JPS5960345A - Ｘ線欠陥装置 - Google Patents
Ｘ線欠陥装置Info
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- JPS5960345A JPS5960345A JP57171383A JP17138382A JPS5960345A JP S5960345 A JPS5960345 A JP S5960345A JP 57171383 A JP57171383 A JP 57171383A JP 17138382 A JP17138382 A JP 17138382A JP S5960345 A JPS5960345 A JP S5960345A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分！Ｉ！Ｊ〕
本発明ｄ５、連ｈ＝シて搬送さノする被検査物にＸ線を
照射し、士−の透視画像データから欠陥品を検出するＸ
線欠陥装置に川する。
照射し、士−の透視画像データから欠陥品を検出するＸ
線欠陥装置に川する。
〔発明の技術的’ｈ’ Ｊ紅とその１山題、壱〕従来、
定ノ［′旨イ：りに収納さ）１だ食品屑の抜検査物内の
異ｌ吻検出Ｖ士、列えはＸ線透視ｉｆｌ＋ｉ像の目７１
１１判定に、１：す？Ｊなわノ１てい／３−０この場合
、検査粒度は、目視検査Ｊ：′Ｌの仔；査能力に負うと
ころ大であり、検査スピードにも大きく影”ｌ・される
。したがって、検梢ス１！−ドにも、検査精度にも限り
があった。
定ノ［′旨イ：りに収納さ）１だ食品屑の抜検査物内の
異ｌ吻検出Ｖ士、列えはＸ線透視ｉｆｌ＋ｉ像の目７１
１１判定に、１：す？Ｊなわノ１てい／３−０この場合
、検査粒度は、目視検査Ｊ：′Ｌの仔；査能力に負うと
ころ大であり、検査スピードにも大きく影”ｌ・される
。したがって、検梢ス１！−ドにも、検査精度にも限り
があった。
また、予め基Ｈｅｒ・パターンをメモリしでおき、この
基ＹＱｉパターンと順次検査さね、る被検査物の・ぞタ
ーンとを比較する検１〜方θ、もある。この場合、精度
の同上、スピードアップ智マ有効であるが、予め基ｉＱ
・パターンを＃ｙｔ ｇｙ個記ｔ（デするために十分な
容量のメモリを８汐とする、丑だ被検介物の形状等が異
なった場臼の基準・ぐターン選定手段等を必Ｗトとし、
複雑な構成となっていた。
基ＹＱｉパターンと順次検査さね、る被検査物の・ぞタ
ーンとを比較する検１〜方θ、もある。この場合、精度
の同上、スピードアップ智マ有効であるが、予め基ｉＱ
・パターンを＃ｙｔ ｇｙ個記ｔ（デするために十分な
容量のメモリを８汐とする、丑だ被検介物の形状等が異
なった場臼の基準・ぐターン選定手段等を必Ｗトとし、
複雑な構成となっていた。
〔発Ｑ、＋４の目ｒ白〕
本発明は、上記点に鑑み成さｉｌだもので、簡単なオｒ
り成で、自動判定が用能外Ｘ純欠陥装置を提供しようと
するものである。
り成で、自動判定が用能外Ｘ純欠陥装置を提供しようと
するものである。
木発明け、順次到来する被検査物１から得らね。
る透視画像データ同志を減初し欠陥を枦出するもので、
一方向のみに広がりを持ｊハぞの方向と直角な方向に薄
いＢ４状のＸ線を放射するＸ線発生装置ねと、この装置
と対向し七〇ハ゛１状Ｘ紳の広がり方向に長い視野を有
するＸ ＃ｉ！ラインセンザと、このセンサの視野内に
被核？介物を連射・１；的に通過させる搬送機構と、前
記Ｘ糾うインセンザからの辺祝データから被検イ１−物
の始端を検知する検出手段と、この検出手段からの被検
査物始端を基準に異々る被検査物の透視曲目′（データ
を比較する減舞、器と、この減η−器からの差信４″（
を２１１０化した信号に変換するレベル判定器と、この
