JPH01223340A - 渦流探傷方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、熱交換器に使用される伝熱管等の欠陥探知に
好適な渦流探傷方法および装置に関する。

〔従来の技術〕

この種の技術としては、特開昭５９−７５１４６号公報
に示された金属管の渦流探傷装置等が知られており、第
１２図にはその装置１００の構成がブロック図で示され
ている。

同図において、ブリッジ１０２は一対の試験コイル１０
４を有し、それら試験コイル１０４へは発振器１０６か
ら交流励磁電流正弦波がブリッジ１０２を介して通電さ
れており、そのため試験コイル１０４には交番磁界が発
生している。

また、試験コイル１０４は各々プローブの外周に巻回さ
れており、第１３図から理解されるように試験コイル１
０４が巻回されたプローブ１０Ｂは金属管１１０等の内
部に挿入される。

プローブ１０８が金属管１１０内に挿入されると、試験
コイル１０４には前記のように交番磁界が発生している
ので、プローブを一旦金属管１１０の奥方へ押し込んで
徐々に掃引していく過程で、金属管１１０には渦電流が
生じ、その渦電流の影響を受けて試験コイル１０４のイ
ンピーダンスが変化する。

そのインピーダンス変化はブリッジ１０２によって電圧
変化量へ変換され、２つの位相検波器１１２および１１
４へ入力される。

位相検波器１１２では発振器１０６から制御信号が入力
されており、その制御信号に従ってリサージュ波形のＹ
軸成分となるＸ軸信号が出力される。

一方、位相検波器１１４では位相検波器１１２へ入力さ
れている制御信号と９０度の位相差を有する制御信号が
発振器１０６から入力されており、位相検波器１１４で
はその制御信号に従って前記リサージュ波形のＸ軸成分
となるＸ軸信号を出力している。そして位相検波器１１
２．１１４から出力されたＸ軸信号およびＸ軸信号に基
づいてブラウン管１１６へはりサージェ波形が表示され
る。

そのリサージュ波形は金属管１１０の欠陥に対応して第
１４図に示すように形がパターン化されており、従って
リサージュ波形を見ることにより、金属管１１０の欠陥
状態をある程度判断することができる。

一方、位相検波器１１２．１１４の各出力は演算処理部
１１Ｂおよび記録計１２０へも入力されており（例えば
第１３図中のガタＰ、は第１４図の（Ｐ、）に、ヘコミ
Ｐ８は（Ｐ、）に各々対応している）、演算処理部１１
８では前記Ｘ軸信号およびＸ軸信号の振幅を電気的に読
み取ることにより、その位相角を求めて欠陥の種別、す
なわち内面傷であるか外面傷であるかの判別が行われる
とともに傷の深さが演算される。その演算結果は記録計
１２０へ入力されており、記録計１２０では位相検波器
１１２，１１４および演算処理部１１８からの出力が個
別に記録される。

ところで、位相検波器１１２．１１４へ入力される制御
信号と、ブリッジ１０２から位相検波器１１２，１１４
に入力される電気信号とがどの程度位相差を有している
かによって、位相検波器１１２．１１４から出力される
出力波形は異なってく　る　。

第１６図（Ａ）、（Ｂ）にはその位相差に対応する位相
検波器１１２．１１４からの出力波形が示されており、
同図から理解されるように位相差が異なるとその出力波
形が異なり、位相検波器１１２．１１４から出力される
電圧は異なった値となる。

また第１６図から理解されるように出力波形は、位相検
波器１１２，１１４へ入力される入力信号、すなわち電
圧−時間曲線を各々の制御信号のパルス幅に相等する時
間に亘って積分した値（正確には平均化した値）となっ
ており、各制御信号のパルス幅は入力信号に係わりなく
一定の値とされている。

そして、予め所定の傷を設けておいた金属管１１Ｏに対
して演算処理部１１８で演算された結果に基づき第１６
図に示された位相角−減肉率（減肉率較正）曲線を作成
し、その曲線及び演算処理部１１Ｂでの演算結果（位相
角）に基づいて測定対象となる管体１１０の欠陥が内面
に存在するのか、あるいは外面に存在するのかの判断が
されるとともに、その欠陥傷の深さが読み取られる。

