JPS59151066A - 位相測定装置 - Google Patents
位相測定装置Info
- Publication number
- JPS59151066A JPS59151066A JP2605183A JP2605183A JPS59151066A JP S59151066 A JPS59151066 A JP S59151066A JP 2605183 A JP2605183 A JP 2605183A JP 2605183 A JP2605183 A JP 2605183A JP S59151066 A JPS59151066 A JP S59151066A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time difference
- period
- measured
- signal
- phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Phase Differences (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は位相測定装置に関し、特に簡単な構造により
精度の高い位相測定装置を提供しようとするものである
。
精度の高い位相測定装置を提供しようとするものである
。
〈発明の背景〉
二つの信号の位相差を測定する測定方法は各種存在する
。従来から存在する位相測定方法は、アナログ的に二つ
の信号差を測定するものであるため、精度を高くするこ
とができない欠点がある。また測定の開始に当って装置
を校正しなければならないため操作がむずかしい欠点も
ある。
。従来から存在する位相測定方法は、アナログ的に二つ
の信号差を測定するものであるため、精度を高くするこ
とができない欠点がある。また測定の開始に当って装置
を校正しなければならないため操作がむずかしい欠点も
ある。
〈発明の目的〉
この発明は測定に当って校正を必要とすることなく、ま
た精度の高い測定結果を得ることができる位相測定装置
を提供しようとするものである。
た精度の高い測定結果を得ることができる位相測定装置
を提供しようとするものである。
〈発明の概要〉
この発明は特願昭５７−］、７６９０１ ｒ位相測定装
置」の改良に関するものであり、被測定信号の周期を測
定すると共に、二つの信号の例えば立上りの時間差を複
数回測定し、周期と複数回測定した時間差の平均値とか
らその二つの信号の位相差を測定するように構成したも
のである。
置」の改良に関するものであり、被測定信号の周期を測
定すると共に、二つの信号の例えば立上りの時間差を複
数回測定し、周期と複数回測定した時間差の平均値とか
らその二つの信号の位相差を測定するように構成したも
のである。
特に外部設定器から必要とする測定精度を設定し、設定
した高い測定精度で位相差を測定することができる位相
差測定装置である。
した高い測定精度で位相差を測定することができる位相
差測定装置である。
〈発明の実施例〉
第１図にこの発明の実施例を示す。図中１０１ａ。
１０１ｂは被測定信号を入力する入力端子で、この二つ
の入力端子１０１ａ 、 １０１．ｂに与えられた被測
定信号は波形整形回路１．０２ａ 、 １０２ｂにより
矩形波に波形整形する。二つの波形整形回路１０２ａ、
１０２ｂの出力はモード切換スイッチ１０３ａ、 １
０３ｂの端子すにそれぞれ供給する。モード切換スイ・
ンチ１０３ａと１０３ｂの端子ａには、分周器１０４の
分周出力を共通に与える。分周器１０４は例えば波形整
形回路１０２ａの出力信号を１／ＩＯＮ ｉこ分周する
動作を行なう。この分周器１０４の分周比１／ＩＯＮの
Ｎの値は後述するように希望する精度に応じた操作部１
０９の設定により制御部１０５を通して適当値が選択さ
れるように構成される。
の入力端子１０１ａ 、 １０１．ｂに与えられた被測
定信号は波形整形回路１．０２ａ 、 １０２ｂにより
矩形波に波形整形する。二つの波形整形回路１０２ａ、
１０２ｂの出力はモード切換スイッチ１０３ａ、 １
０３ｂの端子すにそれぞれ供給する。モード切換スイ・
ンチ１０３ａと１０３ｂの端子ａには、分周器１０４の
分周出力を共通に与える。分周器１０４は例えば波形整
形回路１０２ａの出力信号を１／ＩＯＮ ｉこ分周する