判定器ｌ・らのｙｓ’ｉ （に号６・受け、−足置以上
の面積を有する４ｒ ”’＞のみ１１）力する面ｂ′４
測定器と、この測定器からのイト１月及び前記４射出十
段からの被検査物の到来４１１升とから欠陥品を判定す
る欠陥品判定１ニツトとを其１イ１″ｉしたことをｌｔ
、′ｌ徴とするＸ線欠陥装［Ｍ＋−（゛ある。
一方向のみに広がりを持ｊハぞの方向と直角な方向に薄
いＢ４状のＸ線を放射するＸ線発生装置ねと、この装置
と対向し七〇ハ゛１状Ｘ紳の広がり方向に長い視野を有
するＸ ＃ｉ！ラインセンザと、このセンサの視野内に
被核？介物を連射・１；的に通過させる搬送機構と、前
記Ｘ糾うインセンザからの辺祝データから被検イ１−物
の始端を検知する検出手段と、この検出手段からの被検
査物始端を基準に異々る被検査物の透視曲目′（データ
を比較する減舞、器と、この減η−器からの差信４″（
を２１１０化した信号に変換するレベル判定器と、この
判定器ｌ・らのｙｓ’ｉ （に号６・受け、−足置以上
の面積を有する４ｒ ”’＞のみ１１）力する面ｂ′４
測定器と、この測定器からのイト１月及び前記４射出十
段からの被検査物の到来４１１升とから欠陥品を判定す
る欠陥品判定１ニツトとを其１イ１″ｉしたことをｌｔ
、′ｌ徴とするＸ線欠陥装［Ｍ＋−（゛ある。
以丁、本発明の一ツ″Ｍｌｉ例（ｒつき、第１図乃至枦
５図を参照して説明する。
５図を参照して説明する。
１０はＸ線発生装置で、Ｘ〜管１）とファンビームコリ
メータ１２とから杆１成さハ、一方向のみに広がりを持
ち、その方向と直角な方向にｊ；Ｐ、いＰＪ４状のＸ線
１３を放射するものである。
メータ１２とから杆１成さハ、一方向のみに広がりを持
ち、その方向と直角な方向にｊ；Ｐ、いＰＪ４状のＸ線
１３を放射するものである。
このＸ線１．７にり、第４図に〉ｊテすように搬送装置
１４上の被検イ１−物１５に、その搬送方向に直交する
ように放射されている。１６はＸ糾うイン七ンツで、前
記飴状のＸ線１３を受けるのに十分な広がりをもつ細長
い祝］！ｔを有してい・る。
１４上の被検イ１−物１５に、その搬送方向に直交する
ように放射されている。１６はＸ糾うイン七ンツで、前
記飴状のＸ線１３を受けるのに十分な広がりをもつ細長
い祝］！ｔを有してい・る。
このＸ糾うインセンザのｌＬｉ力Ｖ！、り、Ｈ：２送装
置ｉ’１． ｌ ４の移！ＴｉＪＪ ：ｈｔ ｋ 検出
するエンコーグノアジノ・らの信号が供給される側斜装
（ＫＬ ｉ ｓにより側斜さね、る画像処理装置＋□へ
、２０に供給さｆしている。
置ｉ’１． ｌ ４の移！ＴｉＪＪ ：ｈｔ ｋ 検出
するエンコーグノアジノ・らの信号が供給される側斜装
（ＫＬ ｉ ｓにより側斜さね、る画像処理装置＋□へ
、２０に供給さｆしている。
この画像処理装置は、第３図に示すように構ｒｉｖ、さ
れている。
れている。
２１ば、前’ｉＨ’ｒ、ｊ、 Ｘ絹うインセンサｌ ６
−’（： ’Ｈｆ；気信号に変換された被検査物１５の
透視画像データをＡＤ変換するＡＤＣである。このＡＤ
Ｃ２１の出カバ、１ノベル判定器２２及びビデオＳ Ｗ
２３へ（１＋、給さえしている。このレベル判定器２
２は、被検査物１５の始端を検出し、ビデオ８Ｗ２３を
閉じるイク・υきをする。すなわち、被＋がイ、′ｌ：
ｇ ７５がＸ線視野内に到来すると、Ｘ ｆｆｄＮライ
ン士ンーリ１６に入射するＸ線部：が減少するの１゛、
Ｘ走’ｌＩ’ｊｆ’＋減少時点をもって・υ・：ミ検介
物１５の到来と判断し２、ビデオＳ Ｗ ２．９を閉じ
被検査物１５のぬ祝両像データを後段に送出さぜる。
−’（： ’Ｈｆ；気信号に変換された被検査物１５の
透視画像データをＡＤ変換するＡＤＣである。このＡＤ
Ｃ２１の出カバ、１ノベル判定器２２及びビデオＳ Ｗ
