JPS599094A - 情報記録用部材 - Google Patents
情報記録用部材Info
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- JPS599094A JPS599094A JP57118498A JP11849882A JPS599094A JP S599094 A JPS599094 A JP S599094A JP 57118498 A JP57118498 A JP 57118498A JP 11849882 A JP11849882 A JP 11849882A JP S599094 A JPS599094 A JP S599094A
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- JP
- Japan
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- layer
- recording
- metal
- bismuth
- chromium
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
- G11B7/252—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers
- G11B7/257—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of layers having properties involved in recording or reproduction, e.g. optical interference layers or sensitising layers or dielectric layers, which are protecting the recording layers
-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
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- G11B7/243—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers comprising inorganic materials only, e.g. ablative layers
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- G11B2007/24302—Metals or metalloids
- G11B2007/24314—Metals or metalloids group 15 elements (e.g. Sb, Bi)
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- G—PHYSICS
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- G11B2007/25705—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of layers having properties involved in recording or reproduction, e.g. optical interference layers or sensitising layers or dielectric layers, which are protecting the recording layers consisting essentially of inorganic materials
- G11B2007/25706—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of layers having properties involved in recording or reproduction, e.g. optical interference layers or sensitising layers or dielectric layers, which are protecting the recording layers consisting essentially of inorganic materials containing transition metal elements (Zn, Fe, Co, Ni, Pt)
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
- G11B7/00452—Recording involving bubble or bump forming
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/146—Laser beam
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S430/00—Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
- Y10S430/165—Thermal imaging composition
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ヒートモード記録用として適した情報記録用
部材に関するものである。さらに詳しくいえば、本発明
は、透明な基板側からレーザー光を照射した場合でも安
定性の優れた記録が可能な情報記録用部材に関するもの
である。
部材に関するものである。さらに詳しくいえば、本発明
は、透明な基板側からレーザー光を照射した場合でも安
定性の優れた記録が可能な情報記録用部材に関するもの
である。
従来、レーザー光線などの高密度エネルギーをスポット
に集光させて記録媒体((照射し、媒体の一部を融解さ
せるが、あるいは蒸発させることにより、これを変形又
は除去して記録を行う方法は、いわゆるヒートモード記
録法として知られている。
に集光させて記録媒体((照射し、媒体の一部を融解さ
せるが、あるいは蒸発させることにより、これを変形又
は除去して記録を行う方法は、いわゆるヒートモード記
録法として知られている。
そして、このヒートモード記録法は、薬品などの処理液
を必要としないドライタイプであること、リアルタイム
記録法であること、高速かつ高コントラストで大容量記
録が可能なこと及び清報の追、7JD WEき込みが可
能なことなど多くの利点を有してイルノテ、マイクロ画
像、・OOM 、ビデオティスフ、コンピューターメモ
リなど広い用途全有している。
を必要としないドライタイプであること、リアルタイム
記録法であること、高速かつ高コントラストで大容量記
録が可能なこと及び清報の追、7JD WEき込みが可
能なことなど多くの利点を有してイルノテ、マイクロ画
像、・OOM 、ビデオティスフ、コンピューターメモ
リなど広い用途全有している。
ところで、上記のヒートモード記録法を、和゛にビテオ
テイスク、コンピューターメモリ等に用いる場合には、
円形のガラスや合成樹脂などの基板に記録層と形成した
ティスフを高速回転させながらレーザー光を集光し、記
録層に0.6μm”1.5μm保度の孔を形成すること
によ(り清報r記録する方法が採られている。この際の
孔の位置醍び大きさは、パルス変調したレーザー光の出
力波形に依存し、レーザーに入力した情報に対応して形
成される。記録層に記録された信号の、洸み出しは、高
速回転させた記録材に記録闇値を超えない程度の弱い出
力のレーザー光を集光し、その反射光の変化を検出する
ことにより行うことができる。
テイスク、コンピューターメモリ等に用いる場合には、
円形のガラスや合成樹脂などの基板に記録層と形成した
ティスフを高速回転させながらレーザー光を集光し、記
録層に0.6μm”1.5μm保度の孔を形成すること
によ(り清報r記録する方法が採られている。この際の
孔の位置醍び大きさは、パルス変調したレーザー光の出
力波形に依存し、レーザーに入力した情報に対応して形
成される。記録層に記録された信号の、洸み出しは、高
速回転させた記録材に記録闇値を超えない程度の弱い出
力のレーザー光を集光し、その反射光の変化を検出する
ことにより行うことができる。
上記の方法でヒートモード記録を行う材料として、多く
の材料が提案されてきたが、レーザー光に対する感度、
再生信号のSt/N比、及び安定性の点で満足できるも
のはなかった。
の材料が提案されてきたが、レーザー光に対する感度、
再生信号のSt/N比、及び安定性の点で満足できるも
のはなかった。
本発明者らは、このような従来のヒ−トモード記録材利
の持つ欠点を克服するためl(種々の研究を重ね、先G
て金属記録層と、金属化合物及び金属からなる混合層と
を積層させることにより、形状の整った孔を形成させる
ことができ、その結果S / N比の向上とレーザー光
に対する感度の大幅な向上が・潜られるという知見を得
た。このような構造の記録材料は、特Oてレーザー光を
透明基板側から入射さぜ、記録させる場合に、S/N比
及び感度などの記録特性について良好な結果が得られ、
さらにこれを用いると、半導体レーザーによる書き込み
が可能となり、1メガヘルツ(IillHz)υ基準用
き込み周波数(レーザー発振パルス幅〜500nsec
)の再生信号品質として、47(iB程度の07N比の
ものが達成できた。一般に、文書ファイ六ルやアータフ
ァイルに用いられるデジタル記録方式においては、記録
材料に対してC7N比40dB以上が必要とされている
が、前記の記録材料は半導体レーザーを用いて、デジタ
ル記録が十分可能なものであり、実用性の高い記録(オ
料である。
の持つ欠点を克服するためl(種々の研究を重ね、先G
て金属記録層と、金属化合物及び金属からなる混合層と
を積層させることにより、形状の整った孔を形成させる
ことができ、その結果S / N比の向上とレーザー光
に対する感度の大幅な向上が・潜られるという知見を得
た。このような構造の記録材料は、特Oてレーザー光を
透明基板側から入射さぜ、記録させる場合に、S/N比
