JPS5994459A - アモルフアスシリコン電界効果型トランジスタ - Google Patents

アモルフアスシリコン電界効果型トランジスタ

Info

Publication number
JPS5994459A
JPS5994459A JP57203931A JP20393182A JPS5994459A JP S5994459 A JPS5994459 A JP S5994459A JP 57203931 A JP57203931 A JP 57203931A JP 20393182 A JP20393182 A JP 20393182A JP S5994459 A JPS5994459 A JP S5994459A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
fet
amorphous silicon
ratio
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP57203931A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0612824B2 (ja
Inventor
Hajime Takesada
武貞 肇
Takumitsu Kuroda
黒田 卓允
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd, Sanyo Denki Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP57203931A priority Critical patent/JPH0612824B2/ja
Publication of JPS5994459A publication Critical patent/JPS5994459A/ja
Publication of JPH0612824B2 publication Critical patent/JPH0612824B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof  ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、アモルファスシリコン電界効果型トランジス
タ(以下a−8i  FETと略す)に関する。近時液
晶表示パネルの一方の基板にゲートライン(走査線)及
びドレインライン(信号線)を多数互いに絶縁した状態
で直交させ、これら各ラインの交差点に薄膜FETをス
イッチング素子として配列し、これを開閉駆動させて各
交差点ととに設けられた表示電極に信号を与え、この部
分の液晶を表示駆動させることによシ、テレビ等の画像
表示を行なう液晶マトリクスパネルの開発が試みられて
いる。本発明は、特にこのような液晶表示パネルにスイ
ッチング素子として使用されるのに適したFETに関す
る。
従来技術 第1図は、a−8i  FETをスイッチング素子とし
て使用した液晶マトリクスパネルの全体構造を示し、(
1)は前面ガラス透明基板、(2)はこの透明基板(1
)内面全面に被着され九ITO膜等透明導電膜よシなる
共通電極、(3)は液晶層、(4)はガラスフリット、
樹脂等よシなるスペーサでシール剤トしてもはたらく。
(5)は背面ガラス透明基板でその内面に複数本のゲー
トライン(X)及びドレインライン(Y)(ソースライ
ンとしてもよい。以下同じ。)が互いに絶縁して直交配
列されている。
(6) (6)・・・t9’−)ライン(X)、ドレイ
ンライン(Y)の各交差点にa−8i  FETを介し
て接続された表示電極である。かかるFETアレイを利
用したマトリクスパネルの1液晶セルの回路構成は、第
2図に示される。(C)は、液晶パネル(LCD)に並
列に付加容量として介挿されたコンデンサである。
第6図及び第6A図は、1個ノa−8i・FETの具体
的構造を示し、<x)(Y)は、前述したゲートライン
及びドレインラインで、絶縁層(7)を介して隔てられ
ている。ゲートライン(X)及びドレインライン(Y)
はガラス基板(5)の表面に形成される。ゲー1−(G
)の上方には絶縁層(7)を介してアモルファスシリコ
ン層(As)が形成され、その両端部分にゲート(G)
を挾む如くソース(S)及びドレイン(D)が形成され
る。ドレイン(D)i’i、ドレインライン(Y)の一
部にて兼用される。(6)は、前述した表示電極であ夛
、ソース(8)に接続される。通常ゲートライン(X)
はクロムOrと金Auの2重層にて、表示電極(6)は
、ITO9にて、またソース(8)及びドレインライン
(Y)は、アルミAlにて形成される。また絶縁膜(7
)には、プラズマCVD法によって形成されたシリコン
ナイトライド8iaN4膜が使用される。
然しながら、アモルファスシリコンは、艮好な光導電体
であるため、この種表示パネルの如く光を多量に入射さ
せる装置に使用した場合、a −Si  FETオフ時
に光電流が発生するという問題がある。第4図は、従来
の典型的なa−8iFE’I’(7)電流特性を示し、
光遮断時におけるオフ電流(VG=OV)は曲線(a)
に示すように約5×1、、−11人、これに対し、ゲー
トに約6000ルクスの光を照射したときのオフ電流は
、曲線(b)に示す8 ように約7X10  Aに増大する。この電流の増大は
、いうまでもなく光電流によるものである。
光照射におけるかかるオフ電流(VG=OV)とオン電
流(V、G=、15V)の比は、約10  gも達せず
、テレビ等の画像表示に利用したとき、オフ時にあって
もこのオフ電流によシ表示状態になるという欠点を生じ
る。これを防止するため従来ゲート領域を覆って遮光膜
を形成し、外光の入射を阻止する方法が提案されている
が、この方法では遮光膜の形成さらにこの遮光膜として
金属膜が適していることから、ゲートとの絶縁を図る絶
縁膜の形成等工程が増加しかつ構造も複雑となり、コス
