JPS5965265A - 位相測定装置 - Google Patents
位相測定装置Info
- Publication number
- JPS5965265A JPS5965265A JP17690182A JP17690182A JPS5965265A JP S5965265 A JPS5965265 A JP S5965265A JP 17690182 A JP17690182 A JP 17690182A JP 17690182 A JP17690182 A JP 17690182A JP S5965265 A JPS5965265 A JP S5965265A
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- JP
- Japan
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- signals
- signal
- time difference
- measured
- cycle
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
- G01R25/08—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents by counting of standard pulses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Phase Differences (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は位相測定装置に関し、特に簡単な構造により
精度が高い位相測定装置を提供しようとするものである
。
精度が高い位相測定装置を提供しようとするものである
。
〈従来の説明〉
この信号の位相差を測定する測定方法は各種存在する。
従来から存在する位相測定方法は、アナログ的に二つの
信号の位相差を測定するものであるため、精度を高くす
ることができない欠点がある。また測定の開始に邑って
装置を校正しなければならないため操作がむずかしい欠
点もある。
信号の位相差を測定するものであるため、精度を高くす
ることができない欠点がある。また測定の開始に邑って
装置を校正しなければならないため操作がむずかしい欠
点もある。
〈発明の目的〉
この発明は測定に当って校正を必要とすること〜
なく、また精度の高い測定結果を得ることができる位相
測定装置を提供しようとするものである。
測定装置を提供しようとするものである。
〈発明の概要〉
この発明では被測定信号の周期を測定すると共に、二つ
の信号の例えば立上りの時間差を測定し、周期と時間差
からその二つの信号の位相差を測定するように構成した
ものである。
の信号の例えば立上りの時間差を測定し、周期と時間差
からその二つの信号の位相差を測定するように構成した
ものである。
〈発明の実施例〉
第１図にこの発明の一実施例を示す。図中１６１８゜１
０１ｂは被測定信号を入力する二つの入力端子である。
０１ｂは被測定信号を入力する二つの入力端子である。
この二つの入力端子１０１ａ 、 １０１ｂに与えられ
た被測定信号は、波形整形回路１０２ａ 、 １０２ｂ
によシ矩形波に波形整形する。二つの波形整形回路１０
２ａ 。
た被測定信号は、波形整形回路１０２ａ 、 １０２ｂ
によシ矩形波に波形整形する。二つの波形整形回路１０
２ａ 。
１０２ｂの出力は、モード切換スイッチ１０３ａと１０
３ｂの端子すにそれぞれ供給する。モード切換スイッチ
１０３ａ 、 １．０３ｂの端子ａには、分周器１０４
の分周出力を共通に与える。分周器１０４を例えば波形
整形回路１０２ａの出力信号を１／１ＯＮに分周する動
作を行う。
３ｂの端子すにそれぞれ供給する。モード切換スイッチ
１０３ａ 、 １．０３ｂの端子ａには、分周器１０４
の分周出力を共通に与える。分周器１０４を例えば波形
整形回路１０２ａの出力信号を１／１ＯＮに分周する動
作を行う。
この分周器１０４の分周比１／１ＯＮのＮの値は被測定
信号の周波数に応じて制御部１０５から適尚値を設定で