及び感度などの記録特性について良好な結果が得られ、
さらにこれを用いると、半導体レーザーによる書き込み
が可能となり、1メガヘルツ(IillHz)υ基準用
き込み周波数(レーザー発振パルス幅〜500nsec
)の再生信号品質として、47(iB程度の07N比の
ものが達成できた。一般に、文書ファイ六ルやアータフ
ァイルに用いられるデジタル記録方式においては、記録
材料に対してC7N比40dB以上が必要とされている
が、前記の記録材料は半導体レーザーを用いて、デジタ
ル記録が十分可能なものであり、実用性の高い記録(オ
料である。
しかし、ビデオ画像信号記録や、静止画ファイルに対し
ては、信号処理としてパルス幅変調方式等を用いるため
に、記録再生信号の品質として、より高いC/ N比を
達成し得る記録材料か必要とされている。しかし、その
ような高性能の記録材料は才だ知られていない。
ては、信号処理としてパルス幅変調方式等を用いるため
に、記録再生信号の品質として、より高いC/ N比を
達成し得る記録材料か必要とされている。しかし、その
ような高性能の記録材料は才だ知られていない。
本発明者らは上記用途にも使用し得る記録材料と開発す
るために、特に基板上に形成させる金属記録層と、該基
板と該金属記録層との間に介在させる補助層について、
よV) 、8いC/N比を得るために鋭意研究を行った
。
るために、特に基板上に形成させる金属記録層と、該基
板と該金属記録層との間に介在させる補助層について、
よV) 、8いC/N比を得るために鋭意研究を行った
。
この研究において再生信号の品質を評価するためのC/
N比は、記録何科を形成したディスクを回転数450
rpmで回転させ、発振波長830nmのM′−4体レ
ーザー光を周波数I MH2で変調し、集光レンズによ
f)i、oμm以下に集光して記録材料上に111m以
下の径の記録ビットを形成させることによ−りて測定し
た。形成されたピット列に、孔を形、奴しない程度の強
度に連続発振している半導体レーザー光を集光照射し、
記録材斜面からの反射光を光検出器により演出すると、
記録時に半導体レーザーケ変調していたIMH2の基準
信号と同様な再生信号が得られる。書き込み用半導体レ
ーザーに入力していた変調信号を、記録材料から読み出
した再生信号がどれだけ正確11こ再現しているかが記
録再生信号の品質の目安であり、定緻的にはスペクトル
アナライザーにより再生信号のキャリアピークレベルと
ノイズレベルを計画することにより、前記したC/N比
が測定され、その値から品質全判断することができる。
N比は、記録何科を形成したディスクを回転数450
rpmで回転させ、発振波長830nmのM′−4体レ
ーザー光を周波数I MH2で変調し、集光レンズによ
f)i、oμm以下に集光して記録材料上に111m以
下の径の記録ビットを形成させることによ−りて測定し
た。形成されたピット列に、孔を形、奴しない程度の強
度に連続発振している半導体レーザー光を集光照射し、
記録材斜面からの反射光を光検出器により演出すると、
記録時に半導体レーザーケ変調していたIMH2の基準
信号と同様な再生信号が得られる。書き込み用半導体レ
ーザーに入力していた変調信号を、記録材料から読み出
した再生信号がどれだけ正確11こ再現しているかが記
録再生信号の品質の目安であり、定緻的にはスペクトル
アナライザーにより再生信号のキャリアピークレベルと
ノイズレベルを計画することにより、前記したC/N比
が測定され、その値から品質全判断することができる。
基板とビスマスfc @ ■L、た金属記録層との間に
金属と金属化合物との混合層を介在させた構造をもつ記
録材料においては、混合層を用いない場合に比べ高いO
/ Nが得られるが、本発明者らの検討によれは、記録
後のノイズレベVが記録前の表面ノイズに対してl Q
dB程度増加し、C/N比として48dB以上のもの
が得られない原因となることがわかった。
金属と金属化合物との混合層を介在させた構造をもつ記
録材料においては、混合層を用いない場合に比べ高いO
/ Nが得られるが、本発明者らの検討によれは、記録
後のノイズレベVが記録前の表面ノイズに対してl Q
dB程度増加し、C/N比として48dB以上のもの
が得られない原因となることがわかった。
本発明者らは、記録後に生じる再生ノイズレベルの増加
全抑制するために、基板とビスマスを含有する金属記録
層との間に介在させる材料及び構造についてさらに研究
を重ねた結果、記録層用金属としてビスマスを用いた場
合、基板と金属記録層との間にクロム単独層を介在させ
ることにより、形成され7を記録孔の再生ノイズレベル
の増加を十分に抑:lll Lうることを見出し、この
知見に基づいて不発明とな丁(lこ至った。
全抑制するために、基板とビスマスを含有する金属記録
層との間に介在させる材料及び構造についてさらに研究
を重ねた結果、記録層用金属としてビスマスを用いた場
合、基板と金属記録層との間にクロム単独層を介在させ
ることにより、形成され7を記録孔の再生ノイズレベル
の増加を十分に抑:lll Lうることを見出し、この
知見に基づいて不発明とな丁(lこ至った。
すなわち、本発明は基板上にビスマスを主体とする金属
記録ノー及び金属化汁物安定化層を積層した構造を有し
、かつ前記基板と金属記録層との間にクロム単独1考ケ
介在させたこと′fr:特徴とする情報記録用部材を提
供するものである。
記録ノー及び金属化汁物安定化層を積層した構造を有し
、かつ前記基板と金属記録層との間にクロム単独1考ケ
介在させたこと′fr:特徴とする情報記録用部材を提
供するものである。
ビスマスを記録層粗金4として用いることは知られ−C
いるが、本発明においでは、ビスマスに主体とする金属
記録層を用い、かつ金属記録層と基板との間にクロム学
独層全介在させる緬合せ条件が重要である。−fた本発
明は、このクロム単独層を、それのみで介在させてもよ
いし、寸だクロス、学独嗜と金R醒化物層を組み曾わせ
′C介介在せてもよい。この、場廿、特に積層構債とし
て、かつそのクロム層を基板に接するように設けるの:
6玉有利である。
いるが、本発明においでは、ビスマスに主体とする金属
記録層を用い、かつ金属記録層と基板との間にクロム学
独層全介在させる緬合せ条件が重要である。−fた本発
明は、このクロム単独層を、それのみで介在させてもよ
いし、寸だクロス、学独嗜と金R醒化物層を組み曾わせ
′C介介在せてもよい。この、場廿、特に積層構債とし
て、かつそのクロム層を基板に接するように設けるの:
6玉有利である。
″また、不発明の記録部拐におい−C1介在さげる虐は
、高感度化等の目的CC比、じて、他の金嘴や酸化物、
フッ化物、及び望化物等の金属化合物との複合層構造と
することもできる。また特に高感度化を達成するために
は、記録材料のレーザー光入射側の反射率を下げること
が有gJJな方法であり、透明基板側よりレーザー光を
入射させる場合については、前記したように、介在させ
る層の構、aとクロムと希土類酸化物との潰層構造とす
ることにより、ビスマス金言有した金属記録層の透明基
板側の反射沼を効果的に低下させ、太l@に記録感度を
向上させることができる。
、高感度化等の目的CC比、じて、他の金嘴や酸化物、
フッ化物、及び望化物等の金属化合物との複合層構造と
することもできる。また特に高感度化を達成するために
は、記録材料のレーザー光入射側の反射率を下げること
が有gJJな方法であり、透明基板側よりレーザー光を
入射させる場合については、前記したように、介在させ
る層の構、aとクロムと希土類酸化物との潰層構造とす
ることにより、ビスマス金言有した金属記録層の透明基
板側の反射沼を効果的に低下させ、太l@に記録感度を
向上させることができる。
現在まで記録材料の反射率を下げるために、無機又は有
機透明物質、有機色素、硫化物等の材料を記録材料表面
、あるいは透明基板側から記録する場合Gでおいては透
明基板と記録拐料層との間1(形成させる方法が提案さ
れてきた。しかし、無機や有機の透明材料を用いて反射
防止条件を整えるためには、該材料ケ記録材料層に接し
てtoooA以上の膜厚LL設ける必四があジ、その結
果レーザー光が入射し、有効に光が吸収され、化として
も記録材料層から反射防止層への熱の逃げが多く効果的
な高感度化−が得られなかったり、さらには透明基板と
して屈折率(n)〜1,5 程度のガラスやポリメチル
メタクリレ−) (PMMA)樹脂′を用いて、基板側
からレーザー光を入射させ記録する場@には、屈折率の
条件から効果的に反射防止効果を得ることができない等
の欠点があった。一方1、有機色素や硫化物乞用いる場
合は、透明基板側から17−ザー光全入射させる記録方
式においても有効に反射防止効果を得ることができ、か
つ無機又は呵機透明!P/l質よりも薄い膜厚でも反射
防止効果を得ることができる利点があるが、有機色素は
紫外房等に対して活性であり退色しやすく、また硫化物
は吸湿性のものが多かったりレーザー光の記碌時に熱解
離し記録材料に影響を与える等の問題点があった。本発
明で用いるクロムと希土類酸化物の積層で用いる構造の
反射防止膜は膜厚にして〜100A程度のごく薄い膜厚
においても広い波長帯域(紫用いる希土類酸化物は酸化
に約して安定であり、変質しにくく、クロム自体は酸化
されやすい性質をもつが表面に酸化皮膜が形成された後
は不動態と化し、希土類酸化物と相乗なって安定な膜を
形成するという利点を有する。さらに、紫外九等の短波
長でエネルギーの高い光に対しても安定であるという従
来の反射防止膜にない特徴をもっている0前記構造の薄
膜を金属記録層の表面あるいは基板と記録層との間に設
けることにより、極めて薄い膜厚で有効な反射防止効果
を得ることができる理由は明らかではないが、該薄膜の
光学定数である複紫屈折率f n = n −ik (
n :屈折率、に:消衰係数)としたとき、クロムの一
部酸化、希土類酸化物の一部還元が相乗的に起こり、薄
い膜厚−において反射防止効果を得るのに必要な十分な
高い屈折率nが得られるためと考えられる。またクロム
と希土類酸化物の組合せにおいては、構造及び言有比系
を変えることによりnを大きな範jdlで変えることも
可能である。この効果は、従来の単一物質からなる薄膜
においては得られなかった効果であり、この組合せ効果
により反射率全任意に設定することがriJ能である。