ト上昇、歩留シ低下等の問題を生ずる。
発明の目的 本発明は、a−8i  FETにおいて、光照射時ソー
ス・ドレイン間に流れるオフ電流の発生を抑制し、遮光
膜を使用することなく、オフ状態にあるFETの不所望
なオン動作を阻止することを目的とする。
発明の構成 本発明は、ゲートに約3000ルクスの光を照射したと
きソース・ドレイン間に流れるオフ電流とオン電流の比
が少なくとも約10 以上である電流特性を有するa−
8i  FETに関する。
実施例 本発明に保るa’−8i  FETは、プラズマCVD
法によシ、次の条件で形成される。シランガスB iH
43%ヲ含むアルゴンガスArの流量は63 cc /
 fi (第6図)、31cc/m(第6図)、29 
cc/m (第7図)、26CC/峨(第8図)に各々
設定される。その他の条件紘共通であり、温度250°
C1真空度0.35tOrr、発振出力65W、成長時
間45分である。図中曲線(a)は光遮断状態における
特性、曲線の)は、FETのゲートに標準ランプ例えば
、東京芝浦電気株式会社製マツダ測光標準電球(水平光
度測定用、形式60■、40カンデラ)にて約6000
ルクスの光をあてた場合の特性である。尚、ソース・ド
レイン間電圧は、約6、OVである。流量33cc/m
、31 cc/i、 29 cc/鯛の場合、光照射時
におけるオン・オフ比は約10 、また流量26ac/
mの場合、約10 である。かかるオン・オフ比は、テ
レビ画像表示に充分利用でき、オフ電流によって不所望
な表示が現われることはカい。
尚、前述した従来例(第4図)に示す特性は、流量を8
0cc/smとしてアモルファスシリコンを形成した場
合であシ他め条件は、実施例と同一である。
本発明者らは、8iH4ガスの流量を減少してアモルフ
ァスシリコンの成長速度を低下させて一定膜厚、例えば
0.15μのアモ□ルファスシリコン層を生成した場合
と、8iH4ガスの流量を増加してアモルファスシリコ
ンの成長速度を上けて上記一定膜厚のアモルファスシリ
コン層を生成した場合について実験を行なった結果、成
長速度の遅い前者の例では、本実施例の如きオン・オフ
比の向上がみられるが、成長速度を早めた後者の例では
、従来例の如きオン・オフ比の低下がみられるという傾
向を発見した。これよシ、アモルファスシリコンの成長
速度を低下させた方が、大きいオン・オフ比を得ること
ができ、かつそのオン・オフ比の向上と、成長速度は、
略リニヤな関係にあることを確認した。尚実施例におけ
るa−8iFETのトランジスタとしての特性は、従来
例と全く変らず、それ故、オフ電流のみの低下が実現さ
れていることは、第5図ないし第8図に示す特性図よシ
明らかである。
発明の効果 本発明によれば、a−8t  FETに光をあてた状態
であっても、オフ電流値は小さく、オン・オフ比を約1
0 以上とすることができるから、オフ状態にあるFE
Tがそのオフ電流の増大によジオン動作し不所望な表示
を行なうという問題は解消される。a−8i  FET
が、入射光を利用して画像表示を行なう液晶表示パネル
の各画素に接続されるスイッチング素子として、期待さ
れているものである以上、光の入射は不可避な問題であ
ることを考えれば、トランジスタとしての特性を維持し
、光電流のみ抑制された本発明a−8iFETは、この
種表示パネルに使用して最適である。本発明は、前述の
如くオン・オフ比が向上するものであるから、従来必要
であった遮光膜が不要となシ、その生成工程、絶縁膜生
成工程等の工程数増加に伴う不良発生率の増大、コスト
上昇等の欠点を解消することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、液晶マトリクスパネルの一般的構成を示す分
解斜視図、第2図はその一部回路図、第6図は具体的構
造を示す平面図、第6A図は、第6図A−A’断面図、
第4図は従来例特性図、第5図ないし第8図は、・それ
ぞれ本発明実施例特性図である。 (1)(51・・・・・・透明基板、(2)・・・・・
・共通電極、(3)・・・・・・液晶層、(6)−・・
・・・表示電極、(7)・・・・・・絶縁層、(X)・
・・・・・ゲートライン、(Y)・・・・・・ドレイン
ライン。 第1図 第4図 Vc、  (V) −100702030 VcT (V) 図 −700102030 Vα  (Vン −100702030 Vcr  (V) −to     o      to     20 
   30VCt、CV)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、トランジスタオフ状態でゲートに約6000/L/
    クスの光を照射したとき、ソース・ドレイン間に流れる
    オフ電流とオン電流の比が少なくとも約10以上である
    電流特性を有するアモルファスシリコン電界効果型トラ
    ンジスタ。
JP57203931A 1982-11-19 1982-11-19 アモルファスシリコン電界効果型トランジスタの製造方法 Expired - Lifetime JPH0612824B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57203931A JPH0612824B2 (ja) 1982-11-19 1982-11-19 アモルファスシリコン電界効果型トランジスタの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57203931A JPH0612824B2 (ja) 1982-11-19 1982-11-19 アモルファスシリコン電界効果型トランジスタの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5994459A true JPS5994459A (ja) 1984-05-31
JPH0612824B2 JPH0612824B2 (ja) 1994-02-16