きるように構成される。
信号の周波数に応じて制御部１０５から適尚値を設定で
きるように構成される。
１０６は時間間隔測定手段を示す。モード切換スイッチ
１０３ａ 、 １０３ｂが接点ａ側に切換えられている
とき周期測定モードであシ、接点す側に切換えられてい
るとき二つの信号の時間間隔測定モードとして動作する
。つまりこの時間間隔測定手段１０６により、入力端子
１０１ａに供給された信号の周期Ｐを測定すると共に、
入力端子１０１ａと１０１ｂに与えられた信号の例えば
立上シのタイミングの時間差ＴＫを測定し、その測定結
果を演算器１０７に転送し、演算器１０７において周期
Ｐと時間差ＴＫとから二つの信号の位相差を算出し、表
示器１０８に位相差の角度数をディジタルで表示するよ
うに構成したものである。尚１０９は操作部を示し、こ
の操作部１０９により例えば分周器１０４に分周比のＮ
の数値等を入力する。
１０３ａ 、 １０３ｂが接点ａ側に切換えられている
とき周期測定モードであシ、接点す側に切換えられてい
るとき二つの信号の時間間隔測定モードとして動作する
。つまりこの時間間隔測定手段１０６により、入力端子
１０１ａに供給された信号の周期Ｐを測定すると共に、
入力端子１０１ａと１０１ｂに与えられた信号の例えば
立上シのタイミングの時間差ＴＫを測定し、その測定結
果を演算器１０７に転送し、演算器１０７において周期
Ｐと時間差ＴＫとから二つの信号の位相差を算出し、表
示器１０８に位相差の角度数をディジタルで表示するよ
うに構成したものである。尚１０９は操作部を示し、こ
の操作部１０９により例えば分周器１０４に分周比のＮ
の数値等を入力する。
時間間隔測定手段１０６の具体的な実施例を第２図に示
す。時間間隔測定手段１０６は例えば二つのＤ形フリッ
プフロップ２０１ 、２０２と、アントゲ−１−２０３
と、計数器２０４とによって構成することができる。二
つのＤ形フリップフロップ２０１ 、２０２のトリガ入
力端子Ｔには、モード切換スイッチ１０３ａ 、 １０
３ｂを接続する。この例ではＤ形フリップフロップ２０
１に供給する信号の位相を基準に、他方の信号の位相の
進み遅れ角度を測定するようにした場合を示す。よって
Ｄ形フリップフロップ２０１のデータ入力端子りにＨ論
理を与えておき、出力端子Ｑの出力をアンドゲート２ｏ
３の一つの入力端子に与えると共に、他方のＤ形フリッ
プフロップ２０２のデータ入力端子りにも与える。他方
のＤ形フリップ７０ツブ２０２の出力端子りの出力をア
ンドゲート２０３の一つの入力端子に与える。アンドゲ
ート２０３の他の一つの入力端子にはクロック源２０５
からクロックパルスを供給する。丑だ二つのＤ形フリッ
プフロップ２０１と２０２のリセット端子Ｒには第１図
で説明した制御部１０５からリセット信号を与える。ア
ンドゲート２０３の出力は計数器２０４に与え、アンド
ゲート２０３を通過するクロックパルスの数を計数する
。計数器１０６の計数結果は演算器１０７に伝達する。
す。時間間隔測定手段１０６は例えば二つのＤ形フリッ
プフロップ２０１ 、２０２と、アントゲ−１−２０３
と、計数器２０４とによって構成することができる。二
つのＤ形フリップフロップ２０１ 、２０２のトリガ入
力端子Ｔには、モード切換スイッチ１０３ａ 、 １０
３ｂを接続する。この例ではＤ形フリップフロップ２０
１に供給する信号の位相を基準に、他方の信号の位相の
進み遅れ角度を測定するようにした場合を示す。よって
Ｄ形フリップフロップ２０１のデータ入力端子りにＨ論
理を与えておき、出力端子Ｑの出力をアンドゲート２ｏ
３の一つの入力端子に与えると共に、他方のＤ形フリッ
プフロップ２０２のデータ入力端子りにも与える。他方
のＤ形フリップ７０ツブ２０２の出力端子りの出力をア
ンドゲート２０３の一つの入力端子に与える。アンドゲ
ート２０３の他の一つの入力端子にはクロック源２０５
からクロックパルスを供給する。丑だ二つのＤ形フリッ
プフロップ２０１と２０２のリセット端子Ｒには第１図
で説明した制御部１０５からリセット信号を与える。ア
ンドゲート２０３の出力は計数器２０４に与え、アンド
ゲート２０３を通過するクロックパルスの数を計数する