２３へ（１＋、給さえしている。このレベル判定器２
２は、被検査物１５の始端を検出し、ビデオ８Ｗ２３を
閉じるイク・υきをする。すなわち、被＋がイ、′ｌ：
ｇ ７５がＸ線視野内に到来すると、Ｘ ｆｆｄＮライ
ン士ンーリ１６に入射するＸ線部：が減少するの１゛、
Ｘ走’ｌＩ’ｊｆ’＋減少時点をもって・υ・：ミ検介
物１５の到来と判断し２、ビデオＳ Ｗ ２．９を閉じ
被検査物１５のぬ祝両像データを後段に送出さぜる。
このビデオ５Ｗ２３のｕ３力Ｖよ、メモリ２５ａ。
メモＩＪ ２５ ｂ及び減算器２６へ供給体ｉ１ている
。
。
この西Ｊメモリ２５ａ、２５ｂはメモリ１同ｒＩＩｌ’
？’＋ｌ１２４によりｆｔ１ｌｌ （ｉｌｌされてい
る。このメモリ制御１１ｉ１ ％ｕ２４は、ｔ’ｊｌ
＋ｆｌじレベル判定器２２７′ｌ・らの被検査物始端イ
ト１号及び１ｉｉｌ ａｔ： ｆｕｌｌ側＋ｙＪ置１装
を介して供給さハ、る搬送装置ｉ、”ｉ： Ｊ ４の移
動ｈ；仁号から、前記両メモリ２５ ａ ＋ ２５ ｂ
を側斜するものである。すなわち、（−のメモリ制ω４
ＨでｌＸ２４は、一定容ｊｔＪＪＪ蚤毎に前１（ピｘＨ
″Ａ四うイン七ンザ１６の１ライン毎の透視画舊゛う′
−夕を前記メモリ９５ａもし、くはメモリ２５ｔ３への
−１）込みを行なわせるものである。
？’＋ｌ１２４によりｆｔ１ｌｌ （ｉｌｌされてい
る。このメモリ制御１１ｉ１ ％ｕ２４は、ｔ’ｊｌ
＋ｆｌじレベル判定器２２７′ｌ・らの被検査物始端イ
ト１号及び１ｉｉｌ ａｔ： ｆｕｌｌ側＋ｙＪ置１装
を介して供給さハ、る搬送装置ｉ、”ｉ： Ｊ ４の移
動ｈ；仁号から、前記両メモリ２５ ａ ＋ ２５ ｂ
を側斜するものである。すなわち、（−のメモリ制ω４
ＨでｌＸ２４は、一定容ｊｔＪＪＪ蚤毎に前１（ピｘＨ
″Ａ四うイン七ンザ１６の１ライン毎の透視画舊゛う′
−夕を前記メモリ９５ａもし、くはメモリ２５ｔ３への
−１）込みを行なわせるものである。
寸だ、１）ｉｌ ’！「”、減ｑ器２６は、ビデオＢ
Ｗ ２ 、ｑをｊ１０過した透１ふ（画で（データと、
前記メモリ２５ａ。
Ｗ ２ 、ｑをｊ１０過した透１ふ（画で（データと、
前記メモリ２５ａ。
２５Ｉ）にメモりさ力だ前回の？り祝面（像データとを
減算−）るものである。このメモリ２５ａ。
減算−）るものである。このメモリ２５ａ。
２５１） ｃ７Ｊｉ’＋’ｌ’、ｌｌ−Ｉ ＬＩＬ、
＋８ｔｌｉｊｆ２メモリ匍１ （ｑｌ 音［（、？ ４
（７）イぎ号にまり行々わｈる。この際の読出し開始
は、前記レベル判定（：：’＋ ２ ／！からの禎４英
介物始端イ８号を受け１“」なわＪｌ・ＯＱ また、この減ＮＶ？：ｙ ２５の差イｉ４ ”ｊは、レ
ベル判定器２７を介して面積測定器２８に供給さｆする
。
＋８ｔｌｉｊｆ２メモリ匍１ （ｑｌ 音［（、？ ４
（７）イぎ号にまり行々わｈる。この際の読出し開始
は、前記レベル判定（：：’＋ ２ ／！からの禎４英
介物始端イ８号を受け１“」なわＪｌ・ＯＱ また、この減ＮＶ？：ｙ ２５の差イｉ４ ”ｊは、レ
ベル判定器２７を介して面積測定器２８に供給さｆする
。
この面積測定器２８は、小面（カ部を除去し、ある一定
以上の面積をもつデータの秒、欠陥「ｆＲＮ’ｌ、ｌ定
ユニット２９へｊ玉出するものである。すなゎ′弘この
面Ｊｆｆｌ目１１１］定器２８１Ｊ５、被検イｒ物１．
５の小さなバラつきや、ライン走査問隔分のずＪＬ’：
ｌｙ、のＮ＋’ｌｘ分を除去する役目をするものである
。
以上の面積をもつデータの秒、欠陥「ｆＲＮ’ｌ、ｌ定
ユニット２９へｊ玉出するものである。すなゎ′弘この
面Ｊｆｆｌ目１１１］定器２８１Ｊ５、被検イｒ物１．
５の小さなバラつきや、ライン走査問隔分のずＪＬ’：