Family

ID=16482060

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57203931A Expired - Lifetime JPH0612824B2 (ja) 1982-11-19 1982-11-19 アモルファスシリコン電界効果型トランジスタの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0612824B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6180864A (ja) * 1984-09-27 1986-04-24 Toshiba Corp 薄膜集積回路の製造方法
JPH07202218A (ja) * 1995-01-30 1995-08-04 Toshiba Corp 薄膜集積回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6180864A (ja) * 1984-09-27 1986-04-24 Toshiba Corp 薄膜集積回路の製造方法
JPH069214B2 (ja) * 1984-09-27 1994-02-02 株式会社東芝 薄膜集積回路の製造方法
JPH07202218A (ja) * 1995-01-30 1995-08-04 Toshiba Corp 薄膜集積回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0612824B2 (ja) 1994-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5056895A (en) Active matrix liquid crystal liquid crystal light valve including a dielectric mirror upon a leveling layer and having fringing fields
US5672888A (en) Thin-film transistor and thin-film transistor array
US4933296A (en) N+ amorphous silicon thin film transistors for matrix addressed liquid crystal displays
US20070279558A1 (en) Display device
US7671931B2 (en) Liquid crystal display device and method of fabricating the same
TW201418857A (zh) 液晶顯示裝置
US6563558B2 (en) Liquid crystal display with light shielding film
JPH077155A (ja) 薄膜トランジスターの構造と製造方法
EP0831357B1 (en) Liquid crystal display device
EP1037094A2 (en) Active matrix type display device
US6611311B1 (en) Active-matrix display screen
US6521950B1 (en) Ultra-high resolution liquid crystal display on silicon-on-sapphire
JPH0281029A (ja) 液晶表示装置の製造方法
US6108055A (en) Display and method of fabricating the same
JP2002141509A (ja) 薄膜トランジスタ及び液晶表示装置
JP3121005B2 (ja) 薄膜半導体装置とその製造方法及び製造装置並びに画像処理装置
JPS5994459A (ja) アモルフアスシリコン電界効果型トランジスタ
WO1993008498A1 (fr) Structure d'electrode de pixel pour appareils a affichage a cristaux liquides
JP2639980B2 (ja) 液晶表示装置
JPH0695157A (ja) 液晶表示装置
JPH09244044A (ja) 液晶表示装置
US6716658B2 (en) Method of preventing generation of particles in chamber
JPH09269482A (ja) アクティブマトリックス液晶表示装置
US20020196398A1 (en) Opaque shielding element for liquid crystal display
JPH0666017B2 (ja) 液晶表示装置