1 (es) 1994-07-29
JPH05209840A (ja) 1993-08-20
EP0485043B1 (de) 1994-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI101750B (fi) Menetelmä ja laite läpinäkyvän levyn optisen laadun määrittämiseksi
US5726749A (en) Method and apparatus for inspection and evaluation of angular deviation and distortion defects for transparent sheets
US6975410B1 (en) Measuring device
AU2006318745B2 (en) Method and apparatus for inspecting a container sidewall contour
DK237089D0 (da) Maaling af krumning af et transparent eller gennemskinneligt materiale
EP1795862A1 (en) Device for measuring thickness of transparent objects
US5724140A (en) Method and apparatus for determining the quality of flat glass sheet
JP4359293B2 (ja) ガラス瓶検査装置
US4527898A (en) Distinctness of image meter
US7554678B2 (en) Device and method for measuring the thickness of a transparent sample
CN108759690B (zh) 工作效果好的基于双光路红外反射法的涂层测厚仪
US3322024A (en) Optical method for the inspection of a transparent object for deffects including comparing light energy at two stations
WO1999064845A1 (en) Defect detecting unit
JPH06505807A (ja) 相対角度の測定装置
JP3848310B2 (ja) ガラス瓶検査装置
JPS5972012A (ja) ギヤツプおよび角度の検出方法ならびに装置
RU2173886C1 (ru) Способ определения сдвоенности банкнот и устройство для его осуществления
US5559341A (en) System for detecting defects in articles using a scanning width which is less than width of portion of the article scanned
JPH0540027A (ja) プロジエクタ用ミラ−の平面度測定方法
JPH05500853A (ja) ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置
SU864076A1 (ru) Устройство дл контрол качества движущейс ленты стекла
JPS6217725B2 (fi)
JP2002168611A (ja) 円筒状被検物の表面凹凸検査方法及び同検査装置
US3466452A (en) Optical apparatus for inspecting the faceplate-to-funnel seal area of a tv tube
US4097151A (en) Method of and apparatus for locating B type and point type defects in a glass ribbon