JPS5932804A - 長さ測定装置 - Google Patents
長さ測定装置Info
- Publication number
- JPS5932804A JPS5932804A JP14299982A JP14299982A JPS5932804A JP S5932804 A JPS5932804 A JP S5932804A JP 14299982 A JP14299982 A JP 14299982A JP 14299982 A JP14299982 A JP 14299982A JP S5932804 A JPS5932804 A JP S5932804A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output
- scanning angle
- circuit
- length
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の分野
この発明は、光学的に被測定対象の長さを測定する長さ
測定装置に関するものである。
測定装置に関するものである。
（２）従来技術
被測定対象を走査しで、その有無から長さを６１１１定
する場合、光学系の誤差により、正しい実測値が得られ
ない欠点があった。
する場合、光学系の誤差により、正しい実測値が得られ
ない欠点があった。
（３）発明の目的
この発明の目的は２以上の点に鑑み、光学系の誤差を除
去し、常に正しい長さを測定することができるようにし
た長さ測定装置を提供することである。
去し、常に正しい長さを測定することができるようにし
た長さ測定装置を提供することである。
（４）発明の実施例
第１図は、この発明に係る光学的誤差補正の原理図であ
る。
る。
被測定対象１′と検出器１との距離をＬ 、全走査角を
α、検出器の設置６．角をβとすると、任意の走査角θ
に対する位置ｔは次式で与えられる。
α、検出器の設置６．角をβとすると、任意の走査角θ
に対する位置ｔは次式で与えられる。
Ｌ＝Ｌｔａｎぴ→−β）＋Ｌｔａｎ（θ−（正→−β）
）・・・・・・・・・・・・（１）２ つまり、走査角θに対応したイハ号についで、（１）式
のようなｊａｎ変換を施せば１位置ｔに対応した信号が
得られ、これにより、正しい測定位１＃’ｉが決定でき
る。
）・・・・・・・・・・・・（１）２ つまり、走査角θに対応したイハ号についで、（１）式
のようなｊａｎ変換を施せば１位置ｔに対応した信号が
得られ、これにより、正しい測定位１＃’ｉが決定でき
る。
又、第２図で示すように設置角はβＮＯでもよいが簡単
のためβ−０とし、被測定対象１′の両端の角度を０１
．θ２とすれば、その正しい長さｔｏは次式で与えられ
る。
のためβ−０とし、被測定対象１′の両端の角度を０１
．θ２とすれば、その正しい長さｔｏは次式で与えられ
る。
１ｏ ＝ Ｌ ｔａｎ （θ２−’ ） −Ｌ ｔａｎ
（θ１−’＞−・＝−＝−（２）２ 第３図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
（θ１−’＞−・＝−＝−（２）２ 第３図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
図においで、１は回転鏡のような光学的スキャナー、検
出器を含み、被測定対象をくり返し走査し、被測定物体
の温度出力信号ｅ１を発生する検出器、２は全走査角に
対応した同期信号ｅ２を発生する同期信号発生器、３は
同期信号発生器２により全走査角に対応した方形波信号
ｅ３を発生する走査角信号発生器、４は走査角信号発生
器３の出力信号ｅ３に対応して積分信号ｅ４を発生する
積分回路のような信号発生器、５は信号発生器４の出力
信号ｅ４を前記（１）式のような関数変換して角度補正
された位置信号ｅ５７２−出力する変換回路、ＳＷは、
信号発生器４の出力ｅ４と変換回路５の出力ｅ５とを切
換える切換スイッチである。
出器を含み、被測定対象をくり返し走査し、被測定物体
の温度出力信号ｅ１を発生する検出器、２は全走査角に
対応した同期信号ｅ２を発生する同期信号発生器、３は
同期信号発生器２により全走査角に対応した方形波信号
ｅ３を発生する走査角信号発生器、４は走査角信号発生
器３の出力信号ｅ３に対応して積分信号ｅ４を発生する
積分回路のような信号発生器、５は信号発生器４の出力
信号ｅ４を前記（１）式のような関数変換して角度補正
された位置信号ｅ５７２−出力する変換回路、ＳＷは、
信号発生器４の出力ｅ４と変換回路５の出力ｅ５とを切
換える切換スイッチである。
６は検出器１の出力信号ｅ１を波形整形して物体信号ｅ
６を発生する波形整形回路、７は波形整形回路６０出力
ｅ６を微分する等して端部信号ｅ７を発生する端部検出
回路、８１は端部検出回路７の前端信号により切換スイ
ッチＳＷの例えば変換回路５の出力ｅ５をサンプルホー
ルドする第１のサンプルホールド回路、８２は端部検出
回路７の後端信号により出力ｅ５をサンプルホールドす
る第２のサンプルホールド回路、９は第１．第２のサン
プルホールド回路８１．８２の前端位置出力ｅｓ、後端
位置出力Ｃ９の差をとり、被測定対象の長さに相当する
前記（２）式のような信号ｅｌｏを発生する減算器、８
３は減算器９の出力をサンプルホールドする第３のサン
プルボールド回路、１０は第３のサンプルホールド回路
８３の出力ｅｉｏに基き２分割等して測定位置を決定す
る設定器、１１は第１のサンプルホールド回路８１の前
端信号ｅ８に設定器１０の出力信号を加算し、走査角に
基いた位置決定信号ｅｌｌを発生する加算器。
６を発生する波形整形回路、７は波形整形回路６０出力
ｅ６を微分する等して端部信号ｅ７を発生する端部検出
回路、８１は端部検出回路７の前端信号により切換スイ
ッチＳＷの例えば変換回路５の出力ｅ５をサンプルホー
ルドする第１のサンプルホールド回路、８２は端部検出
回路７の後端信号により出力ｅ５をサンプルホールドす
る第２のサンプルホールド回路、９は第１．第２のサン
プルホールド回路８１．８２の前端位置出力ｅｓ、後端