。計数器１０６の計数結果は演算器１０７に伝達する。
〈発明の動作〉
この発明による位相測定装置はモード切換スイッチ１０
３ａ 、 １０３ｂによ多信号の周期Ｐと二つの信号の
時間差ＴＫを測定する二つの動作を行う。そこで先ず周
期測定動作について説明する。周期測定はモード切換ス
イッチ１０３ａ 、 １０３ｂを接点ａ側に切換える。
３ａ 、 １０３ｂによ多信号の周期Ｐと二つの信号の
時間差ＴＫを測定する二つの動作を行う。そこで先ず周
期測定動作について説明する。周期測定はモード切換ス
イッチ１０３ａ 、 １０３ｂを接点ａ側に切換える。
これにより二つのＤ形フリップフロッグ２０１と２０２
のトリガ入力端子Ｔには分周器１０４で分周した同一の
信号、つ−ｉｂ入力端子１０１ａに供給した信号が分周
されて、二つのＤ形フリツプフロンプ２０１と２０２の
トリガ入力端子Ｔに与えられる。
のトリガ入力端子Ｔには分周器１０４で分周した同一の
信号、つ−ｉｂ入力端子１０１ａに供給した信号が分周
されて、二つのＤ形フリツプフロンプ２０１と２０２の
トリガ入力端子Ｔに与えられる。
第３図に周期測定モードにおける各部の波形を表わす。
第３図Ａはリセット信号３０１を、第３図Ｂは分周器１
０４の分周出力信号３０２を示ず０リセット信号３０１
がＤ形フリップフロップ２０１と２０２の各リセットＭ
ｉＭ子Ｒに与えられることにより、Ｄ形フリップフロッ
プ２０１の出力端子Ｑの出力は第３図Ｃに符号３０３を
付して示すようにリセット信号３０１の立上シによりＬ
論理に立下る。まだフリップフロップ２０２の出力端子
ｑの出力は第３図りに符号３０４を付して示すようにリ
セット信号３０１の立上シによりＨ論理となる。この状
態で分周器１０４から分周出力信号３０２が出力される
と、フリップフロップ２０１は分周出力信号３０２の立
上υによ５Ｈ論理を読込んで出力端子ＱにＨ論理を出力
する。このとき他方のフリップフロップ２０２はフリッ
プフロップ２０１の出力端子ＱのＬ論理を読込むだめ、
出力端子点の出力３０４はＨ論理のまま変化しない。
０４の分周出力信号３０２を示ず０リセット信号３０１
がＤ形フリップフロップ２０１と２０２の各リセットＭ
ｉＭ子Ｒに与えられることにより、Ｄ形フリップフロッ
プ２０１の出力端子Ｑの出力は第３図Ｃに符号３０３を
付して示すようにリセット信号３０１の立上シによりＬ
論理に立下る。まだフリップフロップ２０２の出力端子
ｑの出力は第３図りに符号３０４を付して示すようにリ
セット信号３０１の立上シによりＨ論理となる。この状
態で分周器１０４から分周出力信号３０２が出力される
と、フリップフロップ２０１は分周出力信号３０２の立
上υによ５Ｈ論理を読込んで出力端子ＱにＨ論理を出力
する。このとき他方のフリップフロップ２０２はフリッ
プフロップ２０１の出力端子ＱのＬ論理を読込むだめ、
出力端子点の出力３０４はＨ論理のまま変化しない。
従ってアンドゲート２０３の二つの入力端子にはＨ論理
が与えられ、クロックパルス源２０５のクロックパルス
３０５がアンドゲート２０３を通過し、計数器２０４に
与えられる。第３図Ｆに示すパルス３０６がアンドゲー
ト２０３を通過したクロックパルスを示す。
が与えられ、クロックパルス源２０５のクロックパルス
３０５がアンドゲート２０３を通過し、計数器２０４に
与えられる。第３図Ｆに示すパルス３０６がアンドゲー
ト２０３を通過したクロックパルスを示す。
計数器２０４の計数値をｎ１１分周器１０４の分周比を
１／１ＯＮ、入力信号の周期をＰ１クロックパルス３０
５の周期をＴｏとすると、入力信号の周期ＰはＰ＝ｌＱ
’、Ｈ，・Ｔｏで求められる。よって計数器２０４の計
数結果ｎ１を演算器２０４に転送し、演算により入力信
号の周期Ｐを求めその値を記憶する。
１／１ＯＮ、入力信号の周期をＰ１クロックパルス３０
５の周期をＴｏとすると、入力信号の周期ＰはＰ＝ｌＱ
’、Ｈ，・Ｔｏで求められる。よって計数器２０４の計
数結果ｎ１を演算器２０４に転送し、演算により入力信
号の周期Ｐを求めその値を記憶する。
次にモード切換スイッチ１０３ａ 、 １０３ｂは接点
すに切換えられる。モード切換スイッチ１０３ａ 、
