JPS594074B2 - シンギパタ−ンハンベツソウチ - Google Patents
シンギパタ−ンハンベツソウチInfo
- Publication number
- JPS594074B2 JPS594074B2 JP50148665A JP14866575A JPS594074B2 JP S594074 B2 JPS594074 B2 JP S594074B2 JP 50148665 A JP50148665 A JP 50148665A JP 14866575 A JP14866575 A JP 14866575A JP S594074 B2 JPS594074 B2 JP S594074B2
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- JP
- Japan
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- pattern
- signal
- detected
- true
- outputs
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、紙幣などシート状の被検出パターン体があら
かじめ設定された真正パターンと一致するか否かによつ
て、当該被検出パターン体の真偽を判別する装置に係り
、該真偽パターン判別装置の構成を改良して比較的少な
い検知器群により被５ 検出パターン体の送り速度など
に関係なく、当該被検出パターン体の真偽を正確に判別
しようとする目的から開発されたものである。
かじめ設定された真正パターンと一致するか否かによつ
て、当該被検出パターン体の真偽を判別する装置に係り
、該真偽パターン判別装置の構成を改良して比較的少な
い検知器群により被５ 検出パターン体の送り速度など
に関係なく、当該被検出パターン体の真偽を正確に判別
しようとする目的から開発されたものである。
まず、実施例を添付図面の第１図にもとづき説明すると
、Ｐｉは１、０００円紙幣など模様（パタ１０−ン）を
有するシート状の被検出パターン体、１はこの被検出パ
ターン体を通過せしむ通路ケースで、該通路ケースは被
検出パターン体Ｐｉを挿入する挿入口２にならび排出す
る排出口３を有している。
、Ｐｉは１、０００円紙幣など模様（パタ１０−ン）を
有するシート状の被検出パターン体、１はこの被検出パ
ターン体を通過せしむ通路ケースで、該通路ケースは被
検出パターン体Ｐｉを挿入する挿入口２にならび排出す
る排出口３を有している。
１５Ｄｉは通路ケース１の挿入口２寄りに設けられる被
検出パターン体Ｐｉの挿入確認用の検出器群で、該挿入
確認用検出器は光源ならびに受光素子あるいは磁気検出
素子などからなり、被検出パターン体Ｐｉの挿入口２へ
の投入を検出して、当該２０被検出パターン体を通路ケ
ース１内にさらに引き込む装置（図示省略）を作動する
。
検出パターン体Ｐｉの挿入確認用の検出器群で、該挿入
確認用検出器は光源ならびに受光素子あるいは磁気検出
素子などからなり、被検出パターン体Ｐｉの挿入口２へ
の投入を検出して、当該２０被検出パターン体を通路ケ
ース１内にさらに引き込む装置（図示省略）を作動する
。
Ｄｅｌ、Ｄｅ２は通路ケース１の中央寄りに設けられる
被検出パターン体Ｐｉの一方、他方サイドを検出するエ
ッジ検出器で、該エッジ検出器は２５被検出パターン体
Ｐｉのサイドにおけるパターンに対応した信号を発し、
光源ならびに受光素子Ｒｅｌ、Ｒｅ２あるいは磁気検出
素子などからなり、通路ケース１内を移動する被検出パ
ターン体Ｐｉの両サイドを検出して、第２図、第図の如
く、両検３０出信号の和であるエッジ検出信号ｅを出力
する。
被検出パターン体Ｐｉの一方、他方サイドを検出するエ
ッジ検出器で、該エッジ検出器は２５被検出パターン体
Ｐｉのサイドにおけるパターンに対応した信号を発し、
光源ならびに受光素子Ｒｅｌ、Ｒｅ２あるいは磁気検出
素子などからなり、通路ケース１内を移動する被検出パ
ターン体Ｐｉの両サイドを検出して、第２図、第図の如
く、両検３０出信号の和であるエッジ検出信号ｅを出力
する。
