JPS5938635A - 非破壊3次元透視装置 - Google Patents

非破壊3次元透視装置

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JPS5938635A
JPS5938635A JP57148961A JP14896182A JPS5938635A JP S5938635 A JPS5938635 A JP S5938635A JP 57148961 A JP57148961 A JP 57148961A JP 14896182 A JP14896182 A JP 14896182A JP S5938635 A JPS5938635 A JP S5938635A
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JP
Japan
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image
images
deltal
radiation source
fluoroscopic
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Application number
JP57148961A
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English (en)
Inventor
Akihiko Nishida
西田 明彦
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/043Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明技術分野〕 本発明は、物体を非破壊的に3次元に透視する装置に関
する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来、この種装置として3次元xifAcTなどが存在
していた。
しかし、この3次元X線CTでは、大量のX線を放射す
るという点と、これにともなう大壁のX線透視データを
処理しているため高速処理は困難であったという点と、
しかも高速処理を行なおうとすると装置が大きくなると
いう点などの問題点があった。
〔発明の目的〕
本発明は、放射線放射時間を短くし、簡単な装置で放射
線透視データを取得し、簡単なデータ処理で3次元画像
を再生するようvc、 L、た装置を提供することを、
その目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は、放射線源と被透視物体を4目対的に移動させ
ながら複数枚の画像データをとり、この画像を拡大処理
しかつそれらの数枚の画像を平均加算し、その平均加算
された画像から雑音を除去し、この雑音除去された再生
画像数枚から、画像を3次元的に見えるようにした非破
壊3次元透視装置である。
〔発明の実施例〕
第1図は、本発明の一実施例におけるその構成を示すブ
ロックダイアグラムである。
1は制御装置で、全体システムにおけるデータの伝送及
び信号の流れが効率よく行なわれるように制御するもの
である。
2は放射源を移動させる放射線源移動機構である。
3は透視装置で、放射線により物体を透視するとともに
、放射線源の位置をパラメータとして透視画像な暇り入
れるものである。
4は画像入力装置で、透視装置3により得られた物体の
透視画像を連続した電気信号に変換し、かつ放射線源の
位置をパラメータとした透視画像を数枚取り入れるもの
である。
5はA/D変換器で、画像入力装置4により変換された
連続電気信号を全システムの処理速度により定められる
適当なサンプリング周期で、適当なりij数で量子化さ
れた離散電気信号に変換するものである。
6はA/D変換器5により得られた離散信号を貯えてお
く画像メモリである。
7は画像拡大回路で、画像メモリ6に貯えである画像を
縦横両方向の倍に拡大するものである。
8は画像平均加算回路で、画像拡大回路7で様々の拡大
率で拡大された画像を数枚分について平均加算を行ない
、ある高さの断面画像を求めるものである。
9はこの回路8で求められた画像の雑音を除去する画像
雑音除去回路で、この雑音除去された画像は再び画像メ
モリ6に貯えられる。
10は画像3次元化回路で、画像メモリ6に貯えられた
各高さの断面画像を3次元的に認識できるように変換す
るものである。
11はこの回路10で求められた画像を表示する再生画
像表示装置である。
さて、X線などの放射線により透視された物体の画像は
、放射線の吸収係数の分布に従って濃淡階調値の分布と
なる。
本発明は、内部の空胞例えば鋳物部品の巣のようなもの
の存在を3次元透視画像として認識させようとする装置
である。
まず、放射線透視画像の嘔り入れ方について述べる。
第2図はその手段を示す図で、放射線源20を上から下
に動かしくもつとも下から上に向って動かしてもよく、
または被透視物体22を固定した放射線源側に対して動
かしてもよい)、放射線たとえばX線21?:被透視物
体22に照射し、その移動中にng枚の放射線透視画像
G(x + y + it >をΔl移動させるごとに
、画像入力装置4に屯り入れる。
ここ捷での操作は、放射線源移動機槽2.透視裟置39
画像入力装置4.A/D変換65および画像メモリ6に
よって行なわれる。
透視画像の座標系を第3図のように設定する。
(ト)はX線発生地点1,31は画像入力面、32は被
透視物体Uの画像入力面における透視画1尿である。
そして、化4図のような被透視物体四の切1@而40に
ついての切断面画IMS  (x+y、z)を考える。
切断面画像s (x+ y+ z)と取得画像G(x、
y;/)の関係は、 ・・・(1力 となる。
いま、ここで離散化して z=j・Δ2          ・・・(2カ/=i
 ・Δl             ・・・ (3式)
とする。たたし、i、j、n、g+n2はそれぞれ自然
数で 1≦i≦nA          ・・・(4力0≦ 
j≦nz             ・・・ (5式)
(1式)に(2式) 、(3式)を代入して、・・・(
