JPS5990044A - デイジタル式・渦流探傷装置 - Google Patents
デイジタル式・渦流探傷装置Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の分野〕
この発明は非破壊検査における電磁誘導試験法等に使用
する渦流探傷装置に関するものである。
する渦流探傷装置に関するものである。
％にその信号処理において従来のアナログ信号処理方式
を改良ｊ−でディジタル信号処理方式にすることにより
、高性度で而も再現性のある装置の実現を目指すもので
ある。
を改良ｊ−でディジタル信号処理方式にすることにより
、高性度で而も再現性のある装置の実現を目指すもので
ある。
従来非破壊検査に用いる電磁誘導試験に使用する渦流探
傷装置とし７ては、第１図に示すようなものがあった。
傷装置とし７ては、第１図に示すようなものがあった。
即ち、第１図ｄ１アナログ（Ｍ’号処理の渦流探傷装置
のブロック図である。図において、１は探傷周波数の信
号電流を発生する発信器、２は上記の発振器１の出力信
号を増幅する電力増幅器、３ ＶＪブリッジ回路、４は
探傷用のコイル、５はブリッジ回路３の不平衡電圧す々
わち欠陥を示す信号を増幅する増幅器、６は発信器１の
交流信号を基準に位相をｆ遅らす移相器、７は上記位相
器６と同様に位相を（α＋９０）０遅らす移相器、８＃
′ｉ増幅器５の出力信号を上記移相器６．７の位相で同
期検波する同期検波器、９は増幅器５の出力信号を移相
器６の出力信号に同期して出力する同期ケ゛−ト回路、
１０は上記同期ケ°−ト回路９の出力信号を積分するＣ
Ｒ回路よりなる積分器、１１は増幅器５の出力信号を移
相器７の出力信号に同期して出力する同期ケ゛−ト回路
、１２は上記同期ｒ−ト回路１１の出力信号を積分する
ｉ分器、１３け同期検波器８の出力信号から被検材の性
状を判定する判定器、１４は積分器１０の信号をＹ軸に
、積分器１２の信号をＹ軸に入力して、欠陥を示す信号
をベクトル表示する記録器で、この実施例で一１ＣＲＴ
とする。
のブロック図である。図において、１は探傷周波数の信
号電流を発生する発信器、２は上記の発振器１の出力信
号を増幅する電力増幅器、３ ＶＪブリッジ回路、４は
探傷用のコイル、５はブリッジ回路３の不平衡電圧す々
わち欠陥を示す信号を増幅する増幅器、６は発信器１の
交流信号を基準に位相をｆ遅らす移相器、７は上記位相
器６と同様に位相を（α＋９０）０遅らす移相器、８＃
′ｉ増幅器５の出力信号を上記移相器６．７の位相で同
期検波する同期検波器、９は増幅器５の出力信号を移相
器６の出力信号に同期して出力する同期ケ゛−ト回路、
１０は上記同期ケ°−ト回路９の出力信号を積分するＣ
Ｒ回路よりなる積分器、１１は増幅器５の出力信号を移
相器７の出力信号に同期して出力する同期ケ゛−ト回路
、１２は上記同期ｒ−ト回路１１の出力信号を積分する
ｉ分器、１３け同期検波器８の出力信号から被検材の性
状を判定する判定器、１４は積分器１０の信号をＹ軸に
、積分器１２の信号をＹ軸に入力して、欠陥を示す信号
をベクトル表示する記録器で、この実施例で一１ＣＲＴ
とする。
第２図は第１図に示したブリッジ回路３の構成の一例を
示す接続図で、第１図と同一符号は同−又は相当部分を
示し、３５．３６および３７はコイル４と共にブリッジ
回路３の各アームを構成するインピーダンス、３８．３
９はブリッジ回路３の出力端子、４０Ｖｉ、被検材を示
している。
示す接続図で、第１図と同一符号は同−又は相当部分を
示し、３５．３６および３７はコイル４と共にブリッジ
回路３の各アームを構成するインピーダンス、３８．３
９はブリッジ回路３の出力端子、４０Ｖｉ、被検材を示
している。
第３図は第１図のブロック図に示す従来装置の各部にお
ける出力信号波形を示したものである。
ける出力信号波形を示したものである。
図において、（ａ）は発信器１の出力信号波形、（ｂ）
は被検材に欠陥が存在した場合の増幅器５の出力信号波
形で、（ａ）の信号波形を基準として位相がｆ遅れてい
ることを示している。（ｃ）は移相器６の出力信号波形
で、移相邦α＝伊で、信号波形（ａ）に同期している。
は被検材に欠陥が存在した場合の増幅器５の出力信号波
形で、（ａ）の信号波形を基準として位相がｆ遅れてい
