JPS5949565B2 - 液晶表示素子並びにその製造方法 - Google Patents
液晶表示素子並びにその製造方法Info
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- JPS5949565B2 JPS5949565B2 JP54111673A JP11167379A JPS5949565B2 JP S5949565 B2 JPS5949565 B2 JP S5949565B2 JP 54111673 A JP54111673 A JP 54111673A JP 11167379 A JP11167379 A JP 11167379A JP S5949565 B2 JPS5949565 B2 JP S5949565B2
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- Liquid Crystal (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は透過率の優れたかつ、にじみの発生しない液晶
表示素子に関する。
表示素子に関する。
従来、液晶セル特に電界の作用により動作する電気光学
的効果を利用したネマチツク液晶表示素子は導電性膜(
電極)を設けたガラス基板に無機質保護層を設け、更に
この層の上に配向膜を設けた一対のガラス基板を対向さ
せ、無機質又は有機質のシール剤によりシールして液晶
容器(以下素子という)を構成し、これに液晶組成物を
封入することにより構成される。
的効果を利用したネマチツク液晶表示素子は導電性膜(
電極)を設けたガラス基板に無機質保護層を設け、更に
この層の上に配向膜を設けた一対のガラス基板を対向さ
せ、無機質又は有機質のシール剤によりシールして液晶
容器(以下素子という)を構成し、これに液晶組成物を
封入することにより構成される。
そして前記の配向膜としてはSIOの蒸着膜など無機質
材料が主に用いられていた。その理由はこれら無機質配
向膜は液晶と接しても液晶に溶解しないので悪影響を与
えず、シツフ型液晶並びにビフエニル型液晶を均一に配
向できる利点があるためである。しかし、これらの無機
質配向膜の配向性は液晶の種類に対して選択性であり、
全ての液晶組成物の配向を良好に行なうことは困難であ
る。又、高温でガラスフリツトシールを行なつた際、配
向の歩留りが悪いという欠点が見られる。一方、配向膜
に各種の有機高分子材料を用いて布等で一方向にこすつ
て配向処理した後、こすり方向が互いに直交するように
基板を対向させた液晶表示素子が既に提案されている。
材料が主に用いられていた。その理由はこれら無機質配
向膜は液晶と接しても液晶に溶解しないので悪影響を与
えず、シツフ型液晶並びにビフエニル型液晶を均一に配
向できる利点があるためである。しかし、これらの無機
質配向膜の配向性は液晶の種類に対して選択性であり、
全ての液晶組成物の配向を良好に行なうことは困難であ
る。又、高温でガラスフリツトシールを行なつた際、配
向の歩留りが悪いという欠点が見られる。一方、配向膜
に各種の有機高分子材料を用いて布等で一方向にこすつ
て配向処理した後、こすり方向が互いに直交するように
基板を対向させた液晶表示素子が既に提案されている。
このような有機高分子材料としては例えば、フツ素樹脂
、ポリビニルアルコール、尿素樹脂、メラミン樹脂、フ
エノール樹脂、ポリエステル、ケイ素樹脂、エポキシ樹
脂、ポリエステルイミド、ポリアミドイミド、アルキド
樹脂、ウレタン樹脂、レゾルシン樹脂、フラン樹脂、ポ
リ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニル、ポリメチルメタクリレ
ート、ポリスチレン、ポリビニルブチラート、ポリスル
ホン、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリアセタール
、ポリエチレン、セルロース系樹脂、天然ゴム、スチレ
ン−ブタジエンゴム、アクリロニトリル−ブタジエンゴ
ム、ポリブタジエン、ポリイソブレン、メルカブト系シ
ランカツプリング剤、エポキシ系シランカツプリング剤
、アミノ系シランカツプリング剤、ビスコース、ポリ−
メチル一α−シアノアクリレート等がある。しかし、こ
のような有機高分子配向膜は、液晶配向の均一性が十分
とはいえず、又長期に亘る通電試験及び劣化試,験にお
いて、無機質配向膜に比較して配向の不均一性が増加し
易すく、個々の液晶表示素子にかなりのばらつきが発生
する欠点がある。更にガラスフリツトシールの際に35
0〜400℃に加熱されるが、耐熱性が不十分なため、
配向膜が破壊されて液晶が配向しないという欠点がある
。次に配向に使用される他の耐熱性の有機高分子材料と
