JPS5968656A - 核スピン分布決定装置 - Google Patents
核スピン分布決定装置Info
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- JPS5968656A JPS5968656A JP58165333A JP16533383A JPS5968656A JP S5968656 A JPS5968656 A JP S5968656A JP 58165333 A JP58165333 A JP 58165333A JP 16533383 A JP16533383 A JP 16533383A JP S5968656 A JPS5968656 A JP S5968656A
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- gradient magnetic
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- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
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- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は第]方向に発生された一様な静磁場内に16.
かれた検体の一部における核スピンのNMR分布を決定
する方法に関するもので、該方法は(a)磁界方向が前
記一様静磁場の磁界方向に直交する高周波電磁波パルス
を発生して検体内の核磁気に前記第1方向を中心とする
歳差運動を生じさせて共鳴(自由誘導)信号を発生させ
るステップと、 [有])次に、磁界方向が前記第1方向と一致する第1
傾斜磁場又は磁界方向が前記第1方向と一致すると共に
傾き(勾配)方向が互に直交する第1及び第2傾斜磁場
を準備期間中供給するステップと、 (0)次に、傾き方向が一部記ステップ(b)の傾斜磁
場の少くとも一方の傾き方向と直交すると共に磁界方向
が前記第1方向に一致する第3傾斜磁場を測定期間中供
給し、測定期間中を多数の槌しいサンプリングインター
バルに分けて共鳴(g号(自由誘導信号)から多数(n
)の(M号すンプルを周期的に抽出するステップと、 (d)次に、前記ステップ(a)、(b)及び(C)を
ある待期間を置いて多数回( n”)<り返し、各回毎
に少くとも1つの傾斜磁場の大きさの阜備期間Gこ亘る
積分値を異なる値にして一組のサンプル信号を得、これ
らサンプル信号から、フーリエ変換後、誘起された核磁
気(スピン核の局部的密度)の分布像を決定するステッ
プとを具える。 本発明は検体の一部内のスピン核の分布を決定する装置
にも関するものであり、この装置は(a)一様な静磁場
を発生する装置と、(b)前記一様静磁場の磁界方向と
直交する方向の磁界成分を有する高周波電磁波を発生す
る装置と(0)磁界方向が前記一様磁場の磁界方向と一
致すると共に傾き方向が互に直交する少くとも第1及び
第2の傾斜磁場を発生する装置と、 (d)上記(a)及び(b)項の装置を用いて上記(C
)項の装置により発生された少くとも一つの傾斜磁場の
存在の下でコンディショニング期間後に発生された共鳴
(自由誘導)信号を上記(0)項の装置により発生され
るーっの傾斜磁場の存在の下でサンプリングするサンプ
リング装置i7tと、 (e)上記サンプリング装置により供給される信号を処
理する処理装置と、 (f)少くトモ上記(b)〜(e)項の装置?tを制i
i’l(l +。 て複数の共鳴(自由誘導)信号を発生させ、調整し、サ
ンプリングし、処理させる制御装置とを具え、各共鳴信
号は対応する準備期間中に調整し、該制御装置は上記(
0)項の装置に少くとも一つの傾斜磁場の強度及び/又
は持続時間を調整するための制御信号を供給し、少くと
も一つの傾斜磁場の持続時間に亘るその強度の積分値を
各待期間後厄に異なる値にするよう構成されている。 斯る方法(フーリエジュグマトグラフィー:Fouri
er Zeugmatographyニドも称されテイ
ル)及び装置はドイツ国特許出願公開2611497号
により既知である。斯る方法においては、直交座標系(
x+y、z)の2軸と磁界方向が一致する強い一様な静
磁場B。を検体に印加する。静磁場B。は検体中に存在
する核スピンの僅かな偏向を生起して核スピンの歳差運
動が磁場B。の磁界方向を中心に発生可能にする。磁場
B。の印加後、高周波’fItm 波ノハルス、好まし
くは一般に900パルスと称されててるワ1(類のパル
ス(角周波数ω−γ・B。 を有し、ここでγは核磁気回転比、Boは静磁場の強度
)全発生させ、印加して検体中のスピン核の磁気の方向
をある角度(90°)回転させる。 90°パルスの終了後、核スピンは磁場B。の磁界方向
を中心に歳差連動を始め、共鳴信号(自由誘導緩和又は
FID信号)を発生する。磁界方向が磁場B。の磁界方
向と一致する傾斜磁場数、 Gy。 CT7.を用いると、これら傾斜磁場G、 、 Gy、
G7の強さはX、y及び2方向に勾配を有するため、
位置に応じた強さを有する総合磁場B −Bo+ X−
敗+ Y−Gy+Z−G2’E発生さぜることかできる
。 90°パルス後に、磁場Gxを期間後の間印加し、次に
磁場Gyを期間tyの間印加して、励起された核スピン
の歳差運動を位置Gこ応じて変更する。 この準備フェーズ後(即ち、t、 +ty後)、磁場G
2を印加し、Fより信号(実際には核の全磁気の和)を
期間t7中にNz回の測定瞬時でサンブリ、ングする。 上述の測定手順をtxm回くり返し、各回毎に期間後及
び/又はtyに対し異なる値を用いる。これがため、(
N7XmXZ)個のサンプル信号が得られ、これら信号
は空間x、y、z内の検体部分の局部的な核スピン密度
の分布に関する情報を含む。tXm組のlqz個のサン
プル信号はメモリ内に(NzXmXjメモリ位fT )
&こストアされ、斯る後にFID信号のサンプルの3
−D(三次元)フーリエ変換により核スピンの局部的密
度の像が得られる。 また、選択的な励起を用いて二次元断面(任7時の向き
に選択し?(する)内のみの核スピンのFID信号を発
生させることもできること明らかであり、この場合には
選択された断mj内のIn X N7点における核スピ
ンの分布像を得るためにはFID信号をm回発生させる
たけでよい。フーリエジュグマトグラフイ一方法を使用
すると、核スピンの分布像の形成に要する時間は数分に
およぶ。ル「る測定時間はその間静止していなければな
らない被験者にとつ′Cは長ずぎる問題がある。 発明の概要 本発明の目的はフーリエジュグマトグラフイー技術を使
用して得られる解像度と少くとも同等の解像度を有する
像を形成するのに要する時間を著しく短縮する方法を提
供することにある。 この目的を達成するために、本発明方法は、測定期間中
、準備期間中に発生される傾斜磁場の傾き方向と一致す
る傾き方向を有すると共に前記第1方向と一致する磁界
方向を有する追加の傾斜磁場を発生さけ、該追加の傾斜
磁場は時間ととも
かれた検体の一部における核スピンのNMR分布を決定
する方法に関するもので、該方法は(a)磁界方向が前
記一様静磁場の磁界方向に直交する高周波電磁波パルス
を発生して検体内の核磁気に前記第1方向を中心とする
歳差運動を生じさせて共鳴(自由誘導)信号を発生させ
るステップと、 [有])次に、磁界方向が前記第1方向と一致する第1
傾斜磁場又は磁界方向が前記第1方向と一致すると共に
傾き(勾配)方向が互に直交する第1及び第2傾斜磁場
を準備期間中供給するステップと、 (0)次に、傾き方向が一部記ステップ(b)の傾斜磁
場の少くとも一方の傾き方向と直交すると共に磁界方向
が前記第1方向に一致する第3傾斜磁場を測定期間中供
給し、測定期間中を多数の槌しいサンプリングインター
バルに分けて共鳴(g号(自由誘導信号)から多数(n
)の(M号すンプルを周期的に抽出するステップと、 (d)次に、前記ステップ(a)、(b)及び(C)を
ある待期間を置いて多数回( n”)<り返し、各回毎
に少くとも1つの傾斜磁場の大きさの阜備期間Gこ亘る
積分値を異なる値にして一組のサンプル信号を得、これ
らサンプル信号から、フーリエ変換後、誘起された核磁
気(スピン核の局部的密度)の分布像を決定するステッ
プとを具える。 本発明は検体の一部内のスピン核の分布を決定する装置
にも関するものであり、この装置は(a)一様な静磁場
を発生する装置と、(b)前記一様静磁場の磁界方向と
直交する方向の磁界成分を有する高周波電磁波を発生す
る装置と(0)磁界方向が前記一様磁場の磁界方向と一
致すると共に傾き方向が互に直交する少くとも第1及び
第2の傾斜磁場を発生する装置と、 (d)上記(a)及び(b)項の装置を用いて上記(C
)項の装置により発生された少くとも一つの傾斜磁場の
存在の下でコンディショニング期間後に発生された共鳴
(自由誘導)信号を上記(0)項の装置により発生され
るーっの傾斜磁場の存在の下でサンプリングするサンプ
リング装置i7tと、 (e)上記サンプリング装置により供給される信号を処
理する処理装置と、 (f)少くトモ上記(b)〜(e)項の装置?tを制i
i’l(l +。 て複数の共鳴(自由誘導)信号を発生させ、調整し、サ
ンプリングし、処理させる制御装置とを具え、各共鳴信
号は対応する準備期間中に調整し、該制御装置は上記(
0)項の装置に少くとも一つの傾斜磁場の強度及び/又
は持続時間を調整するための制御信号を供給し、少くと
も一つの傾斜磁場の持続時間に亘るその強度の積分値を
各待期間後厄に異なる値にするよう構成されている。 斯る方法(フーリエジュグマトグラフィー:Fouri
er Zeugmatographyニドも称されテイ
ル)及び装置はドイツ国特許出願公開2611497号
により既知である。斯る方法においては、直交座標系(
x+y、z)の2軸と磁界方向が一致する強い一様な静
磁場B。を検体に印加する。静磁場B。は検体中に存在
する核スピンの僅かな偏向を生起して核スピンの歳差運
動が磁場B。の磁界方向を中心に発生可能にする。磁場
B。の印加後、高周波’fItm 波ノハルス、好まし
くは一般に900パルスと称されててるワ1(類のパル
ス(角周波数ω−γ・B。 を有し、ここでγは核磁気回転比、Boは静磁場の強度
)全発生させ、印加して検体中のスピン核の磁気の方向
をある角度(90°)回転させる。 90°パルスの終了後、核スピンは磁場B。の磁界方向
を中心に歳差連動を始め、共鳴信号(自由誘導緩和又は
FID信号)を発生する。磁界方向が磁場B。の磁界方
向と一致する傾斜磁場数、 Gy。 CT7.を用いると、これら傾斜磁場G、 、 Gy、
G7の強さはX、y及び2方向に勾配を有するため、
位置に応じた強さを有する総合磁場B −Bo+ X−
敗+ Y−Gy+Z−G2’E発生さぜることかできる
。 90°パルス後に、磁場Gxを期間後の間印加し、次に
磁場Gyを期間tyの間印加して、励起された核スピン
の歳差運動を位置Gこ応じて変更する。 この準備フェーズ後(即ち、t、 +ty後)、磁場G
2を印加し、Fより信号(実際には核の全磁気の和)を
期間t7中にNz回の測定瞬時でサンブリ、ングする。 上述の測定手順をtxm回くり返し、各回毎に期間後及
び/又はtyに対し異なる値を用いる。これがため、(
N7XmXZ)個のサンプル信号が得られ、これら信号
は空間x、y、z内の検体部分の局部的な核スピン密度
の分布に関する情報を含む。tXm組のlqz個のサン
プル信号はメモリ内に(NzXmXjメモリ位fT )
&こストアされ、斯る後にFID信号のサンプルの3
−D(三次元)フーリエ変換により核スピンの局部的密
度の像が得られる。 また、選択的な励起を用いて二次元断面(任7時の向き
に選択し?(する)内のみの核スピンのFID信号を発
生させることもできること明らかであり、この場合には
選択された断mj内のIn X N7点における核スピ
ンの分布像を得るためにはFID信号をm回発生させる
たけでよい。フーリエジュグマトグラフイ一方法を使用
すると、核スピンの分布像の形成に要する時間は数分に
およぶ。ル「る測定時間はその間静止していなければな
らない被験者にとつ′Cは長ずぎる問題がある。 発明の概要 本発明の目的はフーリエジュグマトグラフイー技術を使
用して得られる解像度と少くとも同等の解像度を有する
像を形成するのに要する時間を著しく短縮する方法を提
供することにある。 この目的を達成するために、本発明方法は、測定期間中
、準備期間中に発生される傾斜磁場の傾き方向と一致す
る傾き方向を有すると共に前記第1方向と一致する磁界
方向を有する追加の傾斜磁場を発生さけ、該追加の傾斜
磁場は時間ととも
【こ変化すると共に→Jンブリングイ
ンターバルに等しい周期を41し、この追IJIJの傾
斜磁場が核磁気に及ぼず影響が前記サンプリングインタ
ーバルに亘り積分すると零になるものとし 前記各サン
プリングインターバルの開始後であって終了前に少くと
も1回の追加のサンプリング処理を行なうことを特徴と
する。 発明の効果 本発明方法においては、自由誘導信号の存在中に追加の
時間変調傾斜磁場を印加して一回又は数回の追加の自由
誘導信号のサンプリング処理全厚サンプリング処理間の
期間(フーリエ ジュグマトグラフイーの既知の方法で
形成される核スピンの分布像に与えるべき解像度により
予め決定される)中に行なう。これがため、各測定サイ
クル(準備期間」−測定期間+待期間)中に少くとも2
倍のザンプルを得ることができるため、所要測定サイク
ル数を少くとも2分の1にすることができる。 尚、時間変調傾斜磁場な用いて単一の測定サイクル中に
(従って単一のFID信号から)核スピンの二次元分布
を再構成し得る情報を取り出す方法が既知である。この
方法は°°エコーブレーナ方法++と称され、学術誌[
Magnetic Re5onance 。 29 、1978 J l)p 355〜373(こ発
表されているP 、Mansfield及び1.L、P
ykett (D 論文” Bj−olagical
and Medical Imaging by N
MR”及び[Applie+fl Ph1S:Lcs
22 + 1980 J 、pp257−271に発表
されているL 、F 、Fe1ner及びP、R,Lo
cbesの論文” On NMR5pin Imagi
ng byMagnetic Field Modul
ation”に記載されティる。 このエコープレーナ方法はFID信号の測定中時間依存
傾斜磁場を用いる。このエコープレーナ方法は単一のF
ID信号の持続時間中に完全な二次元像を得ることがで
きる。検体の1平面断面内の核磁気分布の法定は例えば
Z軸方向の一様磁場に加えて同一方向の傾斜磁場G2を
用いると同時に(90°)高周波振幅被変調パルスを用
いて厚さΔ2を有する断面部分内GこFID信号を発生
させること(こより達成される。高周波パルスの直後に
傾斜磁場G7をスイッチオフし、(x−y断層の像を形
成するために)FID信号を例えば交番傾斜磁場Gx及
び静止傾斜磁場号の下で測定する。 このエコープレーナ方法では完全な二次元像に必要とさ
れる個数の測定点が単一のFID信号にス・1し測定さ
れる。実際に必要とされる解像度を達成するには、この
エコープレーナ方法を使用する・ときは時間に対し周期
