JPS5929803B2 - 液体クロマトグラフ分離用多チヤンネル分析器 - Google Patents

液体クロマトグラフ分離用多チヤンネル分析器

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JPS5929803B2
JPS5929803B2 JP49049605A JP4960574A JPS5929803B2 JP S5929803 B2 JPS5929803 B2 JP S5929803B2 JP 49049605 A JP49049605 A JP 49049605A JP 4960574 A JP4960574 A JP 4960574A JP S5929803 B2 JPS5929803 B2 JP S5929803B2
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は液体または半液体状の透明または半透明物質の
光学的特性を測定する装置に係り、特に高圧流体におい
て、コラムの利用で分離がなされる液体クロマトグラフ
を測定しうる装置に関する。
液体クロマトグラフにおける基本的な分離は吸収剤で満
たされた管状容器からなる分離コラムヘ液体流とともに
分析されるべき試料を注入することにより行なわれる。
調査によればこれらの試料の分離は毛細管作用およびク
ロマトグラフの現代の慣習でよく知られている他の現象
により起る。液体、溶剤、またはコラムを通る試料の緩
衝担体、および媒質として溶離液がコラムの出口に生じ
、現われた溶剤または緩衝担体は始めに注入された物質
の微少な構成要素を含む。もしこれらの流れが光学的入
口および光ビームの通路を形成する出口窓を有する流通
キューペットに向けられるなら、これらの微少要素は光
学的に検出可能である。この光ビームは微少要素の通過
により遮断されるとき強度を変化するであろう。通過す
る微少要素はそれらの特性のため、分光測光の技術にお
いて周知のごとく異つたスペクトル周波数によつてより
多くまたはより少く指示される。しかるに液体クロマト
グラフにおいて、溶剤流により運ばれる微少要素は概し
て非常に微少でかつ極めて小さな吸収また伝達変化しか
呈さないのでそれらの検出を非常に困難にする。
使用される溶剤または緩衝剤に分離された多くの混合物
と同様に信頼される基礎のもとで測定可能であるべき与
えられた期間中にしばしば十分な化学的安定性をもたな
い。結果としてある非反復性誤差が１つの液体クロマト
グラフから他へ現れる。それゆえ分離された物質のクロ
マトグラフが測定されると同時に緩衝剤または溶剤のク
ロマトグラフを測定することが好ましい。標準および試
料キユーベツトの利用を行う二重ビーム方法が好ましい
ものとして見い出された。前述したように、５マイクロ
リツトルと同じくらい少量の試料の吸収または伝達変化
が精度および実際の表示に必要であり、そしてこれらの
吸収の変化が光学的密度（０．Ｄ）の千分の数十に満た
ない量であるので、全体の装置の長期間安定性が測定問
題の解決に主要な目標となる。それゆえ本発明の目的は
測定に使用される光が光学的または機械的構成要素によ
り最少の損失ですみ、かつ長期間にわたつて標準および
試料ビームに同類の光学的特性を与えるような装置を提
供することにある。連続的に調整可能な紫外線および可
視光線がたとえば屈折格子のような分散要素により作ら
れる単色光の採用により溶離媒質のために最も好ましい
最大の吸収を見出すことを要求されるので、光源の安定
性およびキユーベツトすなわち流通セルにあたる放射光
束の均一性が最大の重要な基準となる。前述の安定性を
得かつ維持するために、発明の目的の１つは光源、入ロ
スリツト照明光学系、出口スリツトのあるモノクロメー
タ、出口放射コリメータ、および標準および試料測定用
放射を与える回転または変調光学チヨツパを採用する分
光測光の分野で使用される通常の方法で達成される均一
性および安定性を得ることである。
かかる通常の方法において、細長い形状を有しているモ
ノクカメータの出口スリツトから出る放射は１ｍ７！ｌ
；ＦＬおよび１０ｍ１通路長のキユーベツトを通過する
に適する大きさの十分に規準されたビームを成すように
凝縮および光学的に処理されなくてはならない。標準モ
ノクロメータスリツトから出るビームのこの処理はキユ
ーベツトを透過する光の損失および低エネルギをもたら
し、そのため検出器の信号の相当な増幅が必要となる。
これは不安定および雑音信号を生じ記録する結果となる
。少くとも８個の光学的構成要素が二重ビーム型の通常
の分光測光に採用され、そしてこれらの構成要素はラン
プおよびモノクロメータ間の凝縮光学系、モノクロメー
タ入ロスリツトに達する４５反射体、モノクロメータの
主コリメータ（リトロ配列が使用されるなら１つ、また
エバート配列が使用されるなら２つ）、プリズムまたは
格子からなる分散要素、モノクロメータの出口スリツト
後の凝縮およびコリメータ光学系、通常２つの固定およ
び２つの切断または振動ミラーからなるビーム分割また
は切断装置（１つの固定および１つの切断ミラーが排他
的に標準用に役立ち、そして同様な１対のミラーが標準
および試料キユーベツトに交互に達する試料チヤンネル
用として役立つ）からなるので、試料および標準間の微