なお、第２図の矢印ｔｉは被検出パターン体Ｐｉ。の検
出開始時点をしめしている。Ｄａは対になるエッジ検出
器Ｄｅｌ、Ｄｅ２間に設けられる被検出パターン体Ｐｉ
模様の検出器で、３５該模様検出器は光源４ならびに受
光素子Ｒｏあ・るいは磁気検出素子などからなり、通路
ケース１内を移動する被検出パターンＰ１の模様部を検
出して、第２，３図の如く、パターンに対応した模様検
出信号ｃを出力する。
出開始時点をしめしている。Ｄａは対になるエッジ検出
器Ｄｅｌ、Ｄｅ２間に設けられる被検出パターン体Ｐｉ
模様の検出器で、３５該模様検出器は光源４ならびに受
光素子Ｒｏあ・るいは磁気検出素子などからなり、通路
ケース１内を移動する被検出パターンＰ１の模様部を検
出して、第２，３図の如く、パターンに対応した模様検
出信号ｃを出力する。
なお、受光素子Ｒｅｌ，Ｒｅ２，Ｒｃに被検出パターン
体に応じてカラーフイルタ５を使用するようにしても良
いことは勿論である。
体に応じてカラーフイルタ５を使用するようにしても良
いことは勿論である。
第３図のＤＡは差動（比較）増巾器で、該差動増巾器は
エツジ検出信号ｅならびに模様検出信号ｃ奇それぞれ入
力して検出信号ｄを出力する。
エツジ検出信号ｅならびに模様検出信号ｃ奇それぞれ入
力して検出信号ｄを出力する。
従来においては、１被検出パターン体Ｐｌの両サイドに
設けられたエツジ検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ２の出力は被検出
パターンが通路でかたよることによつてＤｅｌ，Ｄｅ２
の出力に差が生じる。２被検出パターンのよごれによつ
てもＤｅｌ，Ｄｅ２の出力は差が生じる等の問題がある
。
設けられたエツジ検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ２の出力は被検出
パターンが通路でかたよることによつてＤｅｌ，Ｄｅ２
の出力に差が生じる。２被検出パターンのよごれによつ
てもＤｅｌ，Ｄｅ２の出力は差が生じる等の問題がある
。
１についてはＤｅｌ，Ｄｅ２の和を取ることにより通路
でのかたよりによる問題もなくなり、かつ、被検出パタ
ーンの大きさも同時に判別出来る。
でのかたよりによる問題もなくなり、かつ、被検出パタ
ーンの大きさも同時に判別出来る。
エツジ検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ２から発せられる検出信号の
和であるエツジ検出信号ｅは第２図ｅ波形の様に被被検
出パターン出力として安定である。この入力と中央位置
模様検出信号ｃとの差をＤＡなる差動増巾器にて増巾す
ることにより第２図ｄ波形の様になる。２の被検出パタ
ーンがよごれている場合はエツジ検出出力の和ｅは第２
図の波形右側の様に通常状態に比較して低いレベルにな
る。
和であるエツジ検出信号ｅは第２図ｅ波形の様に被被検
出パターン出力として安定である。この入力と中央位置
模様検出信号ｃとの差をＤＡなる差動増巾器にて増巾す
ることにより第２図ｄ波形の様になる。２の被検出パタ
ーンがよごれている場合はエツジ検出出力の和ｅは第２
図の波形右側の様に通常状態に比較して低いレベルにな
る。
しかし模様検出出力ｃも第２図Ｃ波形右側の様に通常送
態に比較してＤＣ（直流）レベルのみが低くなる。だか
ら両者を差動増巾することにＤＣ（直流）レベルの変化
は出力に表われずＡＣ（交流）出力のみが正確に増巾さ
れる。上記の様に３ケの検出により被検出パターンの巾
寸法をチエツクしよごれ等による影響のない検出が出来
る。
態に比較してＤＣ（直流）レベルのみが低くなる。だか
ら両者を差動増巾することにＤＣ（直流）レベルの変化
は出力に表われずＡＣ（交流）出力のみが正確に増巾さ
れる。上記の様に３ケの検出により被検出パターンの巾
寸法をチエツクしよごれ等による影響のない検出が出来
る。
言い換えると、エツジ検出器Ｄｉｌ，Ｄｅ２の出力の和
と、模様検出器Ｄｅの出力との差にてパターン検出信号
ｄを得る。ＴＳは差動増巾器ＤＡの後段に設けられるイ
キ値判別器で、該イキ値判別器は一対の比較器ＣＭｌ，