ることを示している。（ｃ）は移相器６の出力信号波形
で、移相邦α＝伊で、信号波形（ａ）に同期している。
（ｄ）は同期ダート回路９の出力信号波形で、この図で
斜線を施した部分の信号＃′ｉ積分器１０に入力される
と相殺され同図の破線で示す波形の信号が出力さｈるこ
と＼となる。（ｅ）ｔｊ：同期ダート回路１１の出力信
号波形で、信号波形（ｃ）を基準に位相が９０９遅れた
パルス信号となる。（ｆ）は上記信号波形（ｄ）と同様
に積分器１２の出力信号波形を示し、同図の斜線部分は
積分器１２に入力さり、ると相殺され、同図の破線で示
す波形の信号か出方さｉする。
斜線を施した部分の信号＃′ｉ積分器１０に入力される
と相殺され同図の破線で示す波形の信号が出力さｈるこ
と＼となる。（ｅ）ｔｊ：同期ダート回路１１の出力信
号波形で、信号波形（ｃ）を基準に位相が９０９遅れた
パルス信号となる。（ｆ）は上記信号波形（ｄ）と同様
に積分器１２の出力信号波形を示し、同図の斜線部分は
積分器１２に入力さり、ると相殺され、同図の破線で示
す波形の信号か出方さｉする。
次に従来技術を示す第１図のブロック図について、その
動作を説明する。図１ｃおいて、発振器１の出力信号ｔ
ま、電力増幅器２で増幅し、第３図（ａ）に示す信号波
形をブリッジ回路３に入力する。被検材検出用のコイル
４ｔま上記発振器１の発振周波数で第２図に示す被検材
４０と電磁的に結合され、被検材４００表層部に渦電流
を誘導発生させ、この渦電流の逆起電力によって、コイ
ル４のインピーダンスが定まる。かくして、被検拐４０
の正常な部分においてブリッジ回路３の平衡をとり、端
子３８．３９の出力電圧を０（ボルト）にしておくと、
被検材４０の欠陥のある部分では渦電流に対するインピ
ーダンスが変化する。従ってコイル４のインピーダンス
が変化し、ブリッジ回路３が不平衡状態となって、第２
図に示す端子３８．３９に第３図（′ｂ）で示すように
発振器１の出力信号波形（ａ）と波形及び周波数は同じ
で、位相だけがｆ遅れた欠陥を示す信号波形（ｂ）が出
力される。増幅器５は上記信号波形（ｂ） ｆ−増幅し
、同期検波器８に入力し、信号波形（ｂ）を０°と９０
°′との位相成分に分類する。まず、同ハ」］ゲート回
路９においては、増幅器５の出力信号（第３図（ｂ））
は、発振器１の出力信号（第３図（ａ））に同期した移
相器６の出力信号（第３図（Ｃ））に一致した信号波形
のみ出力する。
動作を説明する。図１ｃおいて、発振器１の出力信号ｔ
ま、電力増幅器２で増幅し、第３図（ａ）に示す信号波
形をブリッジ回路３に入力する。被検材検出用のコイル
４ｔま上記発振器１の発振周波数で第２図に示す被検材
４０と電磁的に結合され、被検材４００表層部に渦電流
を誘導発生させ、この渦電流の逆起電力によって、コイ
ル４のインピーダンスが定まる。かくして、被検拐４０
の正常な部分においてブリッジ回路３の平衡をとり、端
子３８．３９の出力電圧を０（ボルト）にしておくと、
被検材４０の欠陥のある部分では渦電流に対するインピ
ーダンスが変化する。従ってコイル４のインピーダンス
が変化し、ブリッジ回路３が不平衡状態となって、第２
図に示す端子３８．３９に第３図（′ｂ）で示すように
発振器１の出力信号波形（ａ）と波形及び周波数は同じ
で、位相だけがｆ遅れた欠陥を示す信号波形（ｂ）が出
力される。増幅器５は上記信号波形（ｂ） ｆ−増幅し
、同期検波器８に入力し、信号波形（ｂ）を０°と９０
°′との位相成分に分類する。まず、同ハ」］ゲート回
路９においては、増幅器５の出力信号（第３図（ｂ））
は、発振器１の出力信号（第３図（ａ））に同期した移
相器６の出力信号（第３図（Ｃ））に一致した信号波形
のみ出力する。
この信号波形を第３図（ｄ）に示す。手記信号波形（ｄ
）は、積分器１０で粕汁きれると、余１線部分の信号は
相殺さハ、儀線で示すような信号波形とｋる。
）は、積分器１０で粕汁きれると、余１線部分の信号は
相殺さハ、儀線で示すような信号波形とｋる。
すなわち、移相器６、同期ケ゛−ト回路９および積分器
１０は、発振器１の出力信号の周波数に同期した同期検
波器となる。
１０は、発振器１の出力信号の周波数に同期した同期検
波器となる。
また、移相器７においでは、発振器１の出力信号波形よ
り９ｆｆ’遅？また信号波形（第３図（ｅ））を出力し