位置出力Ｃ９の差をとり、被測定対象の長さに相当する
前記（２）式のような信号ｅｌｏを発生する減算器、８
３は減算器９の出力をサンプルホールドする第３のサン
プルボールド回路、１０は第３のサンプルホールド回路
８３の出力ｅｉｏに基き２分割等して測定位置を決定す
る設定器、１１は第１のサンプルホールド回路８１の前
端信号ｅ８に設定器１０の出力信号を加算し、走査角に
基いた位置決定信号ｅｌｌを発生する加算器。
１２は第３のサンプルホールド回路８３の長さ信’Ｑｅ
１゜を出力する出力端子、１３は、加η−器１１の出力
ｅｌｆ１４は検出器１の出力信号ｅ１の放射率補正、リ
ニーアライズ演算等を行う入力回路、８４は入力回路１
４の出力が入力され、比較器１３のサンプル信号によリ
ザングルボールドし、所望の位置の温度検出信Ｑｅ、３
を出力端子１５に出力する第４のサンプルホールド回路
である。
１゜を出力する出力端子、１３は、加η−器１１の出力
ｅｌｆ１４は検出器１の出力信号ｅ１の放射率補正、リ
ニーアライズ演算等を行う入力回路、８４は入力回路１
４の出力が入力され、比較器１３のサンプル信号によリ
ザングルボールドし、所望の位置の温度検出信Ｑｅ、３
を出力端子１５に出力する第４のサンプルホールド回路
である。
次に化４図を参照して動作を説明する。
検出器１の出力信号ｅ１は、入力回路１４を介して第４
のサンプルホールド回路８４に入力される。
のサンプルホールド回路８４に入力される。
同期信号発生器２の同期信号ｅ２により、走査角信号発
生器３は全走査角に対応する方形波信号ｅ←を発生し、
この信号ｅｔを積分して走査角θに対応した信号ｅ４を
信号発生器４は発生し、この信号ｅ４ＳＷにより切換え
て出力する。
生器３は全走査角に対応する方形波信号ｅ←を発生し、
この信号ｅｔを積分して走査角θに対応した信号ｅ４を
信号発生器４は発生し、この信号ｅ４ＳＷにより切換え
て出力する。
そして、検出器１の出力信号０１を波形整形回路６によ
り波形整形した信号ｅ６の端部を端部検出回路７により
検出し、その前端信号、後端信号ｅ７により切換スイッ
チＳＷの出力を第１．第２のサンプルホールド回路８１
、８２に前端位置信号ｅ８．後端号ｅ８ 、 ｅ９の
差をとり、第３のサンプルボールド回路８３（ホールド
回路でもよい。）によりホールドして前記（２）式のよ
うな長さ信号ｅｌＯとして出力端子１２より取り出す。
り波形整形した信号ｅ６の端部を端部検出回路７により
検出し、その前端信号、後端信号ｅ７により切換スイッ
チＳＷの出力を第１．第２のサンプルホールド回路８１
、８２に前端位置信号ｅ８．後端号ｅ８ 、 ｅ９の
差をとり、第３のサンプルボールド回路８３（ホールド
回路でもよい。）によりホールドして前記（２）式のよ
うな長さ信号ｅｌＯとして出力端子１２より取り出す。
この第３のサンプルホールド回路８３の出力ｅｘａは、
設定器１０により所望の測定位置になるよう分割され、
加算器１１により第１のサンプルホールド回路８１の出
力と加算されて位置決定信号ｅｘｔとされ、比較器１３
により切換スイッチＳＷによる位置信号ｅ４ 、 ｅ５
と比較され、一致したときサンプル信号ｅ＋、ｚを発生
し、第４のサンプルホールド回路８４により検出器ｌの
出力信号ｅ１をサンプルホールドし。
設定器１０により所望の測定位置になるよう分割され、
加算器１１により第１のサンプルホールド回路８１の出
力と加算されて位置決定信号ｅｘｔとされ、比較器１３
により切換スイッチＳＷによる位置信号ｅ４ 、 ｅ５
と比較され、一致したときサンプル信号ｅ＋、ｚを発生
し、第４のサンプルホールド回路８４により検出器ｌの
出力信号ｅ１をサンプルホールドし。
出力端子１５より所望の位置の温度信号ｅ１３を取り出
すことができる。
すことができる。
なお２位置設定は、長さ信号の比例分割、前端より加算
、後端より減算管種々のものが考えられ。
、後端より減算管種々のものが考えられ。
上記の各種演算処理をマイクロコンピュータのような演
界部により行うこともできる。
界部により行うこともできる。
第５図は、他の実施例を示し、被測定対象１′専の出力
信号を取り出すようにしでもよい。
信号を取り出すようにしでもよい。
（５）発明の要約
以−１二述べたように、この発明は変換手段により走査
角に対応した信号を位置に対応した信号に変換し、被測
定対象の端部検出信号に基いて変換手段の出力から長さ
を測定するようにした長さ測定装置である。
角に対応した信号を位置に対応した信号に変換し、被測
定対象の端部検出信号に基いて変換手段の出力から長さ
を測定するようにした長さ測定装置である。
（６）発明の効果
光学系の補正を行っているので、常に正しい長さ測定が
可能となり、検出器の設置の影響も除去できる。
可能となり、検出器の設置の影響も除去できる。
第１図、第２図、第３図、第５図は、この発明に係る一
実施例を示す構成説明図、第４図は動作説明用波形図で
ある。 ■・・・検出器２１′・・・被測定対象、４・・・信号
発生器。 ５・・・変換回路、８１〜８４・・・ザンプルホールド
回路特許出願人 株式会社 千野製作所
実施例を示す構成説明図、第４図は動作説明用波形図で
ある。 ■・・・検出器２１′・・・被測定対象、４・・・信号
発生器。 ５・・・変換回路、８１〜８４・・・ザンプルホールド
回路特許出願人 株式会社 千野製作所
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被測定対象を走査して出力信号を発生する検出器と
、走査角に対応した信号を発生する信号発生器と、この
信号発生器の出力を位置に対応した信号に変換する変換
手段と、前記被測定対象の端部に対応した信号を発生す
る端部検出手段と。 この端部検出手段に基ぎ前記変換手段の出力から被測定
対象の長さに対応した信号を発生する演算部とを備えた