〔発明が解決しようとする課題〕

以上説明したように前記制御信号は各々一定のパルス幅
とされているため、前記入力信号へ変換される前記正弦
波の周波数が異なると、前記位相角の変化量が適正な値
として算出できない場合がある。

・　すなわち、例えば制御信号のパルス幅が前記正弦波
の３２分の１６である場合には、減肉率変化に対する位
相角の変化量が小さく、その位相角の変化量からは減肉
率を正確に求めることは極めて困難である。

また正弦波の周波数が小さくなると制御信号のパルス幅
と正弦波の波長との比が小さくなり装置としての感度が
低下してしまうという問題を有する。

一方、正弦波の周波数を高くしてゆくと、その正弦波の
波長と制御信号のパルス幅との比が大きくなり、位相角
が歪んでしまうという不都合があった。

本発明の目的は、前記正弦波の波長と前記各々の制御信
号のパルス幅との比が所定の値に設定され、正弦波の周
波数に係わりなく減肉率の変化量に対する位相角の変化
量が常に正確かつ大きな値として算出可能とされた渦流
探傷方法および装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本発明に係る渦流探傷方法
では、 管体等の測定対象内部に挿入されたときに、当該測定対
象に生じた渦電流によりインピーダンス変化が発生可能
とされた試験コイルへ通電される交流励磁電流となる正
弦波に関する情報と、前記正弦波の波長とパルス幅との
比が所定の値に設定された第１制御パルスに関する情報
と、前記正弦波の波長とパルス幅との比が前記所定の値
に設定されるとともに、前記第１制御パルスとの位相差
がπ／２とされた第２制御パルスに関する情報とが記憶
される記憶手段に前記各々の情報が記録される第１の過
程と、 前記記憶手段に記憶された各々の情報が読み出される第
２の過程と、 読み出された各々の情報に基づいて、前記正弦波を交流
励磁電流として前記試験コイルへ通電するとともに、前
記第１および第２制御パルスを同期検波器へ入力させる
第３の過程と、 前記渦電流による前記インピーダンス変化が電圧変化量
に変換される変換手段からの出力信号に応答して、当該
電圧変化量に対応する電圧−時間曲線について、前記第
１制御パルスのパルス幅に相当する時間に亘って積分し
た値をリサージュ波形のＹ軸成分として出力させる一方
、前記電圧−時間曲線について前記第２制御パルスのパ
ルス暢に相等する時間に亘って積分した値を前記リサー
ジュ波形のＸ軸成分として出力させる第４の過程と、 を有することを特徴とする。

また、本発明に係る渦流探傷装置では、管体等の測定対
象内部に挿入されたときに、当該測定対象に生じた渦電
流によりインピーダンス変化が発生可能とされた試験コ
イルへ通電される交流励磁電流となる正弦波に関する情
報と、前記正弦波の波長とパルス幅との比が所定の値に
設定された第１制御パルスに関する情報と、前記正弦波
の波長とパルス幅との比が前記所定の値に設定されると
ともに、前記第１！１１ｍパルスとの位相差がπ／２と
された第２制御パルスに関する情報とが各々記憶される
記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された各々の情報が読み出される情
報読み出し手段と、 前記情報読み出し手段により読み出された情報に基づい
て、前記正弦波、前記第１制御パルスおよび前記第２制
御パルスが各々発振される発振手段と、 前記インピーダンス変化が電圧変化量へ変換される変換
手段と、 前記変換手段により得られた電圧変化量に対応する電圧
−時間曲線を前記第１制御パルスのパルス幅に相等する
時間に亘って積分した第１積分値を演算するとともに、
前記曲線を前記第２制御パルスのパルス幅に相等する時
間に亘って積分した第２積分値を演算する積分値演算手
段と、前記第１積分値がリサージュ波形のＹ軸成分とし
て出力される一方、前記第２積分値が前記リサージュ波
形のＸ軸成分として出力される出力手段と、 を有することを特徴とする。