動作を行なう。この分周器１０４の分周比１／ＩＯＮの
Ｎの値は後述するように希望する精度に応じた操作部１
０９の設定により制御部１０５を通して適当値が選択さ
れるように構成される。
１０６は時間間隔測定手段を示す。モード切換スイッチ
１０３ａ、 １．０３ｂが接点ａ側に切換えられている
ときは周期測定モードであり、分周器１０４の出力の周
期を測定する。またモード切換スイッチ１０３ａ、 １
０３ｂが゛接点す側に切換えられているときは時間差測
定モードであり、波形整形回路１０２ａおよび１０２ｂ
の各出力信号の間の時間間隔を測定する。周期測定モー
ドから時間差測定モードへの切換えは制御部１０５が自
動的に行なう。
１０３ａ、 １．０３ｂが接点ａ側に切換えられている
ときは周期測定モードであり、分周器１０４の出力の周
期を測定する。またモード切換スイッチ１０３ａ、 １
０３ｂが゛接点す側に切換えられているときは時間差測
定モードであり、波形整形回路１０２ａおよび１０２ｂ
の各出力信号の間の時間間隔を測定する。周期測定モー
ドから時間差測定モードへの切換えは制御部１０５が自
動的に行なう。
この２種類の測定結果を演算器１０７に転送する。
演算器１０７においては周期と複数回測定した時間差の
平均値とから二つの信号の位相差を算出し、表示器１０
８に送る。該表示器では位相差の角度数をディジタルで
表示する。このように全体が構成される。
平均値とから二つの信号の位相差を算出し、表示器１０
８に送る。該表示器では位相差の角度数をディジタルで
表示する。このように全体が構成される。
時間間隔測定手段１０６は例えば二つのＤ形フリップフ
ロップ２’０１． ２０２と、アンドゲート２０３と、
計数器２０４とによって構成することができる。二つの
Ｄ形フリップフロップ２０１．２０２のトリカ入力端子
Ｔにそれぞれモード切換スイッチ１０３ａ、 １０３ｂ
が接続される。Ｄ形フリップフロップ２０１のデータ入
力端子りにＨ論理を与えておき、出力端子Ｑの出力をア
ンドゲート２０３の＝・つの入力端子に与えると共に、
他方のＤ形フリップフロップ２０２のデータ入力端子り
にも与える。他方のＤ形フリップフロップ２０２の出力
端子Ｑの出力をアントゲ−１−２０３の一つの入力端子
に与える。アントゲ−１−２０３の他の一つの入力端子
にはクロック源２０５からのクロ・ツクパルスを供給す
る。また二つのＤ形フリ・ノブフロップ２０］と２０２
のリセット端子Ｒには制御部」０５からリセット信号を
与える０、アンドゲート２０３の出力を計数器２０４に
与え、アンドゲート２０３を通過するクロックパルスの
数を計数し、この計数結果を演算器１０７に伝達する。
ロップ２’０１． ２０２と、アンドゲート２０３と、
計数器２０４とによって構成することができる。二つの
Ｄ形フリップフロップ２０１．２０２のトリカ入力端子
Ｔにそれぞれモード切換スイッチ１０３ａ、 １０３ｂ
が接続される。Ｄ形フリップフロップ２０１のデータ入
力端子りにＨ論理を与えておき、出力端子Ｑの出力をア
ンドゲート２０３の＝・つの入力端子に与えると共に、
他方のＤ形フリップフロップ２０２のデータ入力端子り
にも与える。他方のＤ形フリップフロップ２０２の出力
端子Ｑの出力をアントゲ−１−２０３の一つの入力端子
に与える。アントゲ−１−２０３の他の一つの入力端子
にはクロック源２０５からのクロ・ツクパルスを供給す
る。また二つのＤ形フリ・ノブフロップ２０］と２０２
のリセット端子Ｒには制御部」０５からリセット信号を
与える０、アンドゲート２０３の出力を計数器２０４に
与え、アンドゲート２０３を通過するクロックパルスの
数を計数し、この計数結果を演算器１０７に伝達する。
時間差ＴＫは二つの入力信号を矩形波に整形した後の二
つの矩形波の時間差であるので、これは人力信号の歪み
、浮動や変換する際のトリガ誤差等で矩形波の立上りの
タイミングが変動しジッタが発生する。従って時間差Ｔ
Ｋを１回測定するのみでは誤差を含んだ測定となる。そ
こでこの発明では制御部に時間差ＴＫを複数回測定する
機能を設け、希望する測定精度に応じて測定回数を設定
し、複数回測定された時間差ＴＫを平均し、それから位
相差θを導くようにしたものである。
つの矩形波の時間差であるので、これは人力信号の歪み
、浮動や変換する際のトリガ誤差等で矩形波の立上りの