ｌｙ、のＮ＋’ｌｘ分を除去する役目をするものである
。
寸グζ、前Ｎ１シ欠陥品判定ユニッｌ−２９ｉ・；ｌ、
前ｔ１：１／ベル’ｆ’ｊｌ ’ｊ（、’二２：÷２２
からのイＪ・ソ検介物１５到来イ＋”ｉ号及び面ｆＩ′
＋１ｆｌｌｌ定器２８からの出力信号で、１表１の乱ｉ
ｊ’ｌ Ｋ （、たがい欠１！ＩｒＩ品の１１Ｊ定を
行なう。
前ｔ１：１／ベル’ｆ’ｊｌ ’ｊ（、’二２：÷２２
からのイＪ・ソ検介物１５到来イ＋”ｉ号及び面ｆＩ′
＋１ｆｌｌｌ定器２８からの出力信号で、１表１の乱ｉ
ｊ’ｌ Ｋ （、たがい欠１！ＩｒＩ品の１１Ｊ定を
行なう。
表 １
（ただ［２、アルファペラ） ｋｌ−紀３図に示す各部
のイへ号を示し、また３？用数字は被検査物の壱号であ
る。） 次に、第４図及び第５図を用いてライングαのＸ線テ“
−夕及０・各ラインの走査についでの説明をする。
のイへ号を示し、また３？用数字は被検査物の壱号であ
る。） 次に、第４図及び第５図を用いてライングαのＸ線テ“
−夕及０・各ラインの走査についでの説明をする。
第４ ｔ；ｚ＋ ）−１ｘか１，１１３の名ライン４Ｉ
ノの、被検紙物１５のｍイ兄１ｉ１ｉｉ仏データを酪；
ｌ ｌ！１．、ｉするφ、のフ゛、符長１．２・・・ｎ
＋ ｎ −ｆ−１）；Ｊ’、、Ｘｌ、のライン番号を
示し、右列１／、２／・・・ｎ’ ｒ ｎ’ ＋］は名
ライン角の送過画１７、°プ′−〃の波形をカーすもの
であ２．。図中、Ａは被測定物１５内に混入さ、！１−
た放物で、甘たａはその貨ｌ吻Ａ部分のデーｌを示して
いる。
ノの、被検紙物１５のｍイ兄１ｉ１ｉｉ仏データを酪；
ｌ ｌ！１．、ｉするφ、のフ゛、符長１．２・・・ｎ
＋ ｎ −ｆ−１）；Ｊ’、、Ｘｌ、のライン番号を
示し、右列１／、２／・・・ｎ’ ｒ ｎ’ ＋］は名
ライン角の送過画１７、°プ′−〃の波形をカーすもの
であ２．。図中、Ａは被測定物１５内に混入さ、！１−
た放物で、甘たａはその貨ｌ吻Ａ部分のデーｌを示して
いる。
すた、θ支形；（′はネ皮拍清老ｉ１．５のｆ！７．鼎
１１がＸ線杉己野内に到来したどきの波形−で、Ａｉｌ
制レベし判冗器２２は、この波形３′から被検査’Ｐ）
ｊ １５の始端を検出（−、、Ｉ？ｉｌ ［ｉ＋：ビプ
”オＳ Ｗ 、’ 、？を閑じる。
１１がＸ線杉己野内に到来したどきの波形−で、Ａｉｌ
制レベし判冗器２２は、この波形３′から被検査’Ｐ）
ｊ １５の始端を検出（−、、Ｉ？ｉｌ ［ｉ＋：ビプ
”オＳ Ｗ 、’ 、？を閑じる。
寸だ、波形７′にｄ、異物Ａのデータａが示さ）１てい
る。しだがって、このｒ財形７′のデータと、前回のこ
の波形７′に相当す４）鶴検イｉ物データとが前記減算
器２６で減算されることにより異物への右在が４灸出さ
れる。
る。しだがって、このｒ財形７′のデータと、前回のこ
の波形７′に相当す４）鶴検イｉ物データとが前記減算
器２６で減算されることにより異物への右在が４灸出さ
れる。
１だ、第５図は谷ラインのノ［箔について示したもので
、（ａ） ｕ： Ｏｉｌ ｉ１１＋エンコーダＪ７ｉＪ
−らのノ永送装ｂ−１４の移動んに相娼する・ぞルス佃
号を示すものであり、（ｂ）はこのエンコーダ１７かも
の（Ｔｈ号を受け、一定移！１７．１．＋光毎（（前記
割出ｊ装（ｆｉ−、Ｊｇから前記Ｘ ＨＡラインセンサ
１６へ５ｙＳ出さノ］、る走査パルスを示すものである
。１だ、（Ｃ）はこの走イ１ｉｅルスを受けたＸ 線ラ
イン七ンザＪ６の各ライン毎の透視画像データを示すも
のでス・・る。
、（ａ） ｕ： Ｏｉｌ ｉ１１＋エンコーダＪ７ｉＪ
−らのノ永送装ｂ−１４の移動んに相娼する・ぞルス佃
号を示すものであり、（ｂ）はこのエンコーダ１７かも
の（Ｔｈ号を受け、一定移！１７．１．＋光毎（（前記
