JPS59664A - フオトセンサ回路の検査装置 - Google Patents
フオトセンサ回路の検査装置Info
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- JPS59664A JPS59664A JP57109958A JP10995882A JPS59664A JP S59664 A JPS59664 A JP S59664A JP 57109958 A JP57109958 A JP 57109958A JP 10995882 A JP10995882 A JP 10995882A JP S59664 A JPS59664 A JP S59664A
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- photosensor circuit
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- photosensor
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 13
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2829—Testing of circuits in sensor or actuator systems
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、フォトセンサ回路の検査装置に関するもので
あり、特に、反射型および透過型のフォトセンサ回路の
検査装置に関するものである。
あり、特に、反射型および透過型のフォトセンサ回路の
検査装置に関するものである。
第１図はフォトセンサ回路と、従来一般に用いられてい
るフォトセンサ回路の検査装置の構成例を示す回路図で
ある。
るフォトセンサ回路の検査装置の構成例を示す回路図で
ある。
図において、ＦｌＩＦｉ＄１抵抗、１は前記第１抵抗Ｒ
１に直列に接続された発光ダイオ−ｒ１２は前記発光ダ
イオード１の光を入射されて導通するフォトトランジス
タ、Ｒ２は前記フォトトランジスタ２に直列に接続され
た第２抵抗、３は前記発光ダイオ−Ｐｌからフォトトラ
ンジスタ２への光の入射を制御するしきシ板である。
１に直列に接続された発光ダイオ−ｒ１２は前記発光ダ
イオード１の光を入射されて導通するフォトトランジス
タ、Ｒ２は前記フォトトランジスタ２に直列に接続され
た第２抵抗、３は前記発光ダイオ−Ｐｌからフォトトラ
ンジスタ２への光の入射を制御するしきシ板である。
前記発光ダイオ−げ１、フォトトランジスタ２、第１抵
抗Ｆ１１、第２抵抗Ｒ２およびしきり板５はフォトセン
サ回路１０を構成している。
抗Ｆ１１、第２抵抗Ｒ２およびしきり板５はフォトセン
サ回路１０を構成している。
一方、前記フォトセンサ回路の検査装置は、第１端子１
５、第２端子１６および検出端子１７を有している。前
記第１端子１５は電源ＶＤＩＣｗ：続され、第２端子１
６は接地されている。また、検出端子１７はインバータ
４を介してマイクロコンピユータなどの２値信号判別論
理回路５に接続されて込る。
５、第２端子１６および検出端子１７を有している。前
記第１端子１５は電源ＶＤＩＣｗ：続され、第２端子１
６は接地されている。また、検出端子１７はインバータ
４を介してマイクロコンピユータなどの２値信号判別論
理回路５に接続されて込る。
したがって、検査のために、フォトセンサ回路１０が検
出装置に接続された時、フォトセンサ回路１０、すなわ
ち、前記第１抵抗Ｒ１および発光ダイオード１ならびに
第２抵抗Ｒ２およびフォトトランジスタ２の並列回路は
電源ＶＤと接地との間に接続される。
出装置に接続された時、フォトセンサ回路１０、すなわ
ち、前記第１抵抗Ｒ１および発光ダイオード１ならびに
第２抵抗Ｒ２およびフォトトランジスタ２の並列回路は
電源ＶＤと接地との間に接続される。
また、第２抵抗Ｒ２とフォトトランジスタ２との接続点
は検出端子１７に接続される。
は検出端子１７に接続される。
前記のような構成のフォトセンサ回路の検査装置におい
ては、フォトセンサが故障したのか、配線が断線したの
かが判別できない場合が生じるという欠点があった。
ては、フォトセンサが故障したのか、配線が断線したの
かが判別できない場合が生じるという欠点があった。
すなわち、例えば、フォトセンサ回路１０のしきシ板３
が故障して、フォトトランジスタ２に指向する発光ダイ
オ−Ｐｌの光が常時遮断されるようになった場合は、ト
ランジスタ２がオフの状態のままになり、検出端子１７
に加わる電位がハイレベルになる。
が故障して、フォトトランジスタ２に指向する発光ダイ
オ−Ｐｌの光が常時遮断されるようになった場合は、ト
ランジスタ２がオフの状態のままになり、検出端子１７
に加わる電位がハイレベルになる。
また、前記しきり板３の動作が正常であっても、発光ダ
イオード１０回路、または前記第２抵抗Ｒ２とフォトト