タイミングが変動しジッタが発生する。従って時間差Ｔ
Ｋを１回測定するのみでは誤差を含んだ測定となる。そ
こでこの発明では制御部に時間差ＴＫを複数回測定する
機能を設け、希望する測定精度に応じて測定回数を設定
し、複数回測定された時間差ＴＫを平均し、それから位
相差θを導くようにしたものである。
時間差ＴＫの測定回数を１０Ｍ回とすることによりその
分解能はＩ／Ｔ′？５Ｍで向」ニする。一方周期の分解
能はその分周数１ＯＮで向上するので、例えば操作部１
０９を通じて測定精度を１０ｐ倍に指示したとき、制御
部１０５で時間差ＴＫの測定回数を１０２ｎ以」−に、
分周器１０４の分周数を１０ｎ以上に設定するように構
成することにより希望する精度で測定することができる
。
分解能はＩ／Ｔ′？５Ｍで向」ニする。一方周期の分解
能はその分周数１ＯＮで向上するので、例えば操作部１
０９を通じて測定精度を１０ｐ倍に指示したとき、制御
部１０５で時間差ＴＫの測定回数を１０２ｎ以」−に、
分周器１０４の分周数を１０ｎ以上に設定するように構
成することにより希望する精度で測定することができる
。
第２図にこの発明による位相測定装置の動作順序を説明
するためのフローチャートを示す。
するためのフローチャートを示す。
これらの動作は制御部１０５によって制御されるもので
ある。初めに操作部１０９を通じて指示された測定精度
倍率１０°により分周器１０４の分周比１／１ＯＮ、お
よび時間差ＴＫの測定回数１０Ｍを設定する。次にモー
ド切換スイッチ１０３ａ、 １０３ｂを分周器出力側、
すなわち接点ａ側に接続し周期Ｐの測定を行なう。次に
モード切換スイッチ１０３ａ。
ある。初めに操作部１０９を通じて指示された測定精度
倍率１０°により分周器１０４の分周比１／１ＯＮ、お
よび時間差ＴＫの測定回数１０Ｍを設定する。次にモー
ド切換スイッチ１０３ａ、 １０３ｂを分周器出力側、
すなわち接点ａ側に接続し周期Ｐの測定を行なう。次に
モード切換スイッチ１０３ａ。
１０３ｂを整形器出力側、すなわち接点すに切換え、制
御部１０５で設定された回数１０Ｍ回だけ時間差ＴＫの
測定を行なう。最後に時間差ＴＫの平均値と周期Ｐから
位相差θを求め、表示するものである。以下周期測定の
動作から詳細に説明する。
御部１０５で設定された回数１０Ｍ回だけ時間差ＴＫの
測定を行なう。最後に時間差ＴＫの平均値と周期Ｐから
位相差θを求め、表示するものである。以下周期測定の
動作から詳細に説明する。
周期測定の場合はモート切換スイッチ１０３ａ 。
１．０３１）を接点ａ側に切換える。これにより二つの
Ｄ形フリップフロップ２０１と２０２のトリガ入力端子
Ｔには分周器１０４て分周した同一の信号が勾えられる
。
Ｄ形フリップフロップ２０１と２０２のトリガ入力端子
Ｔには分周器１０４て分周した同一の信号が勾えられる
。
第３図に周期測定モートにおける各部の波形を示す。第
３図Ａはリセット信号３０１を、第３図Ｂは分周器１０
４の分周出力信号３０２を示す。
３図Ａはリセット信号３０１を、第３図Ｂは分周器１０
４の分周出力信号３０２を示す。
リセット信号３０１かＤ形フリップ７０ツブ２０１と２
０２の各リセット端子Ｒに与えられることにより、Ｄ型
フリップフロップ２０１の出力端子Ｑの出力は第３図Ｃ
に符号３０３を付して示すようにリセット信号３０１の
立」−６によりＬ論理に立下る。またフリップフロップ
２０２の出力端子Ｑの出力は第２図りに符号３０４を付
して示すようにリセット信号３０１の立上りによりＨ論
理となる。この状態で分周器１０４がら分周出力信号３
０２が出力されると、フリップフロップ２０１は分周出
力信号３０２の立上りによりＨ論理を読込んて出力端子
ＱにＨ論理を出ノｊする。またフリップフロップ２０１
の出力端子ＱがＨ論理に立」二つだ後にフリップフロッ
プ２０２のトリガ端子Ｔに与えられている分周出力信号
３０２が立上ると、フリップフロップ２０２はフリップ
フロップ２０１のＨ論理信号を読込むため、出力端子０
の出力信号３０４はＬ ｉｉ！理に反転する。
０２の各リセット端子Ｒに与えられることにより、Ｄ型
フリップフロップ２０１の出力端子Ｑの出力は第３図Ｃ
に符号３０３を付して示すようにリセット信号３０１の
立」−６によりＬ論理に立下る。またフリップフロップ
２０２の出力端子Ｑの出力は第２図りに符号３０４を付