〔作用〕

本発明に係る渦流探傷方法および装置では、前記第１１
！ｌ１ｍパルスおよび第２制御パルスの各々のパルス幅
と前記正弦波の波長との比が所定の値に設定されており
、前記減肉率の変化量に対する前記位相角の変化量が、
前記電圧−時間曲線について前記各々のパルス幅に相等
する時間に亘って積分した値に基づいて算出される。

〔実施例〕

以下、本発明に係る渦流探傷方法および装置の好適な実
施例を図面に基づいて説明する。

まず、前記渦流探傷装置の構成について説明する。

第１図は、前記渦流探傷装置ｌの主要部、すなわち探傷
プローブ３に設けられた一対の試験コイル５，５に生じ
たインピーダンス変化が電圧変化量へ変換されて後述す
るりサージェ波形のＹ軸成分およびＸ軸成分として出力
されて表示等されるまでの回路構成が示されている。

同図において、発振器７からは適宜な周波数を有する正
弦波と、後述するＳＩＮパルス（第１制御パルス）およ
ヒＣＯＳパルス（第２制御パルス）とが出力されており
（発振手段）、正弦波は前置アンプ９で所望の振幅が与
えられてブリッジ回路１１へ入力されている。

そのブリッジ回路１１は前記試験コイル５が構成要素と
されており、試験コイル５へ正弦波、すなわち交流励磁
電流を供給するとともに、試験コイル５に生じたインピ
ーダンス変化（後述）を電圧変化量に変換して（変換手
段）差動増幅器１３へ入力している。その差動増幅器１
３では、入力された電圧変化量が増幅されて増幅器１５
へ入力されており、増幅器１５の出力は同期検波器１７
および同期検波器１９へ人力されている。

同期検波器１７と同期検波器１９へは、さらに発振器７
から前記ＳＩＮパルスとＣＯＳパルスとが各々入力され
ており、同期検波器１７では第２図から理解されるよう
に、同期検波器１７へ入力された前記電圧変化量に対応
する電圧−時間曲ｗＡ（図中点線で示した）をＳＩＮパ
ルスのパルス幅に相等する時間に亘って積分した値（第
１積分値であって図中斜線で示されるＡ＋部分）が演算
され、後述するりサージュ波形のＹ軸成分として出力さ
れており、一方同期検波器１９では前記曲線をＣＯＳパ
ルスのパルス幅に相等する時間に亘って積分した値（第
２積分値であって図中斜線で示されるＡ８部分）が演算
され、リサージュ波形のＸ軸成分として出力されている
。

すなわち、本実施例では同期検波器１７．１９が積分値
演算手段および出力手段とされている。

同期検波器１７．１９の各出力はともに感度調整器２１
へ入力されて適宜な大きさに増幅され、フィルタ２３を
介してノイズ等の余分な電気信号が排除された状態で９
０度固定位相器２５および２７へ入力され、９０度固定
位相器２５ではその出力が増幅器２９で増幅されて前記
Ｘ軸成分として出力される一方、９０度固定位相器２７
ではその出力が増幅器３１で増幅されて前記Ｘ軸成分と
して出力されている。

ここで、第３図には発振器７のより具体的な回路構成が
示されており、ヒユーズＲＯＭ２等の記憶手段には前記
正弦波、前記ＳＩＮパルスおよびＣＯＳパルスに関する
情報が記憶可能とされ、それらの各ｔ［はクロックパル
スのクロック信号に応答してヒユーズＲＯＭ２から出力
される（情報読み出し手段）。

なお、記憶手段としては、他の半導体メモリ等を使用す
ることも好適である。

本実施例では、ヒユーズＲＯＭ２が３２バイトの容量を
有するものとされており、第４図から理解されるように
、各バイトの下６桁には正弦波に関する情報が入力され
、次の７桁目にはＣＯＳパルスに関する情報が人力され
、さらに次の８桁目にはＳＩＮパルスに関する情報が各
々入力・記憶されている。