的に交番する傾斜磁場を高周波数にする必要があると共
に高強度Gこrる必要がある。このことは傾斜磁場の大
きな割合の変イしく dG/at )を生じる結果とな
り、患者のためGこ女子ましくない。これに対し、本発
明方法で使Jij11−る傾斜磁場の強さはエコープレ
ーナ方法Gこ使Jljさね7る傾斜磁場の強さより署し
く小さl/八へ従って、変調Gこより生ずる磁界強度の
変化割合も著しく /J・さく有利である。 実施例の説明 以下、図面を参照して本発明の実施例を説1す]する。 第1. a図は検体(人体) 20 LI〕1 i5に
分向の核スピンの局部的密度の分布を決定するのに使用
する装置の一部を構成するコイル装置】0を示す。この
被検部分は例えばΔ2の厚さを有し、x、y、z座標系
のx−y而に位置するものとする。こσ0座標系のy軸
は図紙面に垂直である。コイル装+PV10は2軸に平
行な磁界方向を有する均一な静磁場B。と、Z軸に平行
な磁界方向を有すると共にそれぞれX、y及びZ軸に平
行な傾き方向を有する3つの傾斜磁界Gy、 、Gy及
びGzと、高周波磁界とを発生ずる。これを達成するた
めに、コイル装置r2 ] 0は数十テスラの強さを有
する均一な静磁場B。を発生ずる一組の主コイルlを具
える。この主コ・rル]は例えば中心が直交座標系X、
y。 2の原点に位置する球体2の表面上に配置することがで
き、主コイル1の軸線はZ軸と一致する。 コイル装j7’j 1 (lは、川に、例えば、同一の
球体表面上に配置されて傾斜磁界Gzを発生する4個1
7J ’?Jイ/1z3a、3bを具える。このため、
第1コイルセツト8aは第2コイルセツト8bの電流と
反対方向の電流で励磁され、これを図中に■と■で示し
である。ここで、■はコイル3の断面Gこ電流が入るこ
とを、凶はコイル8の断面から電流が出ることを意味す
る。 コイル装置10は、更Gこ、例えば傾斜磁界号を発生ず
る4個の矩杉コイル5(2個のみを示す)又は°゛ゴー
レイコイル′のような4個の他のコイルを具える。傾斜
磁界敗を発生させるために、コイル5と同一の形状を有
すると共にコイル5に対してZ軸を中心に900回転し
て配置されたべ・個のコイル7を用いる。コイル7(及
び5)の形状を明瞭に示すために、その斜視図を第1b
図に示す。コイル7を流れる電流の方向は矢印9で示し
である0 8I¥1a図にはコイル11も示してあり、このコイル
により高周波磁界を発生及び検出することができる。@
l c図はこのコイル11の斜視図を示す。このコイル
11は電気的に相互接続されたコイル半部11a及びl
lbを具え、動作中矢印13で示す方向の電流が与えら
れる。 第2図は本発明方法を実施する装ffi 1 ’vを示
す。 装置15は第1a、b、c図につき述べたコイル1.3
,5.7及び11と、これらコイル1,3゜5及び7を
励磁する電流発生器17,19.21及び23と、コイ
ル11を励磁する高周波信号発生器25とを具える。装
置】5は更に高周波信号検出器27、復調器28、サン
プリング回路29ヘアナログーデジタル変換器31のよ
うな処理装置、メモリ33、フーリエ変換を行なう演算
回路35、−リンプリング瞬時を制御する制御装置37
、表示装置4・3及び中央制御装置45を具え、これら
装置の機能及び関係については後に詳述する。 装置へ15は検体20内の核スピンの局部的密度の分布
を測定する方法を以下に述べるように実施する。゛°測
定′″を始める前に、検体中に存在する核スピンを共鳴
励振する。核スピンを共鳴励振するために、電流発生器
17が最初に中央制御装置4・5によりスイッチオンさ
れてコイル1が励磁され、1θ−な磁界B。が発生する
。次いで、高周波発生器25が短期間スイッチオンされ
てコイル11が高周波電磁界(無線周波(R,F、)磁
界)を発生ずる。これにより検体20中の核スピンを静
磁界B。の存イ[の下で無線周波磁界により共鳴的に励
振させることができると共に、発生する歳差テ1.!動
核磁気を均一磁界B。に対して所定の角度、例えば1〕
0°(900R,F、パルス)に向けさせることができ
る。その核スピンが共鳴的に励振される検体中の位置及
び元素は磁界B。の強さと、印加される傾斜磁界と、高
周波電磁界の角周波数ω。 に依存し、これは共鳴励振を起すためには式ω0−γB
o・・費りが満足されなければならないためである。こ
こで、γは核磁気回転比である(自由プロトン、例えば
H20プロトンに対してはr/2π−42,576MH
2/T )。励振期間後に高周波発生器25が中央制御
装置45によりスイッチオフされる。共鳴励振は各測定
サイクルの開始時又は前に行なう。ある動作方法におい
ては、R,F、パルスを測定サイクル中も検体中に印加
する。これらのR,F、パルスは検体に周期的に印加さ
れる90°R,li’。 パルス又は90°と180°R,F、パルスの複合パル
ス列とすることができる。後者は°゛スピンエコー″と
称され、スピンエコーについては「Scientifi
cAmerican、、 May 1982 Jに発表
されている1、 L、 Pykettの論文” NMR
Imaging in Me(iicille ”に記
載されている。 次のステップにおいて、有用ザンブル信号を部収する。 この目的のために中央制御装置45の制御の下で発生器
19及び21.23により発生される傾斜磁界を使ff
Jする。共鳴(自由誘導)信号(屡々FID信号と称さ
れている)の検出は高周波検出器27、復調器28、サ
ンプリング回路29、アナログ−デジタル変換器31及
び制御装置FI3 ’7をスイッチオンすることにより
行なわれる。 この自由誘導(FID)信号はR,F、励振ノぐパルス
による共鳴励振に続いて生ずる磁界B。の磁界方向を中
心とする発生核磁気の歳差運動の結果として現われる。 この発生歳差運動核磁気と関連する磁界は検出コイルに
誘導電圧を誘起し、その振幅は核スピン密度の目安とな
る。 サンプリング回路29からのサンプリングされたアナロ
グ自由誘導信号はメモリ38にストアされ、演算回路3
5でフーリエ変換後、関連する核磁気に関するデータを
含む振幅のスペクトルを発生する。あいにく、スペクト
ルから位置への変換はできt【い0これがため、演算回
路35で発生されたデータ信号は先ずメモリ33にスト
アされる。 位置への変換に使用する方法は傾斜磁界の使用に依存す
る。 本発明方法は特にNMRの像形成に関する。本発明の正
しい理解のためには先ずNMR像形成の理論について考
察する必要がある。この考察は一次元(1−D)物体を
撮像する最もfiii単なJノA合に基づいて行なう。 例エバプロトンのようなN M RrFj 性(スピン
)核を含む物体が一様磁界B。内に存在するものと仮定
する。無線周波数励振パルス、即ち前記90゜R,F、
パルスを用いると、磁界B。に対し直交する核スピンの
磁気が得られる。励振後、傾斜磁界がBo磁界に準備期
間の間加えられる。この傾斜磁界の傾きはX+ yr
z基準座標系のX軸方向に配置された1−D(−次元)
物体の長さ方向に延在する。この場合、この傾斜磁界は dB−(2) 敗−謂・X で表わされる。ここで、XはX方向の111位ベクトル
である。傾斜磁界数が一様であるとき、即ぢ敗がXと無
関係であるときは、Bo+G、磁界の強さとX座標との
間には直線的な変化が存在することに注意されたい。敗
の存在の下では局部発生核磁気がX座標に依存する周波
数; 賀X)−ω0+γ−Gx−X (3)で歳差
連動を行なう。 この結果、コイルに誘起される信号は単一周波数ω。で
はなく、一連の周波数ω(3)から成る。測定後、誘起
された信号のフーリエ変換を行なうことにより歳差運動
核磁気の強さを周波数の関数として決定することができ
る。周波数はX座標に明確に依存するため(式(3))
、核磁気の局部的振幅をX座標の関数として決定するこ
とができ、従って1−D物体のNMR像を形成すること
ができ、その像情報は局部発生核磁気の対応する大きさ
から成る。これはNMR活性(スピン)核の密度ρによ
っても決まるが、スピン格子緩和時間T□及びスピンス
ピン緩和時間TQのような他のパラメータも得られる像
に影響ヲ与、えること明らかである。 測定すべき誘起電圧は直角検波する。このことは信号を
無線周波励振パルスと同一の周>Jk数ν。 を一般に有する基準信号と混合する。ことを意財芝する
。これが1こめ、測定された信号Gまh1波数+ll+
J二でφを有する第1基準信号と一回混合すると共し
こ、第1基準信号に対して90°移相した位オ目(φ+
90°)を有する同一周波数の第2基準信号と一回混合
する。 このことは、全発生核磁気の種々の成分を、周波数ω。 −2πν0でB。を中心に歳差運動を行なっている、即
ち回転している座標系であってその一つの軸が励振中に
おける無線周波磁界B0の同様の回転成分が向く回転系
の軸に対し角度φ傾し)てし)る座標系にり」シて決定
することができることを意味スル(例えば「NMR5p
ectroscopy j 1980年。 John wiley著のチャプターvn 、第210
〜217頁参照)。これがた°め、φ−0のときは励振
ノクパルスのR,F、磁界とそれぞれ同相及び90°移
相した全発生核磁気の成分を決定することができる。直
角検波全使用すると、各別の局部発生磁気の回転座標系
に幻する時Φ1方向回転と反時針方向回転との識別を行
なうことができ、これがため復調信号において正の周波
数々負の周波数とみなして識別することが可能になる。 ]、−D物体を原点(傾斜磁界GXが均一磁界B。に何
も作用しない点)に対し対称に配置されているときは、
信号は直角検波後に一〇ノ から+(01まで延在する
周波数帯域内に位置する。ここで、ω1−γ・Gx−7
で、lは物体の半分の長さである。直角検波の結果とし
て得られる2つの信号は以後それぞれ実信号及び虚信号
と称す。これらの信号のフーリエ変換は複素変数を用い
て書き表わせる。即ち、複素時間信号式1) −f工(
1;)ト1−f2(L)はフーリエ変換後は次の通りに
書き表わせる。 ここで、 これかため、スペクトルg(Cll)も複素数になる。 以上では関数f1及びf、は全時間軸に亘る連続関数で
あると仮定した。しかし、実際には信号f□及びf2は
上限周波数を有し、サンプリングにより測定される。こ
れはサンプリング基準に従わなければならず、信号を明
確に決定するためには最高発生周波数の各周期中に少く
とも2個の一す−ンプルを取る必要がある。1.− D
物体に対してはこの最高周波数はシ□−ω□/2π ・
・・(5)である。従って、サンプリングインターバル
tm(2個の順次のサンプリング処理間の時間間隔)は
少くとも部に対する分解すべき総帯域幅は1/輻である
。 n個の等間隔サンプルが時間とともに変化する信号の実
成分及び虚成分の双方からそれぞれ取り出されるとき&
−、3..g□((〜)及びg 2(QI)はそれぞれ
n個の点により書き表わされる。これがため、これらの
点の周波数間隔は−である。同一のtmの時間−tTI
l 領域において取り出される点をもつと多くする、即ち測
定シーケンスをもつと長くすると、実及び虚成分の双方
に対する腫波数領域の分解能力(一層細かくなり、像空
間の分解能も細かくなる。 分解能増強は異なる方法、例えば磁界の傾きを2倍大′
きくすることにより達成することもできる。 この場合には物体は2倍の幅の変調帯域幅(こ対応する
。この場合にはサンプリングは2倍の速度で行なう必要
がある。2n個のサンプルを時間とともに変化する信号
(自由誘導信号)から取り出す際には、全測定時間は前
と同一にするが、周波数帯域は2n個のインター)<
/しに分割する。物体力)らの信号成分は全周波数帯域
を占めるため、このことは対応する2n個の空間インタ
ーバルノΔ、が物体上に位fFffi才ることを意味す
る。これがため、分解能は2倍大きくなる。説明のため
一例を記す。 長さ2・l −10Cmを有するプロトン含有1− D
!l勿体が傾斜磁界Gx−28−49X 10−4T/
In rl:+ l装置かれる場合、周波数帯域ν、
−γ・敗−2−J/2r −10kHzがこの物体の長
さに対応する。物体は原点Gこ対称に置かれるため、最
高周波数&、i5 kH2であり、従ってtm−100
μsがサンプリングインターバルすときは信号はn−t
m++、 12.8 msの期間中心こIII定される
。 フーリエ変換後、周波数インターノく71番よ(n−t
m)”” −78,125kHzになる。式Δ −s
、 1・2.、から、こね、は各空間インタxn−
tm ν1 −パルについてはΔx+ 0.76 msに相当する。 既に述べたように、分解能を2倍にするし)くつかの可
能な方法が存在する。第1の方法番ま傾多(磁界販と箱
を同一に維持し、サンプル するものであり、上述の場合では1 2 8 @j’ン
ブルの代りに256サンプルを取り出すものである。 この場合、全測定期間は2 5.6 msになるOまた
・フーリエ変換後の周波数インクーノくル心まに相当す
る。第2の方法は磁界勾配Gxを2倍大きくいGx−4
6,il 8 X 10−’T/mとするものである。 この場合、10罷の物体長は20 kl(zの帯域幅に
相当する。この場合、最高周波数は10klLZで、従
ってtmは50μsになる。256サンプルを取り出す
場合、信号の測定は12.8 msを要する。周波数領
域におけるインターノ々ルは(n−t )−1−78u
zで、これはΔX −1100mmm
200
00−0.39 mmに相当する。要するに、長い測定
期間を使用するか、或は大きな勾配を使用することによ
り高い分解能を得ることができると言うことができる。 両者の組合せも可能であること明らかである。しかし、
大きな勾配は一般に検出信号の雑音レベルを増大する。 他方、測定期間は無制限に長くすることはできない。そ
の理由は、小さい磁界勾配を使用する際は緩和効果及び
磁界B。の不均一により像に許容し得ない歪みが発生し
得るためである。従って、実際には妥協点を選択使用す
ることか通常必要とされる。 上述の問題は別の方法で説明することもできる。 前と同様に1−D物体につし)で考える。この物体の像
の空間フーリエ変換は座標kxを有し、像を構成する像
周波数(ライン数/=−)を表わす0第1に、像関数F
(X)は実関数であるとみなすこと力(できる。直角
検波を用いるNMR像の形成シこおし)では、発生核磁
気の3つの座標成分の2つの分布を測定する。これはB
。に直角なこれら成分番ま無線周波コイルに誘導電圧を
発生するためである。 これらの各成分は像関数で書き表わせ、換言すhばF
(X)は互に直交する(Boに対しても直交する)これ
ら成分の大きさを座標Xの関数として表わした2部分F
、(X)及びF 、(X)から成る関数である。この
関数はF(x) −F〆+i −F 、2(x)と書か
れる。その複素フーリエ変換G (kx ) −〇 t
(kx ) +IG 2 (Icx ) 6iC(k
X) 7 J−F[x)e”x”dtから得られる。k
x−xは位相角を表わす。傾斜磁界Gxを用いる1−D
スピン像の形成にお(/Xで6J1次の関係 (OX+CIJo+γΦGX・X に従うNMR周波数ωゆから明確な像を形成することが
できる。自由誘導信号を直角検波処理するため、周波数
ω。は以後無視する。一定の傾斜磁界敗の印加後の所定
の瞬時において、位置Xにおける磁気は瞬時1−0にお
ける位相に対し位相γ・敗・x−tを有する。ここで、
γ・敗・tは像周波数kxと解釈することができる。磁