１０３ｂを接点すに切換えることによシ、二つのＤ形フ
リップフロップ２０１と２０２のトリガ入力端子Ｔには
、第４図ＢとＣに示すよう々互に位相が異なる信号４０
１と４０２が供給される。時間間隔測定手段１０６では
、この二つの信号の時間差ＴＫを測定してその位相差を
求めるものである。
すに切換えられる。モード切換スイッチ１０３ａ 、
１０３ｂを接点すに切換えることによシ、二つのＤ形フ
リップフロップ２０１と２０２のトリガ入力端子Ｔには
、第４図ＢとＣに示すよう々互に位相が異なる信号４０
１と４０２が供給される。時間間隔測定手段１０６では
、この二つの信号の時間差ＴＫを測定してその位相差を
求めるものである。
モード切換スイッチ１０３ａ 、 １０３ｂが接点すに
切換えられると、制御器１０５からリセット信号３０１
が出力され、二つのＤ形フリップ７０ツブ２０１と２０
２をリセットする。このため二つのＤ形フリップフロッ
プ２０１と２０２の出力端子Ｑと４の出力は、第３図の
場合と同様にＬ論理とＨ論理に変化する。
切換えられると、制御器１０５からリセット信号３０１
が出力され、二つのＤ形フリップ７０ツブ２０１と２０
２をリセットする。このため二つのＤ形フリップフロッ
プ２０１と２０２の出力端子Ｑと４の出力は、第３図の
場合と同様にＬ論理とＨ論理に変化する。
フリップフロップ２０１の出力３０３がＬ論理の状態に
あるとき、このフリップフロップ２０１のトリガ端子Ｔ
に与えられている信号４０１がＨ論理に立上ると、その
立上シによりＤ形フリップフロップ２旧の出力端子Ｑの
出力信号３０３はＨ論理に反転する。才だＤ形フリップ
フロップ２０２のトリガ端子Ｔに与えられている信号４
０２が立上ると、その立上りによ、９Ｄ形フリツプフロ
ツプ２０２はＤ形フリップフロップ２０１のＨ論理信号
を読込むため、出力端子Ｑの出力信号３０４はＬ論理に
反転する。
あるとき、このフリップフロップ２０１のトリガ端子Ｔ
に与えられている信号４０１がＨ論理に立上ると、その
立上シによりＤ形フリップフロップ２旧の出力端子Ｑの
出力信号３０３はＨ論理に反転する。才だＤ形フリップ
フロップ２０２のトリガ端子Ｔに与えられている信号４
０２が立上ると、その立上りによ、９Ｄ形フリツプフロ
ツプ２０２はＤ形フリップフロップ２０１のＨ論理信号
を読込むため、出力端子Ｑの出力信号３０４はＬ論理に
反転する。
従ってアンドグー） ２０３は二つの信号４旧と４０２
の時間差ＴＫに相当する時間だけ開に制御され、この間
クロックパルス３０５を通過させる。第４図Ｇに示すパ
ルス４０３はゲート２０３を通過したクロックパルスを
示す。
の時間差ＴＫに相当する時間だけ開に制御され、この間
クロックパルス３０５を通過させる。第４図Ｇに示すパ
ルス４０３はゲート２０３を通過したクロックパルスを
示す。
計数器２０４はこのクロックパルス４０３を計数し、そ
の計数値ｎ２を演算器１０７に転送する。演算器１０７
では時間差ＴｘをＴＫ−１２・Ｔｏにより演算して求め
る。演算器１０７は時間差ＴＫがＴＫ≦Ｐ／２であるか
否かを判定し、ＴＫ≦Ｐ／２であれば演算器１０７は先
に求めた周期Ｐと次に求めた時間差ＴＫにより位相差θ
を求める。この場合の位相差θは、σ＝−”Ｘ３６０・
・・・・・・・・・・（１）によυ求める
ことができる。
の計数値ｎ２を演算器１０７に転送する。演算器１０７
では時間差ＴｘをＴＫ−１２・Ｔｏにより演算して求め
る。演算器１０７は時間差ＴＫがＴＫ≦Ｐ／２であるか
否かを判定し、ＴＫ≦Ｐ／２であれば演算器１０７は先
に求めた周期Ｐと次に求めた時間差ＴＫにより位相差θ
を求める。この場合の位相差θは、σ＝−”Ｘ３６０・
・・・・・・・・・・（１）によυ求める
ことができる。
一方時間差ＴＫがＴＫ≧Ｐ／２である場合には、位相差
θの演算は、 ｏ −Ｐ−Ｔ−ｘ ３６０’ −２，、−０
１，、（２）で求められる。
θの演算は、 ｏ −Ｐ−Ｔ−ｘ ３６０’ −２，、−０
１，、（２）で求められる。
ところで二つの入力信号４０１と４０２の時間差ＴＫが
小さ過ぎる場合には、第５図に示すようにＤ形フリップ
フロップ２０２が信号４０２の立上りで反転できない状
態が起シ′得る。この状態はＤ形フリップフロップ２０