して示すようにリセット信号３０１の立上りによりＨ論
理となる。この状態で分周器１０４がら分周出力信号３
０２が出力されると、フリップフロップ２０１は分周出
力信号３０２の立上りによりＨ論理を読込んて出力端子
ＱにＨ論理を出ノｊする。またフリップフロップ２０１
の出力端子ＱがＨ論理に立」二つだ後にフリップフロッ
プ２０２のトリガ端子Ｔに与えられている分周出力信号
３０２が立上ると、フリップフロップ２０２はフリップ
フロップ２０１のＨ論理信号を読込むため、出力端子０
の出力信号３０４はＬ ｉｉ！理に反転する。
すなわちアンドゲート２０３は分周出力信号３０２の周
期に相当する時間だけ開に制御され、この間クロックパ
ルス３０５を通過させ、計数器２０４に与えられる。３
０６はアンドゲート２ｏ３を通過したクロックパルスを
示す。
期に相当する時間だけ開に制御され、この間クロックパ
ルス３０５を通過させ、計数器２０４に与えられる。３
０６はアンドゲート２ｏ３を通過したクロックパルスを
示す。
計数器２０４の計数値ｎい分周器１０４の分周比ヲ１／
１ＯＮ、人力信号の周期Ｐ、クロックパルス３０５の周
期をＴ。とすると入力信号の周期ＰはＰ ＝ １．０−
”ｒＬ・Ｔ。て求められる。よって計数器孕２０４の計
数結果ｎ１を演算器１０７に転送し、演算により入力信
号の周期Ｐを求めてその値を記憶する。
１ＯＮ、人力信号の周期Ｐ、クロックパルス３０５の周
期をＴ。とすると入力信号の周期ＰはＰ ＝ １．０−
”ｒＬ・Ｔ。て求められる。よって計数器孕２０４の計
数結果ｎ１を演算器１０７に転送し、演算により入力信
号の周期Ｐを求めてその値を記憶する。
次に時間差ＴＫを測定する。はじめに第１図および第４
図によって時間差ＴＫの測定について説明する。
図によって時間差ＴＫの測定について説明する。
まずモード切換スイッチ１０３ａ 、 １０３ｂが接点
すに切換えられる。これにより二つのＤ形フリップフロ
ップ２０１と２０２のトリガ入力端子Ｔには、第４図Ｂ
とＣに示すように互に位相が異なる信号４０１と４０２
が供給される。
すに切換えられる。これにより二つのＤ形フリップフロ
ップ２０１と２０２のトリガ入力端子Ｔには、第４図Ｂ
とＣに示すように互に位相が異なる信号４０１と４０２
が供給される。
モード切換スイッチ１０３ａ 、 １０３ｂが接点すに
切換えられると、制御部１０５からリセット伯号３０１
が出力され、二つのＤ形フリップフロップ２０１と２０
２をリセットする。このため二つのＤ形フリップフロッ
プ２０１と２０２の出ノＪ端子ＱとＱの出力は、第３図
の場合と同様にＬ論理とＨ論理に変化する。フリップフ
ロップ２０１の出力３０３がＩ−論理の状態にあるとき
、このフリップフロップ２０１のトリガ端子Ｔに与えら
れている信列４０１がＨ論理に立上ると、その立上りに
よりＤ形フリップフロップ２０１の出力端子Ｑの出力信
号３６３はＨ論理に反転する。またＤ形フリップフロッ
プ２０２のトリガ端子Ｔに与えられている信号４０２が
立上ると、その立」二りによりＤ形フリップフロップ２
０２はＤ形フリップ７０ツブ２０１のＨ論理信号を読込
むため、出力端子Ｑの出力信号３０４はＬ論理に反転す
る。
切換えられると、制御部１０５からリセット伯号３０１
が出力され、二つのＤ形フリップフロップ２０１と２０
２をリセットする。このため二つのＤ形フリップフロッ
プ２０１と２０２の出ノＪ端子ＱとＱの出力は、第３図
の場合と同様にＬ論理とＨ論理に変化する。フリップフ
ロップ２０１の出力３０３がＩ−論理の状態にあるとき
、このフリップフロップ２０１のトリガ端子Ｔに与えら
れている信列４０１がＨ論理に立上ると、その立上りに
よりＤ形フリップフロップ２０１の出力端子Ｑの出力信
号３６３はＨ論理に反転する。またＤ形フリップフロッ
プ２０２のトリガ端子Ｔに与えられている信号４０２が
立上ると、その立」二りによりＤ形フリップフロップ２
０２はＤ形フリップ７０ツブ２０１のＨ論理信号を読込
むため、出力端子Ｑの出力信号３０４はＬ論理に反転す
る。
従ってアントゲ−） ２０３は二つのゲート信号４０１
と４０２の時間差ＴＫに相当する時間だけ開に制御され
、この間クロックパルス３０５を通過させる。第４図Ｇ
に示すパルス４０３はゲート２０３を通過したクロック
パルスを示す。計数器２０４はこのクロックパルス４０