細な差の検出を非常に困難にする多くの等しくない表面
積および機械的不安定を生ずる面積が導入される。
結果として、もし光学的不一致および機械的不安定を最
小にする段階がとられなければ、現在の単色読出し装置
のすべてにある誤差が存在する。本発明の他の目的は装
置の誤差を除去し、標準および試料を照明する２つの同
一スベクトルの形成のために使用される光学溝成要素の
数を最少３個に減少する装置を提供し、そして標準およ
び試料ビームに分割放射のため回転または振動光学面を
利用しているチヨツパを２つの個々の検出器によりまた
は非光学往復運動翼および最大読出し安定性の信号ゲー
トにより置換することにある。本発明のもう１つの目的
は光源により放出された光束包囲の類似なまたは同一な
部分を利用し、光源の始めの光点を反射形屈折格子すな
わち屈折形分散光学系を経て作られる２つの限定された
同一スベクトルの形として２つの同様なキユーベツトす
なわち未知試料および標準領域に分散方法で集束するこ
とにある。
これは研ぎみがかれ、そして反射面で被覆された多方向
球または非球の正確な再集束反射ミラー形光学系のいず
れかで光源を再集束するか、または反射形屈折格子すな
わち屈折形分散光学系により反射および屈折された後、
標準および試料キユーベツトの面、すなわち標準および
試料領域に光源の２つの同一なスペクトル分散像を再生
する多方向伝達光学系により再集束することにより達成
される。前述の方法の使用により、長短持続時間をもつ
て高低放射光束をもたらす光源エネルギ変動は標準およ
び試料ビームに等しく現われる。
それゆえ本発明の目的はまた試料および標準エネルギ間
の瞬間的光電比較および比の形成のため、１つの分散お
よび１つの多方向再集束光学系のみを経て別別な試料お
よび標準領域に伝達される光源変動を有し、試料および
標準のエネルギが略等しいので、結果として測定の目的
のため信頼しうる零の電気的表現に対して比１をもたら
すことである。これはまた次のように表現されうる。光
源の領域を放出している放射光束から遮ぎられた光は１
つの分散要素により２つの方向性ビームの分散の後２つ
の領域に達する。その２つの領域は同エネルギを含む。
しかるに、このエネルギは光源の寿命上の減光および光
学面の劣化によつて強度が異つてもよい。反射およびま
たは伝達光学系の同一面積および分散または屈折光学系
の同面積が使用されるので、もし、これらのビームが光
源により放出されまたは光学効果により害されるエネル
ギレベルにかまわずに吸収または蛍光物質のようなエネ
ルギ減少またはエネルギ付加物質により害されないなら
、エネルギの減少は等しく表現され、そして試料および
標準ビーム間のエネルギの比は１対１になるであろう。
たとえば長期間テストの始めに試料ビームが５Ｖの光電
信号を生ずる放射を含み、かつ標準ビームが５Ｖを生ず
る放射を含んでいるとする。５Ｖと５Ｖの比は１である
。
テストが進んで、光源の出力光および分散および多方向
再集束光学系が試料ビームにおいて２Ｖおよび標準ビー
ムにおいて２Ｖのみ生ずるように劣化したとする。その
結果２Ｖと２Ｖの比は１である。もし比１が伝達の読出
しを与えるために利用されるなら、空の試料キユーベツ
トを通るエネルギの伝達は常に空の標準キユーベツトを
通る利用できるエネルギの１００％となり、または空の
試料キユーベツトの光学密度が光源により放出され、ま
たは装置により伝達される実際の光エネルギレベルにか
かわりなく測定されるべき試料の導入前に零になるであ
ろう。本発明のさらにもう１つの目的は光源内または光
源の正面に直接設けてかかる光源の寸法を制限している
孔が、同じ多方向再集束光学系および単一の分散要素に
より試料および標準ビームの面内に同じ方法で再集束さ
れる装置を提供することにある。
本発明の他の目的は標準および試料キユーベツトの面の
後で、かかる試料および標準キユーベツトから漏出する
エネルギを遮ぎるように取付けられ、かつ縮少手段によ
りかかるエネルギーを単一の光検出要素のきわめて近接
した領域に再集束する単一反射凝縮および再集束光学系
を提供することにある。本発明のさらに他の目的は試料
および標準キユーベツトの後で、光源寸法を制限してい
る孔の真の像を再結合および重ねるために同じ反射要素
の２つの同様な部分を採用することにある。
本発明のさらに他の目的は試料および標準面に表示され
たスペクトルの同様なスペクトル面積から出る光エネル
ギを利用し、同じ孔を経て測定される媒質内で変化する
蛍光または屈折指数を光電的に決定するため蛍光および
屈折型キユーベツトを照明することである。
そして、本発明のもう１つの目的は特異なステツプ１駆
動源により，駆動される往復運動非光学シヤツタを経て
標準および試料比決定のため、交流モードで読出し光検
出器への光入射を提供することにある。
本発明の目的の１つはまたステツプ，駆動源および交流
信号遮断のためにその特性を利用し、機械的不完全、モ
ータ磁石およびコイルの温度依存性により起る通常の不
安定性および非再現性を正確に時間をきめた信号の電子
ゲートを経て排除し、前後の傾斜を除去して試料および
標準信号の平坦な部分のみを利用することである。