機透明物質、有機色素、硫化物等の材料を記録材料表面
、あるいは透明基板側から記録する場合Gでおいては透
明基板と記録拐料層との間1(形成させる方法が提案さ
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防止条件を整えるためには、該材料ケ記録材料層に接し
てtoooA以上の膜厚LL設ける必四があジ、その結
果レーザー光が入射し、有効に光が吸収され、化として
も記録材料層から反射防止層への熱の逃げが多く効果的
な高感度化−が得られなかったり、さらには透明基板と
して屈折率(n)〜1,5 程度のガラスやポリメチル
メタクリレ−) (PMMA)樹脂′を用いて、基板側
からレーザー光を入射させ記録する場@には、屈折率の
条件から効果的に反射防止効果を得ることができない等
の欠点があった。一方1、有機色素や硫化物乞用いる場
合は、透明基板側から17−ザー光全入射させる記録方
式においても有効に反射防止効果を得ることができ、か
つ無機又は呵機透明!P/l質よりも薄い膜厚でも反射
防止効果を得ることができる利点があるが、有機色素は
紫外房等に対して活性であり退色しやすく、また硫化物
は吸湿性のものが多かったりレーザー光の記碌時に熱解
離し記録材料に影響を与える等の問題点があった。本発
明で用いるクロムと希土類酸化物の積層で用いる構造の
反射防止膜は膜厚にして〜100A程度のごく薄い膜厚
においても広い波長帯域(紫用いる希土類酸化物は酸化
に約して安定であり、変質しにくく、クロム自体は酸化
されやすい性質をもつが表面に酸化皮膜が形成された後
は不動態と化し、希土類酸化物と相乗なって安定な膜を
形成するという利点を有する。さらに、紫外九等の短波
長でエネルギーの高い光に対しても安定であるという従
来の反射防止膜にない特徴をもっている0前記構造の薄
膜を金属記録層の表面あるいは基板と記録層との間に設
けることにより、極めて薄い膜厚で有効な反射防止効果
を得ることができる理由は明らかではないが、該薄膜の
光学定数である複紫屈折率f n = n −ik (
n :屈折率、に:消衰係数)としたとき、クロムの一
部酸化、希土類酸化物の一部還元が相乗的に起こり、薄
い膜厚−において反射防止効果を得るのに必要な十分な
高い屈折率nが得られるためと考えられる。またクロム
と希土類酸化物の組合せにおいては、構造及び言有比系
を変えることによりnを大きな範jdlで変えることも
可能である。この効果は、従来の単一物質からなる薄膜
においては得られなかった効果であり、この組合せ効果
により反射率全任意に設定することがriJ能である。
クロム中独層ケ希土頃1救比り勿層とともに用いること
によ()反射話を下げ、高感度化することができるが、
高感度化とともl/n高C/N比を実現するためには、
クロム単独層と希土類酸化物層とを積層した積層構造と
するのがよく、さらにその積層構造のクロム単独層′J
f:基板1・ζ接するように設けるのが′持IC好まし
い。
によ()反射話を下げ、高感度化することができるが、
高感度化とともl/n高C/N比を実現するためには、
クロム単独層と希土類酸化物層とを積層した積層構造と
するのがよく、さらにその積層構造のクロム単独層′J
f:基板1・ζ接するように設けるのが′持IC好まし
い。
クロムとともに積層した形で用いられる希土類1設化り
勿として−7ま、y、 La、 Ce、 Pr 、
Nd、 Pm、 Sm。
勿として−7ま、y、 La、 Ce、 Pr 、
Nd、 Pm、 Sm。
Eu、Gd、 Tb、 Dy、 Ho、 Er、 Tm
、 Yb、及びLuなどの酸化物が妊甘しく、特にY
、 La、 Ce、Dr、Nd。
、 Yb、及びLuなどの酸化物が妊甘しく、特にY
、 La、 Ce、Dr、Nd。
Sm、 G(]、 、 Dy、 Er I7)酸化物が
反射率低減化及び高C7N化の点で有利である。
反射率低減化及び高C7N化の点で有利である。
希土類酸化物は、単独で用いても良いし、これらの希土
類酸化物の2棟以上を用いることもでき、また複敬棟會
多層構造、あるいは混合構造としても良・・。蒸着工程
の簡便さの点から(i単独で用いることが有利である。
類酸化物の2棟以上を用いることもでき、また複敬棟會
多層構造、あるいは混合構造としても良・・。蒸着工程
の簡便さの点から(i単独で用いることが有利である。
*発明におけるクロム単独(曽の膜1’#II′i、1
0 A〜20OA(1)の囲、より好ましくは30 八
〜80Aの範囲で4うる。
0 A〜20OA(1)の囲、より好ましくは30 八
〜80Aの範囲で4うる。
このようなりロム単独層の膜厚を前記範囲に選ぶことに
より記録レーザー光波長(λ=750〜850nm)に
対して、記録月利のレーザー光照射側の反射毛(R)を
20%〜50チとすることができる。クロム単独1層の
1漢厚が20OAよりも厚くなると、クロム層が連続層
金形成し、金ノ萬記録層に対して光の遮蔽層となり、感
度低下をひき起こす。
より記録レーザー光波長(λ=750〜850nm)に
対して、記録月利のレーザー光照射側の反射毛(R)を
20%〜50チとすることができる。クロム単独1層の
1漢厚が20OAよりも厚くなると、クロム層が連続層
金形成し、金ノ萬記録層に対して光の遮蔽層となり、感
度低下をひき起こす。
−またこれがIOAより薄くなると、クロムと希土類酸
化物の複合膜の光学特性として、十分に高い屈折率(n
)が得られず、金属記@僧に対して満足できる反射防止
条件が得られない。その結果、記録材料の反射率が高く
なるとともに、クロムよりなる層を基板と金属記録層と
の間に介在さぜた場合の記録後のノイズ増DDの抑制効
果も十分には得られない。
化物の複合膜の光学特性として、十分に高い屈折率(n
)が得られず、金属記@僧に対して満足できる反射防止
条件が得られない。その結果、記録材料の反射率が高く
なるとともに、クロムよりなる層を基板と金属記録層と
の間に介在さぜた場合の記録後のノイズ増DDの抑制効
果も十分には得られない。
クロム単独層は安定性の点において、クロムの酸化物や
低級j−躍化物を少量含むことができる。このクロム単
独層は、真空蒸着、スパッタリング、1オンブし・−テ
ィング、電気めっき、無電W416つき、プラズマ蒸着
などの薄膜形成1支41Vによって形成することができ
、そのうちでも真空蒸着法が簡単でかつ再現性がよいの
で好捷しい。
低級j−躍化物を少量含むことができる。このクロム単
独層は、真空蒸着、スパッタリング、1オンブし・−テ
ィング、電気めっき、無電W416つき、プラズマ蒸着
などの薄膜形成1支41Vによって形成することができ
、そのうちでも真空蒸着法が簡単でかつ再現性がよいの
で好捷しい。
1だ、布」二類1毀fヒ(吻の含イ1膜厚として′lま
、用いる酸化物の種類にもヱるが、厚すきると極度の反
射率の低下2招いたり、クラソクケ生じたり、筐だクロ
ムのノイズ低減効果?減じたりするのでか好ましい。
、用いる酸化物の種類にもヱるが、厚すきると極度の反
射率の低下2招いたり、クラソクケ生じたり、筐だクロ
ムのノイズ低減効果?減じたりするのでか好ましい。
積層構造Vこおける希土類酸化物の盾全形成する方法と
しては、真空蒸着法、スノ(ツタリング法、イオンブレ
ーティング法、プラズマ蒸着法などの薄膜形成技術2適
を目することができる。特に真空蒸着法を用いる場@に
おいては、希土類酸化物ケ七の1層1蒸着源として、抵
抗加熱法やエレクトロンビーム蒸着法を用いて蒸着させ
てもLL・し、希上頑元素そのものを族N源として用い
て、ペルジャー内の雰曲気と反1芯させながら前記方法
により希土類酸化11憚を形成することもできる。この
薄膜の形成において、例えば高真空下での電子ビーム蒸
着法では、還元や不完全酸化が生じ、希土類酸化物に、
低級酸化物が′Sまれる場合があるが、それらの混入<
i本発明の目的を防げない範囲において差し支えない。
しては、真空蒸着法、スノ(ツタリング法、イオンブレ
ーティング法、プラズマ蒸着法などの薄膜形成技術2適
を目することができる。特に真空蒸着法を用いる場@に
おいては、希土類酸化物ケ七の1層1蒸着源として、抵
抗加熱法やエレクトロンビーム蒸着法を用いて蒸着させ
てもLL・し、希上頑元素そのものを族N源として用い
て、ペルジャー内の雰曲気と反1芯させながら前記方法
により希土類酸化11憚を形成することもできる。この
薄膜の形成において、例えば高真空下での電子ビーム蒸
着法では、還元や不完全酸化が生じ、希土類酸化物に、
低級酸化物が′Sまれる場合があるが、それらの混入<
i本発明の目的を防げない範囲において差し支えない。
本発明の情報記録部材ICおいて、クロム含有介在層と
組み合わせて用いられる金属記録層は、原子比で0.1
6〜0,30のアンチモン(ra’んだビスマスであっ
て、特に好ましいアンチモンの原子比は0.18〜0.
25である。このビスマス−アンチモン金属記録層は合
金として形成させてもよし・し、それぞれを層状に形成
させてもよい。このようなビスマス−アンチモン金属記
録層は、クロム単独層との、組合ぜにより優れた孔形成
性及び感度を示し、高品質の記録部材全提供1一つる。
組み合わせて用いられる金属記録層は、原子比で0.1
6〜0,30のアンチモン(ra’んだビスマスであっ
て、特に好ましいアンチモンの原子比は0.18〜0.
25である。このビスマス−アンチモン金属記録層は合
金として形成させてもよし・し、それぞれを層状に形成
させてもよい。このようなビスマス−アンチモン金属記
録層は、クロム単独層との、組合ぜにより優れた孔形成
性及び感度を示し、高品質の記録部材全提供1一つる。
金属記録層における合金中のアンチモン含量が少なすぎ
ると、孔形状を整える効果が少くなり、また多すぎると
合金膜の融点上昇による感度の低下が顕著となる。
ると、孔形状を整える効果が少くなり、また多すぎると
合金膜の融点上昇による感度の低下が顕著となる。
また、ビスマスの含有石−は、少なすきると感度の低下
及び孔形状の乱れによるS/N比の低ドをひき起こし、
多すぎると孔形状の乱れ及び安定性の低下?生じさせる
。ビスマスの含何量は原子比で050・−〇 、 84
の範囲が好ましく、特に0.60〜074の範囲が奸丑
しい。
及び孔形状の乱れによるS/N比の低ドをひき起こし、
多すぎると孔形状の乱れ及び安定性の低下?生じさせる