３を計数し、その計数値ｎ２を演算器１０７に転送する
。演算器１０７では、時間差ＴＫをＴＫ ＝ ｎｌ・Ｔ
。により演算して求める。
と４０２の時間差ＴＫに相当する時間だけ開に制御され
、この間クロックパルス３０５を通過させる。第４図Ｇ
に示すパルス４０３はゲート２０３を通過したクロック
パルスを示す。計数器２０４はこのクロックパルス４０
３を計数し、その計数値ｎ２を演算器１０７に転送する
。演算器１０７では、時間差ＴＫをＴＫ ＝ ｎｌ・Ｔ
。により演算して求める。
また二つの入力信号４０１と４０２の時間差ＴＫが小さ
過ぎる場合は第５図に示すようにＤ形フリップフロップ
２０２が信号４０２の立−１ニリで反転できない状態が
起り得る。この状態はＤ形フリップフロップ２０１かＨ
論理を読込んで出力端子Ｑの出力信号３０３が立上るま
での時間をｔｌ、Ｄ形フリップフロップ２０２がＨ論理
を読込む時間をｔ２としたとき、二つの信号４０１と４
０２の時間差ＴＫがＴＫ＜ｔｌ ＋ｔｚ の状態で起
り得る。従って時間差として測定できる範囲は、 １、＋１．≦ＴＫ’＜ Ｐ ＋ ｔｌ −１−ｔｌとな
る。
過ぎる場合は第５図に示すようにＤ形フリップフロップ
２０２が信号４０２の立−１ニリで反転できない状態が
起り得る。この状態はＤ形フリップフロップ２０１かＨ
論理を読込んで出力端子Ｑの出力信号３０３が立上るま
での時間をｔｌ、Ｄ形フリップフロップ２０２がＨ論理
を読込む時間をｔ２としたとき、二つの信号４０１と４
０２の時間差ＴＫがＴＫ＜ｔｌ ＋ｔｚ の状態で起
り得る。従って時間差として測定できる範囲は、 １、＋１．≦ＴＫ’＜ Ｐ ＋ ｔｌ −１−ｔｌとな
る。
次に時間差ＴＫの平均値を求める方法について説明する
。この発明ではジッタによる位相差のばらつきが実験の
結果＋４５度を越えることがないことが確認されたので
、平均値が零度を中心として＋９０度にある場合と、１
８０度を中心として＋９０度にある場合とに区分して測
定した結果を演算する。そこで時間差として測定できる
範囲Ｌ ＋ｔ＋≦Ｔｈ ＜ Ｐ ＋ｔｌ ＋ｔｌを第６
図に示すように四つに区分し、（ｔｌ ＋ ｂ ）〜−
Ｐの区間を第１区間、−Ｐ〜−Ｐの区間を第２区間、−
Ｐ−Ｐの区間を第２ ４
４３区間、Ｐ″−Ｐ ＋
（ｔｌ 十ｔ＋ ）の区間を第４区間として、測定値
かどの区間にあるかを判断しながらデータの処理を行な
う。
。この発明ではジッタによる位相差のばらつきが実験の
結果＋４５度を越えることがないことが確認されたので
、平均値が零度を中心として＋９０度にある場合と、１
８０度を中心として＋９０度にある場合とに区分して測
定した結果を演算する。そこで時間差として測定できる
範囲Ｌ ＋ｔ＋≦Ｔｈ ＜ Ｐ ＋ｔｌ ＋ｔｌを第６
図に示すように四つに区分し、（ｔｌ ＋ ｂ ）〜−
Ｐの区間を第１区間、−Ｐ〜−Ｐの区間を第２区間、−
Ｐ−Ｐの区間を第２ ４
４３区間、Ｐ″−Ｐ ＋
（ｔｌ 十ｔ＋ ）の区間を第４区間として、測定値
かどの区間にあるかを判断しながらデータの処理を行な
う。
第７図にそのデータ処理のフローチャートを示す。１′
回目の測定の時にフラグＡおよびフラグＢをクリヤして
おく。時間差ＴＫが第１区間（１，＋１．≦ＴＫ≦７）
にある場合はＴＫの値をそのまま正データとして、第２
区問および第３区間（Ｐ−〈ＴＫ≦Ｐ）にある場合はＴ
Ｋ −Ｐの演算を行ないその値を負データとして、第４
区間 （Ｐ〈Ｔｘ ＜ Ｐ ＋ ｔ１＋ ｔｌ ） にある
場合は’ｒＫ−ｐの演算を行ないその値を正データとし
て取扱う。複数回の測定値か第３区間と第４区間にまた
がる場合は問題はないが、第１区間と第２区間にまたか
る場合には、最初の測定値が第１区間にあるときは第７
図に示すようにフラグＢをセットし、以後の第２区間に
ある測定値を第１区間と同様にＴＫの値をそのまま正デ
ータとして取扱う。最初の測定値か第２区間にあるとき
はフラグＡをセットシ、以後の第１区間にある測定値は
第２区間と同様にＴＫ−Ｐの演算を行ないその値を負デ
ータとして取扱う。この測定を１０ｎ回繰返した後ＩＲ
Ｊ間差ＴＫの平均値ＴＭを求めて最終演算に移る。
回目の測定の時にフラグＡおよびフラグＢをクリヤして
おく。時間差ＴＫが第１区間（１，＋１．≦ＴＫ≦７）
にある場合はＴＫの値をそのまま正データとして、第２
区問および第３区間（Ｐ−〈ＴＫ≦Ｐ）にある場合はＴ