して、ポリイミドがある。
、ポリビニルアルコール、尿素樹脂、メラミン樹脂、フ
エノール樹脂、ポリエステル、ケイ素樹脂、エポキシ樹
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樹脂、ウレタン樹脂、レゾルシン樹脂、フラン樹脂、ポ
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ホン、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリアセタール
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ン−ブタジエンゴム、アクリロニトリル−ブタジエンゴ
ム、ポリブタジエン、ポリイソブレン、メルカブト系シ
ランカツプリング剤、エポキシ系シランカツプリング剤
、アミノ系シランカツプリング剤、ビスコース、ポリ−
メチル一α−シアノアクリレート等がある。しかし、こ
のような有機高分子配向膜は、液晶配向の均一性が十分
とはいえず、又長期に亘る通電試験及び劣化試,験にお
いて、無機質配向膜に比較して配向の不均一性が増加し
易すく、個々の液晶表示素子にかなりのばらつきが発生
する欠点がある。更にガラスフリツトシールの際に35
0〜400℃に加熱されるが、耐熱性が不十分なため、
配向膜が破壊されて液晶が配向しないという欠点がある
。次に配向に使用される他の耐熱性の有機高分子材料と
して、ポリイミドがある。
ポリイミドは、前記の耐熱性の低い高分子材料に比較し
て、有機シールを用いた場合には配向の均一性並びに長
期に亘る通電試験及び劣化試験での耐久性はかなり良好
である。しかし、ガラスフリツトシールを行なつた場合
には式で示される代表的なポリイミドを塗布硬化後、布
等で一方向にこすつて配向処理した後、350〜400
℃でガラスフリツトシールを行なうと液晶を封入した際
に配向不良が生じやすくなり、又SiOの蒸着膜に比較
して暗視野で透過率が非常に低下し表示品質の機能を満
たさないことが明らかになつた。
て、有機シールを用いた場合には配向の均一性並びに長
期に亘る通電試験及び劣化試験での耐久性はかなり良好
である。しかし、ガラスフリツトシールを行なつた場合
には式で示される代表的なポリイミドを塗布硬化後、布
等で一方向にこすつて配向処理した後、350〜400
℃でガラスフリツトシールを行なうと液晶を封入した際
に配向不良が生じやすくなり、又SiOの蒸着膜に比較
して暗視野で透過率が非常に低下し表示品質の機能を満
たさないことが明らかになつた。
更に液晶基板上にポリイミドの前駆物質であるポリアミ
ド酸を塗布することにより配向膜が形成されるが、その
際に基板に対して非常に接着性が悪いこと及び水分が浸
透しやすいこと等の欠点がある。そのため、ポリイミド
配向膜の .゛みでは、配向膜のはがれが生じ、その結
果配向不良が生ずる。又有機シールの際にはシールを通
して液晶素子内に浸透した水分はガラス基板表面に凝集
して微細な水滴となつて付着する。これがセグメント電
極の周辺沿面抵抗Rを低下させて、点 1灯時にリーク
電流が流れ、電極周辺の領域が電極上となつて文字等に
「にじみ]が生ずるという問題があつた。本発明は前記
環状に鑑みてなされたもので、その目的は有機シール又
はガラスフリツトシールを行なつても液晶を封入した際
に茶褐色に着色せず透過率の優れた液晶表示素子を提供
することである。
ド酸を塗布することにより配向膜が形成されるが、その
際に基板に対して非常に接着性が悪いこと及び水分が浸
透しやすいこと等の欠点がある。そのため、ポリイミド
配向膜の .゛みでは、配向膜のはがれが生じ、その結
果配向不良が生ずる。又有機シールの際にはシールを通
して液晶素子内に浸透した水分はガラス基板表面に凝集
して微細な水滴となつて付着する。これがセグメント電
極の周辺沿面抵抗Rを低下させて、点 1灯時にリーク
電流が流れ、電極周辺の領域が電極上となつて文字等に
「にじみ]が生ずるという問題があつた。本発明は前記
環状に鑑みてなされたもので、その目的は有機シール又
はガラスフリツトシールを行なつても液晶を封入した際
に茶褐色に着色せず透過率の優れた液晶表示素子を提供
することである。
又他の目的は基板上への接着性が向上し、はがれによる
配向不良を生じない配向膜を有する液晶表示素子を提供
することである。更に他の目的は有機シールを行なつた
際にも沿面抵抗の低下を防ぎ、「にじみ」などを発生し
ない液晶表示素子を提供することである。更に本発明の
目的は改善された液晶表示素子の製造方法を提供するこ
とである。本発明について概説すると、本発明は電極が
形成された基板上に液晶配向膜を有する液晶表示素子に