、同期ダート回路１１と積分器１２で同期検波されると
、第３図ωの破紳で示す信号波形が山波形（、／）を、
Ｙ軸に入力し、欠陥を示す信号波形全ベクトル表示する
。
り９ｆｆ’遅？また信号波形（第３図（ｅ））を出力し
、同期ダート回路１１と積分器１２で同期検波されると
、第３図ωの破紳で示す信号波形が山波形（、／）を、
Ｙ軸に入力し、欠陥を示す信号波形全ベクトル表示する
。
判定器１３は、上記ベクトルの大きさを位相から欠陥の
性状を判定するものである。特ＶＣ１上記の位相を求め
ると、欠陥のある６′Ｊ、置の深さを求めることができ
る。第３図の場合、信号波形（ｄ）、のの同期検波器８
の出力信号が等しいので位相は４５°と２Ｌる 〔従来技術の欠点〕 従来の渦流探傷装置は以上の様に構成されているので、
孕小な欠陥部分（幅が狭く深さの浅い様な欠陥）を検出
するに当っては、同ａｌ］検波器８のに対する応答性が
悪くなり、高い精度で欠陥部分の深さを求めることがで
きなく、Ｃ，Ｒ，の値は加減器でアナログ的に設定する
ために、再現性に乏Ｌ７い等の欠点があった。特に、上
記の欠点は、微小な欠陥を高速で検出する場合に、顕著
に現われる。
性状を判定するものである。特ＶＣ１上記の位相を求め
ると、欠陥のある６′Ｊ、置の深さを求めることができ
る。第３図の場合、信号波形（ｄ）、のの同期検波器８
の出力信号が等しいので位相は４５°と２Ｌる 〔従来技術の欠点〕 従来の渦流探傷装置は以上の様に構成されているので、
孕小な欠陥部分（幅が狭く深さの浅い様な欠陥）を検出
するに当っては、同ａｌ］検波器８のに対する応答性が
悪くなり、高い精度で欠陥部分の深さを求めることがで
きなく、Ｃ，Ｒ，の値は加減器でアナログ的に設定する
ために、再現性に乏Ｌ７い等の欠点があった。特に、上
記の欠点は、微小な欠陥を高速で検出する場合に、顕著
に現われる。
この発明は上記の様な、従来のアナログ式渦流探傷装置
の欠点を除去する為になされたもので、従来の欠陥信号
の処理を、アナログ式からディジタル式に変更すると共
に、欠陥の深さを高鞘展で求められる装置を提供するこ
とを目的としている。
の欠点を除去する為になされたもので、従来の欠陥信号
の処理を、アナログ式からディジタル式に変更すると共
に、欠陥の深さを高鞘展で求められる装置を提供するこ
とを目的としている。
以下に、この発明の一実施例を図面について詳しく説明
する。第４図は、この発明の一実施例を示すブロック図
である。図において１５は探傷周波数と妓″形を定める
設定器、１６は上記設定器１５の信号によりその波形と
卸波数に比例したディジタルの関委９を時系列に発生す
る関数発生器、１７ｉｌ上記関数発生器１６のディジタ
ル出力信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器、１
８は増幅器５の出力信号（アナログ信号）をディジタル
信号に変節１するＡ／Ｄ変換器、１９はＡ／Ｄ変換器１
８の１３−１力信号をラチェット式に送り込む第１記憶
回路、２０は同様の機能を果す８Ｆ、２記ｆ５脅回路、
２１は、第１、第２記憶回路１９．２０の出力を交互に
出力するダート回路、３１は、上記第１、第２記憶回路
１９．２Ｇと、ケ゛−ト回路２１とよシなる記憶部、２
２は関数発生器１６に同期してα０の位相でゲート信号
を出力する第１移相器、２３は関数発生器１６に同期し
て（α＋９０７０の位相ダート信号を出力する第２移相
器、２４け第１移相器２２１Ｃ同期してダート回路２１
の出方信号を加勢する第１加算器、２５け第２ダート回
路２１の出力信号を加算する第２加算器、２６は設定器
１５の信号によって上記の各ブロック１８〜２５を制御
する制御器、２７けディジタル信号処理よりなる同期検
波器、２８はディジタＡ２侶号処理によシ第１図に示す
判定器１３と同等の桧能を持つ判定３２９．３０ｉ、Ｌ
Ｄ／ＡＤ／Ａ変換器る。図中第１図と同一符号は同−又
はＡ１１当部分を示す。
する。第４図は、この発明の一実施例を示すブロック図
である。図において１５は探傷周波数と妓″形を定める
設定器、１６は上記設定器１５の信号によりその波形と
卸波数に比例したディジタルの関委９を時系列に発生す
る関数発生器、１７ｉｌ上記関数発生器１６のディジタ