以下本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図示の目的のため、各図は本発明の好ましい実施例を示
し、かつ同数字はすべて同等な部分を示す。数字１は光
源である（第１図）。この光源は３６０字全周にわたつ
て放射するアーク源として示される。放射の全周を光学
系によりさえぎることができないので、スリツトマスク
７がアーク源にできるだけ接近して取付けられ、構成要
素２および３からなる多方向再集束光学系に単なる照明
を提供する。図示のように多方向再集束光学系は正確に
研ぎ、そしてみがくため、また構成要素２および３の同
一半径を作るためにヒンジ結合２′を形成する。
みがかれた面に反射物質を被覆した後、反射面は多方向
再集束光学系２および３のいずれかの部分により格子４
上に同一面積で照明することができるようになされる。
格子４に達した光はこの格子によりスペクトル８および
９に分散される。投写されたスペクトルの領域に達した
光は、流通または分光測光キユーベツト５および６に達
するスペクトルの選択された部分のみを通す２つの同一
な孔８′および９′を含む窓板１４により制・限される
。キユーベツト５および６を透過した光はそれから光検
出器１０および１１に達し、それは表示または読出し記
録計すなわち読出し器１３にその比を生ずることにより
信号を比較するために比率回路１２に接続される。格子
４はここに詳述されない追動ピン２４およびモノクロメ
ータの周知の構造である標準正弦駆動源を使用している
腕２２により、枢着点２０に関して矢符２５により示さ
れる角度を傾動されうる。格子４の角度の変化は孔８′
および９′を通るスペクトル８および９の掃引を達成す
る。もし格子４が矢符２５により示されるような角に動
かされるなら、光源の中央光線の同じ頂点から発生し、
かつ多方向再集束光学系２および３により格子に向けら
れ、格子の同じ面積により生じた２つの同一なスペクト
ルはキユーベツト５および６を照明するため所望のスペ
クトル領域選択用窓板１４の２つの孔８′および９′を
横切つて掃引されるであろう。第２図は第１図に示され
かつ説明されたものと非常に類似した装置を示し、多方
向再集束光学系において２つの付加された構成要素が３
５および３６で示される。
構成要素２および３のそれらと同様な表面を有するこれ
ら２つの構成要素の付加は格子４の同じ頂点に達する２
つの付加された光ビームで単一格子を照明し、そして格
子４により窓板１４の孔４３′および４４′を通る２つ
の付加されたスペクトル４３および４４に分散されるこ
とを可能にする。２つの付加されたスペクトルは光検出
器４１および４２に達する。
これら２つの光検出器の付加は明らかに本発明の利点の
１つである数字８と９または４３と４４により示される
ような少くとも２対の同一なスペクトルを発生し、単一
の格子のみでビーム分割チヨツパを採用することなく、
かつ１つの放射源から発生する複数の分析チヤンネルを
与える分光測光装置を提供することを示す。明示される
ように、キユーベツト５，６，３９および４０は分光測
光用に利用され通常の比率回路および読出し器により比
較される。第３図は試料と基準間の比を決定するために
使用される２チヤンネルが、楕円または他の非球面ビー
ム集束光学系１７、すなわち数字１８および１８勿示さ
れるようなその断片を使用することにより単一の光検出
器１９で役立たされる装置の構成を示す。この構成にお
いて、キユーベツト５および６に達するスペクトル８お
よび９の中央ビームを形成しているビーム１５および１
６はチヨツパ翼２８により交互に光検出器１９へ達する
ことが許される。チヨツパ翼２８は矢符２８′により示
されるようにモータ２７により往復運動で駆動される。
２つのかかるチヨツパを使用するか２つの往復翼を有す
る１つのチヨツパを使用し、第２図の４チヤンネル構成
で２つの光検出器を使用することも本発明の範囲内であ
る。
第４図は正弦波発振器５６およびステツプまたはチヨツ
パモータ２７を制御する駆動増幅器５７を示し、チヨツ
パ翼２８は正の半波中ビーム１６を通過させるために時
計方向に１ステツプ動き、そして負の半波中ビーム１５
を通過させるために反時計方向に１ステツプ動く。
そのため検出器１９はキユーベツト５を透過する光ビー
ム１６で得られる信号を検出し、それはそれぞれ点５０
′および５２７こ現われる信号を描いたグラフ５８およ
び５９′の試料信号として表わされる。ステツプモータ
２７の慣性が時間遅れすなわち位相ずれを起すので、ス
テツプモータがその機械的作動を遅らせるのと同量だけ
移相器５５が発振器５６の正弦波の位相を遅らせる。す
なわちずらせる。移相器５５の出力においてずらされた
正弦波は正の半波中パルス発振器５３により正確に時間
の合つたパルスを発生する。パルス発振器５４は負の半
波中正確に時間の合つたパルスを発生する。これらのパ
ルスは、グラフ５８に示されるように増幅器５０により
増幅された光検出器１９からの信号波が信号ＲおよびＳ
の高原部分中のみ導通されるように固体スイツチ５１お
よび５２を駆動する。グラフ５８の信号は同じ時間に２
つの信号に分離され、それはグラフ５９および５９′で
示される。グラフ５９は点５１′に現われる。１つの信
号チヤンネルはＲ信号のみを含み、他の信号チヤンネル