ＣＭ２などからなり、パターン検出信号ｄが予め設定さ
れたイキ値幅ｈ内にあれば低レベルとなり、イキ値幅ｈ
を越えれば高レベルとなるパルス信号Ｐを出力する（第
２図参照）。ＣＴはイキ値判別器ＴＳの後段に設けられ
るカウンタで、該カウンタはパルス信号Ｐを入力してパ
ルス信号Ｐのパルス数を計数し計数信号αを出力する。
なお、ＲはカウンタＣＴをりセツトする信号で、該信号
は、たとえば被検出パターン体Ｐｌが通路ケース１内に
挿入されて検出器Ｄｌにより検出されたときなどのスタ
ート時に印加される。ＰＳは設定器で、該設定器は被検
出パターン体Ｐｉの真正パターン体にもとづく真正計数
信号β１≦β２を出力するもので、当該真正計数信号は
真正パターンにもとずいて、あらかじめ上限と下限とが
設定されて出力される。
と、模様検出器Ｄｅの出力との差にてパターン検出信号
ｄを得る。ＴＳは差動増巾器ＤＡの後段に設けられるイ
キ値判別器で、該イキ値判別器は一対の比較器ＣＭｌ，
ＣＭ２などからなり、パターン検出信号ｄが予め設定さ
れたイキ値幅ｈ内にあれば低レベルとなり、イキ値幅ｈ
を越えれば高レベルとなるパルス信号Ｐを出力する（第
２図参照）。ＣＴはイキ値判別器ＴＳの後段に設けられ
るカウンタで、該カウンタはパルス信号Ｐを入力してパ
ルス信号Ｐのパルス数を計数し計数信号αを出力する。
なお、ＲはカウンタＣＴをりセツトする信号で、該信号
は、たとえば被検出パターン体Ｐｌが通路ケース１内に
挿入されて検出器Ｄｌにより検出されたときなどのスタ
ート時に印加される。ＰＳは設定器で、該設定器は被検
出パターン体Ｐｉの真正パターン体にもとづく真正計数
信号β１≦β２を出力するもので、当該真正計数信号は
真正パターンにもとずいて、あらかじめ上限と下限とが
設定されて出力される。
ＣＯＭはカウンタＣＴの後段に接続される範囲比較器で
、該比較器は計数信号αならびに真正計数信号β１≦β
２をそれぞれ入カチエツクして、当該計数信号αが真正
計数信号の範囲内にあるときにのみ、真正信号β１≦α
≦β２を出力する。上記の如くなる本発明は、１０００
円紙幣などの被検出パターン体Ｐｉを通路ケース１の挿
入口２内に投入すると、該被検出パターン体Ｐｌが検出
器Ｄｉによつて検出され、図示省略の引き込み装置に・
より当該被検出パターン体Ｐｉが、通路ケース１内にさ
らに引き込まれると共に、検出器、Ｄｅｌｓ，Ｄｅ２，
Ｄｃ群によつて移動する該被検出パターン体の両サイド
部ならびに中央模様部が検出され、差動増巾器ＤＡなら
びにイキ値判別器ＴＳおよびカウンタＣＴにより、移動
する当該被検出パターン体Ｐｉの両サイド部ならびに中
央模様部にもとづく被検出パターンである計数信号αが
出力されて、あらかじめ設定された真正パターン体にも
とづく真正計数信号β１≦β２により範囲比較器ＣＯＭ
を介して真偽が判別され、当該被検出パターンＰｉが真
とみなされたとき、真正信号β１≦α≦β２が出力され
る。
、該比較器は計数信号αならびに真正計数信号β１≦β
２をそれぞれ入カチエツクして、当該計数信号αが真正
計数信号の範囲内にあるときにのみ、真正信号β１≦α
≦β２を出力する。上記の如くなる本発明は、１０００
円紙幣などの被検出パターン体Ｐｉを通路ケース１の挿
入口２内に投入すると、該被検出パターン体Ｐｌが検出
器Ｄｉによつて検出され、図示省略の引き込み装置に・
より当該被検出パターン体Ｐｉが、通路ケース１内にさ
らに引き込まれると共に、検出器、Ｄｅｌｓ，Ｄｅ２，
Ｄｃ群によつて移動する該被検出パターン体の両サイド
部ならびに中央模様部が検出され、差動増巾器ＤＡなら
びにイキ値判別器ＴＳおよびカウンタＣＴにより、移動
する当該被検出パターン体Ｐｉの両サイド部ならびに中
央模様部にもとづく被検出パターンである計数信号αが
出力されて、あらかじめ設定された真正パターン体にも
とづく真正計数信号β１≦β２により範囲比較器ＣＯＭ
を介して真偽が判別され、当該被検出パターンＰｉが真
とみなされたとき、真正信号β１≦α≦β２が出力され
る。
かくして、被検出パターン体Ｐｉが真正パターン体と同
じものであることを意味する真正信号β１≦α≦β２が
出力されると、引き込み装置（図示省略）がさらに作動