おいて、該配向膜が一般式(式中Xは−0−,−CH2
−,−SO2−,一S一又は−CO−を示し、Arlは
テトラカルボン酸二無水物残基を示し、Ar2はアルキ
レン基又は場合によりアルキル基により置換されること
もあるフエニレン基を示し、Ar3はアルキル基又はア
リール基を示す)で表わされる単位構造を有するポリイ
ミド−シロキサン共重合体で構成されることを特徴とす
る液晶表示素子に関する。
配向不良を生じない配向膜を有する液晶表示素子を提供
することである。更に他の目的は有機シールを行なつた
際にも沿面抵抗の低下を防ぎ、「にじみ」などを発生し
ない液晶表示素子を提供することである。更に本発明の
目的は改善された液晶表示素子の製造方法を提供するこ
とである。本発明について概説すると、本発明は電極が
形成された基板上に液晶配向膜を有する液晶表示素子に
おいて、該配向膜が一般式(式中Xは−0−,−CH2
−,−SO2−,一S一又は−CO−を示し、Arlは
テトラカルボン酸二無水物残基を示し、Ar2はアルキ
レン基又は場合によりアルキル基により置換されること
もあるフエニレン基を示し、Ar3はアルキル基又はア
リール基を示す)で表わされる単位構造を有するポリイ
ミド−シロキサン共重合体で構成されることを特徴とす
る液晶表示素子に関する。
又本発明は電極が形成された基板上に液晶配向膜を形成
するに際し、(a) 一般式 (式中xは−0−,−CH,−,−SO2−,−S一又
は−CO−を示す)で表わされるジアミン(5)一般式 (式中Arlはテトラカルボン酸二無水物残基を示す)
で表わされるテトラカルボン酸二無水物及び(c)一般
式 (式中Ar2はアルキレン基又は場合によりアルキル基
により置換されることもあるフエニレン基を示し、Ar
3はアルキル基又はアリール基を示す)で表わされるジ
アミノシロキサンを有機溶媒中で重縮合し、得られる重
合体溶液を基板に塗布した後、閉環することにより前記
配向膜を形成することを特徴とする液晶表示素子の製造
方法に関する。
するに際し、(a) 一般式 (式中xは−0−,−CH,−,−SO2−,−S一又
は−CO−を示す)で表わされるジアミン(5)一般式 (式中Arlはテトラカルボン酸二無水物残基を示す)
で表わされるテトラカルボン酸二無水物及び(c)一般
式 (式中Ar2はアルキレン基又は場合によりアルキル基
により置換されることもあるフエニレン基を示し、Ar
3はアルキル基又はアリール基を示す)で表わされるジ
アミノシロキサンを有機溶媒中で重縮合し、得られる重
合体溶液を基板に塗布した後、閉環することにより前記
配向膜を形成することを特徴とする液晶表示素子の製造
方法に関する。
前記配向膜を構成するポリイミドーシロキサン共重合体
における一般式(1)及び(■)の構造単位の割合は、
該共重合体を製造するための(a)のジアミン成分、(
b)のテトラカルボン酸二無水物成分及び(c)のジア
ミノシロキサン成分の配合割合を適宜変更することによ
り調整される。
における一般式(1)及び(■)の構造単位の割合は、
該共重合体を製造するための(a)のジアミン成分、(
b)のテトラカルボン酸二無水物成分及び(c)のジア
ミノシロキサン成分の配合割合を適宜変更することによ
り調整される。
例えば異なるジアミン成分を2種以上ジアミン成分とし
て使用することができ、Ar1 ,Ar2,Ar,はそ
れぞれ同一成分として、又は2種以上の成分として使用
されることを意昧する。前記ジアミン成分として具体的
には、4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエ
ニルスルホン、4,4′−ビス(m−アミノフエノキシ
)ジフエニルスルホン、4,4′−ビス(p−アミノフ
エノキシ)ジフエニルエーテル、4,4′−ビス(m−
アミノフエノキシ)ジフエニルエーテル、4,4′−ビ
ス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルケトン、4,4
′−ビス(m−アミノフエノキシ)ジフエニルケトン、
4,45−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルメ
タン、4,42−ビス(m−アミノフエノキシ)ジフエ
ニルメタン、4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)
ジフエニルサルフアイド、4,4′−ビス(m−アミノ
フエノキシ)ジフエニルサルフアイド等が挙げられる。
て使用することができ、Ar1 ,Ar2,Ar,はそ
れぞれ同一成分として、又は2種以上の成分として使用
されることを意昧する。前記ジアミン成分として具体的