ル出力信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器、１
８は増幅器５の出力信号（アナログ信号）をディジタル
信号に変節１するＡ／Ｄ変換器、１９はＡ／Ｄ変換器１
８の１３−１力信号をラチェット式に送り込む第１記憶
回路、２０は同様の機能を果す８Ｆ、２記ｆ５脅回路、
２１は、第１、第２記憶回路１９．２０の出力を交互に
出力するダート回路、３１は、上記第１、第２記憶回路
１９．２Ｇと、ケ゛−ト回路２１とよシなる記憶部、２
２は関数発生器１６に同期してα０の位相でゲート信号
を出力する第１移相器、２３は関数発生器１６に同期し
て（α＋９０７０の位相ダート信号を出力する第２移相
器、２４け第１移相器２２１Ｃ同期してダート回路２１
の出方信号を加勢する第１加算器、２５け第２ダート回
路２１の出力信号を加算する第２加算器、２６は設定器
１５の信号によって上記の各ブロック１８〜２５を制御
する制御器、２７けディジタル信号処理よりなる同期検
波器、２８はディジタＡ２侶号処理によシ第１図に示す
判定器１３と同等の桧能を持つ判定３２９．３０ｉ、Ｌ
Ｄ／ＡＤ／Ａ変換器る。図中第１図と同一符号は同−又
はＡ１１当部分を示す。
第５図は第４図に示す各回路ブロックのそノ１ぞｆｌの
出力信号波形を示す。即ち、（ａ）、（ｂ）は第３図に
示した（ａ）、（ｂｌと同等のものであるが、時間軸を
引き延はして画いである。図中、Ｑ）は移相器２２の出
力信号波形で、移相器α＝０°に設定され、信号波形（
ａ）に同期している。（ｈ）は第２移相器２３の出力信
号波形で、信号波形（ロ））を基準とすれば、９０゜遅
れている。（ｉ）は制ＴｈＩ器２６の出力信号で、Ａ／
Ｄ変換器１８の変換開始と第１、第２移相器２２．２３
を制御する信号で、説明の都合上、パルス間隔を粗く記
載しているｏ （ｊ）はＡ／Ｄ変換器１８の変換終了信
号である。（／１．）、に）は、制御器２６の出力信号
で、それぞれ第１、第２記憶回路１９．２０のラッチ信
号である。（ｎ）は、ケ゛−ト回路２１の出力信号で、
Ａ／Ｄ変換器の出力信号すなわち、欠陥信号データ（デ
ィジタル）てあＺ。（ｐ） ｉ、ｌ： 、Ｊ １移相器
２２の出力信号で、第１加ｊ９−器２４の加算タイミン
グ伊丹となる。（Ｑ）Ｖｉ（Ｐ）と同様に、第２８相器
２３の出力（ｉ号で、第２加η器２５の月初−タイミン
グ信号と在る。
出力信号波形を示す。即ち、（ａ）、（ｂ）は第３図に
示した（ａ）、（ｂｌと同等のものであるが、時間軸を
引き延はして画いである。図中、Ｑ）は移相器２２の出
力信号波形で、移相器α＝０°に設定され、信号波形（
ａ）に同期している。（ｈ）は第２移相器２３の出力信
号波形で、信号波形（ロ））を基準とすれば、９０゜遅
れている。（ｉ）は制ＴｈＩ器２６の出力信号で、Ａ／
Ｄ変換器１８の変換開始と第１、第２移相器２２．２３
を制御する信号で、説明の都合上、パルス間隔を粗く記
載しているｏ （ｊ）はＡ／Ｄ変換器１８の変換終了信
号である。（／１．）、に）は、制御器２６の出力信号
で、それぞれ第１、第２記憶回路１９．２０のラッチ信
号である。（ｎ）は、ケ゛−ト回路２１の出力信号で、
Ａ／Ｄ変換器の出力信号すなわち、欠陥信号データ（デ
ィジタル）てあＺ。（ｐ） ｉ、ｌ： 、Ｊ １移相器
２２の出力信号で、第１加ｊ９−器２４の加算タイミン
グ伊丹となる。（Ｑ）Ｖｉ（Ｐ）と同様に、第２８相器
２３の出力（ｉ号で、第２加η器２５の月初−タイミン
グ信号と在る。
〔発−０作用、動作〕
次に動作について説明する。第４しＩの設定器１５にお
いて、ｆｌｋの正弦波と設定すると、関数発生器１６け
２πｆｔに比例し、たディジクルデータ信号を時系列で
出力すると共に、上記関数２π−ｆ” ｊに同期したパ
ルス信号（ｇ＞、（ｈ）を第１、汀１２移相器２２．２
３に入力する。上記関数発生器１６のディジタルデータ
信号は、Ｄ／Ａ変換器１７によって、第５図（ａ）ＶＣ
示すアナログの正弦波信号に変換さハ、電力増幅器２て
増幅され、ブリッジ回路３に人力される。被検月４０の
表層部分では、コイル４によって渦電流が誘導さり１、
イの逆起電力により上記コイル４のインピーダンスが定
まる。従って、被検月４０の正常な部分においてブリッ
ジ回路の平衡をとり、出力電圧をＯボルトにしておく。