。ビスマスの含何量は原子比で050・−〇 、 84
の範囲が好ましく、特に0.60〜074の範囲が奸丑
しい。
感度、孔形状の改良のためFC、、ビスマス−アンチモ
ン全金属えて他の添力目元素を用いることもてきる。そ
のような添7JI]元素としては、特にSn、Zn。
ン全金属えて他の添力目元素を用いることもてきる。そ
のような添7JI]元素としては、特にSn、Zn。
工n、 Pb、 Mg、 Au、 Go、Ga、 Tl
、 C!d、 As、 Rh、 Mn。
、 C!d、 As、 Rh、 Mn。
AI、 Se 、 To などが好1しく用いられる
が、特に好捷しいものは、Sn、 In、Pb″′Cあ
る。上記の添加尤紮は単独でも2棟以上を組み汗わせて
もよい0その含有! +、まアンチモンの含有−姓に1
.芯して、原子比で0.O1〜0.34の範囲で適宜諷
択され、それによりさらに高感度化、孔形状の改良の効
果が碍らiする。
が、特に好捷しいものは、Sn、 In、Pb″′Cあ
る。上記の添加尤紮は単独でも2棟以上を組み汗わせて
もよい0その含有! +、まアンチモンの含有−姓に1
.芯して、原子比で0.O1〜0.34の範囲で適宜諷
択され、それによりさらに高感度化、孔形状の改良の効
果が碍らiする。
金属記録層には、本発明の目的を損わない限り、用いた
金属の酸化物、特に低級順化物?少量含ませることがで
きる。
金属の酸化物、特に低級順化物?少量含ませることがで
きる。
この金属記録層は、他の1層と間際に真空蒸着、スパッ
タリング、イオンブレーティング、電気めつき、無電解
めっき、プラズマ蒸着などの薄膜形成技術によって形成
しうる。
タリング、イオンブレーティング、電気めつき、無電解
めっき、プラズマ蒸着などの薄膜形成技術によって形成
しうる。
これらの金属記録層の形成方法のうち、真空蒸着法が簡
単でかつ再現性がよし・ので好ましいが、金属記録層の
高温高湿■での安定性及び感1iの点かCつ、高真空下
、特に10Torr以下での蒸着が好捷しい。
単でかつ再現性がよし・ので好ましいが、金属記録層の
高温高湿■での安定性及び感1iの点かCつ、高真空下
、特に10Torr以下での蒸着が好捷しい。
この金属層の形成は、前記の方法によって行われるが、
その構成はアンチモン全金属の全体朧に対して原子比で
0.16〜0.30の制汗で含みさえすれば、一様な単
一層であっても、複数層であつCもよい。すなわち、2
種類以上の合金からなる単一層であっても、数種類の単
一 金属が積層され合金化したものであっても、合金層
と単一金属層が積層され合金化し7たものであっても良
い。
その構成はアンチモン全金属の全体朧に対して原子比で
0.16〜0.30の制汗で含みさえすれば、一様な単
一層であっても、複数層であつCもよい。すなわち、2
種類以上の合金からなる単一層であっても、数種類の単
一 金属が積層され合金化したものであっても、合金層
と単一金属層が積層され合金化し7たものであっても良
い。
金@記碌層の膜厚Vま、用途に応じて決められるが、約
100へ〜5000 A、特に150A〜40OAの範
囲が好捷しい。
100へ〜5000 A、特に150A〜40OAの範
囲が好捷しい。
記録された孔形状が特に乱れのないものとするためには
、数種類の単一金属層を積層し合金化す0のが1141
である。
、数種類の単一金属層を積層し合金化す0のが1141
である。
本発明剃料Vこおいて、金属記録層の上層に設けられる
安定化層としては、例1えばBθ、 Li、 B 。
安定化層としては、例1えばBθ、 Li、 B 。
ME、 Al、Si、、 Ca、 Sc、 Ti、V
、 Or、 Mn、 Fθ、C01Ni、On、Zn、
Ga、Ge、 八s、Sr、Y 、Zr、Nb、T
c。
、 Or、 Mn、 Fθ、C01Ni、On、Zn、
Ga、Ge、 八s、Sr、Y 、Zr、Nb、T
c。
Ru、Rh、Pd、 Ag、 In、Sn、Sb、 B
a、La、Hf、Ta。
a、La、Hf、Ta。
Re、工r、’11.. Pb、Bi、Ce 、Dy、
Kr、Ga、 Nd、 Pr。
Kr、Ga、 Nd、 Pr。
Sm などの金属の酸化物j1窒化物、フッ1ヒ物、特
にS 1+ A1 + G e 、 S b + Z
r + T a + B 1 、 Pb 、 Z n
* L1+Mg、 Ti、 La、Co、 Y、 Dy
、 Er+ oa、 Hf、 Sm、Or。
にS 1+ A1 + G e 、 S b + Z
r + T a + B 1 、 Pb 、 Z n
* L1+Mg、 Ti、 La、Co、 Y、 Dy
、 Er+ oa、 Hf、 Sm、Or。
Nd、Prなとの金暎の酸化物が好適である。
特VC好ましい金@酸化物とLift、5i07 、A
l2O3゜GeO2、5b203 、ZrO2、Ta2
05 、B12()5 、PbO、ZnO、LiO。
l2O3゜GeO2、5b203 、ZrO2、Ta2
05 、B12()5 、PbO、ZnO、LiO。
MgO、T:102 、La205 、0e02 、
Y205 、 D7205 、 Er203 。
Y205 、 D7205 、 Er203 。
Gc]、205 、HfO2、Sm2O3、Cr2O3
fあげることができる・】 金属酸化物安定化層ば、これらの金属酸化物の2神類以
上を用いて、異種金属酸化物の2層構造にすることが[
tt記録として形成される孔の形状を整え、その安定性
を図る丘で妊ましい。
fあげることができる・】 金属酸化物安定化層ば、これらの金属酸化物の2神類以
上を用いて、異種金属酸化物の2層構造にすることが[
tt記録として形成される孔の形状を整え、その安定性
を図る丘で妊ましい。
金属酸化物安定化層を形成する方法としては、真空蒸着
法、スパッタリング法、イオンブレーティング法、プラ
ズマ蒸着法などの薄膜形成技術全適用することができる
。また、異なる単一金属からなるターゲットの腹数個や
、2種以上の金属を含むターゲットを用い、空気、酸素
、醒累−アルゴンなどの気体による反応性スパッタリン
グによっても形成することができる。
法、スパッタリング法、イオンブレーティング法、プラ
ズマ蒸着法などの薄膜形成技術全適用することができる
。また、異なる単一金属からなるターゲットの腹数個や
、2種以上の金属を含むターゲットを用い、空気、酸素
、醒累−アルゴンなどの気体による反応性スパッタリン
グによっても形成することができる。
薄膜の形成方法、例えば高真空下での電子ビーム蒸着に
おいて、低級酸化物、例えばCe01〜2が金属酸化物
安定化層に含捷れる場合があるが、本発明の目的を妨げ
ない範囲において差し支えない。
おいて、低級酸化物、例えばCe01〜2が金属酸化物
安定化層に含捷れる場合があるが、本発明の目的を妨げ
ない範囲において差し支えない。
このような低級識化物の生成を防出するには、酸素、空
気、酸素−アルゴンなどの気体をリークして低真空下で
蒸着するなどの方法がある。
気、酸素−アルゴンなどの気体をリークして低真空下で
蒸着するなどの方法がある。
金属酸化物安定化層の膜厚は、用いる化合物の種類にも
、J:るが、厚遇きるとクランクを生じたり記録開化時
に、渭合層の金属記録層への影響が減少したり−Tるの
で、10〜100OOA特vc20〜300Aの範囲が
奸丑しい。
、J:るが、厚遇きるとクランクを生じたり記録開化時
に、渭合層の金属記録層への影響が減少したり−Tるの
で、10〜100OOA特vc20〜300Aの範囲が
奸丑しい。
:4(究明41和は、その最上層部に透明な材′U力・
らなるイ呆、φ1曽をイイしていてもよい。
らなるイ呆、φ1曽をイイしていてもよい。
透明保、護層ば、41機高分子比汗物を主体とした層で
形成され、用いられる有、搬面分子−化合物としては、
例え(通、ポリ権化ビニリテ/、塩1ヒビニリデンと−
Yクリロニトリルとの共重合体、ポリ酢酸ビニル、ポリ
イミド、ポリビニルノンナメー ト、ポリイソプレン、
ポリブタジェン、ポリスチレン、ポリメチルメタクリレ
ート、ポリウレタン、ポリビニルブチラール、フッ素ゴ
ム、ポリアミド、ポリエステル、エボキ゛ンh3 B
、酢IJ セル口” ナトのポリマー、これらの変す×
、ポリマー、コポリマーなどケあげることができ、これ
らは単独で又は混合′吻として用いられる。
形成され、用いられる有、搬面分子−化合物としては、
例え(通、ポリ権化ビニリテ/、塩1ヒビニリデンと−
Yクリロニトリルとの共重合体、ポリ酢酸ビニル、ポリ
イミド、ポリビニルノンナメー ト、ポリイソプレン、
ポリブタジェン、ポリスチレン、ポリメチルメタクリレ
ート、ポリウレタン、ポリビニルブチラール、フッ素ゴ
ム、ポリアミド、ポリエステル、エボキ゛ンh3 B
、酢IJ セル口” ナトのポリマー、これらの変す×
、ポリマー、コポリマーなどケあげることができ、これ
らは単独で又は混合′吻として用いられる。
%に、ポリエステル、フッ梁ゴム、ポリ酢1′ソヒニル
ーポリビニルブ千ラール・−ポリビニルアルコールの三
元コポリマーが好’JL<I旧い1−れる。
ーポリビニルブ千ラール・−ポリビニルアルコールの三
元コポリマーが好’JL<I旧い1−れる。
このような有機高分子化合物にンリコーンオイル、帯電
防止剤、架a刑などを象り[」することは、膜強度、帯
電防出性能の改良の点で奸ましい。
防止剤、架a刑などを象り[」することは、膜強度、帯
電防出性能の改良の点で奸ましい。
透明株護膜層として、このような有機篩分−r−fヒ合
物全主体とする層を2層以上りエねて用いてもよしゝ。
物全主体とする層を2層以上りエねて用いてもよしゝ。
透明保湧膜層ば、有機高分子化合物、r−主体とする成
分と適当なM媒に溶解して塗布するか、あるいは、博い
フィルムとしてラミネートするなどの方法により形成さ
tl、膜厚は0.1−10μが適当である。
分と適当なM媒に溶解して塗布するか、あるいは、博い
フィルムとしてラミネートするなどの方法により形成さ
tl、膜厚は0.1−10μが適当である。
本発明の情報記録部材を添イテ」図面により、さらVc
具体的に説明する。第1図〜第3図は、いずれも本発明
の記録部拐のそrしそれ異なつンλ構潰1lJ11牙示
す断面図である。
具体的に説明する。第1図〜第3図は、いずれも本発明
の記録部拐のそrしそれ異なつンλ構潰1lJ11牙示
す断面図である。
本発明の情報記録部材の基本構造は、第1図に示イーよ