界勾配が一定でないときは、瞬時tにおける磁気の位相
角は、f”o Qlx (t ’ ) d t ’−γ
” X”f”o”X(t′)dt/で与えられ、γ丁>
x(j/)dj/はkx&関連する。信号f□(1)及
びfノt)が傾斜磁界敗の印加後の瞬時tに測定される
ときは、これら信号は定数を除いてそれぞれG□(kx
)及びG2(kx)に等しくなり、このとき殿−γ工\
(t・)dt・である。定数はコイルのQ XR,F、
増幅器の利得等のような種々の装置パラメータに依存す
る。核磁気の変化のみを測定すればよいため、絶対値は
重要ではなく、定数は以後無視することができる。 座標の原点は像空nlI内において物体の中心に選択し
であるため、像層波数空間における原点もその中心に選
択する。これがため、負の像周波数も許される。これら
周波数の値は、例えば一定の負の勾配(νIJち逆向き
)の傾斜磁界を所定期間tの間印加した後に自由誘導信
号を測定することにより決定することができる。実際上
、同一の自由誘導信号(例えばFID信号)の負及び正
の像周波数の双方を測定するのが普通である。これは、
例えば信号のサンプリング前に先ず負の勾配の磁界をk
xの所要の最大負値になるまで加え、次に磁界の勾配を
逆にすると共に信号をサンプリングすることにより行な
うことができる。静磁界B。の不均一の影響が無視でき
る場合、或は(例えばスピンエコー技術を用いることに
より)ある程度補償されている場合には、サンプリング
生金てのスピンは所定の対称瞬時において同K(Jにな
る。この瞬時は1−0に対応し、これは傾斜磁界が何の
作用も及ぼさない点を意味する。この点より前の瞬時で
は負の像層波数が測定され、この点より後では正の像層
波数が測定される。実及び虚像成分はこれらの周波数に
基づいて再構成することができる。 要するに、信号の2成分(実及び虚部分)を基準瞬時1
−0に対し所定の瞬時tにおいて測定すると、像層波数
に、−J’oγ・G、(t/)d、t’の振幅が明確に
定まる。この2つの測定値をそれぞれG1及びG2に関
するものとすると、これらの測定値は実数及び虚数像成
分の−に等しい波長を有する正X 弦波状強度変調波(複素像波動)を表わす。この像波動
の原点X−0(傾斜磁界が何ら作用しない点)において
測定される位相はarc tan (G2/G□)で与
えられ、即ち瞬時tにおける信号の位相角で与えられる
。この波動の振幅は(心+G2.)局である。 有限個の像層波数を測定するだけであるから、分解能は
一層高い像層波数(正及び負)を測定することにより増
強することができる。像層波数はkX−丁hγ・Gx(
t′)dtlであるから、このことは例えば前述のよう
に測定期間を長くすることにより又は傾斜磁界を増大す
ることにより達成することができる。 所定の分解能を有する像を得るためにはどの像層波数を
実際に測定すべきかが問題になるOこの問題に対する答
については信号のサンプリング方法についでの先の記載
を参照する。傾斜磁界敗が一定のとき、最高発生周波数
の各周期中に少くとも2回のサンプリング処理を行なう
必要がある。 このことはサンプリングインターバルをπ/θ」、以下
にすることを意味する。これは、最高発生周波数ν□と
関連する磁気が一回目のサンプリングから二回目のサン
プリングの間に180°より僅かに小さい角度回転する
ことを意味する。これがためサンプリングインターバル
を再びtmで示すとγ、Gx、7−t□はπより僅かに
小さく、従ってγ・敗・箱はπ/lより僅かに小さいこ
とになる。21.の長さを有する物体をn個の画素で再
生する場合、信号はこのtmを用いてn回ザンプルする
必要がある。 これは胸点のサンプリングシーケンスに転換することか
できる。サンプリングインターバルtmはインターバル
kx−γ・Gx・tm ”・(10) ニ対応し、これ
は2π/l−2・π/L −・−(tl)より僅かに小
さくする必要がある(ここで、L−’2J、即ち1−D
物体の全長)。n個の、像点の分解能を達成するために
C」インターバルし。でn個の異なる瞬時に測定を行な
う必要があり、このことはインターバルΔ殿で1〕個の
異なるkX値を測定する必要があると言い換えることが
できる。 既に述べたように、必要なことはkx−0を中心に分布
する像層波数を測定することである。このことは、 i
+Z勾配の傾斜磁界敗の存在の下でのサンプリングに関
しては、像層波数は傾斜磁界Gxが発生核磁気の歳差運
動の位相に何の作用も及ぼさない1瞬時を中心に分布し
なければならないことを意味する。 この認識に基づいて2−D及び8−D物体の像形成の問
題に取り組むこともできる。選択励振技術を用いて像情
報を3−D物体の薄い断層からのみ集取することができ
るため、2−D技術の使用は2−D物体にのみ限定する
必要はない。 1−D物体の場合と同様に、像関数F(x、y) −F
(x、y)+1F2(x、y)と書き表わせ、その空
間ツーリエ変換G(kx、ky)は となる。Gは前と同様に複素関数で、G(kx、ky)
−G1(kx、ky )+lG2 (kX + ky
)である。両成分G□及びG2は前と同様に時間ととも
に変化する信号の2つの成分であり、これら成分に対し
ては l叛−f ン−Gx(t’)at’及び ky=、、5
″:r−G、(t’)clt’である。ここでGyはy
方向の傾斜磁界であり、である。 実際」二、スピン像形成法は前述したように像周波数(
kx、ky)の値の決定ステップを含み、X及びy方向
の分解能は前述したように測定すべき最高像層波数k及
びkyにより決まる。 3−D物体の場合への拡張は を導入することにより簡単に実現することができる。 しかし、rilt単のため、2−D物体の場合に限定し
て説明する。像層波数成分(kx、ky)の大きさの決
定は、核磁気に傾斜磁界Gx及びGyの影響を期間tに
亘り与えた後に自由誘導(FID)信号を測定すること
(こより行なわれる。この場合、である。 上記のことはスピンエコー技術を使用するときにも良く
成立する。しかし、その場合には各積分S”er・G・
(t’)at、’(i−X 、 y、 −−−−−−)
(7) 結果(7J 狩号を180°R,F、パルス
が瞬時t。に与えられた後に変えて像周波数によ−γ・
5Gi(t′)dt′を決定する必要がある。その理由
は、傾斜磁界G工により瞬時t。まで及ぼされた影響が
、発生核磁気が180゜パルスで反転された後に逆転さ
れるからである。 信号は2−D物体の場合も同様にサンプルされる。これ
は、離散的な像周波数値、即ちサンプリング瞬時に対応
する値のみを測定することを意味する。これらの像周波
数は(kx、ky)領域におけるサンプリング点の矩形
格子を構成するが、原理的には任意のタイプの格子(極
又はダイヤモンド形格子)が実現可能である。これはい
わゆるプロジエクションリコンストラクション方法の場
合である(例えば、[Nederlands Tijd
schriftVOOr Natuurkunde J
A47 、 (3) 、 114 、1981年参照
)。ここでは矩形格子についてのみ考察するが、これに
限定されるものでない。フーリエジユグマトグラフィー
の既知の方法では発生歳差連動核磁気を先ず最初例えば
Gyに所定期間さらす。 次いでGyをスイッチオフ後、信号を敗の存在の下で測
定する。瞬時tにおけるサンプリングは像周波数の値(
kx−γJ>x(t’)dt’ 、 ky−γ几Gy(
t’)dt’ )を決定する。 この方法ではデータは(kX、ky)空間内の軸ky−
0ニ平行に延在するラインに沿って集成される。全ての
所望の像周波数を測定するためにはこのザンプリング処
理をky−γG Gy(t’) cltの他に種々の値
に対してくり返えす必要がある。実際上これは各回の測
定毎にGyの振幅及び/又は強度を変えることにより行
なわれるのが普通である。 ここで、所望の分解能N、 X Nyを得るためには所
定の物体をどのようにサンプルする必要があるかが問題
となる。物体の土方向(t−x+y)の寸法をLiとす
ると、測定が行なわれるkiの2個の順次の値開の間隔
Δに土は2π/Liより小さい必要がある。1方向にN
i個の点の分解能を得るには測定をkiのN1個の異な
る値で行なう必要があり、これらk・値はΔに土に等し
い間隔を必要とず上 る。 本発明の一例を第2図及び第3a及び3b図を参照して
説明する。均一静磁界B。を発生する主コイル1の励磁
後に高周波コイル11を用いて900パルスP1を発生
する。スピンエコー技術ヲ用いるときは発生ずる自由誘
導緩和(FID )信号が減衰し得るようにし、期間t
v工後に180°パルスP2をコイル11により発生さ
せる。期間tV□の一部の間、傾斜磁界GX(曲線G1
で示す)を後述の理由のために発生させる。期間tv2
(tv□に等しい)後に、180°パルスP2の印加の
結果発生するスピンエコー自由誘導信号F2がピーク値
に達する。いわゆるスピンエコー技術(180°パルス
P2)を使用すると核スピンの歳差運動中における自由
誘導信号の位相誤差の発生が低域又は阻止される(斯る
誤差は均一静磁界B。の不均一により生ずる)。スピン
エコー自由誘導信号F2はサンプリングインターバル揃
でサンプリングし、このサンプリング中傾斜磁界Gx
(曲線G2テ示ず)を存在させる。得られるサンプルは
種々のkX値(kx−7′−f: G、(t’) at
’ )と関連する。既に述べたように、正及び負のkX
値を決定する必要がある。従って、先行期間tv□中に
おいて、値J′tV□γ・GXdt′と正確に同一の値
、1′tV1γ・Gxdtを有する傾斜磁界Gxを発生
させる。このようにすると、傾斜磁界敗の核スピンの歳
差運動に及ぼず総合彰響が瞬時t。において零になり(
J”Vl +JI、V2γ−Gxdt−0)、瞬時t。 においで像層波数kx−Oと関連するスピンエコー自由
誘導信号のサンプルを取り出すことができる。換言すれ
G」、以上のことはtv□中の傾斜磁界敗の印加の結果
として測定期間T −N−箱の開始瞬時tSにおいて、
サンプルずべき最高負周波数kxと関連するサンプリン
グを行tcうことができ、それ以下の角数周波数はW4
時t。において板〜oになるまでIft’i次の各サン
プリングと関連することを意味する。 サンプルされる像層波数kXは次いで正になり、測定期
間Tの終了咬時t。において正の最高像層波数に7と関
連するづンプルが取り出されるまで増大する。 前述したように、傾斜磁界Gyを印加しないときは、像
層波数kyは常に零である場合に対する像周波数殿が決
定される。第3b図は得られるサンプルの振幅をkX−
ky図上にプロットしたものである。上述のサンプリン
グの結果はラインky−oに沿ったグラフS1になる。 殿、 ky平面内のサンプルの位置間隔Δkxは次式7
式% で決まる(tmはサンプリングインターバル)。 傾斜角界Gyを第3a図のGy−tグラフに破線で示す
ように期間tv□(90°パルスPLと180゜パルス
P2との間の期間)中に印加すると、積分k −γJ’
Gy(t’)dt’は測定期間Tの開始時にtv1 零にならず、像周波数対(kx、ky)と関連するサン
プルが抽出される。像層波数kyは測定期間T中変化せ
ず、周波数kxは前と同様に最高負周波数から零周波数
を経て最高圧周波数に増大する。 換言すれば、第3b[Jに示すようにサンプルはライン
ky≠0」二にkxの関数で分布され、2本のラインk
y−o及びky≠0間の間隔Δはで決まる。これらサン
プルは第8b図中に○で示しである。関連するサンプリ
ング瞬時も第3a図に・で示しである。2ライン間の間
隔Δは傾斜磁界Gyの強さを調整することにより、或は
傾斜磁界G、の印加期間を1111整することにより調
整することができること明らかである。本発明方法にお
いては、測定期間T中に第3a図に曲線G8で示すよう
な(時間変調された)追加の傾斜磁界G。 を印加する。この追加の傾斜磁界Gyはとなるように変
調されているため、サンプリングインターバルtm中に
おいてkyの異なる値と関連するサンプルを第3a図中
(こ○で示す原サンプルに何の影響を与えることなく抽
出することができる0 上記の積分は第3a図にQで示す瞬R1用Gこおし1で
は零でないため、(Gyが正弦波(G8)又Gま矩形波
(G4)であるものとすると)、ラインLエカ)らのΔ
k は周期tmの半周期後(こ最大となり、になる。サ
ンプリングを第8a図Gこ×で示すIIR時に行なうと
、これらサンプルはラインLIGこ対し間隔Δに、で平
行に延在するラインL2と関連するものとなる。しかし
、ラインL21−に位置するサンプリング点はkx力向
に−Δk l、已(すシフトされx る。これはX方向の傾斜磁界G2が08(又番まG、)
の第1半周期中作用し続けるためである。こσ〕シフト
は、傾斜磁界Gxを、(a)傾斜磁界(J、力(これら
の追加のkyサンフ゛リンク゛力(イテな2つλ几る勺
゛ンプリングインターノくルtmの部分「し零NA2度
を有するように変調することGこより、及び(b)ky
に変調すると共に傾斜磁界敗を反転させないことにより
避けることができる。これらサンプリングインターバル
の残部は第8a図Gこしえで示してあり、変調された傾
斜磁界G/xの振幅σ9−例を示すG/X−tグラフに
プロットしである。 フーリエジュグマトグラフイーの既知の方法では→ノン
ブリングインターバルtI11は約100μsである。 本発明方法ではインターバル箱中に少くとも1回の追加
のサンプリング(第3a図に×で示す)を行なう。スピ
ンエコー自由誘導信号の一つの振幅値しか第8a図(各
瞬時(こつき)及び第3b図(各kx、ky値につき)
示してないが、2つの(g号をサンプルする必要があり
、既に説明したようにこれら2つの信号は自由誘導信号
の直角検波Gこより得られる。第3b図に示すグラフは
kx−ky−0に対し鏡面幻称であり、実際のサンプリ
ング処理は例えばky〉0において全ての煕(負から正
の最大値まC)につき、又は暇〉OGこおいて全てのk
y(負から正の最高値まで)につき行なう必要がある。 サンプリングインターバルtm中のGyの周期的変化は
各サンプリングインターバルの終了時にGyにより発生
される追加の位相変調が零になるようようにしないと、
次のサンプリングインクーノくルtmの開始時のサンプ
ルが基準ライン石工上に位画しなくなり、kyX方向シ
フトされる。従って、この場合測定される各点は異なる
ky値と関連するものとなる。サンプリング信号を処理
するためにはこれらの点を矩形のkX、ky格子と関連
させるσ〕が有利であIつ、このような測定方法は効率
的でなく、追加のgI算を必要とする0」二連の積分で
限界されるGy>O及びGy〈0の面積をサンプリング
インターバルtmにおいて回−Gこする必要があること
意味する。 印加傾斜磁界Gxが時間に関し一定であるとぎは、既に
述べたようにサンプリングインターバルtmは2π/(
γ・Gx−Lx)より僅かに小さくする必要がある。(
例えばデジタ/l/フィルタリングによりイノズを低減
又は除去するために)サンプリングに懸巣サンプリング
を使用する場合には)Gyの周期をこれに適応させる必
要があること明らかである。Gyの振幅は、インターバ
ルΔkyがGy(t)の半周期の積分値により決まると
いう要件から直接導かれる。説明のため、ky−oに平
行なう・rン」二の一リーンブリングインターバルπ/
γ・Gx−Lx−−− (12 )Gこ等しいものと仮