いて、ｆｌｋの正弦波と設定すると、関数発生器１６け
２πｆｔに比例し、たディジクルデータ信号を時系列で
出力すると共に、上記関数２π−ｆ” ｊに同期したパ
ルス信号（ｇ＞、（ｈ）を第１、汀１２移相器２２．２
３に入力する。上記関数発生器１６のディジタルデータ
信号は、Ｄ／Ａ変換器１７によって、第５図（ａ）ＶＣ
示すアナログの正弦波信号に変換さハ、電力増幅器２て
増幅され、ブリッジ回路３に人力される。被検月４０の
表層部分では、コイル４によって渦電流が誘導さり１、
イの逆起電力により上記コイル４のインピーダンスが定
まる。従って、被検月４０の正常な部分においてブリッ
ジ回路の平衡をとり、出力電圧をＯボルトにしておく。
被検材４０の欠陥のある部外では、コイル４のインピー
ダンスが変化し、ブリッジ回路３が不平衡となって第５
図（ｂ）に示す信号波形が出力さｔする。上記信号波形
（ｂ）は増幅器５によって増幅さｉ、、Ａ／Ｄ変換器１
８に入力される。Ａ／Ｄ変換器１８の変換開始信号（第
５図（ｉ））は、設定器１５の探傷周波数設定データが
＃読［７、制御器２Ｇより一定間隔のパルス列で出力さ
れる。上ｔＬ：′の信号（ｉ）の・ぐルス間隔で欠陥信
号（第５図（ｂ）かに／Ｉ）変換さノする。Ａ／Ｄ変換
さ力たデータ（第５図６１） ）けＡ／Ｄ変換終了信−
け（第５図（ｊ））に同期して、ラッテ（Ａ号（１）の
タイミングで奇数番目のデータ（１１１、ｎ３ 、。
ダンスが変化し、ブリッジ回路３が不平衡となって第５
図（ｂ）に示す信号波形が出力さｔする。上記信号波形
（ｂ）は増幅器５によって増幅さｉ、、Ａ／Ｄ変換器１
８に入力される。Ａ／Ｄ変換器１８の変換開始信号（第
５図（ｉ））は、設定器１５の探傷周波数設定データが
＃読［７、制御器２Ｇより一定間隔のパルス列で出力さ
れる。上ｔＬ：′の信号（ｉ）の・ぐルス間隔で欠陥信
号（第５図（ｂ）かに／Ｉ）変換さノする。Ａ／Ｄ変換
さ力たデータ（第５図６１） ）けＡ／Ｄ変換終了信−
け（第５図（ｊ））に同期して、ラッテ（Ａ号（１）の
タイミングで奇数番目のデータ（１１１、ｎ３ 、。
ｎ５．・・・・・・）を第１記憶回路１９ｒこ、ラップ
仁月り。
仁月り。
のタイミングで、１出れ宅ｖ目のブ゛−り（”２ Ｔ
ｎ４ ｒｎｏ 、・・・・・・）乏・第２ ｆｉｔ、
’ ｔＸＰ、回路２ Ｑ Ｖ（父方にラッチする。
ｎ４ ｒｎｏ 、・・・・・・）乏・第２ ｆｉｔ、
’ ｔＸＰ、回路２ Ｑ Ｖ（父方にラッチする。
上記の紀１と第２記憶回路１９．２０透−２個用いるの
は、Ａ／Ｄ変換器１８のデータの変換り間を不効捉オリ
用し、ダート回路２１は土配第１．第２の記憶回路で交
互にラッチされているデータを直列に、すなわち、Ａ／
Ｄ変換器１８から出力さｈｆｃデータの順序で第１、第
２加算器２４．２５に同時に入力される、こｈらゲート
回路２１、加η器２４．２５の動作タイミングは制御器
２６でおこなう。
は、Ａ／Ｄ変換器１８のデータの変換り間を不効捉オリ
用し、ダート回路２１は土配第１．第２の記憶回路で交
互にラッチされているデータを直列に、すなわち、Ａ／
Ｄ変換器１８から出力さｈｆｃデータの順序で第１、第
２加算器２４．２５に同時に入力される、こｈらゲート
回路２１、加η器２４．２５の動作タイミングは制御器
２６でおこなう。
移相器２２は、関数発生器１６の正弦波交流信号（第５
図（ａ））に同期した・やルス（ｇ）とＡ／Ｄ変換器１
８のＡ／Ｄ変換終了信号（ｊ）と同期したパルス（ｐ）
を出力し、上記パルスφ）に同期するＡ／Ｄ変換器１８
の変換ｒ−タ（第５図ではｎ１〜ｎ６１を第１加算器２
４に入力する。同様に第２移相器２３は、移相器２２の
出力信号（ロ））Ｋ一対して、９００遅れた・ぐルス由
）を出力し、Ａ／Ｄ変換終了信号Ｕ）と同期したパルス
Ｑを出力し、上記ノ４ルス（Ｑ）Ｋ同期するＡ／Ｄ変換
器のデータ（第５図では、ｎ、〜ｎ８．）を第２加算器
２５に入力する。上記第１加算悪２４と、第２加算器２
５の加算データは、欠陥を示す信号（第５図（ａ））を
位相ｏ０と９０”ｔ’同期検波された値である。また、
加算関数は、制御器２６にょつて、任意に設定される。
図（ａ））に同期した・やルス（ｇ）とＡ／Ｄ変換器１
８のＡ／Ｄ変換終了信号（ｊ）と同期したパルス（ｐ）
を出力し、上記パルスφ）に同期するＡ／Ｄ変換器１８