うに、塔明基板1の一ヒにクロム単独層3を設V丁、そ
の上に順次ビスマス全主体とする金1萬記@層2及び−
7属化付・物安定化層4を設けた構機である。
うに、塔明基板1の一ヒにクロム単独層3を設V丁、そ
の上に順次ビスマス全主体とする金1萬記@層2及び−
7属化付・物安定化層4を設けた構機である。
クロム単独層の構造としては、第1図に示すように、ク
ロム単独層3のみからなるものの外、第2図及び第3図
に示すように、クロム単独層:(と(mの金属あるいは
金属化合物の層3′との積膚構2面(I:とるものがあ
る。
ロム単独層3のみからなるものの外、第2図及び第3図
に示すように、クロム単独層:(と(mの金属あるいは
金属化合物の層3′との積膚構2面(I:とるものがあ
る。
以上の第1図−第3図までの構造の中で、本発明の目的
を達成するヒで最も好寸しいものは第3図G′こ示す構
造のものであり、特にクロム単独層と積層する金属化合
物として希土類1゛y1ヒ′吻金用いた場合である。
を達成するヒで最も好寸しいものは第3図G′こ示す構
造のものであり、特にクロム単独層と積層する金属化合
物として希土類1゛y1ヒ′吻金用いた場合である。
不発明の情報記録用7.飼料は、さらに所望に応じ、安
定性の向上、物ノ体との接触による1員傷防(11、汚
染防止のための保護層全形成させることもでへる。
定性の向上、物ノ体との接触による1員傷防(11、汚
染防止のための保護層全形成させることもでへる。
この保護層は、前記した構面の最り層として設けられる
。
。
不発明の記録用側斜において、図中1で示される支持体
としての役割3を果している基板(上、レーザーを基&
側より入射させる意味で+1透明であることが心安であ
る。一般に、物質の透明性は入射丸線の、伎長に工って
相違することが知ら:hているが、本’tl明部材に情
報を記録する場合−icは、半導体レーザーや゛rルゴ
ンガス1/−ザー、He−Nθレーザー、そのIllの
El睨領戟あるいは近赤外領域シ〆こ見損波長をもつ各
種のレーザーやキセノンフラッシュランプなど光波特性
を異にする多種類の光源を用いるこ七ができる。しかし
、特定の光(原の使用を所望する場合1(は、その光源
がもつ光波特性に適した透明性を有するttrtのもの
を基板とすることが、より感IWの向に、をはか5うえ
で好ましい。
としての役割3を果している基板(上、レーザーを基&
側より入射させる意味で+1透明であることが心安であ
る。一般に、物質の透明性は入射丸線の、伎長に工って
相違することが知ら:hているが、本’tl明部材に情
報を記録する場合−icは、半導体レーザーや゛rルゴ
ンガス1/−ザー、He−Nθレーザー、そのIllの
El睨領戟あるいは近赤外領域シ〆こ見損波長をもつ各
種のレーザーやキセノンフラッシュランプなど光波特性
を異にする多種類の光源を用いるこ七ができる。しかし
、特定の光(原の使用を所望する場合1(は、その光源
がもつ光波特性に適した透明性を有するttrtのもの
を基板とすることが、より感IWの向に、をはか5うえ
で好ましい。
そして、透明性については、入射光の約90%以上の透
過率を示rことを一応の目ゲとすることができる。
過率を示rことを一応の目ゲとすることができる。
上記の光源のいずれに対しても、十分な透過率をもつ基
板としてQま、ガラスなどの無機月利又はポリエステル
、ポリマ”ロビレン、ポリカーホ゛ネート、ポリ塩化ビ
ニル、ポリアミド、ポリスチレン、ポリメチルメタクリ
レートなどのポリマー、あるいはこれらの変性ポリマー
、コポリマー、ブレンド物などのイ〕゛機拐料から成る
フィルム又はシーI・全アけることができる。ビデオデ
ィスクなどのように基板自体の表面平6/け性が信号の
S/N比に大きな影響孕与ぐ−る場合すては、別の基板
上に上記の42別をスピンコー トなどで均一に塗イl
i した基扱t用いることが奸寸しい。
板としてQま、ガラスなどの無機月利又はポリエステル
、ポリマ”ロビレン、ポリカーホ゛ネート、ポリ塩化ビ
ニル、ポリアミド、ポリスチレン、ポリメチルメタクリ
レートなどのポリマー、あるいはこれらの変性ポリマー
、コポリマー、ブレンド物などのイ〕゛機拐料から成る
フィルム又はシーI・全アけることができる。ビデオデ
ィスクなどのように基板自体の表面平6/け性が信号の
S/N比に大きな影響孕与ぐ−る場合すては、別の基板
上に上記の42別をスピンコー トなどで均一に塗イl
i した基扱t用いることが奸寸しい。
特U′こ好1しく用いられる基板としては1、ポリエス
テル又はボリメ千ルメタクリレートが1菖成るフィルム
及び/−トを挙げることができる。
テル又はボリメ千ルメタクリレートが1菖成るフィルム
及び/−トを挙げることができる。
−股vC1記録後に生じるノイズレベlしの増用1に関
ili L、た記録時性としては、生りこ記録化形状の
乱IL及び記録孔ごとの読み出し光に対゛「る反射率の
ぼり)つき等が考えられろ。ヒート七−ト記+禄ICつ
いての理論的解析はいまだ十分ではないが、前者の記録
井形状シし与える因子としては、(1)金属溶融時の粘
度、(2)1う属溶融分散時に生じる表面張カッえひ濡
:t”t、特・1′4−1(3)金属の溶融変形に影響
°゛「る今属しこ接する層の物理的剛性、(4)金属の
固比荀に作用する族1カ・\の熱の逸散、(5)金属の
鞘晶廿イズと粒の酸化状悪、(6)孔形成後置辺部に生
じろ結晶廿イズ等が考えら!しる。クロム中独増ケビス
マスを主体とする金属記録層と基板との間に設げること
により得られる記録後に生じるノイズl/ベルの増力1
分のl威少効果は、クロム単独層が一部識[ヒきれ不動
態1シシ、′ゲ定でちがかつ平滑な膜をつくること、金
属であるクロムの熱伝導率が基板に用いる材料上りも高
いことなどに起因すると考えられる。すなワチ、本発明
の記録部拐では、ビスマスーアンヂモン金属記録層の粒
界部が膜形成時に基板より進入する水や酸素等のr設化
・訃物質により酸比され、記録孔が乱れるのを、一部酸
化きれ不動態化したクロム単独層による遮蔽効果により
防止されるものと推定され、また、クロム単独層が盆妬
記録、jψの下層において、基板上にち密で平滑な嘆を
形成しやすいために、金属記録層がレーザー尤により記
録孔ケ形Jr% fる際に浴融分散を円滑Iで速やかに
行わせるため良好な孔を形成するようになると推定され
る。さr)にクロム単独層の熱伝導率が基板すこよく用
いに)れるガラスやポリメチルメタクリレ−]・樹脂等
に比べて高いため、溶融同化時に急冷さJシ、孔エツジ
の結晶廿イズが小さくなりその結果孔部のエツジ部が滑
らかになるなどの効果が考えられる。その他クロム単独
層とビスマスからなる金属層との間の組会せがよく、相
互間に特殊な効果が生じ、前記:1)〜(6)の因子と
相乗なって、ノイズl/ベルの低下[寄与するものと考
えられるコ以上のように、本発明の情報記録部材は、優
れた記録孔形成性をMシフ、形成後の孔は女定で、再7
4E 時0) / イスレベルの増加が、極めて小さい
ので、高いC7N比が侍1−171、商品I碕の記録再
生信号を得ることのできる実用的価呟の商い高感+を記
録部材である。
ili L、た記録時性としては、生りこ記録化形状の
乱IL及び記録孔ごとの読み出し光に対゛「る反射率の
ぼり)つき等が考えられろ。ヒート七−ト記+禄ICつ
いての理論的解析はいまだ十分ではないが、前者の記録
井形状シし与える因子としては、(1)金属溶融時の粘
度、(2)1う属溶融分散時に生じる表面張カッえひ濡
:t”t、特・1′4−1(3)金属の溶融変形に影響
°゛「る今属しこ接する層の物理的剛性、(4)金属の
固比荀に作用する族1カ・\の熱の逸散、(5)金属の
鞘晶廿イズと粒の酸化状悪、(6)孔形成後置辺部に生
じろ結晶廿イズ等が考えら!しる。クロム中独増ケビス
マスを主体とする金属記録層と基板との間に設げること
により得られる記録後に生じるノイズl/ベルの増力1
分のl威少効果は、クロム単独層が一部識[ヒきれ不動
態1シシ、′ゲ定でちがかつ平滑な膜をつくること、金
属であるクロムの熱伝導率が基板に用いる材料上りも高
いことなどに起因すると考えられる。すなワチ、本発明
の記録部拐では、ビスマスーアンヂモン金属記録層の粒
界部が膜形成時に基板より進入する水や酸素等のr設化
・訃物質により酸比され、記録孔が乱れるのを、一部酸
化きれ不動態化したクロム単独層による遮蔽効果により
防止されるものと推定され、また、クロム単独層が盆妬
記録、jψの下層において、基板上にち密で平滑な嘆を
形成しやすいために、金属記録層がレーザー尤により記
録孔ケ形Jr% fる際に浴融分散を円滑Iで速やかに
行わせるため良好な孔を形成するようになると推定され
る。さr)にクロム単独層の熱伝導率が基板すこよく用
いに)れるガラスやポリメチルメタクリレ−]・樹脂等
に比べて高いため、溶融同化時に急冷さJシ、孔エツジ
の結晶廿イズが小さくなりその結果孔部のエツジ部が滑
らかになるなどの効果が考えられる。その他クロム単独
層とビスマスからなる金属層との間の組会せがよく、相
互間に特殊な効果が生じ、前記:1)〜(6)の因子と
相乗なって、ノイズl/ベルの低下[寄与するものと考
えられるコ以上のように、本発明の情報記録部材は、優
れた記録孔形成性をMシフ、形成後の孔は女定で、再7
4E 時0) / イスレベルの増加が、極めて小さい
ので、高いC7N比が侍1−171、商品I碕の記録再
生信号を得ることのできる実用的価呟の商い高感+を記
録部材である。
本発明の記録部側ば、基板と金属記録層の間に、従来知
られた金勇と金属化合物より成る混合層ケ介在させた記
録部材やクロム以外の例えばCu、Si 。
られた金勇と金属化合物より成る混合層ケ介在させた記
録部材やクロム以外の例えばCu、Si 。
A1などの金属類を含む層を介在させた構造の記録部(
:Avc比べて、ノイズレベルのJJ4 )(k:はる
かに小さく抑えることができ、高いC7N比が得られる
点において特に優れている。
:Avc比べて、ノイズレベルのJJ4 )(k:はる
かに小さく抑えることができ、高いC7N比が得られる
点において特に優れている。
以下実施例により本発明の内界を詳細11こ説明するが
、本発明の技術的範囲は実施例ζりみjで限定されるも
のではない。
、本発明の技術的範囲は実施例ζりみjで限定されるも
のではない。
実施例
キャスト法によって作成した表面平滑性のよい厚さ1.