定する。この場合に生じ得る周波数戻り効果は物体をX
方向に城より僅かに小さくすることにより低減又は阻止
することができる。これがためLXを物体のX方向の寸
法の上限値とみなす必要がある。X方向についても同様
に定義し、即ちLy′5:X方向の寸法の上限値とみな
す。この場合にはΔky−2π/ Ly−−−−−
(18)である。 この場合、傾斜磁界Gy(t)の振幅Gyの値は次のよ
うに決めることができる。 (a)矩ノ1杉変化傾斜磁界の場合: 全積分が半周期内で行なわれるため、 更に、式(12)及び(13)に従ってこれから、 となる。 Q))正弦波傾斜磁界の場合: ここでt/−一 m (0)同様に、のこぎり波又は三角波関数の場合はしか
し、傾斜磁界は通常コイルで発生されるため、正弦波状
の交番傾斜磁界を用いるのが好適である。池の周期的変
化傾斜磁界は急激な変化を示すので=Iイルを使用する
ときは実際上問題がある。 しかし、本発明方法は基準ラインL1に加えて1つの追
加のライン?測定するものに限定されるものでない。本
発明方法は3本以上のラインを同時に測定することもで
きるものである。第4図は3本のライン(L□+ L2
、L3 )を同時に測定する場合を示す。課される要
件は2ラインの同時測定に関する」二連の場合にd!1
1された要件と同様であり、即ち加えられる追加の位相
変調の相殺並びに号の振i1Mに関する要件である。こ
れがため、一定の傾i、・1磁界敗ど時間とともに変化
する傾斜磁界Gyを用いてMライン(M>1)の同時測
定を行なう場合、振幅間、は (a)矩形波傾斜磁界の場合は (b)正弦波傾斜磁界の場合は で与えられるものとする必要がある。種々のライン間の
間隔は同様にΔkyになる。追加のサンプリング点と基
準ラインとの間の間隔Δに、はGyを表わす曲線の、サ
ンプリングインターバルtmの開始点から当該サンプリ
ング処理が行なわれる1闘時までの面積に比例する。こ
れを正弦波交番傾斜磁界を用いる3ラインの同時測定の
場合について第5図に示す。これがため、第5図Gこお
いてΔにΔ、は0□に比例しなければならず、2Δky
は0□+02に比例しなければならず、3Δ今は0□+
02+08に比例しなければならない。この要件は種々
のラインL工、 L2. L8. L、上の点が測定さ
れる瞬時を決定する。 M(M<N及びM>1)ラインを同時に測定するものと
すると、NxXMマトリックスが決定される。M番目の
ラインと基準ラインとの間の間隔は(M −1)Δky
Gこなり、i番目のライン(1−1,2,−−−M)と
基準ラインとの間の間隔は(i−1)Δky&こなる。 敗×Nyマトリックスに対しては隣接ライン間の間隔を
一定にするのが好適である。本例ではこの間隔は常(こ
ΔkyGこするにれらの考察に基づいて、基準ラインL
0とi番目のラインL工との間の間隔cl (Lよ、L
工)の比Gまで与えられる。また、傾斜磁界Gyを表わ
す曲線の、非基準ライン」二の測定瞬時tiまでの面@
番ま正弦波交番傾斜磁界の場合 で与えられる。間隔d(L□、L工)Gまこの面積に比
例しなければならないという要件力1ら、ターパルの開
始時と当該測定瞬時とのt’MJの経過時間とサンプリ
ングインターノくルとの比、tl−t/1m及び鴨は基
準ラインに関連するサンプ1」ンク°インターバルであ
る。上式から、 となる。式(19)及び(20)から、又は となる。式(22)のM及びN(こ種々の値を代入して
みると、M/>3の場合には→lン7゛署ノンク°Gま
等しい時間間隔で行なうことができること力(わ力)る
。 M>3の場合には式(21)の要件の結果、等しい時間
間隔のサンプリングGこならなl/1゜こ11&t、M
−4、i−1、2、3、4+7)例ニラu)でrm、Q
tE示すことができる。 これらの点は第5図に示しである。 矩形波傾斜磁界の場合には、弓は半周期全体に亘って一
定であるため、測定点はMの各値に対し等間1崎になる
。即ち、 t、 −”Ill 、11 (23)12 ト
I Gy曲線の而4’ltが1つのサンプリング点がら次の
サンプリング点へと直線的に増大しなければならないと
いう同じ要件はのこぎり波交番傾斜磁界Gyにも適用さ
れ、この場合にはサンプリングはM>2に対して等しい
時間間隔にならない。 」二部の場合と同様にして、のこぎり波交番傾斜磁界に
対しては が導出できる。 参考のため、のこぎり波交番td43i磁界G、の場合
のシ、/1IIIをM−3及びM−4の場合につき示す
。 (a) M −8(b) M −4 のこぎり波交番傾斜磁界G−場合には、サンプリング瞬
時はM 〉8に対しては等時間間隔Gこならないこと明
らかである。これら周期関数の各々はG、を変調するの
に満足であること明らかであり、且つ各周期関数に対し
てサンプリング点は第1半周期中においてGy曲線と時
間軸とで囲まれる、2個の順次のサンプリング点間の面
積が時間の直線関数になるように選択しなければならな
いこと明らかである。 これがため、基準う・rン上で行なわれない→ノンブリ
ング処理は上述の関係式で与えられる正しい瞬時tiに
行なうことが重要である。この目的を達成するために、
本発明方法を実施する装置はザンブリング処理を正しい
瞬時t工に制御する制御装置(第2図の87)を具えて
いる。 Gyの振幅に関しては、一般にMラインの同時測定に対
しては次の関係を適用することができる。 (ここで、τは−リ“ンプリング処理が基準ライン上で
行なわれる瞬時である)。 換言ずれば、基準ライン上のサンプル(tm)間の正価
に中間に位置する瞬時までに(M−1)Δky 個のf
l IJIJのサンプリングインターバルをMラインの
同時測定のために分布させる必要がある。 しかし、このことは、零点を中心に対称でない関数Gy
(t )を用いるときには適用し得ないが、このような
例は実際上重要でないため無視することができる。 (kX、 ky)空間において、敗×Nyマトリックス
を得るため(こはNy本のラインを測定する必要がある
。MがNyの分数値であるときは、像はNy/M回の測
定で完成する。これがため、第1回測定中はデータはラ
イン1−Mに沿って集収され、第2回測定中はラインM
+1〜2Mに沿って集収され、以下同様である。データ
がラインm〜m+M−1に沿って集収されるとき、サン
プリングのために、 が第mラインのky値になるような値のGyが供給され
る(ここでtはサンプリング直前の瞬時)。 本発明提案による方法においては、像は次のように再構
成される。以上の説明から明らかなように、Mラインの
同時測定のためにはサンプルを(kx、ky)空間内の
Mラインに分布させる必要がある。MがNyの分数値で
あるときは、これをNy/M回の全測定について行なう
。Ny−Ny/M“′非基準”ライン上のサンプルはN
y / M基準ライン上のΔへサンプルに対してシフト
された位置にある点に注意しなければならない。kyに
沿うフーリエ変換(別のフーリエ変換)中に11乏しい
サンプルを2−1)フーリエ変換処理の各行G−与える
ようにするため(こは、°゛非基3■°゛ンインに対し
基へ1エライン」二の点と同一のべ座標を有する中間点
を見つけ出ず必要がある。これはフーリエ変換にJ、る
捕間により達成できる。この補間は次のように行なわれ
る。即ち、1つの°゛非非基準プライン取り、所定のk
yラインと関連する全ての殿につき′7−リエ変換をイ
ジーない、左右に零を例加し、フーリエ逆変換を行なう
。付加する零の数は当該ラインーにのサンプル点の基準
ライン上のサンプル点に対するシフト嵐に依存する。斯
る後に実際の像を得るために2−1)フーリエ変換が必
要とされる。 他の可能な方法は、kxに沿うフーリエ変換(このフー
リエ変換はいずれにせよ2−Dフーリエ変換処理におい
て必要とされる)後に、ライン(X。 ky)と関連する値について位相回転を行なってその回
転がXGこ比例するようにする方法である。 その比例定数はフーリエ変換前のサンプル点の基準ライ
ン上のサンプル点に対するシフト量しこ比例するものと
する。Itl「る後に、変換されたデータにつきkyに
沿うフーリエ変換を行なうことにより、所望の像を得る
ことができる。 8−D物体の像形成につき簡単に説明する。データは座
標kX、 ky、 k2を有する3−Dフーリエ変換さ
れた空間において集収される。フーリエジュグマトグラ
フイーの8−Dモードにおいては、前と同様に信号は1
つの傾斜磁界、例えば販の存在の下で測定される。測定
中、データはkx軸(こ平行に延在するフーリエ変換さ
れた( kx、 ky。 k7)空間内の各ライン上に沿って集収される。 これらラインと関連するに、値及びに2値の各々は基準
時間から始まり、時間軸と傾斜磁界Gy及びG2の値を
表わす曲線とで囲まれた面積、即ち次のサンプリング前
に供給される傾斜磁界の時間積分値により決まる。この
場合にもkXXGこ平行な数ラインの同時測定を行なう
ことができる。これは同一のに2座標又はり座標を有す
るライン(こ関連する。前者の場合には時間とともに交
番する傾斜磁界G を信号測定中一定傾斜磁界GxGこ
加え−C存在させるが、後者の場合(こは傾斜磁界G2
を時間とともに変化するものとする。像の再構成は2−
Dモードの場合と全く同様である。 第3a及び3b図から明らかなように、○及び×で示ず
勺ンプリング瞬時は曲線G又はG、の零交差点(傾斜磁
界の傾き方向の逆転点)と一致さセ/”)のが有効であ
る。また、サンプリング処理をスピンエコーが発生する
瞬時t。に行なうことも治効である(これはこの場合に
はkx−0であるためである)。この目的のために、第
6図に前記)”:r々の信号を同期させる装置を示す。 時間変調傾斜磁界号は次のように発生される。中央制御
装置ζt4,5は少くとも1個の発振器51と、入力端
子がこの発振器51に接続され出力端子がランダムアク
セスメモリ(RAm)55のアドレス入力端子Gこ接続
されたカウンタ53を具える。カウンタ58のp+1i
次のカウント状態はメモリ55の出力端子に、正弦波信
号の振幅を形成する2進制御信号を発生ずる。このメモ
リ55からの2進数はD/A変換器21 a及び増幅器
21bを具える発生器21Gこ供給され、正弦波状(こ
変調された傾斜磁界Gyを発生する。メモリ55からの
制御信号は制御装@37にも供給される。この制御装置
37は論理ゲート回路57を具え、この論理ゲート回路
は所定の2進数(例えばoooo−零交差点又は111
1−最大振幅点)に応答してパルスを発生し、このパル
スはORゲート59を経て可調整フリップフロップ61
に供給され、このフリップフロップの出力がバス50を
経てサンプリング装f6(29及び31)に供給される
。可調整フリップフロップ61の目的は後で述べる。 G、磁界の傾き方向の逆転瞬時を検出する検出装置も具
える。この装置は号磁界(その一部)に誘導結合された
コイル51を具える。このコイルはコイル5の一部とす
ることができる。時間とともに変化する傾斜磁界Gy&
こよりコイル5′に発生した信号は増幅器68に供給さ
れ、増幅されてパルス発生器65(例えばシュミットト
リガ回路)に供給される。パルス発生器65で発生され
たパルスはGy磁界の傾き方向が逆転する1114時を
表わし、フリップフロップ61からのパルスも受信する
比較回路67に供給される。この比較回路67はザンブ
リングパルス(61−29、,31)の発IN時と傾き
方向の逆転瞬時(5’ 、 68 )との時間差を決定
し、この時間差は表示器69により表示される。この比
較回路67と表示器69は例えば2チヤンネルオツシロ
スコープの一部とすることができ、また、パルス発生器
65及びフリップフロップ61の出力端子(こ接続され
た入力端子を有するセット−リセットフリップフロップ
と、その出力端子(こ゛接続されたパルス持続時間測定
装置にすることもできる。単安定フリップフロップ61
Gこより発生するパルスの持続時間はこのように測定さ
れた時間差に基づいて調整して、サンプリング瞬時を進
めたり遅らせたりすることができるようにする。比較す
べき信号及び制御信号が通過する任意の回路においては
遅延又は位相シフトが発生することは不可避であり、こ
の遅延又は位相シフトも考慮する必要があること明らか
である。前記時間差を有効に決定するには発生された正
弦波信号の零交差点を表わす2進数(例えばoooo)
に応答してパルスを発生する論理回路57からのパルス
のみがORゲート59に入ることを許すようにするのが
有効である。 スピンエコーの対称瞬時tl−1つのサンプリング瞬時
と一致させるために、制御装置45は更(こ、発振器5
1に接続された別のカウンタ71と、スイッチ78′に
より制御し得る比較器73を具える。 カウンタ71が比較器73にセットされた値に対応する
カウントに達すると、このカウンタは)くパルスを発生
し、このパルスでこのカウンタ71を出発位置にリセッ
トすると共にノくス50を経て高周波発生器25を駆動
して90°パルス又は180゜パルスを発生させる(発
生させるべき)灼レスの種類は制御信号により慣例の如
く決定することができ、このためこの制御信号は図示し
てなく、またこれ以上の説明も省略する)。180°ノ
々ルスの発生後、カウンタ71が比較器73にセ゛ノド
された値に再び到達するとき(tVl −tV2・第3
図)゛スピンエコーの対称瞬時(こなり、このとき比較
器73が再びパルスを発生し、このパルスはスイッチ7
5を経て比較回路67にも供給される。これかため、(
サンプリング瞬時を一致させる必要のある)傾き方向逆
転瞬時とスピンエコ一対称瞬時との間4こ最小の時間差
を決定することができる0スピンエコーの対称瞬時は、
比較器(こセ゛)卜する値全上記時間差の発振周波数倍
の半分に等しl、)鰍だけ変えることにより(tv□及
びtV2を変えることにより)調整してサンプリング瞬
時とスピンエコーの発生瞬時を同期させることができる
。 中央制御装置45、制御装置87、及び種々の信号の発
生瞬時の同期手段を個別回路により実現する例(こつい
て説明したが、コイル51及び増幅器68(こより発生
される信号を用いて必要に応じ動作条件を変え得るよう
にしたプログラムドマイクロプロセッサを用いて同一の
結果を良好に得ることもできる。 1−Ijンブリンゲインターバルtm当りのサンプル数
を口■調整にするために(第4及び第5図参照)、回路
57の種々の論理ゲートの出力をスイ゛ノチ56.58
を経てORゲート59の入力端子に接続する。サンプリ
ング処理はスイッチ56.58を開閉することにより正
弦波信号の所定の振幅瞬時に行なうことができる。サン
プリング処理を行なう瞬時を決定するのは振幅自体では
なく関連する振幅カサンフリングインターパ/l/11
11中に発生する相対一時であることに注意されたい。 サンプリングインターバルをもつと長く又は短かくする
必要がある場合には発振器51の周波数を調整するだけ
でよく、サンプリングインターバルtm中の相対サンプ
リング瞬時がこれにより乱されることはない。
ンターバルに等しい周期を41し、この追IJIJの傾
斜磁場が核磁気に及ぼず影響が前記サンプリングインタ
ーバルに亘り積分すると零になるものとし 前記各サン
プリングインターバルの開始後であって終了前に少くと
も1回の追加のサンプリング処理を行なうことを特徴と
する。 発明の効果 本発明方法においては、自由誘導信号の存在中に追加の
時間変調傾斜磁場を印加して一回又は数回の追加の自由
誘導信号のサンプリング処理全厚サンプリング処理間の