の変換ｒ−タ（第５図ではｎ１〜ｎ６１を第１加算器２
４に入力する。同様に第２移相器２３は、移相器２２の
出力信号（ロ））Ｋ一対して、９００遅れた・ぐルス由
）を出力し、Ａ／Ｄ変換終了信号Ｕ）と同期したパルス
Ｑを出力し、上記ノ４ルス（Ｑ）Ｋ同期するＡ／Ｄ変換
器のデータ（第５図では、ｎ、〜ｎ８．）を第２加算器
２５に入力する。上記第１加算悪２４と、第２加算器２
５の加算データは、欠陥を示す信号（第５図（ａ））を
位相ｏ０と９０”ｔ’同期検波された値である。また、
加算関数は、制御器２６にょつて、任意に設定される。
この装置の場合は１／ｆ（秒）間のデータを加算する。
Ｄ／Ａ変換器２９．３０は第１加算器２４と第２加初、
器２５の加算データをアナログ１Ｖｃ変換し、その変換
ｍをＣＲＴ１４に入力し、欠陥を示す信号（第５図６）
）をベクトル表示する。判定器２８は、第１、第２加算
器２４．２５のデータから大きさと位相を求め欠陥の性
状を判定する。
器２５の加算データをアナログ１Ｖｃ変換し、その変換
ｍをＣＲＴ１４に入力し、欠陥を示す信号（第５図６）
）をベクトル表示する。判定器２８は、第１、第２加算
器２４．２５のデータから大きさと位相を求め欠陥の性
状を判定する。
なお、上記実施例では、Ａ／Ｄ変換器１Ｂの変換データ
の記憶部３１に、第１、第２記憶回路１９．２０を用い
、Ａ／Ｄ変換器１８の動作中に、後段回路による演舞処
理をおこない、演算処理時間を短縮しているが、低周波
数による探傷の場合、Ａ／Ｄ変換の繰シ返し周期（第５
図（ｉ））が長くなるので、第２記憶回路２０、ダート
回路２１ ｉ、ｉ不用となる。またよシ高周波数による
探傷の場合、並列処理するために、２個以上の記憶回路
を用いる。
の記憶部３１に、第１、第２記憶回路１９．２０を用い
、Ａ／Ｄ変換器１８の動作中に、後段回路による演舞処
理をおこない、演算処理時間を短縮しているが、低周波
数による探傷の場合、Ａ／Ｄ変換の繰シ返し周期（第５
図（ｉ））が長くなるので、第２記憶回路２０、ダート
回路２１ ｉ、ｉ不用となる。またよシ高周波数による
探傷の場合、並列処理するために、２個以上の記憶回路
を用いる。
以上のように、この発明によれは、同期検波器をディジ
タル信号処理で実現できるので、積分定数を任意に設定
でき、しかも再現性が良い。捷た応答特性は、Ａ／Ｄ変
換器１８の変換周期でのみ決まり、ベクトル分析は探傷
周波数の一周期で求まるので、応答速度の早い精度の高
い装置が得られるという効果がある。
タル信号処理で実現できるので、積分定数を任意に設定
でき、しかも再現性が良い。捷た応答特性は、Ａ／Ｄ変
換器１８の変換周期でのみ決まり、ベクトル分析は探傷
周波数の一周期で求まるので、応答速度の早い精度の高
い装置が得られるという効果がある。
第１図は従来の渦流探傷装置のブロック図、第２図は、
従来の探傷装置のブリッジ回路図、第３図は、第１図の
ブロック図の各部毎の出力信号波形図、第４図はこの発
明の一実施例のブロック図、第５図は、第４図のブロッ
ク図に示す各部毎の出力信号波形図である。 図において、１・・・・・・発振器、２・・・・・・電
力増幅器、３・・・・・・ブリッジ回路、４・・・・・
・コイル、５・・・・・・増幅器、６・・・・・・移相
器、８・・・・・・同期検波器、９・・°・・・同期ｒ
−）回路、１０・・・・・・積分器、１１・・・・・・
同期ダート回路、１２・・・・・・積分器、１３・・・
・・・判定器、１４・・・・・・記録器（ＣＲＴ ）、
１５・・・・・・設定器、１６・・・・・・関数発生器
、１７・・・・・・Ｄ／Ａ変換器、１８・・・・・・Ａ
／Ｄ変換器、１９・・・・・・第１記憶回路、２０・・
・・・・第２記憶回路、２１・・・・・・ｒ−ト回路、
２２・・・・・・第１移相器、２３・・・・・・第２移
相器、２４・・・・・・第１加獅器、２５・・・・・・
第２加算器、２６・・・・・・制御器、２７・・・・・
・同期検波器、２８・・・・・・判定器、２９．３０・
・・・・・Ｄ／Ａ変換器、３１・・・・・・記憶部。 特 許 出 願 人 三菱電機株式会社代理人
葛野信−（他１名） 手続補正林 特許庁長官殿 １、事件の表示 特願昭５７−２００５９１号２