ランジスタ２よりも接地側の配線で断線が生じた場合に
も、前記検出端子１７に加わる電位がハイレベルになる
。
イオード１０回路、または前記第２抵抗Ｒ２とフォトト
ランジスタ２よりも接地側の配線で断線が生じた場合に
も、前記検出端子１７に加わる電位がハイレベルになる
。
したがって、以上のような場合においては、判別論理回
路５ではフォトセンサ回路の故障か、配線の断線かの判
別ができない。
路５ではフォトセンサ回路の故障か、配線の断線かの判
別ができない。
本発明の目的は、前記の欠点をなくして、フォトセンサ
回路の故障および配線の断線の判別ができるようにし、
かつ、配線の本数を減らしたフォトセンサ回路の検査装
置を提供することにある。
回路の故障および配線の断線の判別ができるようにし、
かつ、配線の本数を減らしたフォトセンサ回路の検査装
置を提供することにある。
前記の目的を達成するために、本発明は、フォトセンサ
回路を接続するための２つの端子を備え、そのいずれか
一方に電源を接続し、他方に分圧用抵抗を接続し、さら
に、前記分圧用抵抗を接続された他方の端子に電圧検出
器を接続した点に特徴がある。
回路を接続するための２つの端子を備え、そのいずれか
一方に電源を接続し、他方に分圧用抵抗を接続し、さら
に、前記分圧用抵抗を接続された他方の端子に電圧検出
器を接続した点に特徴がある。
以下、添付図面を参照して本発明の実施例について説明
する。
する。
第２図は本発明の第１実施例の回路図である。
図において、第１図と同一の符号は同一または同等部分
をあられしている。
をあられしている。
第１図との対比から分るように、との実施例では、第１
図の検出端子１７をなくシ、第２端子１６と接地との間
に分圧抵抗Ｒ３を接続すると共に、前記第２端子１６に
Ａ／Ｄコンバータ６を接続している。
図の検出端子１７をなくシ、第２端子１６と接地との間
に分圧抵抗Ｒ３を接続すると共に、前記第２端子１６に
Ａ／Ｄコンバータ６を接続している。
前記のような構成のフォトセンサ回路の検査装置を用い
て、フォトセンサ回路の故障および配線の断線の判別を
する場合は、次のようにして行なう。
て、フォトセンサ回路の故障および配線の断線の判別を
する場合は、次のようにして行なう。
例えば、電源ＶＤの電圧を５ （Ｖ ］ 、第１抵抗Ｒ
１を２００〔Ω〕、第２抵抗Ｒ２を１２０〔Ω〕、分圧
抵抗Ｒ３を１００〔Ω〕 と設定した場合、本発明者の
実験では、発光ダイオード１およびフォトトランジスタ
２自体、およびしきり板３の動作や第１抵抗Ｒ１，第２
抵抗Ｒ２が正常で、その内部配線がどこかの部分で断線
している時、Ａ ／ Ｄコンバータ６は０〔ｖ〕を示し
た。
１を２００〔Ω〕、第２抵抗Ｒ２を１２０〔Ω〕、分圧
抵抗Ｒ３を１００〔Ω〕 と設定した場合、本発明者の
実験では、発光ダイオード１およびフォトトランジスタ
２自体、およびしきり板３の動作や第１抵抗Ｒ１，第２
抵抗Ｒ２が正常で、その内部配線がどこかの部分で断線
している時、Ａ ／ Ｄコンバータ６は０〔ｖ〕を示し
た。
また、内部配線が断線していない状態で、例えば、しき
り板３がはいったままになり、発光ダイオード１からフ
ォトトランジスタ２に向かう光が遮断されている時は、
前記Ａ／Ｄコンバータ６は固定的に１〔ｖ〕を示した。
り板３がはいったままになり、発光ダイオード１からフ
ォトトランジスタ２に向かう光が遮断されている時は、
前記Ａ／Ｄコンバータ６は固定的に１〔ｖ〕を示した。
さらに、配線が断線していない状態で、例えば、しきり
板３がはずれたままになり、発光ダイオード１からフォ
トトランジスタ２に向かう光が入射されている時は、前
記Ａ／Ｄコンバータ６が固定的に１．８１４）を示した
。
板３がはずれたままになり、発光ダイオード１からフォ
トトランジスタ２に向かう光が入射されている時は、前
記Ａ／Ｄコンバータ６が固定的に１．８１４）を示した
。
したがって、前記の実験例におりては、Ａ／Ｄコンバー
タ６が０〔Ｖ〕を示せば配線１線、１〜１．８〔ｖ〕の
間を示せばフォトセンサ回路１０の故障であることを判
別することが可能になる。
タ６が０〔Ｖ〕を示せば配線１線、１〜１．８〔ｖ〕の
間を示せばフォトセンサ回路１０の故障であることを判
別することが可能になる。
第６図は本発明の′ｓ２実施例の回路図である。
図におりて、第２図と同一の符号は、同一または同等部
分をあられしている。
分をあられしている。
第２図との比較から明らかなように、本実施例は、分圧
抵抗Ｒ３を、第２図のように接地側に設ける代わりに、
第１端子１５と電源ＶＤとの間に接続すると共に、前記
Ａ／Ｄコンバータ６を第１端子１５に接続したものであ
る。
抵抗Ｒ３を、第２図のように接地側に設ける代わりに、
第１端子１５と電源ＶＤとの間に接続すると共に、前記
Ａ／Ｄコンバータ６を第１端子１５に接続したものであ
る。
本実施例においても、前記第１実施例と同様に、発光ダ
イオード１、フォトトランジスタ２、第１抵抗Ｒ１、第
２抵抗Ｒ２およびしきり板３で構成されているフォトセ
ンサ回路１０は、２本の配線で検査装置に接続されてい