割出ｊ装（ｆｉ−、Ｊｇから前記Ｘ ＨＡラインセンサ
１６へ５ｙＳ出さノ］、る走査パルスを示すものである
。１だ、（Ｃ）はこの走イ１ｉｅルスを受けたＸ 線ラ
イン七ンザＪ６の各ライン毎の透視画像データを示すも
のでス・・る。
また、１つの被検査物に対するライン級は、七の被検査
物の大きさ等により一義的に決定しても良いし、前記レ
ベル判定器２２により被検査物８端を検知することによ
り、１つの被検着物１５のデータ取込みを終了するよう
にしても良い０ なお、第６図に示すようにＸ線発牛装ｈ６０から２本の
扇状のＸＩＦ、！６２．６３を被検査物１５の搬送路に
照射し、四部に２個の被検貞物１５．１５から透視画像
データ′！Ｌ−イ；Ｉ、両名を減毅しても前記−実施例
同様の効果を待ることができる。すなわち、夫々のＸ線
Ｇ ２ 、６．９に対向し細長い２つのＸ線うインセン
ーリ６４．６５を配置し、各Ｘ線透過墓を電気４Ｂ号に
変換し、■）１１記同様レベル判定器２２（図示止す）
からの被検査物始端伝号をもとに減１°Ｉ器２６により
減算することにより欠陥検出を行なうことができる。尚
、６６は両センサ６４，６５の感度を補正するための感
ＩＷ抽正回路てあり、七の他は、前記実施ρ１］と同祿
にｔｆ７）成さｆするものである。
物の大きさ等により一義的に決定しても良いし、前記レ
ベル判定器２２により被検査物８端を検知することによ
り、１つの被検着物１５のデータ取込みを終了するよう
にしても良い０ なお、第６図に示すようにＸ線発牛装ｈ６０から２本の
扇状のＸＩＦ、！６２．６３を被検査物１５の搬送路に
照射し、四部に２個の被検貞物１５．１５から透視画像
データ′！Ｌ−イ；Ｉ、両名を減毅しても前記−実施例
同様の効果を待ることができる。すなわち、夫々のＸ線
Ｇ ２ 、６．９に対向し細長い２つのＸ線うインセン
ーリ６４．６５を配置し、各Ｘ線透過墓を電気４Ｂ号に
変換し、■）１１記同様レベル判定器２２（図示止す）
からの被検査物始端伝号をもとに減１°Ｉ器２６により
減算することにより欠陥検出を行なうことができる。尚
、６６は両センサ６４，６５の感度を補正するための感
ＩＷ抽正回路てあり、七の他は、前記実施ρ１］と同祿
にｔｆ７）成さｆするものである。
本発明シ１．このように構成しプこのでり下の如く多大
の効果を奏する。
の効果を奏する。
（１） Ｘ線うインセンザを使用し被検査物の進行方
向に対し１６角に信号を取り出すようにｔ１ｑ成したの
で、被検査物の到来を検知し透視画像データの取込みを
割出１することか司能となった。
向に対し１６角に信号を取り出すようにｔ１ｑ成したの
で、被検査物の到来を検知し透視画像データの取込みを
割出１することか司能となった。
（２）面イ／ｆ測定ン（９て小面打１の透視画像テ゛−
タ部分を除去しているため、被検査物イＩＩＩ＋１々の
多少のほらつきやライン走査量〜＋’１分のずｉｚによ
る誤動作がなくなり、瀬止に欠陥品の判定ができる。
タ部分を除去しているため、被検査物イＩＩＩ＋１々の
多少のほらつきやライン走査量〜＋’１分のずｉｚによ
る誤動作がなくなり、瀬止に欠陥品の判定ができる。
（３）前回う”−夕と次回データとの比較で欠陥判定を
１」ムわぜているため、複ｆｆ１ｉ＋−な辞１１．１パ
ターンの記憶が不要となる。
１」ムわぜているため、複ｆｆ１ｉ＋−な辞１１．１パ
ターンの記憶が不要となる。
（４）回−チャンイ・ル同志で比較判ボを行ブ７う六−
〆）、チャンネル間の感度較正を必９１′と１２ない。
〆）、チャンネル間の感度較正を必９１′と１２ない。
（５） 被検′；Ｐ′Ｕ′物の始端、終端で夙？３□）
両件データの開始、終了を検知することが用能と／Ｉ：
るので、メモリ′ｆ１１を大幅に少なくＴき、かつ、ノ