このように、前記正弦波に関する情報はディジタル信号
としてヒユーズＲＯＭ２に記憶されているので、実際に
発振器７からブリッジ回路１１へ交流励磁電流を通電す
るときに゛は、ヒユーズＲＯＭ２の出力は第３図から理
解されるように、負荷抵抗４Ａ、４Ｂを介してＤ／Ａ変
換器６に入力され、ディジタル−アナログ変換されて出
力されて前置アンプ９へ入力される。

一方、ＳＩＮパルスおよびＣＯＳパルスは前記クロック
信号に応答して各々同期検波器１７と同期検波器１９へ
入力されている。

第５図には、ヒユーズＲＯＭ２から出力される正弦波（
ディジタル化されているので階段波となっている）とＳ
ＩＮパルスおよびＣＯＳパルスとの一例が示されており
、同図から理−解されるように、ＳＩＮパルスおよびＣ
ＯＳパルスのパルスＩＩ　！；！　正弦波の３２分の１
波長となるように設定されている。

すなわち、正弦波の波長とＳＩＮパルスおよびＣＯＳパ
ルスの各パルス幅との比は正弦波の周波数（波長）が変
化された場合にも、常に所定の値となるように予め設定
されてヒユーズＲＯＭ２へ記憶されているとともに、Ｓ
ＩＮパルスとＣＯＳパルスとは位相差がπ／２となるよ
うに予め設定されている。

モしてＳＩＮパルスとＣＯＳパルスとの位相差がπ／２
と設定されているのは、ブリッジ回路１１でのインピー
ダンス変化（ベクトルとして得られる）の位相角を正確
に求めるためであり、そのインピーダンス変化の位相角
は、後に行われる渦流探傷試験の際の位相分析の正確さ
を与えるものとなる。

渦流探傷装置ｌの主要部は以上のように構成され、前記
Ｘ軸成分およびＸ軸成分は演算回路３０へ入力されて後
述する位相角θ等が演算されるとともに、ＣＲ７表示器
４０へ入力されて前記リサージュ波形が表示され、それ
ら演算回路５０とＣＲ７表示器４０の出力は記録計５０
へ入力されて記録される。

次に、渦流探傷装置１を用いて渦流探傷試験を行う方法
について第６図を参照しつつ説明する。

まず、第１の過程では、ヒユーズＲＯＭ２に前記正弦波
、ＳＩＮパルスおよびＣＯＳパルスを予めディジタル信
号で記憶させておく（手順Ｓ、）。

続いて、第２の過程では、前記クロックパルスに応答し
てヒユーズＲＯＭ２から前記正弦波、ＳＩＮパルスおよ
びＣＯＳパルスを読み出しく手順Ｓ８）、正弦波はＡ／
Ｄ変換器６を介してディジタル−アナログ変換させた状
態で交流励磁電流として試験コイル５へ通電する（手順
Ｓ、）、一方、ＳｌＮパルスおよびＣＯＳパルスはその
まま同期検波器１７と同期検波器１９へ各々供給する（
手順ｓ４、第３の過程）。

次にプローブ３を第１０図に示された管状の対比試験体
１０（測定対象物）の奥方に空気圧で挿入させ、徐々に
引き抜く方向へ掃引させていく過程で、試験体１０に生
じた渦電流に起因する試験コイル５のインピーダンス変
化がブリッジ回路１１で電圧変化量として検出される（
手順Ｓｓ）。

ブリッジ回路１１の出力は同期検波器１７と１９へ入力
され、同期検波器１７と同期検波器１９では前記積分値
ＡＩ　、Ａ！が各々求められて出力される（手順Ｓ、）
、このように本実施例では手順Ｓ、と手順Ｓ、とが第４
の過程で行われる。

ところで、手順Ｓ、においては前述した手順Ｓ、を経て
ＳＩＮパルスおよびＣＯＳパルスのパルス幅が電圧変化
量の積分値演算に利用されている。

すなわち、第２図の点線で示された電圧出力■は第７図
から理解されるように第２図中実線で示した入力電圧と
の位相差がθである場合にはＸ軸成分■、およびＹ軸成
分ｖｙが下式（１）により与えられる。