る。
イオード１、フォトトランジスタ２、第１抵抗Ｒ１、第
２抵抗Ｒ２およびしきり板３で構成されているフォトセ
ンサ回路１０は、２本の配線で検査装置に接続されてい
る。
以上のような構成のフォトセンサ回路の検査装置を用い
て、フォトセンサ回路の故障および配線の断線の判別を
する場合は次のよ−うにして行なう。
て、フォトセンサ回路の故障および配線の断線の判別を
する場合は次のよ−うにして行なう。
例えば、電源ＶＤの電圧、第１抵抗Ｒ１、第２抵抗Ｒ２
および分圧抵抗Ｒ３の値を、前記第１実施例と同一にし
た場合において、発光ダイオード１およびフォトトラン
ジスタ２自体、およびしきり板３の動作や第１抵抗Ｒ１
、第２抵抗Ｒ２が正常で、その内部配線がどこかの部分
で断線している時、Ａ／］）コンバータ６は５〔Ｖ〕を
示した。
および分圧抵抗Ｒ３の値を、前記第１実施例と同一にし
た場合において、発光ダイオード１およびフォトトラン
ジスタ２自体、およびしきり板３の動作や第１抵抗Ｒ１
、第２抵抗Ｒ２が正常で、その内部配線がどこかの部分
で断線している時、Ａ／］）コンバータ６は５〔Ｖ〕を
示した。
また、内部配線が断線していない状態で、例えば、しき
り板３がはいったままになり、発光ダイオード１からフ
ォトトランジスタ２に向かう光が遮断されている時は、
前記Ａ／Ｄコンバータ６は固定的に４〔■〕を示した。
り板３がはいったままになり、発光ダイオード１からフ
ォトトランジスタ２に向かう光が遮断されている時は、
前記Ａ／Ｄコンバータ６は固定的に４〔■〕を示した。
さらに、配線が断線していない状態で、例えば、しきり
板３がはずれたままになり、発光ダイオ−ｐ １からフ
ォトトランジスタ２に向かう光が入射されている時は、
前記Ａ／Ｄコンバータ６が固定的に３．２ ＣＶ ）を
示した。
板３がはずれたままになり、発光ダイオ−ｐ １からフ
ォトトランジスタ２に向かう光が入射されている時は、
前記Ａ／Ｄコンバータ６が固定的に３．２ ＣＶ ）を
示した。
このように、Ａ／Ｄコンバータ６の示す直によつで、フ
ォトセンサのしきり板３あるいは発光ダイオ−ｒｌおよ
びフォトトランジスタ２の故障か、配線の断線かを判別
することが可能になる。
ォトセンサのしきり板３あるいは発光ダイオ−ｒｌおよ
びフォトトランジスタ２の故障か、配線の断線かを判別
することが可能になる。
なお、前記第１および第２実施例の場合において、フォ
トトランジスタ２はダーリントン接続されてもよいし、
ＰＮＰ形トランジスタでもよい。
トトランジスタ２はダーリントン接続されてもよいし、
ＰＮＰ形トランジスタでもよい。
本発明は、第２図および第３図に示したような第１抵抗
Ｒ１、第２抵抗Ｒ２、発光ダイオード１およびフォトト
ランジスタ２よりなるフォトセンサ回路のみ人らず、他
のフォトセンサ回路に適用することもできる。
Ｒ１、第２抵抗Ｒ２、発光ダイオード１およびフォトト
ランジスタ２よりなるフォトセンサ回路のみ人らず、他
のフォトセンサ回路に適用することもできる。
そのいくつかの例を第４．５，６．７図に示す。
図から明らかなように、第４図は、第２，３図における
フォトトランジスタ回路の第２抵抗Ｒ２を省略したフォ
トセンサ回路１０を、本発明の第１実施例の検査装置に
よって検査する場合の例である。
フォトトランジスタ回路の第２抵抗Ｒ２を省略したフォ
トセンサ回路１０を、本発明の第１実施例の検査装置に
よって検査する場合の例である。
また、第５図および第６図は、発光ダイオ−Ｐｌに直列
に、定電圧ドロツゾ回路としてのツェナダイオード１１
あるいはダイオード２１を接続したフォトセンサ回路１
０を、本発明の第１実施例の検査装置によって検査する
場合の例である。
に、定電圧ドロツゾ回路としてのツェナダイオード１１
あるいはダイオード２１を接続したフォトセンサ回路１
０を、本発明の第１実施例の検査装置によって検査する
場合の例である。
第７図は、発光ダイオード１に直列に、レペ／Ｌシフト
用電源を接続したフォトセンサ回路１０を、本発明の第
１実施例の検査装置によって検査する場合の例である。
用電源を接続したフォトセンサ回路１０を、本発明の第
１実施例の検査装置によって検査する場合の例である。
第４〜７図においても、前述と同様にして、フォトセン
サ回路の検査が行なえることは明らｄ−であろう。
サ回路の検査が行なえることは明らｄ−であろう。
なお、前記の場合において、分圧抵抗お工びＡ／Ｄコン
バータを、第２実施例と同様に、電源側に接続してもよ
いことは明らかである。
バータを、第２実施例と同様に、電源側に接続してもよ
いことは明らかである。
さらに、Ａ／Ｄコンバータの代わりに複数のコンパレー
タを用いて、レベＡ判別するようにしても、前述したの
と同様の効果を奏すること〃；できるのは当然である。
タを用いて、レベＡ判別するようにしても、前述したの
と同様の効果を奏すること〃；できるのは当然である。
本発明は、前記のように、フォト中ンサ回路を接続する
ため、２つの端子を備え、そのいずれか一方に電源を接