Ｋ −Ｐの演算を行ないその値を負データとして、第４
区間 （Ｐ〈Ｔｘ ＜ Ｐ ＋ ｔ１＋ ｔｌ ） にある
場合は’ｒＫ−ｐの演算を行ないその値を正データとし
て取扱う。複数回の測定値か第３区間と第４区間にまた
がる場合は問題はないが、第１区間と第２区間にまたか
る場合には、最初の測定値が第１区間にあるときは第７
図に示すようにフラグＢをセットし、以後の第２区間に
ある測定値を第１区間と同様にＴＫの値をそのまま正デ
ータとして取扱う。最初の測定値か第２区間にあるとき
はフラグＡをセットシ、以後の第１区間にある測定値は
第２区間と同様にＴＫ−Ｐの演算を行ないその値を負デ
ータとして取扱う。この測定を１０ｎ回繰返した後ＩＲ
Ｊ間差ＴＫの平均値ＴＭを求めて最終演算に移る。
なお、これらのデータは演算器１０７の記憶素子に記憶
されるか、この発明のように複数回測定した結果を平均
することにより精度を高めようとする場合は、測定回数
が増え保存データ量か多くなるので加工して保存するの
が望ましい。
されるか、この発明のように複数回測定した結果を平均
することにより精度を高めようとする場合は、測定回数
が増え保存データ量か多くなるので加工して保存するの
が望ましい。
例えば、最初の測定値Ｔ１を記憶し、以下２回目以降の
測定値はΣ（ＴＫ−Ｔ、）という形で記憶することによ
り、保存データは２種類となり記憶素子は少な（てすむ
。この時平均値ＴＭは第８図に最終演算のフローチャー
１・を示す。
測定値はΣ（ＴＫ−Ｔ、）という形で記憶することによ
り、保存データは２種類となり記憶素子は少な（てすむ
。この時平均値ＴＭは第８図に最終演算のフローチャー
１・を示す。
第」区間および第２区間にまたがる時間差ＴＫに対して
は第７図のフローチャー１・に基づいて演算するため、
その平均値ＴＭは Ｐ Ｐ Ｐ −Ｔ−ΔＰ１ 〈ＴＭ ＜２＋△Ｐ、 （△ｐ１．ΔＰ
Ｉ 〈■）の範囲にある。そこではしめに時間差の平均
値ＴＭか負であるか否かを判断し、負である場合には周
期Ｐを加えて補正することによりＯ≦ＴＭ ＜ Ｐ
を満足するＴＭが得られる。次に時間差の平均値ＴＭか
ＴＭ≦Ｐ／２であるか否かを判断し、ＴＭ≦Ｐ／２ の
ときは位相差θは ＴＭ θ−−−−Ｘ３６００ により求めることができる。
は第７図のフローチャー１・に基づいて演算するため、
その平均値ＴＭは Ｐ Ｐ Ｐ −Ｔ−ΔＰ１ 〈ＴＭ ＜２＋△Ｐ、 （△ｐ１．ΔＰ
Ｉ 〈■）の範囲にある。そこではしめに時間差の平均
値ＴＭか負であるか否かを判断し、負である場合には周
期Ｐを加えて補正することによりＯ≦ＴＭ ＜ Ｐ
を満足するＴＭが得られる。次に時間差の平均値ＴＭか
ＴＭ≦Ｐ／２であるか否かを判断し、ＴＭ≦Ｐ／２ の
ときは位相差θは ＴＭ θ−−−−Ｘ３６００ により求めることができる。
一方ＴＭ＞Ｐ／２のときは位相差θは
−ＴＭ
ｅ−−−−−一−−ｘ ３６００
により求められる。
同様にしてデユーティ比の測定を行なうことｂ端子に波
形整形器１０２ａの信号をインバータで反転した信号を
供給するように構成することにより、時間差ＴＫの測定
と同じ方法で信号のパルス幅を測定することができ、そ
のパルス幅を複数回測定して平均し、周期Ｐて割ること
によりデユ−ティ比を求めることかできる１、その場合
の最終演算は第８図で示している。
形整形器１０２ａの信号をインバータで反転した信号を
供給するように構成することにより、時間差ＴＫの測定
と同じ方法で信号のパルス幅を測定することができ、そ
のパルス幅を複数回測定して平均し、周期Ｐて割ること
によりデユ−ティ比を求めることかできる１、その場合
の最終演算は第８図で示している。
〈発明の効果〉
以」−説明したようにこの発明によれは、被測定信号の
周期Ｐを測定し、更に二つの信号の時間差ＴＫを複数回
測定してその平均値ＴＭを求め、」−記の周期Ｐと時間
差の平均値ＴＭとから二つの信号の位相差θを求める構
成とすることにより、希望する高い精度で位相測定でき
る位相測定装置か得られる。
周期Ｐを測定し、更に二つの信号の時間差ＴＫを複数回
測定してその平均値ＴＭを求め、」−記の周期Ｐと時間
差の平均値ＴＭとから二つの信号の位相差θを求める構
成とすることにより、希望する高い精度で位相測定でき
る位相測定装置か得られる。
第１図はこの発明の一実施例を示すフロック図、第２図