従って、ＳＩＮパルスをＹ軸成分に対応させるとともに
、ＣＯＳパルスをＸ軸成分に対応させることができる。

そこで、Ｘ−Ｙ平面上に前記Ｙ軸成分とＸ軸成分とを各
々Ｙ軸とＸ軸方向の座標成分としてプロットすると第８
図に示されるリサージュ波形が得られる。さらにリサー
ジュ波形の出力信号はＸ軸成分、Ｙ軸成分の２成分に分
出力させて図示しないチャートレコーダに入力させると
、第８図および第９図から理解されるようにリサージュ
波形のＸ軸成分とＹ軸成分の分出力値であるチャートデ
ータが得られる。

そのチャートデータから欠陥信号、（すなわち試験体１
０に欠陥がある場合に得られる電気信号）の振幅値と位
相角を読み取ることができる。

なお、位相角θは下式（２）から求めることができる（
第８図参照）。

θｍａｒｃｔａｎ（ｙ八）　　　　　　　　　・（２）
続いて、前記ＣＲ７表示器４０には、同期検波器１７が
出力する積分値Ａ１をＹ軸成分とする一方、同期検波器
１９が出力する積分値Ａ８をＸ軸成分とするりサージェ
波形が表示される（手順ｓ１）。

演算回路３０では前記積分値Ａ　＋　、　Ａ　＊が取り
込まれて前記リサージュ波形で示される欠陥信号の振幅
値および位相角θが演算される等、位相解析が行われる
（手順Ｓ、）。

なお、従来から知られているように、前記リサージュ波
形は、欠陥の状態（凹み、貫通孔、腐食による減肉等）
によりパターン化されているので、試験体ｌＯにより探
傷試験を行って各種リサージュ波形のパターンを予め用
意しておき、実際に探傷を行う測定物から得られるリサ
ージュ波形と予め用意されたりサージュ波形とを比較す
ることにより、実際の探傷対象物の欠陥状態等を判断す
ることができる。

なお、試験体１０は、実際に測定を行う対象が例えば熱
交換器の伝導管であれば、その伝導管と同材質、同寸法
に形成されている。

以上のようにして、内周減肉Ｂ１外周減肉Ｈ２外面減肉
Ｇおよび貫通孔■に対応するりサージュ波形のＸ軸成分
、Ｙ軸成分の分出力値が各々得られ（第９図参照）、こ
れにより、上記（２）式から位相角θが各々演算される
。

そして、位相角θが求められると、第１１図の位相角−
減肉率較正曲線から減肉率が読み取られる。

なお、第１１図においてＡ、ＢおよびＧ、Ｈを各々通る
曲線は本願発明によって得られたものであり、一方、Ｃ
，ＤおよびＥ、Ｆを通る曲線は発振器７から発振される
正弦波の波長とＳＩＮパルスおよびＣＯＳパルスのパル
ス幅との比が１６／３２とされた場合に得られる位相角
−減肉率較正曲線を示す。

また、第１１図中の各ドツトＡ、Ｂ、Ｃ，Ｄ。

Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ，Ｉは各々第１θ図に示された対比試験
体ｌＯの各所と対応しており、ドツトＡとドツトＢを通
る曲線は試験体１０の内面に欠陥があることを示し、一
方ドソトＧとドツトＨとを通る曲線は試験体ｌＯの外面
に欠陥があることを示している。

以上説明したように、本実施例では、前記正弦波とＳＩ
ＮパルスおよびＣＯＳパルスのパルス幅との比がｌ／３
２とされ、正弦波の周波数（波長）が変化された場合に
もその比は一定に維持されるように、予めヒユーズＲＯ
Ｍ２へ正弦波、Ｓ！ＮハルスおよびＣＯＳパルスに関す
る情報が各々記憶されている。

そのため、渦流探傷試験の位相解析に必要となる試験コ
イル５のインピーダンス変化（そのインピーダンス変化
はインピーダンスベクトルとして得られる）が正確に求
められる。

従って、位相角−減肉率較正曲線から減肉率を求める際
に必要な位相角θが正確に求まり、その結果減肉率が掻
めて正確に求められる。

また、前記正弦波の周波数を高くした場合にも位相角θ
を与えるデータ信号の歪みを回避できるとともに、逆に
前記正弦波の周波数が低くなった場合における渦流探傷
袋Ｗ１の悪魔低下を回避することができる。