には、4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエ
ニルスルホン、4,4′−ビス(m−アミノフエノキシ
)ジフエニルスルホン、4,4′−ビス(p−アミノフ
エノキシ)ジフエニルエーテル、4,4′−ビス(m−
アミノフエノキシ)ジフエニルエーテル、4,4′−ビ
ス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルケトン、4,4
′−ビス(m−アミノフエノキシ)ジフエニルケトン、
4,45−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルメ
タン、4,42−ビス(m−アミノフエノキシ)ジフエ
ニルメタン、4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)
ジフエニルサルフアイド、4,4′−ビス(m−アミノ
フエノキシ)ジフエニルサルフアイド等が挙げられる。
テトラカルボン酸二無水物として具体的にはピロメリツ
ト酸二無水物、3,3′,4,4′−べンゾフエノンテ
トラカルボン酸二無水物等、一般のポリイミドの合成に
使用される環状炭化水素系テトラカルボン酸二無水物が
挙げられる。
ト酸二無水物、3,3′,4,4′−べンゾフエノンテ
トラカルボン酸二無水物等、一般のポリイミドの合成に
使用される環状炭化水素系テトラカルボン酸二無水物が
挙げられる。
ジアミノシロキサンとしては具体的には下記の化合物が
挙げられる。
挙げられる。
前記各成分の割合は、(1)及び(■)の単位構造から
明らかなようにジアミン及びジアミノシロキサンの合計
のアミノ基に対して当量のテトラカルボン酸二無水物を
必要とするが、ジアミンとジアミノシロキサンとの比率
は前者95〜60モル?、後者5〜40モル70の範囲
から選択される。
明らかなようにジアミン及びジアミノシロキサンの合計
のアミノ基に対して当量のテトラカルボン酸二無水物を
必要とするが、ジアミンとジアミノシロキサンとの比率
は前者95〜60モル?、後者5〜40モル70の範囲
から選択される。
前記各成分の共縮重合は、有機溶媒例えば、Nーメチル
−2−ピロリドン、ジメチルアセトアミド、ジメチルホ
ルムアミドに各成分を溶解し常温で撹拌することにより
、その前駆物質であるポリアミド酸を生成させ、これを
配向膜形成用重合体洛液として基板に塗布した後、加熱
して閉環することにより行なわれる。前記ポリイミドー
シロキサン共重合体を配向膜として液晶表示素子に適用
する場合、電極層の下層又は上層に無機絶縁膜を設けた
基板で実施すれば更に優れた素子が得られる。
−2−ピロリドン、ジメチルアセトアミド、ジメチルホ
ルムアミドに各成分を溶解し常温で撹拌することにより
、その前駆物質であるポリアミド酸を生成させ、これを
配向膜形成用重合体洛液として基板に塗布した後、加熱
して閉環することにより行なわれる。前記ポリイミドー
シロキサン共重合体を配向膜として液晶表示素子に適用
する場合、電極層の下層又は上層に無機絶縁膜を設けた
基板で実施すれば更に優れた素子が得られる。
これはガラス基板上の該共重合体膜よりもSiO2等の
膜上の共重合体膜の方が比較的加熱減量が少なく耐熱性
が良いという実験結果に基づくものである。このような
効果を示す絶縁膜としてはSi0,,At203 ,T
iO2等が挙げられる。前記ポリイミドーシロキサン共
重合体からの配向膜形成は常法により行なわれ、共重合
体溶液の取り扱いに特別の配慮を要せず、例えば刷毛塗
り、浸漬、回転塗布、印刷、その他慣用の手段を用いて
行ない、皮膜硬化後は布、ガーゼ等でこすり操作を施し
、配向性を与える。これにより380℃でフリツトシー
ルを行ない液晶表示素子を形成することができる。本発
明において一層強固な密着性を有する配向膜を得るため
に、エポキシ系及びアミノ系シランカツプリング剤の一
種以上を併用することができる。
膜上の共重合体膜の方が比較的加熱減量が少なく耐熱性
が良いという実験結果に基づくものである。このような
効果を示す絶縁膜としてはSi0,,At203 ,T
iO2等が挙げられる。前記ポリイミドーシロキサン共
重合体からの配向膜形成は常法により行なわれ、共重合
体溶液の取り扱いに特別の配慮を要せず、例えば刷毛塗
り、浸漬、回転塗布、印刷、その他慣用の手段を用いて
行ない、皮膜硬化後は布、ガーゼ等でこすり操作を施し
、配向性を与える。これにより380℃でフリツトシー
ルを行ない液晶表示素子を形成することができる。本発
明において一層強固な密着性を有する配向膜を得るため
に、エポキシ系及びアミノ系シランカツプリング剤の一
種以上を併用することができる。
このようなシランカツプリング剤としては、例えばγ−
アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシ
プロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。液晶表示
素子は周知のように、2枚の基板の周辺部分にある端子
部を露出させ、外部導体に接続する必要があるが、配向
膜の端子部エツチングには本発明においても常用の手段
を用いることができ、例えば、端子部にマスクレジスト
を印刷し前記共重合体膜を形成後にこれを除去する方法
又は酸素プラズマの使用により行なわれる。
アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシ
プロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。液晶表示
素子は周知のように、2枚の基板の周辺部分にある端子
部を露出させ、外部導体に接続する必要があるが、配向
膜の端子部エツチングには本発明においても常用の手段
を用いることができ、例えば、端子部にマスクレジスト
を印刷し前記共重合体膜を形成後にこれを除去する方法
又は酸素プラズマの使用により行なわれる。
本発明の表示素子に封入する液晶としては、(1)シツ
フ型液晶(例えば=N−41)−CNの混合物、以下液
晶組成物1という)、(2)ビフエニル型液晶(例えば
C7H150→(》卜《?)←CNの混合物、以下液晶
組成物2という)、(3)エステル型液晶(例えばC4
H,廿cooX:◆←CNの混合物、以下液晶組成物3
という)、(4)シクロヘキサン型液晶(例えば(C3
H7−<,H〉−coo→ζ」》−C5H11の混合物
、以下液晶組成物4という。
フ型液晶(例えば=N−41)−CNの混合物、以下液
晶組成物1という)、(2)ビフエニル型液晶(例えば
C7H150→(》卜《?)←CNの混合物、以下液晶
組成物2という)、(3)エステル型液晶(例えばC4
H,廿cooX:◆←CNの混合物、以下液晶組成物3
という)、(4)シクロヘキサン型液晶(例えば(C3
H7−<,H〉−coo→ζ」》−C5H11の混合物
、以下液晶組成物4という。
なお{HXはシクロヘキシレン基を示す。)等を用いる
ことができ、いずれも2成分以上の液晶化合物の混合物
である。前記のようにして構成される本発明の液晶表示
素子は、フリツトシールを行なつても配向性、可撓性基
板への接着性並びに透過率が優れ、又有機シールを行な
つた際にも沿面抵抗の低下を防ぎ、「にじみ」の発生し
ない液晶表示素子である。次に本発明を実施例について
説明するが本発明はこれらになんら限定されるものでは
ない。実施例 14,4′−ビス(m−アミノフエノキ
シ)ジフエニルスルホン(95モル%)、構造式で示さ
れるシロキサン化合物(5モル%)、3,3(4,4′
−べンゾフエノンテトラカルボン酸二無水物(100モ
ル%)及びN−メチル−2−ピロリドンをフラスコ容器
に入れ、15〜20℃で5時間撹拌し、25℃での粘度
10000cpの15%共重合体溶液を得た。
ことができ、いずれも2成分以上の液晶化合物の混合物
である。前記のようにして構成される本発明の液晶表示
素子は、フリツトシールを行なつても配向性、可撓性基
板への接着性並びに透過率が優れ、又有機シールを行な
つた際にも沿面抵抗の低下を防ぎ、「にじみ」の発生し
ない液晶表示素子である。次に本発明を実施例について
説明するが本発明はこれらになんら限定されるものでは
ない。実施例 14,4′−ビス(m−アミノフエノキ
シ)ジフエニルスルホン(95モル%)、構造式で示さ
れるシロキサン化合物(5モル%)、3,3(4,4′
−べンゾフエノンテトラカルボン酸二無水物(100モ
ル%)及びN−メチル−2−ピロリドンをフラスコ容器
に入れ、15〜20℃で5時間撹拌し、25℃での粘度
10000cpの15%共重合体溶液を得た。
この溶液を3%に希釈し、配向膜形成用重合体溶液とし
た。予めSiO2の無機膜を1000λの厚さに形成し
、更にIn203を主成分とする透明電極を形成u端子
部にマスク材を印刷した基板に回転塗布で前記重合体溶
液を塗布した。
た。予めSiO2の無機膜を1000λの厚さに形成し
、更にIn203を主成分とする透明電極を形成u端子
部にマスク材を印刷した基板に回転塗布で前記重合体溶
液を塗布した。
マスク材を除去後、250℃で1時間加熱閉環させ、ポ
リイミドーシロキサン共重合体の配向膜を800λの厚
さに形成した。その後一定方向に綿布でこすり操作を行
ない、基板周辺にガラスフリツトを印刷し、2枚の基板
を組み合せて、370℃で30分間焼成し素子を形成し
た。これらの素子にそれぞれ別個に後記の表に示した液
晶を注入し、しかる後にそれぞれの注入口をエポキシ樹
脂で封止して液晶素子を作製した。