はＳ信号のみを含む。
発振器５３および５４からの駆動パルスのオン時間は等
しく、そのためグラフ５９のパルスＲの積分面積は基準
信号Ｒを示し、グラフ５９′のパルスＳの積分面積は試
料信号Ｓを示し、グラフ５８に示されるような信号Ｒお
よびＳの前後の傾斜による不確実さの影響を除去しうる
。グラフ５８の波形の各部がスイツチ５１および５２に
よりグラフ５９および５９′に示されるように伝達され
たことを示すために、スイツチ５１および５２の切換点
はグラフ５８，５９および５９′において同じ数字で表
わされる。比率回路１２は公知の読出し装置に供給する
出力を有する比率エレタトロニクスを含む。第５図は本
発明の装置に使用する蛍光調査用キユーベツト５／の特
別な説明図であり、そのうちキユーベツト５／の本体は
石英または他の適当な物質で形成され、それを通して検
出および分析用液体流が導びかれる。
このキユーベツト５′は球、非球または楕円形状を有す
る透明プラスチツクまたはガラスプロツク７０内に埋め
られ、あるいは楕円、球または非球反射体により囲まれ
、キユーベツト５′の壁から漏出する蛍光をフイルタ３
２を通して光検出器１９へ向ける。光線の伝達は数字３
０により点線で示される。キユーベツト５′は第１図で
説明したようにビーム１５または１６から発生している
スペクトルエネルギを窓３４を通して励起することによ
り作動する。蛍光試料は入口３１を通して入れられ、キ
ユーベツト体５′の本体部分３４′に現れ、マスク７１
により直接光検出器１９へ到達することのないこの入射
光線により励起され、放射し、そしてこの放出工ネルギ
は前述のように反射されるであろう。本発明は上記実施
例のみに限定されることなく、要旨から逸脱しないかぎ
り種々変形して実施しうるものである。
本発明の実施の態様を例示すれば次の通りである。
（１） ２つの孔手段と各々が１つの孔手段に組合され
ている２つの検出手段がある特許請求の範囲第１項によ
る多チヤンネル分析計。
（２） ４つの孔手段と４つの検出手段を有する特許請
求の範囲第１項による多チヤンネル分析計。
（３） ２つの孔手段（第１の孔手段および第２の孔手
段）および単一の検出手段があり、不透明な翼と、第１
の位置で第１の孔手段に向けられた光が第１の孔手段を
通過しかつ第２の孔手段に向けられた光が第２の孔手段
への到達を妨げられ、第２の位置で第２の孔手段に向け
られた光が第２の孔手段を通過しかつ第１の孔手段に向
けられた光が第１の孔手段への到達を妨げられるように
２つの位置間で不透明な翼を動かす，駆動手段と、孔を
通過したビームを単一の検出手段で検出するための集束
手段とを含んでいる特許請求の範囲第１項による多チヤ
ンネル分析計。（４） ２つの孔手段の２つの組、２つ
の検出手段、２つの不透明な翼、２つの５駆動手段およ
び２つの集束手段があり、１つの不透明な翼および１つ
の集束手段が２つの孔手段および１つの検出手段と組合
される前項による多チヤンネル分析計。（５）光ビーム
と整列された本体部分と、光ビームを本体に入射させる
ため光源に面した本体の端に設けた窓と、本体を囲んで
いる伝達物質のプロツクと、本体に液体を流入させる入
口手段と、本体から液体を流出させる出口手段とを備え
、伝達物質のプロツクが本体の壁から漏出する蛍光を方
向づけるように形成された液体クロマトグラフ分離にお
ける蛍光現象の検査用キユーベ゛ン ト。
（６）図示されかつ説明された各々およびすべての形状
を含んでいる特許請求の範囲第１項および第２項ならび
に前項による多チヤンネル分析器。
【図面の簡単な説明】
第１図（ま本発明の一実施例の透明法による展開図、第
２図は２つの標準および２つの試料ビームをもたらす標
準および試料配列の２対を示す本発明の他の実施例によ
る透視法展開図、第３？は単一の反射凝縮および再集束
光学系とそのエネルギ切断部分を示し、かつ往復運動電
気機械１駆動の非光学遮断翼を示している本発明のもう
１つの実施例による透視法展開図、第４図はステツプモ
ータおよび正確なゲート電子工学系駆動用の基本電子要
素のみならず、回路の選ばれた点で信号対時間のグラフ
を示している機能プロツク図、第５図は蛍光検出のため
本発明の装置に使用される流通キユーベツトの部分的断
両立面図である。 １・・・・・・光源、２，３・・・・・・多方向再集束
光学系、４・・・・・・格子、５，６・・・・・・キユ
ーベツト、７・・・・・・スリツトマスク、８，９・・
・・・・スペクトル、１０，１１・・・・・・光検出器
、１２・・・・・・比率回路、１３・・・・・・読出し
器、１４・・・・・・窓板、８′，９ｔ・・・・・孔、
２７・・・・・・チヨツパモータ、２８・・・・・・翼
、５６・・・・・・正弦波発振器、５５・・・・・・移
相器、５３，５４・・・・・・パルス発振器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 単一の光源と、 光学格子と、 単一の光源からの複数のビームを光学格子の同一面積に
    向ける反射手段であつて、複数のビームのすべては光学
    格子の同一面積から放射する同一のスペクトルを確立す
    るように互いに距離を置いて位置し、同一スペクトルは
    互いに距離を置いて位置するものである反射手段と、前