そのため、渦流探傷装置１での探傷作業が容易に行なえ
るとともにその信鎖性が極めて優れる。

なお、前記実施例では位相角θが求められた後は、位相
角−減肉率較正曲線を目で読み取ることにより減肉率を
求めるようにしたが、その位相角−減肉率較正曲線を予
めＲＡＭ等の半導体メモリへ記憶させておき、位相角θ
の算出から減肉率の算出に至る全ての過程をマイクロコ
ンピュータにより演算・制御し、適宜な表示装置へ表示
する構成とすることも好適である。

〔発明の効果〕

以上の説明で理解されるように、本発明に係る渦流探傷
方法および装置では、前記正弦波の波長と前記第１制御
パルスおよび第２制御パルスのパルス幅との比が常に一
定の値となるように予め前記記憶手段へ記憶されており
、かつ第１制御パルスと第２制御パルスとはπ／２だけ
位相差を有している。

そのため前記試験コイルに生ずるインピーダンス変化が
正確に求められ、その結果、位相角−減肉率較正曲線か
ら減肉率を求める際に必要な位相角が正確に求められる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は、特許請求の範囲第２項に記載された渦流探傷
装置の好適な実施例を示すブロック図、第２図は、前記
装置の構成要素とされた同期検波器での処理を示す説明
図、第３図は、前記装置の構成要素とされた発振器のよ
り具体的な回路構成を示すブロック図、第４図は、前記
発振器内のヒユーズＲＯＭの各アドレスにおける記憶内
容を示す説明図、第５図は、前記ヒユーズＲＯＭから出
力される正弦波、ＳＩＮパルスおよびＣＯＳパルスを各
々示すタイムチャート、第６図は、特許請求の範囲第１
項に記載された渦流探傷方法の手順を示す説明図、第７
図は、前記同期検波器における出力とＳＩＮパルスおよ
びＣＯＳパルスとの相関関係を示す説明図、第８図は、
前記リサージュ波形から位相角θを算出する過程を示す
説明図、第９図は、対比試験体の各部位におけるチャー
トデータを示す説明図であって、同図（Ａ）は本発明に
係る渦流探傷方法および装置により与えられるチャート
データ、同図（Ｂ）は従来の方法および装置により与え
られるチャートデータ、第１Ｏ図は、渦流探傷試験が行
われる対比試験体の概略図、第１１図は、第９図のチャ
ートデータに基づいて描かれた位相角−減肉率較正曲線
、第１２図は、従来の渦流探傷装置を示すブロック図、
第１３図は、渦流探傷装置のプローブを金属管に挿入し
ている状態を示す説明図、第１４図は、渦流探傷装置に
よって得られるリサージュ波形の具体例を示す説明図、
第１５図は、前記従来の渦流探傷装置における制御信号
と出力波形との関係等を示すタイムチャート、第１６図
は、前記従来の渦流探傷装置により得られた位相角−減
肉率曲線を示す説明図、である。 ｌ・・・渦流探傷装置、２・・・ヒユーズＲＯＭ、３・
・・プローブ、５・・・試験コイル、６・・・Ｄ／Ａ変
換器、７・・・発振器、１０・・・対比試験体、１１・
・・ブリッジ回路、１７．１９・・・同期検波器、３０
・・・演算回路、４０・・・ＣＲＴ表示器。 出願人　出光エンジニアリング株式会社代理人　弁理士
　木下　実三　（ほか１名）第２図 ＣＯＳハリレス 第３図 よｙ’ｘ；にｚ 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図 第９図 １ｊ／Ｊ２　Ｊｆｊ　Ｉ　　　　　　　　　　　　　　
　（１６／３２ｊｆｆ灸１第１６図 Ｃ７歳輻（ｍｍ）　　　　Ｃ２罎輻（ｍｍｌイ立相島相
角） 手続争甫正書（自発） １．１９生のＪしＲ 特願昭６３−５０２２２号 ２、発明の名称 渦流探傷方法および装置 ３、補正をする者 事件との関係　　　特許出願人 住所の１００　東京都千代田区丸の白玉丁目１番１号名
称　　　　出光エンジニアリング株式会社（検者　増野
　譲（ｔｌ＊’１．ｆｚ）４、代理人 ５、補正により増加する請求項の数　　な　　し６、補