2胴のポリメチルメタクリレ−1−(PMMA)の仮を
直径30zのディスクに加工し、真空蒸着機槽内t・こ
セントする。
2胴のポリメチルメタクリレ−1−(PMMA)の仮を
直径30zのディスクに加工し、真空蒸着機槽内t・こ
セントする。
ディスクは、装置の中央において回転できるようになっ
ている。装置内には、回転の中心軸を中心として3個の
加熱蒸着ボートと5個のるつぼをもつ電子ビーム装置を
備えている。
ている。装置内には、回転の中心軸を中心として3個の
加熱蒸着ボートと5個のるつぼをもつ電子ビーム装置を
備えている。
膜厚のモニターは水晶振動子法で行い、順次自動的にプ
ログラムされた順序でコントロールf−h97で。基板
の意図的加熱は行わず、蒸着による基板温度の上昇もほ
とんどなかった。
ログラムされた順序でコントロールf−h97で。基板
の意図的加熱は行わず、蒸着による基板温度の上昇もほ
とんどなかった。
槽内の3個の7υ0熱ボー1−にそれぞれBi、Sb、
C!rヶ入れ、岨子ビーム蒸着装置の2個のるつぼにS
lと5m2c)5に入れた。真空槽内’12X10
Torrの真空度とした後、基板回転速度i120rp
mとし、先ずザンブルAi作製するためにCr170A
の膜厚に形成し、次にsbとBiの金属記録層をsb
f:原子比で0.20含有するよう1csb、BjO順
で膜厚にして300 Aの層を形成させた。最後に、安
定化層としてSm2O3を20OAの膜厚に積層した。
C!rヶ入れ、岨子ビーム蒸着装置の2個のるつぼにS
lと5m2c)5に入れた。真空槽内’12X10
Torrの真空度とした後、基板回転速度i120rp
mとし、先ずザンブルAi作製するためにCr170A
の膜厚に形成し、次にsbとBiの金属記録層をsb
f:原子比で0.20含有するよう1csb、BjO順
で膜厚にして300 Aの層を形成させた。最後に、安
定化層としてSm2O3を20OAの膜厚に積層した。
比較例として金属記録層と基板との間VcCrを形成し
ないサンプルBとサンプル(4作1戊した。サンプルB
ば、ポリメチルメタクリレート上に、Sbを原子、1−
1″ニーCU、20の割合で言分したサンプルAと全’
<同じ金属記録層全直接形成し、その」二層にせンブ/
l/ Aと同時[Sm2O3f、r、20OA (1)
++w厚の安定化層を形[戊させた。また、比較のため
のサンプルCば、サンプルA(Q 0r7i 70 A
tJJかわり[Sj層70oAにしたほかはサンプルA
と全く同)羨な金属記録層と」二ノー安定化層をもつ構
造のものを作成した。
ないサンプルBとサンプル(4作1戊した。サンプルB
ば、ポリメチルメタクリレート上に、Sbを原子、1−
1″ニーCU、20の割合で言分したサンプルAと全’
<同じ金属記録層全直接形成し、その」二層にせンブ/
l/ Aと同時[Sm2O3f、r、20OA (1)
++w厚の安定化層を形[戊させた。また、比較のため
のサンプルCば、サンプルA(Q 0r7i 70 A
tJJかわり[Sj層70oAにしたほかはサンプルA
と全く同)羨な金属記録層と」二ノー安定化層をもつ構
造のものを作成した。
これらのサンプルの記録特翻の評価は以下の通りの手順
で行った。
で行った。
先ず、発振波長830 nmの半導体レーザーの光全厚
さI −2mmのPM MA基板越し[記@1了J1上
[N、A=0.5のレンズでビーム径1/Zm程1度寸
で集光させ、ディスクを45Orpmの速度で回転きぜ
ながら、周波UIMHz、すなわち500nsecのパ
ルス幅に変調したレーザー光で記録を竹った。
さI −2mmのPM MA基板越し[記@1了J1上
[N、A=0.5のレンズでビーム径1/Zm程1度寸
で集光させ、ディスクを45Orpmの速度で回転きぜ
ながら、周波UIMHz、すなわち500nsecのパ
ルス幅に変調したレーザー光で記録を竹った。
以上の操作でスパイラル状の記録JL列が形成されるが
、その孔列に〜1mW程度の新たに孔を形成しない出力
で連続発振している再生用半導体レーザー光ヲ、オート
フォーカス及びオートトランキングケかげて集光照射し
、1)−ンブル面上からの反射光を光検出器により検出
し内生信号を得た。次に、その再生信号全スペクトルア
ナライザーに入カシ、ノイズレベルシトキャリアピーク
レベル全読ミ取1) O/ N比を算出した。また同時
に→ノ゛ンブルのレーザー光記録側のレーザー光波1史
に対する反射率と、記録聞直pth及び再生信号のチュ
ーティー比が1:1として観察されるときのレーザー記
録値P5oも測定し7j 。
、その孔列に〜1mW程度の新たに孔を形成しない出力
で連続発振している再生用半導体レーザー光ヲ、オート
フォーカス及びオートトランキングケかげて集光照射し
、1)−ンブル面上からの反射光を光検出器により検出
し内生信号を得た。次に、その再生信号全スペクトルア
ナライザーに入カシ、ノイズレベルシトキャリアピーク
レベル全読ミ取1) O/ N比を算出した。また同時
に→ノ゛ンブルのレーザー光記録側のレーザー光波1史
に対する反射率と、記録聞直pth及び再生信号のチュ
ーティー比が1:1として観察されるときのレーザー記
録値P5oも測定し7j 。
以上の測定の結果、サンプルA、B、CVcついて次の
1直を得た。
1直を得た。
第 1 表
よたサンプルA、B、Cのピット形状全顕微鏡で観察し
たところ、サンプルA[ついては良好な孔形状が観察さ
れたが、サンプルB及びCについては孔エツジ部の形囚
が悪く、また孔ごとの大きさのバラツギが大きかった。
たところ、サンプルA[ついては良好な孔形状が観察さ
れたが、サンプルB及びCについては孔エツジ部の形囚
が悪く、また孔ごとの大きさのバラツギが大きかった。
以上より特性面でのクロムの効果に明確な優位性が8忍
められた。
められた。
実施例2
蒸着槽内03個のボートlt(Bi、 Sm、 Sbを
入れ、電子ビーウ蒸着装置の3個のるつぼにCr、Al
。
入れ、電子ビーウ蒸着装置の3個のるつぼにCr、Al
。
A/1203を入れた。実施例1と同様にポリメチルメ
タクリレート基板上に、、 2X10 Torrの
真空度において蒸着を行った。サンプルDの蒸M順序は
、丑ずCrを60A形成し、次に金属記録層として、B
i、8n、S’bの順に、原子比でsbがo、ts、B
iが0.70 となるように積層し全体で300 Aの
膜厚になるように形成した。最後に安定化層としてAl
2O。
タクリレート基板上に、、 2X10 Torrの
真空度において蒸着を行った。サンプルDの蒸M順序は
、丑ずCrを60A形成し、次に金属記録層として、B
i、8n、S’bの順に、原子比でsbがo、ts、B
iが0.70 となるように積層し全体で300 Aの
膜厚になるように形成した。最後に安定化層としてAl
2O。
を15OAの膜厚に最上層に形成した。比較例として、
Or層5 OAの膜厚に形成するかわりに、A1を60
Aの膜厚に形成した他はサンプルAと全く同じ金属記録
層及び安定化層を形成したサンプルEを作成した。
Or層5 OAの膜厚に形成するかわりに、A1を60
Aの膜厚に形成した他はサンプルAと全く同じ金属記録
層及び安定化層を形成したサンプルEを作成した。
このようにして得たサンプルD1Bを実施例1と同様に
記録評価全行い、第2表の値を得た。
記録評価全行い、第2表の値を得た。
第 2 表
1だ孔形状を顕微鏡観察を行ったところ、サンプルDv
cついては良好な孔形状が観察されたが、サンプルEK
ついては、乱れた孔形状が観察された。
cついては良好な孔形状が観察されたが、サンプルEK
ついては、乱れた孔形状が観察された。
以上の結果からも、本発明の記録部材が非常に優れた性
能を有することが分る。
能を有することが分る。
実施例3
蒸着槽内の3個のボートにBi、、 Sb、 Cr 1
,1入れ、電子ビーム蒸着装置の2つのるつぼにT、+
a 203 トAl205i入れた。実施例1と同様に
ポリメチルメタフリレート基板上に、2×10”Tor
rの真空度において蒸着を行った。サンプルFの蒸着順
序は先ず0ri70A形成し、次1c La205f
60 Aの膜厚に形成した。その上に金属記録層として
、Sbを原子比で0.18 KなるようにBi、Sbの
順で積層し:(OOAの層厚に形成した。最後に最上層
に安定化層としてLa、203を20OAの膜厚に蒸着
した。
,1入れ、電子ビーム蒸着装置の2つのるつぼにT、+
a 203 トAl205i入れた。実施例1と同様に
ポリメチルメタフリレート基板上に、2×10”Tor
rの真空度において蒸着を行った。サンプルFの蒸着順
序は先ず0ri70A形成し、次1c La205f
60 Aの膜厚に形成した。その上に金属記録層として
、Sbを原子比で0.18 KなるようにBi、Sbの
順で積層し:(OOAの層厚に形成した。最後に最上層
に安定化層としてLa、203を20OAの膜厚に蒸着
した。
比較のために、ザンブルFOCr層70 Aの化リレこ
、Ti170Aの膜厚に設けた他はサンプルFと全く同
様に、Ti層の上にLa2O3を60A設は全く同じ金
属記録層及び安定化層を設けたサンプルG全作成した。
、Ti170Aの膜厚に設けた他はサンプルFと全く同
様に、Ti層の上にLa2O3を60A設は全く同じ金
属記録層及び安定化層を設けたサンプルG全作成した。
また、サンプルFOCr層と金属記録層との間に設けた
La2O3層60Aの代りに、Al2O5層6QAiC
r層と金属記録層との間に形成した以外は、サンプルF
と全く同様な構造を持つサンプルHを作成した。
La2O3層60Aの代りに、Al2O5層6QAiC
r層と金属記録層との間に形成した以外は、サンプルF
と全く同様な構造を持つサンプルHを作成した。
以上で作成したサンプルF、G、、Hi実施例1と同様
に記録評価を行ったところ第3表の値を得た。
に記録評価を行ったところ第3表の値を得た。
第 3 表
1だ、孔形状の顕微鏡観察を行ったところ、サンプルF
、Hについては、良好な孔形状が観桜されたか、サンプ