ことを特徴とする長さ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14299982A JPS5932804A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 長さ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14299982A JPS5932804A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 長さ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5932804A true JPS5932804A (ja) | 1984-02-22 |
Family
ID=15328581
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14299982A Pending JPS5932804A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 長さ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5932804A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61149813A (ja) * | 1984-12-24 | 1986-07-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 振動する物体の表面検査装置 |
| JPS61149816A (ja) * | 1984-12-24 | 1986-07-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 振動する物体の表面検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS503361A (ja) * | 1973-05-10 | 1975-01-14 | ||
| JPS5744406B2 (ja) * | 1978-07-24 | 1982-09-21 |
-
1982
- 1982-08-18 JP JP14299982A patent/JPS5932804A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS503361A (ja) * | 1973-05-10 | 1975-01-14 | ||
| JPS5744406B2 (ja) * | 1978-07-24 | 1982-09-21 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61149813A (ja) * | 1984-12-24 | 1986-07-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 振動する物体の表面検査装置 |
| JPS61149816A (ja) * | 1984-12-24 | 1986-07-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 振動する物体の表面検査装置 |
| JPH0569163B2 (ja) * | 1984-12-24 | 1993-09-30 | Sumitomo Metal Ind | |
| JPH0569164B2 (ja) * | 1984-12-24 | 1993-09-30 | Sumitomo Metal Ind |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH06167354A (ja) | スケールの内挿処理装置 | |
| JPS5932804A (ja) | 長さ測定装置 | |
| JP2003121135A (ja) | リニヤスケールの読出装置 | |
| JP3312504B2 (ja) | 位置検出装置 | |
| JPS5932829A (ja) | 走査形放射温度計 | |
| WO1999005471A1 (fr) | Instrument de mesure des longueurs | |
| JP3365913B2 (ja) | 位置検出装置 | |
| JPS5932825A (ja) | 走査形放射温度計 | |
| JP2002228488A (ja) | エンコーダ出力信号の自動調整装置および自動調整方法 | |
| JP2994145B2 (ja) | 温度分布検出装置 | |
| JP2002243501A (ja) | エンコーダ出力信号の自動調整装置 | |
| JPH0712510A (ja) | ヘテロダイン干渉計用位相差測定装置 | |
| US4984469A (en) | Amplitude measurement device for viscoelasticity analysis | |
| JPH0259520B2 (ja) | ||
| JPH08285767A (ja) | 水分計 | |
| JPS61223603A (ja) | マ−ク検出機 | |
| US6642702B1 (en) | Detection circuit for maximum value of three phase signal and detection method of the same | |
| JPH01263564A (ja) | 力率測定方法 | |
| JPS62294940A (ja) | クロマトスキヤナ | |
| JPH08146134A (ja) | 光学式測定装置および光学式測定方法 | |
| JPH06265319A (ja) | 外形測定装置及びその被測定物配置方法 | |
| SU1226342A1 (ru) | Цифровой измеритель разности фаз | |
| JPH05215831A (ja) | 方位測定装置 | |
| JPH07294285A (ja) | センサ信号処理方法および装置 | |
| JPH0651040A (ja) | 光学式磁界測定装置 |