１がＨ論理を読込んで出力端子Ｑの出力信号３０３が立
上るまでの時間をｔｌ、Ｄ形７リツプフロツブ２０２が
Ｈ論理を読込む時間をｔ２としたとき、二つの信号４０
１と４０２の時間差ＴＫがＴＫ〈ｔｌ十ｔ２の状態で起
り得る。
小さ過ぎる場合には、第５図に示すようにＤ形フリップ
フロップ２０２が信号４０２の立上りで反転できない状
態が起シ′得る。この状態はＤ形フリップフロップ２０
１がＨ論理を読込んで出力端子Ｑの出力信号３０３が立
上るまでの時間をｔｌ、Ｄ形７リツプフロツブ２０２が
Ｈ論理を読込む時間をｔ２としたとき、二つの信号４０
１と４０２の時間差ＴＫがＴＫ〈ｔｌ十ｔ２の状態で起
り得る。
このようなときＤ形フリップフロップ２０２は信号４０
２の次の周期の立上シで状態が反転し、実際の時間差Ｔ
′えよシ入力信号４０１ 、４０２の１周期Ｐに相当す
る時間だけ長く時間差を計測してしまうことになる。従
って演算器１０７ではＴＫがＴＫ＞Ｐのときは真の時間
差Ｔ′ＫをＴ’Ｋ”ＴＫ Ｐ ＝ｎ３・Ｔｏ Ｐに
よシ補正演算してＴ′Ｋを求め、この時間差Ｔ′Ｋによ
り位相差θを求める。
２の次の周期の立上シで状態が反転し、実際の時間差Ｔ
′えよシ入力信号４０１ 、４０２の１周期Ｐに相当す
る時間だけ長く時間差を計測してしまうことになる。従
って演算器１０７ではＴＫがＴＫ＞Ｐのときは真の時間
差Ｔ′ＫをＴ’Ｋ”ＴＫ Ｐ ＝ｎ３・Ｔｏ Ｐに
よシ補正演算してＴ′Ｋを求め、この時間差Ｔ′Ｋによ
り位相差θを求める。
〈発明の効果〉
上記したようにこの発明によれば、時間間隔測定手段１
０６によシ被測定信号の周期Ｐと、時間差ＴＫを求めて
位相差θを求めるものであるから、周期Ｐ 、！： 時
間差ＴＫはクロックパルス３０５の周波数を高く採るこ
とによシ精度よく測定することができる。よって位相差
θも高精度に求めることができる。
０６によシ被測定信号の周期Ｐと、時間差ＴＫを求めて
位相差θを求めるものであるから、周期Ｐ 、！： 時
間差ＴＫはクロックパルス３０５の周波数を高く採るこ
とによシ精度よく測定することができる。よって位相差
θも高精度に求めることができる。
〈発明の他の実施例〉
ところで上述では時間差ＴＫを１回測定して、その測定
値により位相差θを測定したが、実際には波形整形回路
１０２ａ 、 １０２ｂにおいて例えば正弦波を矩形波
に波形整形する場合、その立上りのタイミングがレベル
変動等の要因によシ変動しジッタが発生する。このよう
な点を考慮すれば時間差ＴＫＯ測定を複数回繰返し、そ
の複数回測定した時間差ＴＫの値を平均して位相差θを
求めるようにすれば、ジッタによる影響の少ない測定結
果を得ることができ、更に精度の向上が期待できる。
値により位相差θを測定したが、実際には波形整形回路
１０２ａ 、 １０２ｂにおいて例えば正弦波を矩形波
に波形整形する場合、その立上りのタイミングがレベル
変動等の要因によシ変動しジッタが発生する。このよう
な点を考慮すれば時間差ＴＫＯ測定を複数回繰返し、そ
の複数回測定した時間差ＴＫの値を平均して位相差θを
求めるようにすれば、ジッタによる影響の少ない測定結
果を得ることができ、更に精度の向上が期待できる。
以上の動作は制御部１０５によって制御されるものであ
シ、そのシーケンスフローを第６図に示す。
シ、そのシーケンスフローを第６図に示す。
第６図の例では時間差ＴＫＯ測定を１０Ｍ回実行し、そ
の平均値によシ位相差を求めるようにした場合を示す。
の平均値によシ位相差を求めるようにした場合を示す。
また上述では二つの信号の位相差θを測定したが、二つ
の信号４０１又は４０２のデユーティ比を求。
の信号４０１又は４０２のデユーティ比を求。
めることもできる。デユーティ比りばＤ’＝ＴＫ／ＰＸ
１００により求めることができる。
１００により求めることができる。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
はこの発明の要部の具体例を示すブロック図、第３図乃
至第５図はこの発明の詳細な説明するだめの波形図、第
６図はこの発明による位相測定装置の動作順序を説明す
るだめのフローチャートである。 １０２ａ 、 １０２ｂ ：波形整形回路、１０３ａ