イズ混人撞率も少なくなる。
両件データの開始、終了を検知することが用能と／Ｉ：
るので、メモリ′ｆ１１を大幅に少なくＴき、かつ、ノ
イズ混人撞率も少なくなる。
第１１９１乃至第５図（−，１、本発明の一天Ｍ１＋ト
リを’＋（３＋’、明するだめのもので、Ｍｌ、 １図
は４１ｒ＋：略（・１”・°１成を示す乎面図、第２図
は同仰１面図、第３図は回路Ｉｆ’；成図、第４図は各
チャンネル毎の透視画像ｙ′−夕を示す説明ｌ！￥１、
第５図はＸ線うイン十ンザの走イ１８周期を説明するだ
めの波形図、第６図は本発明の他の実１ｆＩａレリを示
す概略構成図である。 １ ／／ 、 ６ ／／・・・Ｘ線発生装面、Ｊ ３．
６２ 。 ６３・・・Ｘｆ＋ＩＩ！、１４・・・搬送装置、１５・
・・被検査物、１６．６４．６５・・・Ｘ線ライン士ン
ザ、２０・・・画像処理装（ζ−１２２・・・レベル判
定器、２４・・・メモリ制斜部、２５ａ、２５ｂ・・・
メモリ、２６・・・減算器、２７ ・レベル判定器、２
８・・・面積測定２ｘ、２９・・・欠陥品判カニコ４二
、ツト。
リを’＋（３＋’、明するだめのもので、Ｍｌ、 １図
は４１ｒ＋：略（・１”・°１成を示す乎面図、第２図
は同仰１面図、第３図は回路Ｉｆ’；成図、第４図は各
チャンネル毎の透視画像ｙ′−夕を示す説明ｌ！￥１、
第５図はＸ線うイン十ンザの走イ１８周期を説明するだ
めの波形図、第６図は本発明の他の実１ｆＩａレリを示
す概略構成図である。 １ ／／ 、 ６ ／／・・・Ｘ線発生装面、Ｊ ３．
６２ 。 ６３・・・Ｘｆ＋ＩＩ！、１４・・・搬送装置、１５・
・・被検査物、１６．６４．６５・・・Ｘ線ライン士ン
ザ、２０・・・画像処理装（ζ−１２２・・・レベル判
定器、２４・・・メモリ制斜部、２５ａ、２５ｂ・・・
メモリ、２６・・・減算器、２７ ・レベル判定器、２
８・・・面積測定２ｘ、２９・・・欠陥品判カニコ４二
、ツト。
Claims (1)
- 一方向のみに広がりを持ち、その方向と直角な方向に薄
い扇状のＸ線を放射するＸ線発生装同と、この装置と対
向しその扇状Ｘ線の広がり方向に長い視野をイ〕するＸ
線つイン十ンリ゛と、このセンサの祝町内に被検査物を
連続的に通過させる搬送機＋ｔ’ｔと、耐ＩＧ己Ｘ線ラ
イン十ン４ノからの透衿、データから被検査物の始端を
４・処知する検出手段と、この検出手段からの被検査物
始り：Ｍを基準、に軟なる被検査物の透視画イ１９．デ
ータを比較するン、詩、器と、この減舞器からの差イ１
＝−七′を２ ｆｉｆｉ化した信号に変換するレベル判
定器と、この判定器からの差信妥を受け、一定１直以上
のｉＴ＋ｉ槓をイ１゛するイ；」号のみ出力する面積測
定器と、この測定器からの信号及び前記検出手段からの
被検査物の到来信号とから欠陥品を判定する欠陥品判定
ユニットとを具備したことを特徴とするＸ線欠陥装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57171383A JPS5960345A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | Ｘ線欠陥装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57171383A JPS5960345A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | Ｘ線欠陥装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5960345A true JPS5960345A (ja) | 1984-04-06 |