はこの発明の全体の動作順序を説明するだめのフローチ
ャー１−１第３図乃至第５図はこの発明の詳細な説明す
るための波形図、第６図はこの発明による平均化の方法
を説明するだめの図、第７図と第８図はこの発明の−１
”り１・分の動作順序を説明するためのフローチャー１
・である。 １０１ａ 、 ］、０１ｂ ：入力端子１０２ａ 、
１０２ｂ ：波形整形回路１０３ａ 、 １０３ｂ
： モー ト切換スイッチ１０４ “ ：分周器 １０５：制御部 １０６：時間間隔測定手段 １０７：演算器 １０８：表示器 １０９：操作部 特許出願人 タヶダ理研工業株式会社第 ２
図 第 ３ 図 第 ４ 図 ””” ４０３ 第 ５ 図 第 ６ 図 ０：＋Ｐ ｉ−Ｐ Ｐｊ ｔ＋＋ｔ＋ Ｐ＋（ｔ＋＋ｔ、）第 ７
図 第 ８ 図
はこの発明の全体の動作順序を説明するだめのフローチ
ャー１−１第３図乃至第５図はこの発明の詳細な説明す
るための波形図、第６図はこの発明による平均化の方法
を説明するだめの図、第７図と第８図はこの発明の−１
”り１・分の動作順序を説明するためのフローチャー１
・である。 １０１ａ 、 ］、０１ｂ ：入力端子１０２ａ 、
１０２ｂ ：波形整形回路１０３ａ 、 １０３ｂ
： モー ト切換スイッチ１０４ “ ：分周器 １０５：制御部 １０６：時間間隔測定手段 １０７：演算器 １０８：表示器 １０９：操作部 特許出願人 タヶダ理研工業株式会社第 ２
図 第 ３ 図 第 ４ 図 ””” ４０３ 第 ５ 図 第 ６ 図 ０：＋Ｐ ｉ−Ｐ Ｐｊ ｔ＋＋ｔ＋ Ｐ＋（ｔ＋＋ｔ、）第 ７
図 第 ８ 図
Claims (1)
- （１）八 二つの信号を入力する手段と、Ｂ 人力信
号を矩形波に整形する波形整形手段と、 Ｃ入力信号の周期Ｐを測定する手段と、Ｄ 二つの入力
信号の時間差ＴＫを測定する時間間隔測定手段と、 Ｅ、前記二つの入力信号の時間差ＴＫを′複数回測定し
て平均する演算手段と、 Ｆ 前記−二つの入力信−弓の時間差ＴＩ（の平均値を
前記周期Ｐの値によって除算する演算手段と からなり、二つの入力信号の位相差を測定する位相測定
装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2605183A JPS59151066A (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 位相測定装置 |
| US06/538,986 US4600994A (en) | 1982-10-06 | 1983-10-04 | Phase difference measuring apparatus |
| DE3336449A DE3336449C2 (de) | 1982-10-06 | 1983-10-06 | Phasendifferenzmeßgerät |
| DE3348056A DE3348056C2 (ja) | 1982-10-06 | 1983-10-06 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2605183A JPS59151066A (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 位相測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59151066A true JPS59151066A (ja) | 1984-08-29 |
Family
ID=12182883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2605183A Pending JPS59151066A (ja) | 1982-10-06 | 1983-02-17 | 位相測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59151066A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54130075A (en) * | 1978-03-30 | 1979-10-09 | Ono Sokki Seisakusho Kk | Method of measuring phase difference |