    記スペクトルの選択された部分が通過することを許容す
    る距離を置いて位置する複数の孔手段と、分析される液
    体を収容する複数の収容手段であつて、各収容手段が複
    数の孔手段のそれぞれを連通している複数の収容手段と
    、複数個の収容手段の各々を透過した光を別々に検出す
    る検出手段と、検出手段により検出された幾つかの信号
    を比較する比較手段とを備えた、標準および未知試料の
    ような少くとも２つの液体クロマトグラフ分離用多チャ
    ンネル分析器。
JP49049605A 1974-03-13 1974-05-02 液体クロマトグラフ分離用多チヤンネル分析器 Expired JPS5929803B2 (ja)

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US450676 1974-03-13

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04284704A (ja) * 1991-03-14 1992-10-09 Fujitsu Ltd フィルタ
JPH05315811A (ja) * 1992-05-12 1993-11-26 Fujitsu Ltd 導波管形フィルタ

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS591971B2 (ja) * 1975-03-26 1984-01-14 株式会社日立製作所 ブンコウコウドケイ
US4030829A (en) * 1976-04-12 1977-06-21 Varian Associates Keying waveform generator for spectrophotometer
US4300833A (en) * 1979-10-26 1981-11-17 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Agriculture Method for background corrected simultaneous multielement atomic absorption analysis
US4311387A (en) * 1979-12-14 1982-01-19 The Perkin-Elmer Corporation Flow-through sample cell and collecting and illuminating optics for liquid chromatography
JPS5710423A (en) * 1980-05-28 1982-01-20 Shimadzu Corp Fluorescent spectrometer
US4345837A (en) * 1980-06-27 1982-08-24 Farrand Optical Co., Inc. Enhanced fluorescent emission
US4422761A (en) * 1981-09-28 1983-12-27 Frommer Joseph C Photo-electric particle sensing system
JPS5892841A (ja) * 1981-11-28 1983-06-02 Shimadzu Corp 濃度計
US4440497A (en) * 1982-05-17 1984-04-03 Corning Glass Works Combination absorbance fluorescence aspirating thermal cuvette
US4566792A (en) * 1983-02-04 1986-01-28 Shimadzu Corporation Multi-channel spectrophotometric measuring device
US4645340A (en) * 1983-06-01 1987-02-24 Boston University Optically reflective sphere for efficient collection of Raman scattered light
US4606636A (en) * 1983-10-25 1986-08-19 Universite De Saint-Etienne Optical apparatus for identifying the individual multiparametric properties of particles or bodies in a continuous flow
US4565447A (en) * 1983-11-21 1986-01-21 Millipore Corporation Photometric apparatus with multi-wavelength excitation
DE3424108A1 (de) * 1984-06-29 1986-01-09 Bernhard Prof. Dr.-Ing. 4300 Essen Schrader Probenanordnung zur spektrometrie, verfahren zur messung von lumineszenz und streuung und verwendung der probenanordnung