ルGについては、F、Hに比べてややエツジに乱れが観
察された。
、Hについては、良好な孔形状が観桜されたか、サンプ
ルGについては、F、Hに比べてややエツジに乱れが観
察された。
以上の結果より、Orを設けた場什のC7N比について
の優位性と、Crと希土類の酸化物との複合層を設けた
場曾の反射率の低減化による高感度化効果が明らかに認
められる。
の優位性と、Crと希土類の酸化物との複合層を設けた
場曾の反射率の低減化による高感度化効果が明らかに認
められる。
実施例4
蒸漸漕内の3個のボートに、Bi、、 Sb、 Crを
入れ、電子ビーム蒸着装置の1個のるつぼにIia 2
05を入れた。実施例1と同様にボリメ壬ルメククリレ
ート基板上に、2X10 Torrの真空度において
蒸着を行った。サンプル■の蒸着順1′f;は1ずの膜
厚Vこ蒸着した。その上に金属記録層として、実施例3
のサンプルFと同様に、Sbを原子比でO■S 言イ
1するように、Bi、Sbの順序で積層し、全体として
厚さ300Aの層を形成させた。最後に最上層に安定化
層としてLa 205を20OAの膜厚に蒸着した。
入れ、電子ビーム蒸着装置の1個のるつぼにIia 2
05を入れた。実施例1と同様にボリメ壬ルメククリレ
ート基板上に、2X10 Torrの真空度において
蒸着を行った。サンプル■の蒸着順1′f;は1ずの膜
厚Vこ蒸着した。その上に金属記録層として、実施例3
のサンプルFと同様に、Sbを原子比でO■S 言イ
1するように、Bi、Sbの順序で積層し、全体として
厚さ300Aの層を形成させた。最後に最上層に安定化
層としてLa 205を20OAの膜厚に蒸着した。
以上の手順で作成したサンプルエi実施例1と全く同様
に記録評価を行ったところ第4表に示す値が得られた。
に記録評価を行ったところ第4表に示す値が得られた。
実h10十タリ5
#后槽内の3個のポートに、Bi、 Sb、 Cr f
入れ、電子ヒーム蒸庸装置の1個のるつほにS m 2
03ケ入れた。実施例1と開織にホリメ千ルメタクリレ
ート基板上に、2 X l OuTorr の真空度に
おいて蒸Nを行った。サンプルJの蒸着順序は、先すC
r165Aの膜厚に形成し、次vcSm205f 70
Aの膜厚に蒸着した。その上に金属記録層としてSt)
、Bi(7)順[Sb’ii7原子比で0.20@有す
るようにし、250Aの膜厚に形成した。最後に最上層
に安定化層として、FJm20s f 200 Aの膜
厚に蒸着した。
入れ、電子ヒーム蒸庸装置の1個のるつほにS m 2
03ケ入れた。実施例1と開織にホリメ千ルメタクリレ
ート基板上に、2 X l OuTorr の真空度に
おいて蒸Nを行った。サンプルJの蒸着順序は、先すC
r165Aの膜厚に形成し、次vcSm205f 70
Aの膜厚に蒸着した。その上に金属記録層としてSt)
、Bi(7)順[Sb’ii7原子比で0.20@有す
るようにし、250Aの膜厚に形成した。最後に最上層
に安定化層として、FJm20s f 200 Aの膜
厚に蒸着した。
また同様に、金属記録層のsbの含有量を変えたサンプ
ルに、L、M′ff:作成した。サンプルにの金属記録
層のsbの含有量は、原子比で0.lOとし、Sb、B
iの順1c250Aの膜厚に形成した以外は、サンプル
Jと全く同じ構造とした。サンプルLの金属記録層のs
bの@M量は、原子比で帆24とし、Sb、BiO順で
25OAの膜厚に形成した以外は、サンプルJと全く同
じ構造とした。また、サンプルMの金属記録層のsbの
含有量は、原子比で0.35とし、Sb 、 Biの順
に25OAの膜厚に形成した以外はサンプルJと全く同
じ構造とした。
ルに、L、M′ff:作成した。サンプルにの金属記録
層のsbの含有量は、原子比で0.lOとし、Sb、B
iの順1c250Aの膜厚に形成した以外は、サンプル
Jと全く同じ構造とした。サンプルLの金属記録層のs
bの@M量は、原子比で帆24とし、Sb、BiO順で
25OAの膜厚に形成した以外は、サンプルJと全く同
じ構造とした。また、サンプルMの金属記録層のsbの
含有量は、原子比で0.35とし、Sb 、 Biの順
に25OAの膜厚に形成した以外はサンプルJと全く同
じ構造とした。
以上で作成したサンプルJ 、 K 、 L 、 M
f、1実施例1と回置vc記録評価を行ったところ、第
5表に万ヒ「1直を簿すた。
f、1実施例1と回置vc記録評価を行ったところ、第
5表に万ヒ「1直を簿すた。
丑た、孔形状の顕微鏡観察を行ったところ、金属記録層
にsbを原子比で0.20及び帆24の割合で含有した
サンプルJ、Lは特に良好なものであった。
にsbを原子比で0.20及び帆24の割合で含有した
サンプルJ、Lは特に良好なものであった。
以上より、sb含有量による特性差が明らかとなった。
実施例6
蒸看漕内の3個のボー) vcBi 、 Sb、 Sn
f 入し、電子ビーム蒸着装置の3個のるつぼにOr
、Sm2O3゜Al2O5を入れた。実施例1と同様に
、ポリメチルメタクリレート基板上に、2×10°To
rrの真空度において蒸着葡行った。サンプルNの蒸着
順序はまず、Orを75Aの膜厚に形成し、次にSm2
O3を5OAの膜厚に蒸着した。その上Qて金属記録層
として、原子比でo、ts、Bie原子比でo 、 7
0 含有するように、Sb、 Bi、Snの順に蒸着さ
せ300Aの膜厚に形成した。最後に、最上層[Al2
O5を20OAの膜厚に形成した。
f 入し、電子ビーム蒸着装置の3個のるつぼにOr
、Sm2O3゜Al2O5を入れた。実施例1と同様に
、ポリメチルメタクリレート基板上に、2×10°To
rrの真空度において蒸着葡行った。サンプルNの蒸着
順序はまず、Orを75Aの膜厚に形成し、次にSm2
O3を5OAの膜厚に蒸着した。その上Qて金属記録層
として、原子比でo、ts、Bie原子比でo 、 7
0 含有するように、Sb、 Bi、Snの順に蒸着さ
せ300Aの膜厚に形成した。最後に、最上層[Al2
O5を20OAの膜厚に形成した。
以上の手順により作成したサンプルを、実施例1と同様
な手順により記録評価を行った。結果を第6表に示す。
な手順により記録評価を行った。結果を第6表に示す。
第1図、第2図及び第3図は本発明記録部拐のそれぞれ
異った構造例金示す断面図である。 図I+符号lは基板、2は金属記録層、3はクロム単独
層、3は金属酸化物層、4は安W化層である。 特許比1頭人 旭化成工業株氏会社 代理人 阿 形 明 第1図 第2図 第3図 手続補正書 1中1i’FJ)人J、 昭和57年特許願第118498号 2賢明、−)と、121 情報記録用部材 3 r内直(<)−る 名 if l′lと(・)関1? 特許出願人f+: l
’lj大阪府大阪市北区堂島浜1丁目2番6号え 、(
00”3)旭化成工業株式会社代表者 宮 崎
輝 1代 理 人 〒104束丁;束部;央区jf4tlG丁lコ4番5号
−1:、I+!ヒル’、JThl祝関の爛及び回出1の
簡早な説明の欄8、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙のとおり絹正します。 (2)明細1第4ペ一/第11〜12行の「文書ファイ
ナル」を、「文書ファイル」に訂正しまず、。 (3)同第6ページ下から第2行の1ビスマスを」を、
[ビスマスを主体としだ金属を」に訂正します。 (4)同第8ページ第2行の1−・・とすることもでき
る。1のあどに下記の文を加入します。 [クロム層とともに用いられる金属化合物としては、B
e 、Lli 、B、Mg、Al 、Sl 、Ca 、
Sc 、i’j、 、V、Cr 、Mn 。 F e + Co + N l + C111Z r+
+ Ga、(J e + A s + S r r
Y + Z r + lJ b + ’l’ C+Ru
、Rh、Pd、/に、In、Sn、Sb、Ba、、La
、Hf゛、i、”a、、Re。 Ir 、Ti 、 Pb 、Bi 、Ce 、Dy 、
Er 、Gd 、Nd 、 Pr 、Sm 、Pm、E
u。 ’II’ 1v 、 H(1、”J’m 、 Y t−
+ 、 llo などの金属の酸化物、窒化物、フン
化物を挙げることができる。1 (5)同第9ページ第3行の1−制能を用いて、−1を
、[−樹脂等を用いて、」に訂屯し寸ず。 (6)同第11ページ第12行の1ljrjを、1−P
r−Jに訂正します。 (7) 同第15ページ第9行のi’l’o Jを、
l’i’eJに訂市し寸す。 (と()同第17ページ第8〜11行のl−’ 5l1
1 などの・・・がす1適である。」を、l−Sm、P
m、Ii’、u 、Tb、llo 、Tm。 Ylつ、 1.、、、Llなどの金属の酸化物、窒化物
、フン化物、特に:’、 ] 、AI 、Oe 、Zr
、’I”a 、Bi 、Li 、Mg 、”1’1+
L3.Ce 、Y 。 Dy 、Er 、Ocl 、Hf 、Sm 、Cr 、
Nd 、Pr 、Pm 、Eu 、Tb 、Ha 、’
I″m。 Y l) ! L Llなどの金属の酸化物が好適であ
る。−1に訂正します。 (9)同第17ページ第13行のlS”20s +−1
及びrpbo 、 ZnO、jの記載を削除し1す。 00 同第17ページ下から第4行(2個所)及び下
から3行の1金属酸化物」をすべて[−金属化合物−1
に訂正します。 0])同第18ページ第1行及び下から第5行の1金属
酸化物」をいずれも「金属化合物」に訂正します。 02 同第18ページ第10行の「CeO,〜2jを
、I−()eO,〜2」に訂正します。 03 同第29ページ第9行の1−slnJを、JS
nJに訂正し、第10行の1−電子ビーク−1を、1−
電子ビーム」に訂正します。 04 同第36ページ第5行の1として、−1のあとに
IF;1)を1を力1人します。 OQ 同第37ページ第2行の13は金属酸化物層、
1を +−;31は金属化合物層、−1にlJ止しまず
3、2、特許請求の範囲 1 基板上にビスマスを主体とする金属記録層及び金属
化合物安定化層を積層した構造を治し、かつ前記基板と