、発明の名称 ディジタル式・渦流探島装置 ３、補正をする者 代表者片由仁へ部 ４、代理人 ５、補正の対象 （１） 明細書の「発明の詳細な説明」欄。 ６、補正の内容 （１）明細書第１３頁第１７行目、 「・・・加算器２４」とあるのを、 ｒ・・・加算器２４Ｊと訂正する。
従来の探傷装置のブリッジ回路図、第３図は、第１図の
ブロック図の各部毎の出力信号波形図、第４図はこの発
明の一実施例のブロック図、第５図は、第４図のブロッ
ク図に示す各部毎の出力信号波形図である。 図において、１・・・・・・発振器、２・・・・・・電
力増幅器、３・・・・・・ブリッジ回路、４・・・・・
・コイル、５・・・・・・増幅器、６・・・・・・移相
器、８・・・・・・同期検波器、９・・°・・・同期ｒ
−）回路、１０・・・・・・積分器、１１・・・・・・
同期ダート回路、１２・・・・・・積分器、１３・・・
・・・判定器、１４・・・・・・記録器（ＣＲＴ ）、
１５・・・・・・設定器、１６・・・・・・関数発生器
、１７・・・・・・Ｄ／Ａ変換器、１８・・・・・・Ａ
／Ｄ変換器、１９・・・・・・第１記憶回路、２０・・
・・・・第２記憶回路、２１・・・・・・ｒ−ト回路、
２２・・・・・・第１移相器、２３・・・・・・第２移
相器、２４・・・・・・第１加獅器、２５・・・・・・
第２加算器、２６・・・・・・制御器、２７・・・・・
・同期検波器、２８・・・・・・判定器、２９．３０・
・・・・・Ｄ／Ａ変換器、３１・・・・・・記憶部。 特 許 出 願 人 三菱電機株式会社代理人
葛野信−（他１名） 手続補正林 特許庁長官殿 １、事件の表示 特願昭５７−２００５９１号２
、発明の名称 ディジタル式・渦流探島装置 ３、補正をする者 代表者片由仁へ部 ４、代理人 ５、補正の対象 （１） 明細書の「発明の詳細な説明」欄。 ６、補正の内容 （１）明細書第１３頁第１７行目、 「・・・加算器２４」とあるのを、 ｒ・・・加算器２４Ｊと訂正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （ＩＪ 発振周波数、電波波形および信号処理タイミ
ング制御周期を設定する設定器と、この設パルスを出力
する関数発生器と、この関数発生器の関数データをアナ
ログ信号に変換するＤ／Ａ変換器と、とのＤ／Ａ変換器
の出力信号を電力増幅しその出力信号を探傷用コイルか
ら構成されるブリッジ回路に入力する電力増幅器と、上
記ブリッジ回路の出力信号を増幅する増幅器と、この増
幅器の出力信号をディジタル信号に変換し、ディジタル
信号処理によって同期検波する同期検波器と、この同期
検波器の出力信号をＤ／Ａ変換しベクトル表示あるいは
記録する記録器と、同期検波器の出力するディジタルデ
ータによシ該検査対象物件の内部欠陥の性状を判定する
判定器とを有することを特徴とするディジタル式・渦流
探傷装置。 （２）同期検波器は、増幅器の出力信号をディジタル変
換するＡ／Ｄ変換器と、とのＡ／Ｄ変換器の出力データ
を記憶する単数又は複数の記憶回路と、ダート回路とを
有する記憶部と、関数発生器から出力されるノｊルス列
と上記Ａ／Ｄ変換器から出力される変換終了信号と同期
して９０位相の異なる同期・ゼルスを出力する２個の移
相器と、上記同期パルスに同期して記憶部の出力データ
を加算する複数の加算器と、設定器のデータによって上
記Ａ／Ｄ変換器、移相器、記憶部、加算器、Ｄ／Ａ変換
器、および判定器の信号処理のタイミングを制御する制
御器とを有することを特徴とする特許請求の範曲第（１
）項記載のディジタル式・渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20059182A JPS5990044A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | デイジタル式・渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20059182A JPS5990044A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | デイジタル式・渦流探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5990044A true JPS5990044A (ja) | 1984-05-24 |