されて、当該被検出パターン体Ｐ１は排出口３から通路
ケース１外へ排出される。
じものであることを意味する真正信号β１≦α≦β２が
出力されると、引き込み装置（図示省略）がさらに作動
されて、当該被検出パターン体Ｐ１は排出口３から通路
ケース１外へ排出される。
真正信号β１≦α≦β２が出力されないときほ被検出パ
ターン体Ｐｉが真正パターン体と同じものでないこと、
すなわち偽物であることを意味する。
ターン体Ｐｉが真正パターン体と同じものでないこと、
すなわち偽物であることを意味する。
この場合、当該被検出パターン体Ｐｉを引き込む装置（
図示省略）がりセツトされて、該被検出パターン体はも
との挿入口２にもどされ返却される。以上の如くなる本
発明は、相対的に移動する被検出パターン体Ｐｉのサイ
ドならびに中央をそれぞれ検出する検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ
２，Ｉ）ｃと、該検出器の出力を差動比較する増巾器Ｄ
Ａと、該増巾器の出力をあらかじめ設定されたイキ値に
て判別しパルス出力するイキ値判別器ＴＳと、該判別器
のパルス出力を計数するカウンタＣＴと、上記被検出パ
ターン体Ｐｉの真正パターンに対応する真正計数信号β
１≦β２を出力する設定器ＰＳと、該真正計数信号と上
記カウンタからの計数信号αとを比較して、計数信号α
が真正計数信号β１≦β２内にあるとき真正信号β１≦
α≦β２を出力する比較器ＣＯＭとからなり、当該真正
信号β１≦α≦β２のチエツクによつて上記被検出パタ
ーン体Ｐｉの真偽を判別するようにした真偽パターン判
別装置であるから、検出器群を２，３個と比較的少ない
数にすることができると共に、被検出パターンの両サイ
ドをチエツクしているため巾寸法をも自動的にチエツク
され、被検出パターン体Ｐ１の引き込み速度すなわち移
動速度に関係なく、又、被検出パターン体のよごれ、例
えば一方サイドから他方サイドへ順次よごれがひどくな
るよごれ等にも関係なく当該被検出パターン体の真偽を
正確に判別できる装置である。
図示省略）がりセツトされて、該被検出パターン体はも
との挿入口２にもどされ返却される。以上の如くなる本
発明は、相対的に移動する被検出パターン体Ｐｉのサイ
ドならびに中央をそれぞれ検出する検出器Ｄｅｌ，Ｄｅ
２，Ｉ）ｃと、該検出器の出力を差動比較する増巾器Ｄ
Ａと、該増巾器の出力をあらかじめ設定されたイキ値に
て判別しパルス出力するイキ値判別器ＴＳと、該判別器
のパルス出力を計数するカウンタＣＴと、上記被検出パ
ターン体Ｐｉの真正パターンに対応する真正計数信号β
１≦β２を出力する設定器ＰＳと、該真正計数信号と上
記カウンタからの計数信号αとを比較して、計数信号α
が真正計数信号β１≦β２内にあるとき真正信号β１≦
α≦β２を出力する比較器ＣＯＭとからなり、当該真正
信号β１≦α≦β２のチエツクによつて上記被検出パタ
ーン体Ｐｉの真偽を判別するようにした真偽パターン判
別装置であるから、検出器群を２，３個と比較的少ない
数にすることができると共に、被検出パターンの両サイ
ドをチエツクしているため巾寸法をも自動的にチエツク
され、被検出パターン体Ｐ１の引き込み速度すなわち移
動速度に関係なく、又、被検出パターン体のよごれ、例
えば一方サイドから他方サイドへ順次よごれがひどくな
るよごれ等にも関係なく当該被検出パターン体の真偽を
正確に判別できる装置である。
第１図は本発明の実施例要部をしめす略示的な平面図、
第３図は同上実施例の配線図、第２図は第３図を説明す
る波形図である。 Ｐｉ・・・・・・被検出パターン体、Ｄｅｌ，Ｄｅ２，
Ｄｃ，，Ｄｉ・・・・・・検出器、ＤＡ・・・・・・差
動（比較）増巾器、ＴＳ・・・・・・イキ値判別器、Ｃ
Ｔ・・・・・・カウンタ、ＰＳ・・・・・・設定器、Ｃ
ＯＭ・・・・・・比較器、β１≦β２・・・・・・真正
計数信号、α・・・・・・計数信号、β１≦α≦β２・
・・・・・真正信号。
第３図は同上実施例の配線図、第２図は第３図を説明す
る波形図である。 Ｐｉ・・・・・・被検出パターン体、Ｄｅｌ，Ｄｅ２，
Ｄｃ，，Ｄｉ・・・・・・検出器、ＤＡ・・・・・・差