-
1983
- 1983-02-17 JP JP2605183A patent/JPS59151066A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54130075A (en) * | 1978-03-30 | 1979-10-09 | Ono Sokki Seisakusho Kk | Method of measuring phase difference |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4255793A (en) | Apparatus for generating nonlinear pulse patterns | |
| JPS59151066A (ja) | 位相測定装置 | |
| JPH058967B2 (ja) | ||
| JPS5965265A (ja) | 位相測定装置 | |
| US3693097A (en) | Gate control apparatus for setting the input signal counting interval | |
| US4012941A (en) | Method of and apparatus for measuring the amplitude of oscillation of the balance of a timepiece movement | |
| SU1698822A1 (ru) | Устройство дл измерени величины запаса "Окна синхронизации" при фазоманипулированных сигналах | |
| JPS62280656A (ja) | パルス発生器 | |
| SU763805A1 (ru) | Цифровой измеритель частоты и периода электрических сигналов | |
| SU970255A1 (ru) | Цифровой частотомер | |
| SU935821A1 (ru) | Цифровой фазометр | |
| SU813766A1 (ru) | Селектор импульсов по периоду сле-дОВАНи | |
| SU1529220A1 (ru) | Устройство дл автоматического контрол больших интегральных схем | |
| CN114113981A (zh) | 时间参数的测量方法、时间参数测量电路及系统 | |
| SU1636791A1 (ru) | Цифровой фазометр | |
| SU826286A1 (ru) | Устройство для автоматических контроля параметров систем управления 1 | |
| JPH04344476A (ja) | 周波数比測定回路 | |
| JPS62250371A (ja) | 位相差測定装置 | |
| SU1247654A2 (ru) | Мультиплицированна система с аналоговым отображением измер емых величин | |
| SU875325A1 (ru) | Цифровой автоматический измеритель интервалов времени | |
| SU1084695A1 (ru) | Дискретное фазометрическое устройство | |
| SU883914A1 (ru) | Коррел ционное устройство дл определени времени задержки | |
| SU900214A1 (ru) | Двухканальный фазовый компаратор | |
| SU729528A1 (ru) | Цифровой фазометр | |
| SU1003321A1 (ru) | Устройство задержки пр моугольных импульсов |