、 １０３ｂ ： モード切換スイッチ、１０４：分周
器、１０６：時間間隔測定手段、１０７：演算手段、１
０８：表示器。 特許出願人 タケダ理研工業株式会社代理人 草野
卓
はこの発明の要部の具体例を示すブロック図、第３図乃
至第５図はこの発明の詳細な説明するだめの波形図、第
６図はこの発明による位相測定装置の動作順序を説明す
るだめのフローチャートである。 １０２ａ 、 １０２ｂ ：波形整形回路、１０３ａ
、 １０３ｂ ： モード切換スイッチ、１０４：分周
器、１０６：時間間隔測定手段、１０７：演算手段、１
０８：表示器。 特許出願人 タケダ理研工業株式会社代理人 草野
卓
Claims (1)
- （１）Ａ、ａ、二つの信号を入力する手段と、ｂ、入力
信号を矩形波に整形する波形整形手段と、 Ｃ，クロック信号源と、 ｄ、最初の入力信号の立上シ又は立下りを検出する手段
と、 ｅ、第２の入力信号の立上シ又は立下シを検出する手段
と、 ｆ、最初の信号と第２の信号間のクロック信号を計数す
る手段と、 から成シ、入力信号の周期及び二つの入力信号の時間差
を測定する時間間隔測定手段と、Ｂ、この時間間隔測定
手段で得られた二つの入力信号の時間差の値を周期の値
によって除算する演算手段と、 を具（ｊｉｆｆ して成る位相測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17690182A JPS5965265A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 位相測定装置 |
| US06/538,986 US4600994A (en) | 1982-10-06 | 1983-10-04 | Phase difference measuring apparatus |
| DE3336449A DE3336449C2 (de) | 1982-10-06 | 1983-10-06 | Phasendifferenzmeßgerät |
| DE3348056A DE3348056C2 (ja) | 1982-10-06 | 1983-10-06 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17690182A JPS5965265A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 位相測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5965265A true JPS5965265A (ja) | 1984-04-13 |
Family
ID=16021731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17690182A Pending JPS5965265A (ja) | 1982-10-06 | 1982-10-06 | 位相測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5965265A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63132534A (ja) * | 1986-11-22 | 1988-06-04 | Anritsu Corp | ２ル−トの伝搬遅延時間差測定装置 |
| JP4532669B2 (ja) * | 2000-05-16 | 2010-08-25 | 株式会社アドバンテスト | 時間測定装置、半導体デバイス試験装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS494576A (ja) * | 1972-04-24 | 1974-01-16 |
-
1982
- 1982-10-06 JP JP17690182A patent/JPS5965265A/ja active Pending
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