リイミドーシロキサン共重合体の配向膜を800λの厚
さに形成した。その後一定方向に綿布でこすり操作を行
ない、基板周辺にガラスフリツトを印刷し、2枚の基板
を組み合せて、370℃で30分間焼成し素子を形成し
た。これらの素子にそれぞれ別個に後記の表に示した液
晶を注入し、しかる後にそれぞれの注入口をエポキシ樹
脂で封止して液晶素子を作製した。
これらの素子を分光器を用いて透過率を調べた。又、素
子を70℃、RH95%の雰囲気中に100時間放置し
た後、点灯し「にじみ]の有無を調べた。その結果を併
せて後記の表に示したが、素子の透過率が向上し、沿面
抵抗が殆んど低下せず「にじみ]の発生しない表示素子
を作製できた。実施例 2 4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルエ
ーテル(60モル%)と構造式で示されるシロキサン化
合物(40モル%)、ピロメリツト酸二無水物(50モ
ル%)及び3,3(4,4′−べンゾフエノンテトラカ
ルボン酸二無水物(50モル%)をN,N−ジメチルア
セトアミド中で15℃、6時間反応させて、25℃、粘
度12000cpの15%共重合溶液を得た。
子を70℃、RH95%の雰囲気中に100時間放置し
た後、点灯し「にじみ]の有無を調べた。その結果を併
せて後記の表に示したが、素子の透過率が向上し、沿面
抵抗が殆んど低下せず「にじみ]の発生しない表示素子
を作製できた。実施例 2 4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルエ
ーテル(60モル%)と構造式で示されるシロキサン化
合物(40モル%)、ピロメリツト酸二無水物(50モ
ル%)及び3,3(4,4′−べンゾフエノンテトラカ
ルボン酸二無水物(50モル%)をN,N−ジメチルア
セトアミド中で15℃、6時間反応させて、25℃、粘
度12000cpの15%共重合溶液を得た。
この溶液を4%に希釈し、配向膜形成用重合体溶液とし
た。In,o3の透明電極の端子部にマスク材を印刷し
回転塗布で前記重合体溶液を塗布し、マスク材を除去後
、280℃で加熱閉環させ、ポリイミドーシロキサン共
重合体を有する配向膜を1200Aの厚さに形成した。
た。In,o3の透明電極の端子部にマスク材を印刷し
回転塗布で前記重合体溶液を塗布し、マスク材を除去後
、280℃で加熱閉環させ、ポリイミドーシロキサン共
重合体を有する配向膜を1200Aの厚さに形成した。
以下実施例1と同様に素子を作製し、透過率と沿面抵抗
を測定した。
を測定した。
その結果を後記の表に示す。実施例 34,4′−ビス
(m−アミノフエノキシ)ジフエニルケトン(80モル
%)、構造式で示されるシロキサン化合物(20モル%
)及びピロメリツト酸二無水物(100モル%)をN,
N−ジメチルホルムアミド中で20℃、7時間反応させ
て、25℃の粘度8000cpの17%共重合体溶液を
得た。
(m−アミノフエノキシ)ジフエニルケトン(80モル
%)、構造式で示されるシロキサン化合物(20モル%
)及びピロメリツト酸二無水物(100モル%)をN,
N−ジメチルホルムアミド中で20℃、7時間反応させ
て、25℃の粘度8000cpの17%共重合体溶液を
得た。
この溶液を5%に希釈し、配向膜形成用重合体溶液とし
た外は実施例1と同様の工程により配向膜を1000A
の厚さに形成した。その結果を後記の表に示す。実施例
4 4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルメ
タン(80モル%)、構造式で示されるシロキサン化合
物(20モル%)、3,3(4,4−べンゾフエノンテ
トラカルボン酸二無水物(100モル%)をN−メチル
−2−ピロリドン中で20℃、5時間反応させて、25
℃の粘度15000cpの18%共重合体溶液を得た。
た外は実施例1と同様の工程により配向膜を1000A
の厚さに形成した。その結果を後記の表に示す。実施例
4 4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルメ
タン(80モル%)、構造式で示されるシロキサン化合
物(20モル%)、3,3(4,4−べンゾフエノンテ
トラカルボン酸二無水物(100モル%)をN−メチル
−2−ピロリドン中で20℃、5時間反応させて、25
℃の粘度15000cpの18%共重合体溶液を得た。
この溶液を3%に希釈し、配向膜形成用重合体溶液とし
た外は実施例1と同様の工程により配向膜を1200λ
の厚さに形成した。その結果を後記の表に示す。実施例
5 4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルサ
ルフアイド(70モル%)、構造式で示されるシロキサ
ン化合物(30モル%)及びピロメリツト酸二無水物(
100モル%)をN,N−ジメチルアセトアミド中で2
0℃で、7時間反応させて、25℃の粘度12000c
pの15?共重合体溶液を得た。
た外は実施例1と同様の工程により配向膜を1200λ
の厚さに形成した。その結果を後記の表に示す。実施例
5 4,4′−ビス(p−アミノフエノキシ)ジフエニルサ
ルフアイド(70モル%)、構造式で示されるシロキサ
ン化合物(30モル%)及びピロメリツト酸二無水物(
100モル%)をN,N−ジメチルアセトアミド中で2
0℃で、7時間反応させて、25℃の粘度12000c
pの15?共重合体溶液を得た。
この溶液を4%に希釈レ配向膜形成用重合体溶液とした
外は実施例1と同様の工程により配向膜を800λの厚
さに形成した。その結果を後記の表に示す。実施例 6 実施例1の配向膜形成用重合体溶液を用いて、同様の操
作で有機シール素子を形成し、それぞれの液晶を注入し
た。
外は実施例1と同様の工程により配向膜を800λの厚
さに形成した。その結果を後記の表に示す。実施例 6 実施例1の配向膜形成用重合体溶液を用いて、同様の操
作で有機シール素子を形成し、それぞれの液晶を注入し
た。
その結果を後記の表に示す。実施例 7実施例3の配向
膜形成用重合体溶液を用いて、同様の操作で有機シール
素子を形成し、それぞれの液晶を注入した。
膜形成用重合体溶液を用いて、同様の操作で有機シール
素子を形成し、それぞれの液晶を注入した。
その結果を後記の表に示す。実施例 8実施例5の配向
膜形成用重合体溶液を用いて、同様の操作で有機シール
素子を形成し、それぞれの液晶を注入した。
膜形成用重合体溶液を用いて、同様の操作で有機シール
素子を形成し、それぞれの液晶を注入した。
その結果を後記の表に示す。以上の結果から本発明のポ
リイミドーシロキサン共重合体を用いた液晶表示素子は
透過率が向上し、沿面抵抗の低下が少なく、又「にじみ
」が発生せず、表示性に極めて優れている。比較例 1 4,4′−ジアミノジフエニルエーテル(100モル%
)、ピロメリツト酸二無水物(100モル(2)をN−
メチル−2−ピロリドンとN,N−ジメチルアセトアミ
ド中で20℃、7時間撹拌し、25℃での粘度2000
0cpの15%共重合体溶液を得た。
リイミドーシロキサン共重合体を用いた液晶表示素子は
透過率が向上し、沿面抵抗の低下が少なく、又「にじみ
」が発生せず、表示性に極めて優れている。比較例 1 4,4′−ジアミノジフエニルエーテル(100モル%
)、ピロメリツト酸二無水物(100モル(2)をN−
メチル−2−ピロリドンとN,N−ジメチルアセトアミ
ド中で20℃、7時間撹拌し、25℃での粘度2000
0cpの15%共重合体溶液を得た。
この洛液を370に希釈し、配向膜形成用重合体溶液と
した。SiO2の無機膜を1000λの厚さに形成し、
更にIn20,を主成分とする透明電極を形成した基板
(端子部にマスク材を印刷)に回転塗布で前記重合体溶
液を塗布した。
した。SiO2の無機膜を1000λの厚さに形成し、
更にIn20,を主成分とする透明電極を形成した基板
(端子部にマスク材を印刷)に回転塗布で前記重合体溶
液を塗布した。
マスク材を除去後、280℃で1時間加熱閉環させポリ
イミド樹脂を有する配向膜を800Aの厚さに形成した
。その後一定方向にこすり操作を行ない、基板周辺にガ
ラスフリツトを印刷し、370℃で30分間焼成し素子
を形成し、液晶を注入して液晶表示素子を形成した。そ
の結果を後記の表に示すが、透過率が低下している。比
較例 2 比較例1の配向膜形成用重合体溶液を用いて、同様の操
作で有機シール素子を形成し、それぞれの液晶を注入し
た。
イミド樹脂を有する配向膜を800Aの厚さに形成した
。その後一定方向にこすり操作を行ない、基板周辺にガ
ラスフリツトを印刷し、370℃で30分間焼成し素子
を形成し、液晶を注入して液晶表示素子を形成した。そ
の結果を後記の表に示すが、透過率が低下している。比
較例 2 比較例1の配向膜形成用重合体溶液を用いて、同様の操
作で有機シール素子を形成し、それぞれの液晶を注入し
た。
その結果を後記の表に示すが、透過率が低下し、又沿面
抵抗も低下しているため「にじみ]が生じた。9 次
に実施例1〜8及び比較例1〜2の液晶表示素子の透過
率、沿面抵抗、にじみの発生についての測定結果を併せ
て表示する。
抵抗も低下しているため「にじみ]が生じた。9 次
に実施例1〜8及び比較例1〜2の液晶表示素子の透過
率、沿面抵抗、にじみの発生についての測定結果を併せ
て表示する。
前記の表から明らかなように、本発明の液晶表示素子は
液晶の種類、シール手段の相違に拘らず透過率に優れ、