期間(フーリエ ジュグマトグラフイーの既知の方法で
形成される核スピンの分布像に与えるべき解像度により
予め決定される)中に行なう。これがため、各測定サイ
クル(準備期間」−測定期間+待期間)中に少くとも2
倍のザンプルを得ることができるため、所要測定サイク
ル数を少くとも2分の1にすることができる。 尚、時間変調傾斜磁場な用いて単一の測定サイクル中に
(従って単一のFID信号から)核スピンの二次元分布
を再構成し得る情報を取り出す方法が既知である。この
方法は°°エコーブレーナ方法++と称され、学術誌[
Magnetic Re5onance 。 29 、1978 J l)p 355〜373(こ発
表されているP 、Mansfield及び1.L、P
ykett (D 論文” Bj−olagical
and Medical Imaging by N
MR”及び[Applie+fl Ph1S:Lcs
22 + 1980 J 、pp257−271に発表
されているL 、F 、Fe1ner及びP、R,Lo
cbesの論文” On NMR5pin Imagi
ng byMagnetic Field Modul
ation”に記載されティる。 このエコープレーナ方法はFID信号の測定中時間依存
傾斜磁場を用いる。このエコープレーナ方法は単一のF
ID信号の持続時間中に完全な二次元像を得ることがで
きる。検体の1平面断面内の核磁気分布の法定は例えば
Z軸方向の一様磁場に加えて同一方向の傾斜磁場G2を
用いると同時に(90°)高周波振幅被変調パルスを用
いて厚さΔ2を有する断面部分内GこFID信号を発生
させること(こより達成される。高周波パルスの直後に
傾斜磁場G7をスイッチオフし、(x−y断層の像を形
成するために)FID信号を例えば交番傾斜磁場Gx及
び静止傾斜磁場号の下で測定する。 このエコープレーナ方法では完全な二次元像に必要とさ
れる個数の測定点が単一のFID信号にス・1し測定さ
れる。実際に必要とされる解像度を達成するには、この
エコープレーナ方法を使用する・ときは時間に対し周期
的に交番する傾斜磁場を高周波数にする必要があると共
に高強度Gこrる必要がある。このことは傾斜磁場の大
きな割合の変イしく dG/at )を生じる結果とな
り、患者のためGこ女子ましくない。これに対し、本発
明方法で使Jij11−る傾斜磁場の強さはエコープレ
ーナ方法Gこ使Jljさね7る傾斜磁場の強さより署し
く小さl/八へ従って、変調Gこより生ずる磁界強度の
変化割合も著しく /J・さく有利である。 実施例の説明 以下、図面を参照して本発明の実施例を説1す]する。 第1. a図は検体(人体) 20 LI〕1 i5に
分向の核スピンの局部的密度の分布を決定するのに使用
する装置の一部を構成するコイル装置】0を示す。この
被検部分は例えばΔ2の厚さを有し、x、y、z座標系
のx−y而に位置するものとする。こσ0座標系のy軸
は図紙面に垂直である。コイル装+PV10は2軸に平
行な磁界方向を有する均一な静磁場B。と、Z軸に平行
な磁界方向を有すると共にそれぞれX、y及びZ軸に平
行な傾き方向を有する3つの傾斜磁界Gy、 、Gy及
びGzと、高周波磁界とを発生ずる。これを達成するた
めに、コイル装置r2 ] 0は数十テスラの強さを有
する均一な静磁場B。を発生ずる一組の主コイルlを具
える。この主コ・rル]は例えば中心が直交座標系X、
y。 2の原点に位置する球体2の表面上に配置することがで
き、主コイル1の軸線はZ軸と一致する。 コイル装j7’j 1 (lは、川に、例えば、同一の
球体表面上に配置されて傾斜磁界Gzを発生する4個1
7J ’?Jイ/1z3a、3bを具える。このため、
第1コイルセツト8aは第2コイルセツト8bの電流と
反対方向の電流で励磁され、これを図中に■と■で示し
である。ここで、■はコイル3の断面Gこ電流が入るこ
とを、凶はコイル8の断面から電流が出ることを意味す
る。 コイル装置10は、更Gこ、例えば傾斜磁界号を発生ず
る4個の矩杉コイル5(2個のみを示す)又は°゛ゴー
レイコイル′のような4個の他のコイルを具える。傾斜
磁界敗を発生させるために、コイル5と同一の形状を有
すると共にコイル5に対してZ軸を中心に900回転し
て配置されたべ・個のコイル7を用いる。コイル7(及
び5)の形状を明瞭に示すために、その斜視図を第1b
図に示す。コイル7を流れる電流の方向は矢印9で示し
である0 8I¥1a図にはコイル11も示してあり、このコイル
により高周波磁界を発生及び検出することができる。@
l c図はこのコイル11の斜視図を示す。このコイル
11は電気的に相互接続されたコイル半部11a及びl
lbを具え、動作中矢印13で示す方向の電流が与えら
れる。 第2図は本発明方法を実施する装ffi 1 ’vを示
す。 装置15は第1a、b、c図につき述べたコイル1.3
,5.7及び11と、これらコイル1,3゜5及び7を
励磁する電流発生器17,19.21及び23と、コイ
ル11を励磁する高周波信号発生器25とを具える。装
置】5は更に高周波信号検出器27、復調器28、サン
プリング回路29ヘアナログーデジタル変換器31のよ
うな処理装置、メモリ33、フーリエ変換を行なう演算
回路35、−リンプリング瞬時を制御する制御装置37
、表示装置4・3及び中央制御装置45を具え、これら
装置の機能及び関係については後に詳述する。 装置へ15は検体20内の核スピンの局部的密度の分布
を測定する方法を以下に述べるように実施する。゛°測
定′″を始める前に、検体中に存在する核スピンを共鳴
励振する。核スピンを共鳴励振するために、電流発生器
17が最初に中央制御装置4・5によりスイッチオンさ
れてコイル1が励磁され、1θ−な磁界B。が発生する
。次いで、高周波発生器25が短期間スイッチオンされ
てコイル11が高周波電磁界(無線周波(R,F、)磁
界)を発生ずる。これにより検体20中の核スピンを静
磁界B。の存イ[の下で無線周波磁界により共鳴的に励
振させることができると共に、発生する歳差テ1.!動
核磁気を均一磁界B。に対して所定の角度、例えば1〕
0°(900R,F、パルス)に向けさせることができ
る。その核スピンが共鳴的に励振される検体中の位置及
び元素は磁界B。の強さと、印加される傾斜磁界と、高
周波電磁界の角周波数ω。 に依存し、これは共鳴励振を起すためには式ω0−γB
o・・費りが満足されなければならないためである。こ
こで、γは核磁気回転比である(自由プロトン、例えば
H20プロトンに対してはr/2π−42,576MH
2/T )。励振期間後に高周波発生器25が中央制御
装置45によりスイッチオフされる。共鳴励振は各測定
サイクルの開始時又は前に行なう。ある動作方法におい
ては、R,F、パルスを測定サイクル中も検体中に印加
する。これらのR,F、パルスは検体に周期的に印加さ
れる90°R,li’。 パルス又は90°と180°R,F、パルスの複合パル
ス列とすることができる。後者は°゛スピンエコー″と
称され、スピンエコーについては「Scientifi
cAmerican、、 May 1982 Jに発表
されている1、 L、 Pykettの論文” NMR
Imaging in Me(iicille ”に記
載されている。 次のステップにおいて、有用ザンブル信号を部収する。 この目的のために中央制御装置45の制御の下で発生器
19及び21.23により発生される傾斜磁界を使ff
Jする。共鳴(自由誘導)信号(屡々FID信号と称さ
れている)の検出は高周波検出器27、復調器28、サ
ンプリング回路29、アナログ−デジタル変換器31及
び制御装置FI3 ’7をスイッチオンすることにより
行なわれる。 この自由誘導(FID)信号はR,F、励振ノぐパルス
による共鳴励振に続いて生ずる磁界B。の磁界方向を中
心とする発生核磁気の歳差運動の結果として現われる。 この発生歳差運動核磁気と関連する磁界は検出コイルに
誘導電圧を誘起し、その振幅は核スピン密度の目安とな
る。 サンプリング回路29からのサンプリングされたアナロ
グ自由誘導信号はメモリ38にストアされ、演算回路3
5でフーリエ変換後、関連する核磁気に関するデータを
含む振幅のスペクトルを発生する。あいにく、スペクト
ルから位置への変換はできt【い0これがため、演算回
路35で発生されたデータ信号は先ずメモリ33にスト
アされる。 位置への変換に使用する方法は傾斜磁界の使用に依存す
る。 本発明方法は特にNMRの像形成に関する。本発明の正
しい理解のためには先ずNMR像形成の理論について考
察する必要がある。この考察は一次元(1−D)物体を
撮像する最もfiii単なJノA合に基づいて行なう。 例エバプロトンのようなN M RrFj 性(スピン
)核を含む物体が一様磁界B。内に存在するものと仮定
する。無線周波数励振パルス、即ち前記90゜R,F、
パルスを用いると、磁界B。に対し直交する核スピンの
磁気が得られる。励振後、傾斜磁界がBo磁界に準備期
間の間加えられる。この傾斜磁界の傾きはX+ yr
z基準座標系のX軸方向に配置された1−D(−次元)
物体の長さ方向に延在する。この場合、この傾斜磁界は dB−(2) 敗−謂・X で表わされる。ここで、XはX方向の111位ベクトル
である。傾斜磁界数が一様であるとき、即ぢ敗がXと無
関係であるときは、Bo+G、磁界の強さとX座標との
間には直線的な変化が存在することに注意されたい。敗
の存在の下では局部発生核磁気がX座標に依存する周波
数; 賀X)−ω0+γ−Gx−X (3)で歳差
連動を行なう。 この結果、コイルに誘起される信号は単一周波数ω。で
はなく、一連の周波数ω(3)から成る。測定後、誘起
された信号のフーリエ変換を行なうことにより歳差運動
核磁気の強さを周波数の関数として決定することができ
る。周波数はX座標に明確に依存するため(式(3))
、核磁気の局部的振幅をX座標の関数として決定するこ
とができ、従って1−D物体のNMR像を形成すること
ができ、その像情報は局部発生核磁気の対応する大きさ
から成る。これはNMR活性(スピン)核の密度ρによ
っても決まるが、スピン格子緩和時間T□及びスピンス
ピン緩和時間TQのような他のパラメータも得られる像
に影響ヲ与、えること明らかである。 測定すべき誘起電圧は直角検波する。このことは信号を
無線周波励振パルスと同一の周>Jk数ν。 を一般に有する基準信号と混合する。ことを意財芝する
。これが1こめ、測定された信号Gまh1波数+ll+
J二でφを有する第1基準信号と一回混合すると共し
こ、第1基準信号に対して90°移相した位オ目(φ+
90°)を有する同一周波数の第2基準信号と一回混合
する。 このことは、全発生核磁気の種々の成分を、周波数ω。 −2πν0でB。を中心に歳差運動を行なっている、即
ち回転している座標系であってその一つの軸が励振中に
おける無線周波磁界B0の同様の回転成分が向く回転系
の軸に対し角度φ傾し)てし)る座標系にり」シて決定
することができることを意味スル(例えば「NMR5p
ectroscopy j 1980年。 John wiley著のチャプターvn 、第210
〜217頁参照)。これがた°め、φ−0のときは励振
ノクパルスのR,F、磁界とそれぞれ同相及び90°移
相した全発生核磁気の成分を決定することができる。直
角検波全使用すると、各別の局部発生磁気の回転座標系
に幻する時Φ1方向回転と反時針方向回転との識別を行
なうことができ、これがため復調信号において正の周波
数々負の周波数とみなして識別することが可能になる。 ]、−D物体を原点(傾斜磁界GXが均一磁界B。に何
も作用しない点)に対し対称に配置されているときは、
信号は直角検波後に一〇ノ から+(01まで延在する
周波数帯域内に位置する。ここで、ω1−γ・Gx−7
で、lは物体の半分の長さである。直角検波の結果とし
て得られる2つの信号は以後それぞれ実信号及び虚信号
と称す。これらの信号のフーリエ変換は複素変数を用い
て書き表わせる。即ち、複素時間信号式1) −f工(
1;)ト1−f2(L)はフーリエ変換後は次の通りに
書き表わせる。 ここで、 これかため、スペクトルg(Cll)も複素数になる。 以上では関数f1及びf、は全時間軸に亘る連続関数で
あると仮定した。しかし、実際には信号f□及びf2は
上限周波数を有し、サンプリングにより測定される。こ
れはサンプリング基準に従わなければならず、信号を明
確に決定するためには最高発生周波数の各周期中に少く
とも2個の一す−ンプルを取る必要がある。1.− D
物体に対してはこの最高周波数はシ□−ω□/2π ・
・・(5)である。従って、サンプリングインターバル
tm(2個の順次のサンプリング処理間の時間間隔)は
少くとも部に対する分解すべき総帯域幅は1/輻である
。 n個の等間隔サンプルが時間とともに変化する信号の実
成分及び虚成分の双方からそれぞれ取り出されるとき&
−、3..g□((〜)及びg 2(QI)はそれぞれ
n個の点により書き表わされる。これがため、これらの
点の周波数間隔は−である。同一のtmの時間−tTI
l 領域において取り出される点をもつと多くする、即ち測
定シーケンスをもつと長くすると、実及び虚成分の双方
に対する腫波数領域の分解能力(一層細かくなり、像空
間の分解能も細かくなる。 分解能増強は異なる方法、例えば磁界の傾きを2倍大′
きくすることにより達成することもできる。 この場合には物体は2倍の幅の変調帯域幅(こ対応する
。この場合にはサンプリングは2倍の速度で行なう必要
がある。2n個のサンプルを時間とともに変化する信号
(自由誘導信号)から取り出す際には、全測定時間は前
と同一にするが、周波数帯域は2n個のインター)<
/しに分割する。物体力)らの信号成分は全周波数帯域
を占めるため、このことは対応する2n個の空間インタ
ーバルノΔ、が物体上に位fFffi才ることを意味す
る。これがため、分解能は2倍大きくなる。説明のため
一例を記す。 長さ2・l −10Cmを有するプロトン含有1− D
!l勿体が傾斜磁界Gx−28−49X 10−4T/
In rl:+ l装置かれる場合、周波数帯域ν、
−γ・敗−2−J/2r −10kHzがこの物体の長
さに対応する。物体は原点Gこ対称に置かれるため、最
高周波数&、i5 kH2であり、従ってtm−100
μsがサンプリングインターバルすときは信号はn−t
m++、 12.8 msの期間中心こIII定される
。 フーリエ変換後、周波数インターノく71番よ(n−t
m)”” −78,125kHzになる。式Δ −s
、 1・2.、から、こね、は各空間インタxn−
tm ν1 −パルについてはΔx+ 0.76 msに相当する。 既に述べたように、分解能を2倍にするし)くつかの可
能な方法が存在する。第1の方法番ま傾多(磁界販と箱
を同一に維持し、サンプル するものであり、上述の場合では1 2 8 @j’ン
ブルの代りに256サンプルを取り出すものである。 この場合、全測定期間は2 5.6 msになるOまた
・フーリエ変換後の周波数インクーノくル心まに相当す
る。第2の方法は磁界勾配Gxを2倍大きくいGx−4
6,il 8 X 10−’T/mとするものである。 この場合、10罷の物体長は20 kl(zの帯域幅に
相当する。この場合、最高周波数は10klLZで、従
ってtmは50μsになる。256サンプルを取り出す
場合、信号の測定は12.8 msを要する。周波数領