前記金属記録層との間に、クロム単独層を介百ミさせた
ことを特徴とする情報記録用部材。 2 ビスマスを主体とする金属記録層が原子比で016
〜030のアンチモンを含有するビスマスから成る特許
請求の範囲第1項記載の情報記録用部材。 3 基板上にビスマスを主体とする金属記録層及び金属
化合物安定化層を積層した構造を治し、かつ前記基板と
前記金属記録層との間に、クロム単独層及び金属化合物
層を介在させたことを特徴とする情報記録用部材。 4 ビスマスを主体とする金属記録層が原子比で0.1
6〜0.30のアンチモンを含有するビスマスから成る
特許請求の範囲第3項記載の情報記録用部材。 手続補正書 昭和58Q10月71] l事f’lの表小 昭和57年特許願第118498号 2発明の名称 情報記録用部材 3抽止を−4る行 4汁1との関係特許出願人 江 uni 大阪府大阪市北区堂島浜1丁目2番6号
代表者 宮 崎 輝 4、代 理 人 5 補正命令の日イ1」 自発 6 袖正により増加する発明の数 0 7補正のt、1象明+I(II IJの発明の詳細な説
明の欄8、補正の内容 (1)明細書第5ページ第11行〜14行目の1半導体
レーザー光を・・・によって測定した。」を次のように
訂正します。 1半導体レーザー光を周波数IMHz、パルス1]50
0 n5ecで変調し、集光レンズにより約1μm程度
に集光して記録材料上に、再生信号の変調パルス11]
500 n5ecを得るために短径約1μm1長径約
1.6μm以上の長円記録ピットを形成させることによ
って測定した。」
異った構造例金示す断面図である。 図I+符号lは基板、2は金属記録層、3はクロム単独
層、3は金属酸化物層、4は安W化層である。 特許比1頭人 旭化成工業株氏会社 代理人 阿 形 明 第1図 第2図 第3図 手続補正書 1中1i’FJ)人J、 昭和57年特許願第118498号 2賢明、−)と、121 情報記録用部材 3 r内直(<)−る 名 if l′lと(・)関1? 特許出願人f+: l
’lj大阪府大阪市北区堂島浜1丁目2番6号え 、(
00”3)旭化成工業株式会社代表者 宮 崎
輝 1代 理 人 〒104束丁;束部;央区jf4tlG丁lコ4番5号
−1:、I+!ヒル’、JThl祝関の爛及び回出1の
簡早な説明の欄8、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙のとおり絹正します。 (2)明細1第4ペ一/第11〜12行の「文書ファイ
ナル」を、「文書ファイル」に訂正しまず、。 (3)同第6ページ下から第2行の1ビスマスを」を、
[ビスマスを主体としだ金属を」に訂正します。 (4)同第8ページ第2行の1−・・とすることもでき
る。1のあどに下記の文を加入します。 [クロム層とともに用いられる金属化合物としては、B
e 、Lli 、B、Mg、Al 、Sl 、Ca 、
Sc 、i’j、 、V、Cr 、Mn 。 F e + Co + N l + C111Z r+
+ Ga、(J e + A s + S r r
Y + Z r + lJ b + ’l’ C+Ru
、Rh、Pd、/に、In、Sn、Sb、Ba、、La
、Hf゛、i、”a、、Re。 Ir 、Ti 、 Pb 、Bi 、Ce 、Dy 、
Er 、Gd 、Nd 、 Pr 、Sm 、Pm、E
u。 ’II’ 1v 、 H(1、”J’m 、 Y t−
+ 、 llo などの金属の酸化物、窒化物、フン
化物を挙げることができる。1 (5)同第9ページ第3行の1−制能を用いて、−1を
、[−樹脂等を用いて、」に訂屯し寸ず。 (6)同第11ページ第12行の1ljrjを、1−P
r−Jに訂正します。 (7) 同第15ページ第9行のi’l’o Jを、
l’i’eJに訂市し寸す。 (と()同第17ページ第8〜11行のl−’ 5l1
1 などの・・・がす1適である。」を、l−Sm、P
m、Ii’、u 、Tb、llo 、Tm。 Ylつ、 1.、、、Llなどの金属の酸化物、窒化物
、フン化物、特に:’、 ] 、AI 、Oe 、Zr
、’I”a 、Bi 、Li 、Mg 、”1’1+
L3.Ce 、Y 。 Dy 、Er 、Ocl 、Hf 、Sm 、Cr 、
Nd 、Pr 、Pm 、Eu 、Tb 、Ha 、’
I″m。 Y l) ! L Llなどの金属の酸化物が好適であ
る。−1に訂正します。 (9)同第17ページ第13行のlS”20s +−1
及びrpbo 、 ZnO、jの記載を削除し1す。 00 同第17ページ下から第4行(2個所)及び下
から3行の1金属酸化物」をすべて[−金属化合物−1
に訂正します。 0])同第18ページ第1行及び下から第5行の1金属
酸化物」をいずれも「金属化合物」に訂正します。 02 同第18ページ第10行の「CeO,〜2jを
、I−()eO,〜2」に訂正します。 03 同第29ページ第9行の1−slnJを、JS
nJに訂正し、第10行の1−電子ビーク−1を、1−
電子ビーム」に訂正します。 04 同第36ページ第5行の1として、−1のあとに
IF;1)を1を力1人します。 OQ 同第37ページ第2行の13は金属酸化物層、
1を +−;31は金属化合物層、−1にlJ止しまず
3、2、特許請求の範囲 1 基板上にビスマスを主体とする金属記録層及び金属
化合物安定化層を積層した構造を治し、かつ前記基板と
前記金属記録層との間に、クロム単独層を介百ミさせた
ことを特徴とする情報記録用部材。 2 ビスマスを主体とする金属記録層が原子比で016
〜030のアンチモンを含有するビスマスから成る特許
請求の範囲第1項記載の情報記録用部材。 3 基板上にビスマスを主体とする金属記録層及び金属
化合物安定化層を積層した構造を治し、かつ前記基板と
前記金属記録層との間に、クロム単独層及び金属化合物
層を介在させたことを特徴とする情報記録用部材。 4 ビスマスを主体とする金属記録層が原子比で0.1
6〜0.30のアンチモンを含有するビスマスから成る
特許請求の範囲第3項記載の情報記録用部材。 手続補正書 昭和58Q10月71] l事f’lの表小 昭和57年特許願第118498号 2発明の名称 情報記録用部材 3抽止を−4る行 4汁1との関係特許出願人 江 uni 大阪府大阪市北区堂島浜1丁目2番6号
代表者 宮 崎 輝 4、代 理 人 5 補正命令の日イ1」 自発 6 袖正により増加する発明の数 0 7補正のt、1象明+I(II IJの発明の詳細な説
明の欄8、補正の内容 (1)明細書第5ページ第11行〜14行目の1半導体
レーザー光を・・・によって測定した。」を次のように
訂正します。 1半導体レーザー光を周波数IMHz、パルス1]50
0 n5ecで変調し、集光レンズにより約1μm程度
に集光して記録材料上に、再生信号の変調パルス11]
500 n5ecを得るために短径約1μm1長径約
1.6μm以上の長円記録ピットを形成させることによ
って測定した。」
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板J−、V?:、ビスマスを主体とする金属記録
層及び金属化縫物安定化層を積層した構造を有し、かつ
前記基板と前記金属記録層との間に、クロム単独層を介
在させたことを特徴とする情報記録用部材1) 2 ビスマスご主体とする金属記録層が原子比で0.1
6〜0.30のアンチモンを含有するビスマスから成る
特許請求の範囲第1項記載の情報記録用部材。 5 基板上にビスマスを主体とする金属記録層及び金属
化合物安定化層を積層した構造2有し、かつ前記基板と
前記金属記録層との間に、クロム単独J−及び金属は化
物層を介在させたことを特徴とする情報記録用部材。 4 ビスマスを主体とする金属記録層が原子比で0.1
6〜0.30のアンチモンを含有するビスマスから成る
特許請求の範囲第3項記載の情報記録用部材。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57118498A JPS599094A (ja) | 1982-07-09 | 1982-07-09 | 情報記録用部材 |
EP83303797A EP0099208B1 (en) | 1982-07-09 | 1983-06-30 | An information recording material |
DE8383303797T DE3375245D1 (en) | 1982-07-09 | 1983-06-30 | An information recording material |
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AU16701/83A AU552419B2 (en) | 1982-07-09 | 1983-07-08 | Optical disk recording material |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP57118498A JPS599094A (ja) | 1982-07-09 | 1982-07-09 | 情報記録用部材 |
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Family Applications (1)
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-
1983
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- 1983-07-05 US US06/510,763 patent/US4580146A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-07-08 AU AU16701/83A patent/AU552419B2/en not_active Ceased
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