US4647199A (en) * 1984-09-14 1987-03-03 The Perkin-Elmer Corporation Automatic shutter system
US4618769A (en) * 1985-01-04 1986-10-21 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Liquid chromatography/Fourier transform IR spectrometry interface flow cell
US4678917A (en) * 1985-02-19 1987-07-07 The Perkin-Elmer Corporation Instantaneous reading multichannel polychromatic spectrophotometer method and apparatus
US4681443A (en) * 1985-05-08 1987-07-21 E. I. Du Pont De Nemours And Company Optical detector cell
JPS6275228A (ja) * 1985-09-30 1987-04-07 Japan Synthetic Rubber Co Ltd 液体移動性測定方法および装置
US4676639A (en) * 1986-01-22 1987-06-30 Biomaterials International, Inc. Gas cell for raman scattering analysis by laser means
US5166743A (en) * 1989-07-10 1992-11-24 General Atomics Assembly for converting a spectrophotometer to a fluorometer
US5018856A (en) * 1989-10-30 1991-05-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Agriculture Continuum source atomic absorption spectrometry
US5148239A (en) * 1990-07-17 1992-09-15 Rainin Instrument Co., Inc. High performance absorbance detector with flashlamp and compact folded optics system
US5125747A (en) * 1990-10-12 1992-06-30 Tytronics, Inc. Optical analytical instrument and method having improved calibration
US5203339A (en) * 1991-06-28 1993-04-20 The Government Of The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Health And Human Services Method and apparatus for imaging a physical parameter in turbid media using diffuse waves
DE69221423T2 (de) * 1991-09-30 1998-03-19 Beckman Instruments Inc Verbesserte Fluoreszenz-Erfassung von Proben in einem Kapillarrohr
US5484571A (en) * 1991-10-08 1996-01-16 Beckman Instruments, Inc. Enhanced fluorescence detection of samples in capillary column
WO1993007471A1 (en) * 1991-10-08 1993-04-15 Beckman Instruments, Inc. Detecting a radiation signal
JP3212647B2 (ja) * 1991-10-24 2001-09-25 シスメックス株式会社 イメージングフローサイトメータ
US5579105A (en) * 1992-04-17 1996-11-26 British Technology Group Ltd. Spectrometers
US5430541A (en) * 1993-01-12 1995-07-04 Applied Biosystems Inc. High efficiency fluorescence flow cell for capillary liquid chromatography or capillary electrophoresis