6式) まず次のような座標変換を考える。
倍した画像なc’ (x”+ y’+ ’・Δ4jo・
Δ(イ)とする0この・幼性は、画像拡大回路7におい
て行なわれる。
ゆえに、 G’(x’ + y’+ ’ ・Δ11 + jo ”
Δ2)・・・ (9式) G’matrix=G’  (x’ r y’)   
      −(10式)S matriz = S 
(x’ + ’/’ )         ・−(11
式)よす、お1,9え、ゆア。、1゜え)おい表わせ 
 ’maするO ・・・(12式) 次に、拡大・縮小変換された各画像G(XI5’ll)
を高さlについて加算する。これは画像平均加算回路8
でなされる。この加Wを考えると ・・・(13式) ここで、平均加算された”:m tr i工(j・ΔZ
)ケ(14式)のように定義する。
・・・(1/1式) ・・・′(15式) ここで、(15式)の第2項は低周波画像のボケた画像
を示すので、ある周波数以下の画像成分を除くようにし
てつまり低周波雑音を除去して(たとえば2次元的ロー
パスフィルターと同じ操作を計算機で行なっても良い)
、高周波の鮮明な画像のみを得るような画像処理を画像
雑音除去回路9で行なう。
これにより5ffl、LtrLz (joJZ )とい
うZ=jo”Δ2の位置の断面画像が得られる。
このJ。を区間[:O,NZ)で動かしてやることによ
り、す・\ての高さの断面透視画像が得られ、これを順
に積み重ねてやることにエリ、画像3次元化回路10に
立体透視画像が得られ、再生画像表示装置直11によっ
て表示されるC 以上のステップをまとめると、 ■ 様々の放射線源の高さの透視画像−trix(i−
〃)を取り入れるー [相] 各1について透視画像 Oiについて拡大・縮小された画像’matrix(i
・Δ9を平均加算してやる。
[相] 低周波画像のポケた画像を取り除くような画像
処理を行なう。
■ 谷j0について、@〜θ〜[相]を繰り返し行ない
各断面の透視画像を得て立体透視画像を得る。
このように■〜■の処理を行えば、非破壊で3次元透視
画像が得られる。
しかして本発明は、画像処理としては複雑なことをほと
んど行なっていないため、画I象データを離散信号化し
ないで連続信号のま\で処理を行なってもよい。
また、3次元透視画像を画像3次元化し、視覚に訴える
ような表示を行なわないで、データメモリに入れておい
てこのデータをもとに自jj!物体認識などに利用する
ことも可能である。
さらに丑た、画像入力装置4において、入力透視画像の
シェーディング(shading )補正、幾何歪補正
、雑音除去などを行なうこと[より再生画像は改善され
うる。
〔発明の効果〕
かくして本発明によれば、短い放射時間で簡単な放射線
透視装置により、簡単なデータ処理で3次元透視画像を
得られる。このため工場の大量生産ラインのような高速
の非破壊検査に用いることにより、多大な有用性を発揮
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における構成を示すブロック
ダイアグラム、第2図はその放射線透視画像の取り入れ
方の説明図、第3図は透視画像の座標系の設定図、第4
図は被透視物体と断面図の関係説明図である。 1・・・制御装置、2・・・放射線源移動機構、3・・
・透視装置61.4・・・画像入力装置、5・・・A/
D変j・h器、6・・・画像メモリ、7・・・画像拡大
回路、8・・・画像平均加算回路、9・・・画像雑音除
去回路、10・・・画像3次元化回路、11・・・再生
画像表示装置の・・放射線源、2】・・・X a、22
・・・被透視物体、30・・・X線発生地点、31・・
・画像入力面、32・・・透視画像、40・・・断面図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 放射線源を移動させる放射線源移動機楢と、放射線を放
    射し被透視物体を透視する透視装置と、この透視装置の
    画像を入力する画像入力装置と、その画像入力装置から
    の画像データなA/D変換するA/D変換器と、A/D
    変換された画像データを蓄えておく画像メモリと、この
    画像メモリの画像を拡大処理する画像拡大回路と、拡大
    処理された数枚の画像を平均加算する画像平均加算回路
    と、平均加算された画像から雑音を除去する画像雑音除
    去回路と、雑音除去された再生画像数枚から画像を3次
    元的に見えるようにする画像3次元化回路と、再生画像
    を表示する再生画像表示装置と、これまでの各部材の信
    号の授受を司り制御を行なう制御装置とから構成される
    ことを特徴とする非破壊3次元透視装置。
JP57148961A 1982-08-27 1982-08-27 非破壊3次元透視装置 Pending JPS5938635A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7025086B2 (en) 2002-03-07 2006-04-11 Fujitsu Limited Reverse flow preventing device and electronic apparatus
JP2008070048A (ja) * 2006-09-14 2008-03-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd シャッター装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7025086B2 (en) 2002-03-07 2006-04-11 Fujitsu Limited Reverse flow preventing device and electronic apparatus
US7302967B2 (en) 2002-03-07 2007-12-04 Fujitsu Limited Reverse flow preventing device and electronic apparatus
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