| JPH0324604B2 JPH0324604B2 (ja) | 1991-04-03 |
Family
ID=15922155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57171383A Granted JPS5960345A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | Ｘ線欠陥装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5960345A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0216705A2 (fr) * | 1985-09-23 | 1987-04-01 | Commissariat A L'energie Atomique | Système de contrôle au défilé, de pièces cylindriques, par un rayonnement pénétrant |
| US4980902A (en) * | 1985-12-30 | 1990-12-25 | Measurex Corporation | Aperture measuring system for cord reinforced tire fabric |
| JP2009270866A (ja) * | 2008-05-01 | 2009-11-19 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57118146A (en) * | 1980-07-30 | 1982-07-22 | Kuronzu Ag Heruman Kuronsederu | Container inspection method and apparatus |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP57171383A patent/JPS5960345A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57118146A (en) * | 1980-07-30 | 1982-07-22 | Kuronzu Ag Heruman Kuronsederu | Container inspection method and apparatus |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0216705A2 (fr) * | 1985-09-23 | 1987-04-01 | Commissariat A L'energie Atomique | Système de contrôle au défilé, de pièces cylindriques, par un rayonnement pénétrant |
| US4980902A (en) * | 1985-12-30 | 1990-12-25 | Measurex Corporation | Aperture measuring system for cord reinforced tire fabric |
| JP2009270866A (ja) * | 2008-05-01 | 2009-11-19 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0324604B2 (ja) | 1991-04-03 |
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