続し、他方に分圧用抵抗を接続し、さらに、前記分圧用
抵抗を接続された他方の端子に電圧検出器を接続したの
で、フォトセンサ回路の故障および配線の断線の判別が
でき、さらに、配線の本数を減らすことができると込う
利点がある。
ため、２つの端子を備え、そのいずれか一方に電源を接
続し、他方に分圧用抵抗を接続し、さらに、前記分圧用
抵抗を接続された他方の端子に電圧検出器を接続したの
で、フォトセンサ回路の故障および配線の断線の判別が
でき、さらに、配線の本数を減らすことができると込う
利点がある。
第１図はフォトセンサ回路と従来の７オトセンサ回路の
検査装置の構成例を示す回路図、第２図は本発明の第１
実施例の回路図、第３図は本発明の第２実施例の回路図
、第４．５，６．７図はそれぞれ本発明の第１実施例を
適用した例を示す回路図である。 １・・・発光ダイオー−１２・・・フォトトランジスタ
、３・・・しきり板、６・・・Ａ／Ｄコンバータ、１０
・・・フォトセンサ回路、１５・・・第１端子、１６・
・・第２端子、Ｒ１・・・第１抵抗、Ｒ２・・・第２抵
抗、Ｒ３・・・分圧抵抗 代理人 弁理士 平 木 道 人 外１名第１図 才２図 才３図
検査装置の構成例を示す回路図、第２図は本発明の第１
実施例の回路図、第３図は本発明の第２実施例の回路図
、第４．５，６．７図はそれぞれ本発明の第１実施例を
適用した例を示す回路図である。 １・・・発光ダイオー−１２・・・フォトトランジスタ
、３・・・しきり板、６・・・Ａ／Ｄコンバータ、１０
・・・フォトセンサ回路、１５・・・第１端子、１６・
・・第２端子、Ｒ１・・・第１抵抗、Ｒ２・・・第２抵
抗、Ｒ３・・・分圧抵抗 代理人 弁理士 平 木 道 人 外１名第１図 才２図 才３図
Claims (1)
- （１）被検フォトセンサ回路の２つの端子が接続される
べきｉｓ１端子および第２端子と、その一端が前記第１
の端子および第２の端子の一方に接続され、その他端が
電源および接地のいずれが一方に接続された分圧用抵抗
と、前記分圧用抵抗の一端に接続され冬電圧検出器とを
具備したことを特徴とするフォトセンサ回路の検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57109958A JPS59664A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | フオトセンサ回路の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57109958A JPS59664A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | フオトセンサ回路の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59664A true JPS59664A (ja) | 1984-01-05 |
| JPH0248066B2 JPH0248066B2 (ja) | 1990-10-23 |
Family
ID=14523443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57109958A Granted JPS59664A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | フオトセンサ回路の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59664A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4772250B2 (ja) * | 2000-04-12 | 2011-09-14 | マルコ チェンクル | 非接触式小型電気スイッチ |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4848164A (ja) * | 1971-10-19 | 1973-07-07 |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP57109958A patent/JPS59664A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4848164A (ja) * | 1971-10-19 | 1973-07-07 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4772250B2 (ja) * | 2000-04-12 | 2011-09-14 | マルコ チェンクル | 非接触式小型電気スイッチ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0248066B2 (ja) | 1990-10-23 |
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