域におけるインターノ々ルは(n−t )−1−78u
zで、これはΔX −1100mmm
200
00−0.39 mmに相当する。要するに、長い測定
期間を使用するか、或は大きな勾配を使用することによ
り高い分解能を得ることができると言うことができる。 両者の組合せも可能であること明らかである。しかし、
大きな勾配は一般に検出信号の雑音レベルを増大する。 他方、測定期間は無制限に長くすることはできない。そ
の理由は、小さい磁界勾配を使用する際は緩和効果及び
磁界B。の不均一により像に許容し得ない歪みが発生し
得るためである。従って、実際には妥協点を選択使用す
ることか通常必要とされる。 上述の問題は別の方法で説明することもできる。 前と同様に1−D物体につし)で考える。この物体の像
の空間フーリエ変換は座標kxを有し、像を構成する像
周波数(ライン数/=−)を表わす0第1に、像関数F
(X)は実関数であるとみなすこと力(できる。直角
検波を用いるNMR像の形成シこおし)では、発生核磁
気の3つの座標成分の2つの分布を測定する。これはB
。に直角なこれら成分番ま無線周波コイルに誘導電圧を
発生するためである。 これらの各成分は像関数で書き表わせ、換言すhばF
(X)は互に直交する(Boに対しても直交する)これ
ら成分の大きさを座標Xの関数として表わした2部分F
、(X)及びF 、(X)から成る関数である。この
関数はF(x) −F〆+i −F 、2(x)と書か
れる。その複素フーリエ変換G (kx ) −〇 t
(kx ) +IG 2 (Icx ) 6iC(k
X) 7 J−F[x)e”x”dtから得られる。k
x−xは位相角を表わす。傾斜磁界Gxを用いる1−D
スピン像の形成にお(/Xで6J1次の関係 (OX+CIJo+γΦGX・X に従うNMR周波数ωゆから明確な像を形成することが
できる。自由誘導信号を直角検波処理するため、周波数
ω。は以後無視する。一定の傾斜磁界敗の印加後の所定
の瞬時において、位置Xにおける磁気は瞬時1−0にお
ける位相に対し位相γ・敗・x−tを有する。ここで、
γ・敗・tは像周波数kxと解釈することができる。磁
界勾配が一定でないときは、瞬時tにおける磁気の位相
角は、f”o Qlx (t ’ ) d t ’−γ
” X”f”o”X(t′)dt/で与えられ、γ丁>
x(j/)dj/はkx&関連する。信号f□(1)及
びfノt)が傾斜磁界敗の印加後の瞬時tに測定される
ときは、これら信号は定数を除いてそれぞれG□(kx
)及びG2(kx)に等しくなり、このとき殿−γ工\
(t・)dt・である。定数はコイルのQ XR,F、
増幅器の利得等のような種々の装置パラメータに依存す
る。核磁気の変化のみを測定すればよいため、絶対値は
重要ではなく、定数は以後無視することができる。 座標の原点は像空nlI内において物体の中心に選択し
であるため、像層波数空間における原点もその中心に選
択する。これがため、負の像周波数も許される。これら
周波数の値は、例えば一定の負の勾配(νIJち逆向き
)の傾斜磁界を所定期間tの間印加した後に自由誘導信
号を測定することにより決定することができる。実際上
、同一の自由誘導信号(例えばFID信号)の負及び正
の像周波数の双方を測定するのが普通である。これは、
例えば信号のサンプリング前に先ず負の勾配の磁界をk
xの所要の最大負値になるまで加え、次に磁界の勾配を
逆にすると共に信号をサンプリングすることにより行な
うことができる。静磁界B。の不均一の影響が無視でき
る場合、或は(例えばスピンエコー技術を用いることに
より)ある程度補償されている場合には、サンプリング
生金てのスピンは所定の対称瞬時において同K(Jにな
る。この瞬時は1−0に対応し、これは傾斜磁界が何の
作用も及ぼさない点を意味する。この点より前の瞬時で
は負の像層波数が測定され、この点より後では正の像層
波数が測定される。実及び虚像成分はこれらの周波数に
基づいて再構成することができる。 要するに、信号の2成分(実及び虚部分)を基準瞬時1
−0に対し所定の瞬時tにおいて測定すると、像層波数
に、−J’oγ・G、(t/)d、t’の振幅が明確に
定まる。この2つの測定値をそれぞれG1及びG2に関
するものとすると、これらの測定値は実数及び虚数像成
分の−に等しい波長を有する正X 弦波状強度変調波(複素像波動)を表わす。この像波動
の原点X−0(傾斜磁界が何ら作用しない点)において
測定される位相はarc tan (G2/G□)で与
えられ、即ち瞬時tにおける信号の位相角で与えられる
。この波動の振幅は(心+G2.)局である。 有限個の像層波数を測定するだけであるから、分解能は
一層高い像層波数(正及び負)を測定することにより増
強することができる。像層波数はkX−丁hγ・Gx(
t′)dtlであるから、このことは例えば前述のよう
に測定期間を長くすることにより又は傾斜磁界を増大す
ることにより達成することができる。 所定の分解能を有する像を得るためにはどの像層波数を
実際に測定すべきかが問題になるOこの問題に対する答
については信号のサンプリング方法についでの先の記載
を参照する。傾斜磁界敗が一定のとき、最高発生周波数
の各周期中に少くとも2回のサンプリング処理を行なう
必要がある。 このことはサンプリングインターバルをπ/θ」、以下
にすることを意味する。これは、最高発生周波数ν□と
関連する磁気が一回目のサンプリングから二回目のサン
プリングの間に180°より僅かに小さい角度回転する
ことを意味する。これがためサンプリングインターバル
を再びtmで示すとγ、Gx、7−t□はπより僅かに
小さく、従ってγ・敗・箱はπ/lより僅かに小さいこ
とになる。21.の長さを有する物体をn個の画素で再
生する場合、信号はこのtmを用いてn回ザンプルする
必要がある。 これは胸点のサンプリングシーケンスに転換することか
できる。サンプリングインターバルtmはインターバル
kx−γ・Gx・tm ”・(10) ニ対応し、これ
は2π/l−2・π/L −・−(tl)より僅かに小
さくする必要がある(ここで、L−’2J、即ち1−D
物体の全長)。n個の、像点の分解能を達成するために
C」インターバルし。でn個の異なる瞬時に測定を行な
う必要があり、このことはインターバルΔ殿で1〕個の
異なるkX値を測定する必要があると言い換えることが
できる。 既に述べたように、必要なことはkx−0を中心に分布
する像層波数を測定することである。このことは、 i
+Z勾配の傾斜磁界敗の存在の下でのサンプリングに関
しては、像層波数は傾斜磁界Gxが発生核磁気の歳差運
動の位相に何の作用も及ぼさない1瞬時を中心に分布し
なければならないことを意味する。 この認識に基づいて2−D及び8−D物体の像形成の問
題に取り組むこともできる。選択励振技術を用いて像情
報を3−D物体の薄い断層からのみ集取することができ
るため、2−D技術の使用は2−D物体にのみ限定する
必要はない。 1−D物体の場合と同様に、像関数F(x、y) −F
(x、y)+1F2(x、y)と書き表わせ、その空
間ツーリエ変換G(kx、ky)は となる。Gは前と同様に複素関数で、G(kx、ky)
−G1(kx、ky )+lG2 (kX + ky
)である。両成分G□及びG2は前と同様に時間ととも
に変化する信号の2つの成分であり、これら成分に対し
ては l叛−f ン−Gx(t’)at’及び ky=、、5
″:r−G、(t’)clt’である。ここでGyはy
方向の傾斜磁界であり、である。 実際」二、スピン像形成法は前述したように像周波数(
kx、ky)の値の決定ステップを含み、X及びy方向
の分解能は前述したように測定すべき最高像層波数k及
びkyにより決まる。 3−D物体の場合への拡張は を導入することにより簡単に実現することができる。 しかし、rilt単のため、2−D物体の場合に限定し
て説明する。像層波数成分(kx、ky)の大きさの決
定は、核磁気に傾斜磁界Gx及びGyの影響を期間tに
亘り与えた後に自由誘導(FID)信号を測定すること
(こより行なわれる。この場合、である。 上記のことはスピンエコー技術を使用するときにも良く
成立する。しかし、その場合には各積分S”er・G・
(t’)at、’(i−X 、 y、 −−−−−−)
(7) 結果(7J 狩号を180°R,F、パルス
が瞬時t。に与えられた後に変えて像周波数によ−γ・
5Gi(t′)dt′を決定する必要がある。その理由
は、傾斜磁界G工により瞬時t。まで及ぼされた影響が
、発生核磁気が180゜パルスで反転された後に逆転さ
れるからである。 信号は2−D物体の場合も同様にサンプルされる。これ
は、離散的な像周波数値、即ちサンプリング瞬時に対応
する値のみを測定することを意味する。これらの像周波
数は(kx、ky)領域におけるサンプリング点の矩形
格子を構成するが、原理的には任意のタイプの格子(極
又はダイヤモンド形格子)が実現可能である。これはい
わゆるプロジエクションリコンストラクション方法の場
合である(例えば、[Nederlands Tijd
schriftVOOr Natuurkunde J
A47 、 (3) 、 114 、1981年参照
)。ここでは矩形格子についてのみ考察するが、これに
限定されるものでない。フーリエジユグマトグラフィー
の既知の方法では発生歳差連動核磁気を先ず最初例えば
Gyに所定期間さらす。 次いでGyをスイッチオフ後、信号を敗の存在の下で測
定する。瞬時tにおけるサンプリングは像周波数の値(
kx−γJ>x(t’)dt’ 、 ky−γ几Gy(
t’)dt’ )を決定する。 この方法ではデータは(kX、ky)空間内の軸ky−
0ニ平行に延在するラインに沿って集成される。全ての
所望の像周波数を測定するためにはこのザンプリング処
理をky−γG Gy(t’) cltの他に種々の値
に対してくり返えす必要がある。実際上これは各回の測
定毎にGyの振幅及び/又は強度を変えることにより行
なわれるのが普通である。 ここで、所望の分解能N、 X Nyを得るためには所
定の物体をどのようにサンプルする必要があるかが問題
となる。物体の土方向(t−x+y)の寸法をLiとす
ると、測定が行なわれるkiの2個の順次の値開の間隔
Δに土は2π/Liより小さい必要がある。1方向にN
i個の点の分解能を得るには測定をkiのN1個の異な
る値で行なう必要があり、これらk・値はΔに土に等し
い間隔を必要とず上 る。 本発明の一例を第2図及び第3a及び3b図を参照して
説明する。均一静磁界B。を発生する主コイル1の励磁
後に高周波コイル11を用いて900パルスP1を発生
する。スピンエコー技術ヲ用いるときは発生ずる自由誘
導緩和(FID )信号が減衰し得るようにし、期間t
v工後に180°パルスP2をコイル11により発生さ
せる。期間tV□の一部の間、傾斜磁界GX(曲線G1
で示す)を後述の理由のために発生させる。期間tv2
(tv□に等しい)後に、180°パルスP2の印加の
結果発生するスピンエコー自由誘導信号F2がピーク値
に達する。いわゆるスピンエコー技術(180°パルス
P2)を使用すると核スピンの歳差運動中における自由
誘導信号の位相誤差の発生が低域又は阻止される(斯る
誤差は均一静磁界B。の不均一により生ずる)。スピン
エコー自由誘導信号F2はサンプリングインターバル揃
でサンプリングし、このサンプリング中傾斜磁界Gx
(曲線G2テ示ず)を存在させる。得られるサンプルは
種々のkX値(kx−7′−f: G、(t’) at
’ )と関連する。既に述べたように、正及び負のkX
値を決定する必要がある。従って、先行期間tv□中に
おいて、値J′tV□γ・GXdt′と正確に同一の値
、1′tV1γ・Gxdtを有する傾斜磁界Gxを発生
させる。このようにすると、傾斜磁界敗の核スピンの歳
差運動に及ぼず総合彰響が瞬時t。において零になり(
J”Vl +JI、V2γ−Gxdt−0)、瞬時t。 においで像層波数kx−Oと関連するスピンエコー自由
誘導信号のサンプルを取り出すことができる。換言すれ
G」、以上のことはtv□中の傾斜磁界敗の印加の結果
として測定期間T −N−箱の開始瞬時tSにおいて、
サンプルずべき最高負周波数kxと関連するサンプリン
グを行tcうことができ、それ以下の角数周波数はW4
時t。において板〜oになるまでIft’i次の各サン
プリングと関連することを意味する。 サンプルされる像層波数kXは次いで正になり、測定期
間Tの終了咬時t。において正の最高像層波数に7と関
連するづンプルが取り出されるまで増大する。 前述したように、傾斜磁界Gyを印加しないときは、像
層波数kyは常に零である場合に対する像周波数殿が決
定される。第3b図は得られるサンプルの振幅をkX−
ky図上にプロットしたものである。上述のサンプリン
グの結果はラインky−oに沿ったグラフS1になる。 殿、 ky平面内のサンプルの位置間隔Δkxは次式7
式% で決まる(tmはサンプリングインターバル)。 傾斜角界Gyを第3a図のGy−tグラフに破線で示す
ように期間tv□(90°パルスPLと180゜パルス
P2との間の期間)中に印加すると、積分k −γJ’
Gy(t’)dt’は測定期間Tの開始時にtv1 零にならず、像周波数対(kx、ky)と関連するサン
プルが抽出される。像層波数kyは測定期間T中変化せ
ず、周波数kxは前と同様に最高負周波数から零周波数
を経て最高圧周波数に増大する。 換言すれば、第3b[Jに示すようにサンプルはライン
ky≠0」二にkxの関数で分布され、2本のラインk
y−o及びky≠0間の間隔Δはで決まる。これらサン
プルは第8b図中に○で示しである。関連するサンプリ
ング瞬時も第3a図に・で示しである。2ライン間の間
隔Δは傾斜磁界Gyの強さを調整することにより、或は
傾斜磁界G、の印加期間を1111整することにより調
整することができること明らかである。本発明方法にお
いては、測定期間T中に第3a図に曲線G8で示すよう
な(時間変調された)追加の傾斜磁界G。 を印加する。この追加の傾斜磁界Gyはとなるように変
調されているため、サンプリングインターバルtm中に
おいてkyの異なる値と関連するサンプルを第3a図中
(こ○で示す原サンプルに何の影響を与えることなく抽
出することができる0 上記の積分は第3a図にQで示す瞬R1用Gこおし1で
は零でないため、(Gyが正弦波(G8)又Gま矩形波
(G4)であるものとすると)、ラインLエカ)らのΔ
k は周期tmの半周期後(こ最大となり、になる。サ
ンプリングを第8a図Gこ×で示すIIR時に行なうと
、これらサンプルはラインLIGこ対し間隔Δに、で平
行に延在するラインL2と関連するものとなる。しかし
、ラインL21−に位置するサンプリング点はkx力向
に−Δk l、已(すシフトされx る。これはX方向の傾斜磁界G2が08(又番まG、)
の第1半周期中作用し続けるためである。こσ〕シフト
は、傾斜磁界Gxを、(a)傾斜磁界(J、力(これら
の追加のkyサンフ゛リンク゛力(イテな2つλ几る勺
゛ンプリングインターノくルtmの部分「し零NA2度
を有するように変調することGこより、及び(b)ky
に変調すると共に傾斜磁界敗を反転させないことにより
避けることができる。これらサンプリングインターバル
の残部は第8a図Gこしえで示してあり、変調された傾
斜磁界G/xの振幅σ9−例を示すG/X−tグラフに
プロットしである。 フーリエジュグマトグラフイーの既知の方法では→ノン