正命令の日付　　　　　　　　　自　　発７、補正の対
象　　　　　　　　　　図　　面第４図 第５図 手続十甫正書（自発） ！、Ｅ牛の耘 特願昭６３−５０２２２号 ２、発明の名称 渦流探傷方法および装置 ３、補正をする者 胴中との関係　　　特許出願人 住所◎１００　東京都千代田区丸の白玉丁目１番１号名
称　　　出光エンジニアリング株式会社代表者　　増　
野　　譲　（ほか１名）４、代理人 住所◎１６０東京都新宿区大久保−丁目１番７号高木ビ
ル４Ｆ　電話（０３）２０５−８４７１７、補正の対象
　　　　　　　　　　図　面８、補正の内容 （１）第４図、第５図、第６図、及び第１４図を別紙の
通り訂正する。 第４図 第５図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）管体等の測定対象内部に挿入されたときに、当該
   測定対象に生じた渦電流によりインピーダンス変化が発
   生可能とされた試験コイルへ通電される交流励磁電流と
   なる正弦波に関する情報と、前記正弦波の波長とパルス
   幅との比が所定の値に設定された第１制御パルスに関す
   る情報と、前記正弦波の波長とパルス幅との比が前記所
   定の値に設定されるとともに、前記第１制御パルスとの
   位相差がπ／２とされた第２制御パルスに関する情報と
   が記憶される記憶手段に前記各々の情報が記録される第
   １の過程と、 前記記憶手段に記憶された各々の情報が読み出される第
   ２の過程と、 読み出された各々の情報に基づいて、前記正弦波を交流
   励磁電流として前記試験コイルへ通電するとともに、前
   記第１および第２制御パルスを同期検波器へ入力させる
   第３の過程と、 前記渦電流による前記インピーダンス変化が電圧変化量
   に変換される変換手段からの出力信号に応答して、当該
   電圧変化量に対応する電圧−時間曲線について、前記第
   １制御パルスのパルス幅に相当する時間に亘って積分し
   た値をリサージュ波形のＹ軸成分として出力させる一方
   、前記電圧−時間曲線について前記第２制御パルスのパ
   ルス幅に相等する時間に亘って積分した値を前記リサー
   ジュ波形のＸ軸成分として出力させる第４の過程と、 を有することを特徴とする渦流探傷方法。
2. （２）管体等の測定対象内部に挿入されたときに、当該
   測定対象に生じた渦電流によりインピーダンス変化が発
   生可能とされた試験コイルへ通電される交流励磁電流と
   なる正弦波に関する情報と、前記正弦波の波長とパルス
   幅との比が所定の値に設定された第１制御パルスに関す
   る情報と、前記正弦波の波長とパルス幅との比が前記所
   定の値に設定されるとともに、前記第１制御パルスとの
   位相差がπ／２とされた第２制御パルスに関する情報と
   が各々記憶される記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された各々の情報が読み出される情
   報読み出し手段と、 前記情報読み出し手段により読み出された情報に基づい
   て、前記正弦波、前記第１制御パルスおよび前記第２制
   御パルスが各々発振される発振手段と、 前記インピーダンス変化が電圧変化量へ変換される変換
   手段と、 前記変換手段により得られた電圧変化量に対応する電圧
   −時間曲線を前記第１制御パルスのパルス幅に相等する
   時間に亘って積分した第１積分値を演算するとともに、
   前記曲線を前記第２制御パルスのパルス幅に相等する時
   間に亘って積分した第２積分値を演算する積分値演算手
   段と、 前記第１積分値がリサージュ波形のＹ軸成分として出力
   される一方、前記第２積分値が前記リサージュ波形のＸ
   軸成分として出力される出力手段と、 を有することを特徴とする渦流探傷装置。