動（比較）増巾器、ＴＳ・・・・・・イキ値判別器、Ｃ
Ｔ・・・・・・カウンタ、ＰＳ・・・・・・設定器、Ｃ
ＯＭ・・・・・・比較器、β１≦β２・・・・・・真正
計数信号、α・・・・・・計数信号、β１≦α≦β２・
・・・・・真正信号。
Claims (1)
- １ 移動する被検出パターン体の一方及び他方のサイド
を検出し、パターンに対応した検出信号を出力する一対
のエッジ検出器と、上記被検出パターン体の中央を検出
し、パターンに対応した模様検出信号を出力する模様検
出器と、上記両エッジ検出器から出力される検出信号の
和であるエッジ検出信号と模様検出器からの模様検出信
号との差であるパターン検出信号を出力する差動増幅器
と、該増幅器からのパターン検出信号を予め設定された
イキ値にて判別しパルス信号を出力するイキ値判別器と
、該イキ値判別器からのパルス信号を計数するカウンタ
と、該カウンタからの計数信号が真正計数信号範囲にあ
るときのみ真正信号を発する範囲比較器からなり、真正
信号が発せられば被検出パターン体を真とみなし、そう
でなければ被検出パターン体を偽とみなすようにしたこ
とを特徴とする真偽パターン判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50148665A JPS594074B2 (ja) | 1975-12-13 | 1975-12-13 | シンギパタ−ンハンベツソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50148665A JPS594074B2 (ja) | 1975-12-13 | 1975-12-13 | シンギパタ−ンハンベツソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5273093A JPS5273093A (en) | 1977-06-18 |
| JPS594074B2 true JPS594074B2 (ja) | 1984-01-27 |
Family
ID=15457869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50148665A Expired JPS594074B2 (ja) | 1975-12-13 | 1975-12-13 | シンギパタ−ンハンベツソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS594074B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61138387A (ja) * | 1984-12-08 | 1986-06-25 | Hitachi Maxell Ltd | Ｉｃカ−ド |
| JPS61245288A (ja) * | 1985-04-23 | 1986-10-31 | アマノ株式会社 | 駐車場管理装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6097493A (ja) * | 1983-11-02 | 1985-05-31 | 沖電気工業株式会社 | 紙弊正損判別装置 |
-
1975
- 1975-12-13 JP JP50148665A patent/JPS594074B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61138387A (ja) * | 1984-12-08 | 1986-06-25 | Hitachi Maxell Ltd | Ｉｃカ−ド |
| JPS61245288A (ja) * | 1985-04-23 | 1986-10-31 | アマノ株式会社 | 駐車場管理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5273093A (en) | 1977-06-18 |
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