ブリングインターバルtI11は約100μsである。 本発明方法ではインターバル箱中に少くとも1回の追加
のサンプリング(第3a図に×で示す)を行なう。スピ
ンエコー自由誘導信号の一つの振幅値しか第8a図(各
瞬時(こつき)及び第3b図(各kx、ky値につき)
示してないが、2つの(g号をサンプルする必要があり
、既に説明したようにこれら2つの信号は自由誘導信号
の直角検波Gこより得られる。第3b図に示すグラフは
kx−ky−0に対し鏡面幻称であり、実際のサンプリ
ング処理は例えばky〉0において全ての煕(負から正
の最大値まC)につき、又は暇〉OGこおいて全てのk
y(負から正の最高値まで)につき行なう必要がある。 サンプリングインターバルtm中のGyの周期的変化は
各サンプリングインターバルの終了時にGyにより発生
される追加の位相変調が零になるようようにしないと、
次のサンプリングインクーノくルtmの開始時のサンプ
ルが基準ライン石工上に位画しなくなり、kyX方向シ
フトされる。従って、この場合測定される各点は異なる
ky値と関連するものとなる。サンプリング信号を処理
するためにはこれらの点を矩形のkX、ky格子と関連
させるσ〕が有利であIつ、このような測定方法は効率
的でなく、追加のgI算を必要とする0」二連の積分で
限界されるGy>O及びGy〈0の面積をサンプリング
インターバルtmにおいて回−Gこする必要があること
意味する。 印加傾斜磁界Gxが時間に関し一定であるとぎは、既に
述べたようにサンプリングインターバルtmは2π/(
γ・Gx−Lx)より僅かに小さくする必要がある。(
例えばデジタ/l/フィルタリングによりイノズを低減
又は除去するために)サンプリングに懸巣サンプリング
を使用する場合には)Gyの周期をこれに適応させる必
要があること明らかである。Gyの振幅は、インターバ
ルΔkyがGy(t)の半周期の積分値により決まると
いう要件から直接導かれる。説明のため、ky−oに平
行なう・rン」二の一リーンブリングインターバルπ/
γ・Gx−Lx−−− (12 )Gこ等しいものと仮
定する。この場合に生じ得る周波数戻り効果は物体をX
方向に城より僅かに小さくすることにより低減又は阻止
することができる。これがためLXを物体のX方向の寸
法の上限値とみなす必要がある。X方向についても同様
に定義し、即ちLy′5:X方向の寸法の上限値とみな
す。この場合にはΔky−2π/ Ly−−−−−
(18)である。 この場合、傾斜磁界Gy(t)の振幅Gyの値は次のよ
うに決めることができる。 (a)矩ノ1杉変化傾斜磁界の場合: 全積分が半周期内で行なわれるため、 更に、式(12)及び(13)に従ってこれから、 となる。 Q))正弦波傾斜磁界の場合: ここでt/−一 m (0)同様に、のこぎり波又は三角波関数の場合はしか
し、傾斜磁界は通常コイルで発生されるため、正弦波状
の交番傾斜磁界を用いるのが好適である。池の周期的変
化傾斜磁界は急激な変化を示すので=Iイルを使用する
ときは実際上問題がある。 しかし、本発明方法は基準ラインL1に加えて1つの追
加のライン?測定するものに限定されるものでない。本
発明方法は3本以上のラインを同時に測定することもで
きるものである。第4図は3本のライン(L□+ L2
、L3 )を同時に測定する場合を示す。課される要
件は2ラインの同時測定に関する」二連の場合にd!1
1された要件と同様であり、即ち加えられる追加の位相
変調の相殺並びに号の振i1Mに関する要件である。こ
れがため、一定の傾i、・1磁界敗ど時間とともに変化
する傾斜磁界Gyを用いてMライン(M>1)の同時測
定を行なう場合、振幅間、は (a)矩形波傾斜磁界の場合は (b)正弦波傾斜磁界の場合は で与えられるものとする必要がある。種々のライン間の
間隔は同様にΔkyになる。追加のサンプリング点と基
準ラインとの間の間隔Δに、はGyを表わす曲線の、サ
ンプリングインターバルtmの開始点から当該サンプリ
ング処理が行なわれる1闘時までの面積に比例する。こ
れを正弦波交番傾斜磁界を用いる3ラインの同時測定の
場合について第5図に示す。これがため、第5図Gこお
いてΔにΔ、は0□に比例しなければならず、2Δky
は0□+02に比例しなければならず、3Δ今は0□+
02+08に比例しなければならない。この要件は種々
のラインL工、 L2. L8. L、上の点が測定さ
れる瞬時を決定する。 M(M<N及びM>1)ラインを同時に測定するものと
すると、NxXMマトリックスが決定される。M番目の
ラインと基準ラインとの間の間隔は(M −1)Δky
Gこなり、i番目のライン(1−1,2,−−−M)と
基準ラインとの間の間隔は(i−1)Δky&こなる。 敗×Nyマトリックスに対しては隣接ライン間の間隔を
一定にするのが好適である。本例ではこの間隔は常(こ
ΔkyGこするにれらの考察に基づいて、基準ラインL
0とi番目のラインL工との間の間隔cl (Lよ、L
工)の比Gまで与えられる。また、傾斜磁界Gyを表わ
す曲線の、非基準ライン」二の測定瞬時tiまでの面@
番ま正弦波交番傾斜磁界の場合 で与えられる。間隔d(L□、L工)Gまこの面積に比
例しなければならないという要件力1ら、ターパルの開
始時と当該測定瞬時とのt’MJの経過時間とサンプリ
ングインターノくルとの比、tl−t/1m及び鴨は基
準ラインに関連するサンプ1」ンク°インターバルであ
る。上式から、 となる。式(19)及び(20)から、又は となる。式(22)のM及びN(こ種々の値を代入して
みると、M/>3の場合には→lン7゛署ノンク°Gま
等しい時間間隔で行なうことができること力(わ力)る
。 M>3の場合には式(21)の要件の結果、等しい時間
間隔のサンプリングGこならなl/1゜こ11&t、M
−4、i−1、2、3、4+7)例ニラu)でrm、Q
tE示すことができる。 これらの点は第5図に示しである。 矩形波傾斜磁界の場合には、弓は半周期全体に亘って一
定であるため、測定点はMの各値に対し等間1崎になる
。即ち、 t、 −”Ill 、11 (23)12 ト
I Gy曲線の而4’ltが1つのサンプリング点がら次の
サンプリング点へと直線的に増大しなければならないと
いう同じ要件はのこぎり波交番傾斜磁界Gyにも適用さ
れ、この場合にはサンプリングはM>2に対して等しい
時間間隔にならない。 」二部の場合と同様にして、のこぎり波交番傾斜磁界に
対しては が導出できる。 参考のため、のこぎり波交番td43i磁界G、の場合
のシ、/1IIIをM−3及びM−4の場合につき示す
。 (a) M −8(b) M −4 のこぎり波交番傾斜磁界G−場合には、サンプリング瞬
時はM 〉8に対しては等時間間隔Gこならないこと明
らかである。これら周期関数の各々はG、を変調するの
に満足であること明らかであり、且つ各周期関数に対し
てサンプリング点は第1半周期中においてGy曲線と時
間軸とで囲まれる、2個の順次のサンプリング点間の面
積が時間の直線関数になるように選択しなければならな
いこと明らかである。 これがため、基準う・rン上で行なわれない→ノンブリ
ング処理は上述の関係式で与えられる正しい瞬時tiに
行なうことが重要である。この目的を達成するために、
本発明方法を実施する装置はザンブリング処理を正しい
瞬時t工に制御する制御装置(第2図の87)を具えて
いる。 Gyの振幅に関しては、一般にMラインの同時測定に対
しては次の関係を適用することができる。 (ここで、τは−リ“ンプリング処理が基準ライン上で
行なわれる瞬時である)。 換言ずれば、基準ライン上のサンプル(tm)間の正価
に中間に位置する瞬時までに(M−1)Δky 個のf
l IJIJのサンプリングインターバルをMラインの
同時測定のために分布させる必要がある。 しかし、このことは、零点を中心に対称でない関数Gy
(t )を用いるときには適用し得ないが、このような
例は実際上重要でないため無視することができる。 (kX、 ky)空間において、敗×Nyマトリックス
を得るため(こはNy本のラインを測定する必要がある
。MがNyの分数値であるときは、像はNy/M回の測
定で完成する。これがため、第1回測定中はデータはラ
イン1−Mに沿って集収され、第2回測定中はラインM
+1〜2Mに沿って集収され、以下同様である。データ
がラインm〜m+M−1に沿って集収されるとき、サン
プリングのために、 が第mラインのky値になるような値のGyが供給され
る(ここでtはサンプリング直前の瞬時)。 本発明提案による方法においては、像は次のように再構
成される。以上の説明から明らかなように、Mラインの
同時測定のためにはサンプルを(kx、ky)空間内の
Mラインに分布させる必要がある。MがNyの分数値で
あるときは、これをNy/M回の全測定について行なう
。Ny−Ny/M“′非基準”ライン上のサンプルはN
y / M基準ライン上のΔへサンプルに対してシフト
された位置にある点に注意しなければならない。kyに
沿うフーリエ変換(別のフーリエ変換)中に11乏しい
サンプルを2−1)フーリエ変換処理の各行G−与える
ようにするため(こは、°゛非基3■°゛ンインに対し
基へ1エライン」二の点と同一のべ座標を有する中間点
を見つけ出ず必要がある。これはフーリエ変換にJ、る
捕間により達成できる。この補間は次のように行なわれ
る。即ち、1つの°゛非非基準プライン取り、所定のk
yラインと関連する全ての殿につき′7−リエ変換をイ
ジーない、左右に零を例加し、フーリエ逆変換を行なう
。付加する零の数は当該ラインーにのサンプル点の基準
ライン上のサンプル点に対するシフト嵐に依存する。斯
る後に実際の像を得るために2−1)フーリエ変換が必
要とされる。 他の可能な方法は、kxに沿うフーリエ変換(このフー
リエ変換はいずれにせよ2−Dフーリエ変換処理におい
て必要とされる)後に、ライン(X。 ky)と関連する値について位相回転を行なってその回
転がXGこ比例するようにする方法である。 その比例定数はフーリエ変換前のサンプル点の基準ライ
ン上のサンプル点に対するシフト量しこ比例するものと
する。Itl「る後に、変換されたデータにつきkyに
沿うフーリエ変換を行なうことにより、所望の像を得る
ことができる。 8−D物体の像形成につき簡単に説明する。データは座
標kX、 ky、 k2を有する3−Dフーリエ変換さ
れた空間において集収される。フーリエジュグマトグラ
フイーの8−Dモードにおいては、前と同様に信号は1
つの傾斜磁界、例えば販の存在の下で測定される。測定
中、データはkx軸(こ平行に延在するフーリエ変換さ
れた( kx、 ky。 k7)空間内の各ライン上に沿って集収される。 これらラインと関連するに、値及びに2値の各々は基準
時間から始まり、時間軸と傾斜磁界Gy及びG2の値を
表わす曲線とで囲まれた面積、即ち次のサンプリング前
に供給される傾斜磁界の時間積分値により決まる。この
場合にもkXXGこ平行な数ラインの同時測定を行なう
ことができる。これは同一のに2座標又はり座標を有す
るライン(こ関連する。前者の場合には時間とともに交
番する傾斜磁界G を信号測定中一定傾斜磁界GxGこ
加え−C存在させるが、後者の場合(こは傾斜磁界G2
を時間とともに変化するものとする。像の再構成は2−
Dモードの場合と全く同様である。 第3a及び3b図から明らかなように、○及び×で示ず
勺ンプリング瞬時は曲線G又はG、の零交差点(傾斜磁
界の傾き方向の逆転点)と一致さセ/”)のが有効であ
る。また、サンプリング処理をスピンエコーが発生する
瞬時t。に行なうことも治効である(これはこの場合に
はkx−0であるためである)。この目的のために、第
6図に前記)”:r々の信号を同期させる装置を示す。 時間変調傾斜磁界号は次のように発生される。中央制御
装置ζt4,5は少くとも1個の発振器51と、入力端
子がこの発振器51に接続され出力端子がランダムアク
セスメモリ(RAm)55のアドレス入力端子Gこ接続
されたカウンタ53を具える。カウンタ58のp+1i
次のカウント状態はメモリ55の出力端子に、正弦波信
号の振幅を形成する2進制御信号を発生ずる。このメモ
リ55からの2進数はD/A変換器21 a及び増幅器
21bを具える発生器21Gこ供給され、正弦波状(こ
変調された傾斜磁界Gyを発生する。メモリ55からの
制御信号は制御装@37にも供給される。この制御装置
37は論理ゲート回路57を具え、この論理ゲート回路
は所定の2進数(例えばoooo−零交差点又は111
1−最大振幅点)に応答してパルスを発生し、このパル
スはORゲート59を経て可調整フリップフロップ61
に供給され、このフリップフロップの出力がバス50を
経てサンプリング装f6(29及び31)に供給される
。可調整フリップフロップ61の目的は後で述べる。 G、磁界の傾き方向の逆転瞬時を検出する検出装置も具
える。この装置は号磁界(その一部)に誘導結合された
コイル51を具える。このコイルはコイル5の一部とす
ることができる。時間とともに変化する傾斜磁界Gy&
こよりコイル5′に発生した信号は増幅器68に供給さ
れ、増幅されてパルス発生器65(例えばシュミットト
リガ回路)に供給される。パルス発生器65で発生され
たパルスはGy磁界の傾き方向が逆転する1114時を
表わし、フリップフロップ61からのパルスも受信する
比較回路67に供給される。この比較回路67はザンブ
リングパルス(61−29、,31)の発IN時と傾き
方向の逆転瞬時(5’ 、 68 )との時間差を決定
し、この時間差は表示器69により表示される。この比
較回路67と表示器69は例えば2チヤンネルオツシロ
スコープの一部とすることができ、また、パルス発生器
65及びフリップフロップ61の出力端子(こ接続され
た入力端子を有するセット−リセットフリップフロップ
と、その出力端子(こ゛接続されたパルス持続時間測定
装置にすることもできる。単安定フリップフロップ61
Gこより発生するパルスの持続時間はこのように測定さ
れた時間差に基づいて調整して、サンプリング瞬時を進
めたり遅らせたりすることができるようにする。比較す
べき信号及び制御信号が通過する任意の回路においては
遅延又は位相シフトが発生することは不可避であり、こ
の遅延又は位相シフトも考慮する必要があること明らか
である。前記時間差を有効に決定するには発生された正
弦波信号の零交差点を表わす2進数(例えばoooo)
に応答してパルスを発生する論理回路57からのパルス
のみがORゲート59に入ることを許すようにするのが
有効である。 スピンエコーの対称瞬時tl−1つのサンプリング瞬時
と一致させるために、制御装置45は更(こ、発振器5
1に接続された別のカウンタ71と、スイッチ78′に
より制御し得る比較器73を具える。 カウンタ71が比較器73にセットされた値に対応する
カウントに達すると、このカウンタは)くパルスを発生
し、このパルスでこのカウンタ71を出発位置にリセッ
トすると共にノくス50を経て高周波発生器25を駆動
して90°パルス又は180゜パルスを発生させる(発
生させるべき)灼レスの種類は制御信号により慣例の如
く決定することができ、このためこの制御信号は図示し
てなく、またこれ以上の説明も省略する)。180°ノ
々ルスの発生後、カウンタ71が比較器73にセ゛ノド
された値に再び到達するとき(tVl −tV2・第3
図)゛スピンエコーの対称瞬時(こなり、このとき比較