| JPH0339263B2 JPH0339263B2 (ja) | 1991-06-13 |
Family
ID=16426890
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20059182A Granted JPS5990044A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | デイジタル式・渦流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5990044A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61116670A (ja) * | 1984-10-29 | 1986-06-04 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 検波器 |
| JPH01223340A (ja) * | 1988-03-02 | 1989-09-06 | Idemitsu Eng Co Ltd | 渦流探傷方法および装置 |
| JPH0423042U (ja) * | 1990-06-14 | 1992-02-25 | ||
| JP2007225303A (ja) * | 2006-02-21 | 2007-09-06 | Jfe Steel Kk | 同期検波方法および装置、磁気計測方法および装置 |
| GB2457496A (en) * | 2008-02-15 | 2009-08-19 | Ge London Patent Operation | A system for detecting defects using eddy currents |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50108984A (ja) * | 1974-02-02 | 1975-08-27 | ||
| JPS50112090A (ja) * | 1974-02-12 | 1975-09-03 |
-
1982
- 1982-11-16 JP JP20059182A patent/JPS5990044A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50108984A (ja) * | 1974-02-02 | 1975-08-27 | ||
| JPS50112090A (ja) * | 1974-02-12 | 1975-09-03 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPH01223340A (ja) * | 1988-03-02 | 1989-09-06 | Idemitsu Eng Co Ltd | 渦流探傷方法および装置 |
| JPH0423042U (ja) * | 1990-06-14 | 1992-02-25 | ||
| JP2007225303A (ja) * | 2006-02-21 | 2007-09-06 | Jfe Steel Kk | 同期検波方法および装置、磁気計測方法および装置 |
| GB2457496A (en) * | 2008-02-15 | 2009-08-19 | Ge London Patent Operation | A system for detecting defects using eddy currents |
| GB2457496B (en) * | 2008-02-15 | 2010-10-20 | Ge Inspection Technologies Ltd | A method and apparatus for phase sensitive detection of eddy current measurements |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0339263B2 (ja) | 1991-06-13 |
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