特に有機シールの場合には比較例との対比からみてにじ
みの発生が抑制されるという効果を奏する。
液晶の種類、シール手段の相違に拘らず透過率に優れ、
特に有機シールの場合には比較例との対比からみてにじ
みの発生が抑制されるという効果を奏する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 電極が形成された基板上に液晶配向膜を有する液晶
表示素子において、該配向膜が一般式▲数式、化学式、
表等があります▼…( I )及び ▲数式、化学式、表等があります▼…(II)(式中Xは
−O−,−CH_2−,−SO_2−,−S−又は−C
O−を示し、¥Ar_1¥はテトラカルボン酸二無水物
残基を示し、¥Ar_2¥はアルキレン基又は場合によ
りアルキル基により置換されることもあるフェニレン基
を示し、¥Ar_3¥はアルキル基又はアリール基を示
す)で表わされる単位構造を有するポリイミド−シロキ
サン共重合体で構成されることを特徴とする液晶表示素
子。 2 電極が形成された基板上に液晶配向膜を形成するに
際し、(a)一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中Xは−O−,−CH_2−,−SO_2−,又は
−CO−を示す)で表わされるジアミン(b)一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中Ar_1はテトラカルボン酸二無水物残基を示す
)で表わされるテトラカルボン酸二無水物及び(c)一
般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中Ar_2はアルキレン基又場合によりアルキル基
により置換されることもあるフェニレン基を示し、Ar
_3はアルキル基又はアリール基を示す)で表わされる
ジアミノシロキサンを有機溶媒中で重縮合し、得られる
重合体溶液を基板に塗布した後、閉環することにより前
記配向膜を形成することを特徴とする液晶表示素子の製
造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP54111673A JPS5949565B2 (ja) | 1979-09-03 | 1979-09-03 | 液晶表示素子並びにその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP54111673A JPS5949565B2 (ja) | 1979-09-03 | 1979-09-03 | 液晶表示素子並びにその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5636624A JPS5636624A (en) | 1981-04-09 |
JPS5949565B2 true JPS5949565B2 (ja) | 1984-12-04 |
Family
ID=14567277
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP54111673A Expired JPS5949565B2 (ja) | 1979-09-03 | 1979-09-03 | 液晶表示素子並びにその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5949565B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6363248U (ja) * | 1986-10-14 | 1988-04-26 | ||
JPS63133813U (ja) * | 1987-02-23 | 1988-09-01 | ||
JPH0259061U (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 |
-
1979
- 1979-09-03 JP JP54111673A patent/JPS5949565B2/ja not_active Expired
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6363248U (ja) * | 1986-10-14 | 1988-04-26 | ||
JPS63133813U (ja) * | 1987-02-23 | 1988-09-01 | ||
JPH0259061U (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5636624A (en) | 1981-04-09 |
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