器73が再びパルスを発生し、このパルスはスイッチ7
5を経て比較回路67にも供給される。これかため、(
サンプリング瞬時を一致させる必要のある)傾き方向逆
転瞬時とスピンエコ一対称瞬時との間4こ最小の時間差
を決定することができる0スピンエコーの対称瞬時は、
比較器(こセ゛)卜する値全上記時間差の発振周波数倍
の半分に等しl、)鰍だけ変えることにより(tv□及
びtV2を変えることにより)調整してサンプリング瞬
時とスピンエコーの発生瞬時を同期させることができる
。 中央制御装置45、制御装置87、及び種々の信号の発
生瞬時の同期手段を個別回路により実現する例(こつい
て説明したが、コイル51及び増幅器68(こより発生
される信号を用いて必要に応じ動作条件を変え得るよう
にしたプログラムドマイクロプロセッサを用いて同一の
結果を良好に得ることもできる。 1−Ijンブリンゲインターバルtm当りのサンプル数
を口■調整にするために(第4及び第5図参照)、回路
57の種々の論理ゲートの出力をスイ゛ノチ56.58
を経てORゲート59の入力端子に接続する。サンプリ
ング処理はスイッチ56.58を開閉することにより正
弦波信号の所定の振幅瞬時に行なうことができる。サン
プリング処理を行なう瞬時を決定するのは振幅自体では
なく関連する振幅カサンフリングインターパ/l/11
11中に発生する相対一時であることに注意されたい。 サンプリングインターバルをもつと長く又は短かくする
必要がある場合には発振器51の周波数を調整するだけ
でよく、サンプリングインターバルtm中の相対サンプ
リング瞬時がこれにより乱されることはない。
第1a図は本発明方法を実施する装置の一部を構成する
コイル装置の一例を示す線図、第1b図はx/y傾斜磁
場発生用フィルの一例の全体を示す線図、 第1C図は高周波磁界を発生するコイルの全体を示す線
図、 第2図は本発明方法を実施する装置を示すフ゛ロック図
、 第3a及び3b図は本発明方法の簡単な−例σ9原理説
明図、 第4図は本発明方法の他の例の原理説明図、第5図は正
弦波状傾斜磁場に対し行なうべきサンプリング瞬時と測
定されるラインとの関係を示す図、 第6図は本発明装置の一部の他の例を示すブロック図で
ある。 10・・・コイル装[N ]・・・一様静磁場発生用主コイル 8・・・傾斜磁場(G2)発生用コイル5・・・傾斜磁
場(〜)発生用コイル 7・・・傾斜磁場(Gy)発生用コイル11・・・高周
波電磁界発生用コイル 15・・・本発明方法を実施する装置 17、19.2]、、 23・・・コイルi、8.5及
び7の励磁用電流発生器 25・・・コイル11の励磁用高周波信号発生器27・
・・高周波信号検出器 28・・・復調器 29・・・サンプリング
回路3】・・・処理装置(アナログ−デジタル変換器)
38・・・メモリ 35・・・フーリエ変換用演算回路 37・・・サンプリング瞬時制御用制御装置43・・・
表示装置 45・・・中央i1j制御装置Gx
(G□、G2)・・・傾斜磁界 P1.P2・・・90°及び180°パルスF2・・・
スピンエコー自山読導イ目号G8. G、・・・追加の
傾斜磁場 T・・・測定期間(t ・・・開始点、1o・・・終了
点)tIll・・・サンプリングインターバル○・・・
原サンプリング瞬時 ×・・・追加のサンプリング訳詩 50・・・バス 51・・・発振器53・
・・カウンタ 55・・・RAM21a・・・
D/A変換器 57・・・論理制御回路59・・・O
Rゲート 61・・・可NR整フリップフロップ 51・・・検出コイル 65・・・シュミットト
リガ67・・・比較回路 69・・・表示器7
1・・・カウンタ 73・・・比較器。
コイル装置の一例を示す線図、第1b図はx/y傾斜磁
場発生用フィルの一例の全体を示す線図、 第1C図は高周波磁界を発生するコイルの全体を示す線
図、 第2図は本発明方法を実施する装置を示すフ゛ロック図
、 第3a及び3b図は本発明方法の簡単な−例σ9原理説
明図、 第4図は本発明方法の他の例の原理説明図、第5図は正
弦波状傾斜磁場に対し行なうべきサンプリング瞬時と測
定されるラインとの関係を示す図、 第6図は本発明装置の一部の他の例を示すブロック図で
ある。 10・・・コイル装[N ]・・・一様静磁場発生用主コイル 8・・・傾斜磁場(G2)発生用コイル5・・・傾斜磁
場(〜)発生用コイル 7・・・傾斜磁場(Gy)発生用コイル11・・・高周
波電磁界発生用コイル 15・・・本発明方法を実施する装置 17、19.2]、、 23・・・コイルi、8.5及
び7の励磁用電流発生器 25・・・コイル11の励磁用高周波信号発生器27・
・・高周波信号検出器 28・・・復調器 29・・・サンプリング
回路3】・・・処理装置(アナログ−デジタル変換器)
38・・・メモリ 35・・・フーリエ変換用演算回路 37・・・サンプリング瞬時制御用制御装置43・・・
表示装置 45・・・中央i1j制御装置Gx
(G□、G2)・・・傾斜磁界 P1.P2・・・90°及び180°パルスF2・・・
スピンエコー自山読導イ目号G8. G、・・・追加の
傾斜磁場 T・・・測定期間(t ・・・開始点、1o・・・終了
点)tIll・・・サンプリングインターバル○・・・
原サンプリング瞬時 ×・・・追加のサンプリング訳詩 50・・・バス 51・・・発振器53・
・・カウンタ 55・・・RAM21a・・・
D/A変換器 57・・・論理制御回路59・・・O
Rゲート 61・・・可NR整フリップフロップ 51・・・検出コイル 65・・・シュミットト
リガ67・・・比較回路 69・・・表示器7
1・・・カウンタ 73・・・比較器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 L 第1方向に発生された一様な静磁場内に置かれた検
体の一部分内の核スピンのNMR分布を決定する方法で
あって、 (a)磁界方向が前記一様静磁場の磁界方向に直交する
高周波電磁波パルスを発生して検体内の核磁気に前記第
1方向を中心とする歳差運動を生じさせて共鳴(自由誘
導)信号を発生させるステップと、 (b)次に、磁界方向が前記第1方向と一致する第1傾
斜磁場又は磁界方向が前記第1方向と一致すると共に傾
き方向が互に直交する第1及び第2傾斜磁場を準備期間
中供給するステップと、 (C)次に、傾き方向が上記ステップ(b)の傾斜磁場
の少くとも一方の傾き方向と直交すると共Gこ磁界方向
が前記第1方向(こ一致する第3傾斜磁場を測定期間中
供給し、測定期間呻企、多数の等しいサンプリングイン
ターバルに分けて共鳴信号(自由誘導信号)から多数(
n)の信号→ノンプルを周期的に抽出するステップと、 (d)次に、前記ステップ(a)、(b)及び(C)を
ある待期間を置いて多数回(n′)くり返し、各回毎に
少くとも1つの傾斜磁場の大きさの準備期間に亘る積分
値を異なる値にして一組のサンプル信号を得、これらサ
ンプル信号から、フーリエ変換後、誘起された核磁気(
スピン核の局部的密度)の分布像を決定するステップと
を具える核スピンのNMR分布決定方法において、測定
期間中、準備期間中に発生される傾斜磁場の傾き方向と
一致する傾き方向を有すると共に前記第1方向と一致す
る磁界方向を有する追加の傾斜磁場を発生させ、該追加
の傾斜磁場は時間とともに変化すると共にサンプリング
インターバルに等しい周期を有し、この追加の傾斜磁場
が核磁気に及ぼず影響がnfJ記サンプリングインター
バルに酊り積分すると零Gこなるものとし、前記各−リ
ンブリングインターバルの開始後であって終了前に少く
とも1回の追加の勺ンブリング処理を行なうことを特徴
とする核スピンのN M R分布決定方法。 2 特Δ′1゛梢求の範囲第1項記載の方法において、
前記各−リーンプリングインターバルの開始R及びその
インターバル中において前記追加の傾斜磁場の傾き方向
が逆転するようにし、サンプリング処理は少くともこの
傾斜磁場の傾き方向の逆転賂を時に行なうことを特徴と
する核スピンのNMR分布決定方法。 8 特許請求の範囲第2項記載の方法において、各サン
プリングインターバル中(こ少くとも1回の第2の追加
のサンプリング処理を前記追加の傾斜磁場の傾き方向の
逆転瞬時間において行なうと共に前記追加の傾斜磁場は
第1のJ印加のサンプリング処理の場合と同一の傾き方
向を有することを特徴とする核スピンのNMR分布決定
方法。 生 特許請求の範囲第3項記載の方法において、各サン
プリングインターバル中にM回の→ノンブリング処理を
行ない、nXm個の像点の局部核磁気を決定するために
前記ステップ(a)。 (b)及び(C)をm / M回くり返すこと(ここで
n及びm / Mは正の整数で、m’>M>2)を特徴
とする核スピンのNMR分布決定方法。 五 特許請求の範囲第1. 、2 、3又は4項記載の
方法Gこおいて、塾備期間中に傾き方向が互0こ直交す
る2つの傾斜磁場を印加し、前記ステップ(a)、(b
)及び(C)をtxm/M回くり返し、各サンプリング
インターバルにおいてはM回のサンプリング処理を行な
い、8次元フーリエ変換を介して検体の3次元領域内の
zxmxn個の点の局部核磁気を決定すること(ここで
t / M又はm / M及びMは1より大きい正の整
数)を特徴とする核スピンのNMR分布決定方法。 a 特i’l’F 請求の範囲1〜5の何れかに記載の
方法において、前記追加の傾斜磁界は時間的に変調され
た短形波であり、前記サンプリングインターバル中にお
けるサンプリング瞬時は等間隔であることを特徴とする
核スピンのNMR分布決定方法。 フ、 特許請求の範囲1〜4の何れかに記載の方法にお
いて、前記追加の傾斜磁場は正弦波状に変調され、その
周期が前記サンプリングインターバルと一致し、サンプ
リング瞬時t工はここで、t・は1番目のサンプリング
14時、鴨はサンプリングインターバル、 土は1より太きく (〉2 )、(M+1 )より小さ
い自然数、 Mは自然数 で決まる瞬時であることを特徴とする核スピンσ、)N
MR分布決定方法。 8、 特許請求の範囲2〜7の何れかに記載の方法Oこ
おいて、測定期間中印加される他の傾斜磁場は時間に関
し周期的であって前記サンプリングインターバルに等し
い周期を有し、その傾き方向は常に同一であり、前記サ
ンプリングインターバル内(こおける→ナンブリンク゛
処理が行なわれる部分中容強度であるものとすることを
特徴とする核スピンのNMR分布決定方法。 9、 検体の一部分内の核スピンの分布を決定する装置
であって、 (a)一様な静磁場を発生する装置と、Φ)前記一様静
磁場の磁界方向と直交する方向の磁界成分を有する高周
波電磁波を発生する装置と、 (0)磁界方向が前記一様磁場の磁界方向と一致すると
共に傾き方向が互に直交する少くとも第1及び第2の傾
斜磁場を発生する装置と、 (d)上記(a)及び(b)項の装置を用1.zて上記
(C)項の装置により発生された少くとも一つの傾斜磁
場の存在の下でコンディショニング期間後Gこ発生され
た共鳴(自由誘導)信号を上記(C)項の装置Gこより
発生される一つの傾斜磁場の存在の下でサンプリングす
るサンプリング装置と、 (e)上記サンプリング装置により供給される信号を処
理する処理装置と、 (f)少くとも上記(b)〜(e)項の装置を制御して
複数の共鳴(自由誘導)信号を発生さけ一1調整し、サ
ンプリングし、処理させる制御装置とを具え、各共鳴信
号は対応する準備期間中に調整し、該制御装置は上記(
C)項の装置に少くとも一つの傾斜磁場の強度及び/又
は持続時間を調整するだめの制御信号を供給し、少くと
も一つの傾斜磁場のその持続時間に亘る強度の積分値を
各待期間後部に異なる値にするよう構成されている核ス
ピンの分布決定装置において、−リ゛ンプリング中前記
制御装置は上記(C)項の装置に他の制御信号を供給し
て、時間ととも周期的に変化すると共に所定の基本サン
プリングインターバルと同一の周期を有し・核磁気に及
ぼす影響が前記基本サンプリングインターバルに亘り積
分すると前記基本サンプリングインターバルの終了時に
零になる追加の傾斜磁場であってその傾き方向が前記基
本サンプリングインターバル中に存在する他方の傾斜磁
場の傾き方向(こ直交する傾斜磁場を発生させ、前記制
御装置は更に他の制御信号を前記サンプリング装置に供
給して共鳴(自由誘導)信号を前記基本サンプリングイ
ンターバルの開始後であって終了前に少くとも1回ザン
ブリングさせるようにしたことを特徴とする核スピンの
分布決定装置。 10 特許請求の範囲9記載の装置において、被変調
傾斜磁場の傾き方向の逆転瞬時を決定する検出装置と、
サンプリング瞬時にパルスを出力する制御装置を具え、
該制御装置により出力されるパルスの瞬時を前記検出装
置(こより発生される信号で調整可能にしてサンプリン
グ瞬時を前記傾斜磁場の傾き方向の逆転瞬時と同期させ
るようにしたことを特徴とする核スピンの分布決定装置
。 11 核スピン共鳴エコー技術を行なうのに好適な特
許請求の範囲10記載の装置において、前記検出装置は
前記処理装置に、前記傾斜磁場の傾き方向の逆転瞬時の
検出により決定されたパルスを供給して、スピンエコー
の瞬時ど傾斜磁場の逆転瞬時との時間差を決定し、この
時間差の半分で90°パルスと180゜パルス間の時間
幅を補正するようにしたことを特徴とする核スピンの分
布決定装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8203519A NL8203519A (nl) | 1982-09-10 | 1982-09-10 | Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een kernmagnetisatieverdeling in een deel van een lichaam. |
NL8203519 | 1982-09-10 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5968656A true JPS5968656A (ja) | 1984-04-18 |
JPH027655B2 JPH027655B2 (ja) | 1990-02-20 |
Family
ID=19840253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58165333A Granted JPS5968656A (ja) | 1982-09-10 | 1983-09-09 | 核スピン分布決定装置 |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4527124A (ja) |
JP (1) | JPS5968656A (ja) |
BE (1) | BE897713A (ja) |
CA (1) | CA1194107A (ja) |
DE (1) | DE3331396A1 (ja) |
FR (1) | FR2533031B1 (ja) |
GB (1) | GB2129943B (ja) |
IL (1) | IL69669A (ja) |
IT (1) | IT1170210B (ja) |
NL (1) | NL8203519A (ja) |
SE (1) | SE8304794L (ja) |
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