US5614726A (en) * 1995-03-23 1997-03-25 Beckman Instruments, Inc. Automated optical alignment system and method using Raman scattering of capillary tube contents
DE19545178B4 (de) * 1995-12-04 2008-04-10 Berthold Gmbh & Co. Kg Spektrometervorrichtung
US6015479A (en) * 1997-07-25 2000-01-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Thin-layer spectroelectrochemical cell
DE19735119C2 (de) * 1997-08-13 2000-05-18 Deutsches Krebsforsch Verfahren zur Fluoreszenzkorrelationsspektroskopie, insbesbesondere zur Mehrfarben-Fluoreszenzkorrelationsspektroskopie und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US7198939B2 (en) * 2000-01-28 2007-04-03 Agilent Technologies, Inc. Apparatus for interrogating an addressable array
DE60133002T2 (de) * 2000-06-27 2009-02-26 Alberta Research Council, Edmonton Spektrophotometer mit mehreren weglängen
US7300798B2 (en) * 2001-10-18 2007-11-27 Agilent Technologies, Inc. Chemical arrays
US20070059760A1 (en) * 2002-02-21 2007-03-15 Dorsel Andreas N Multi-featured arrays with reflective coating
US6821931B2 (en) * 2002-03-05 2004-11-23 Alpine Mud Products Corporation Water-based drilling fluid additive containing talc and carrier
US6791690B2 (en) * 2002-04-30 2004-09-14 Agilent Technologies, Inc. Reading dry chemical arrays
US6784988B2 (en) * 2002-07-17 2004-08-31 Hamilton Associates, Inc. Apparatus and process for analyzing a stream of fluid
US8233146B2 (en) * 2009-01-13 2012-07-31 Becton, Dickinson And Company Cuvette for flow-type particle analyzer
WO2012046096A1 (en) * 2010-10-04 2012-04-12 King Saud University Nanoflow detector cell
FR2995687B1 (fr) * 2012-09-20 2015-03-13 Commissariat Energie Atomique Detecteur optique d'un gaz
CN104122239A (zh) * 2013-04-28 2014-10-29 天津奇谱光电技术有限公司 一种多探头荧光传感装置
CN109490013A (zh) * 2018-10-29 2019-03-19 河海大学 一种等间隔收集径流泥沙装置
US11692934B2 (en) * 2020-07-23 2023-07-04 Masimo Corporation Solid-state spectrometer

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2823577A (en) * 1951-08-10 1958-02-18 Leeds & Northrup Co Multiple slit spectrograph for direct reading spectrographic analysis
US2975669A (en) * 1954-08-26 1961-03-21 Jarrell Ash Company Crossed dispersion photographic spectrometer
US3247759A (en) * 1962-03-06 1966-04-26 Cons Electrodynamics Corp Spectrometer with multiple entrance slits
GB1103320A (en) * 1965-10-08 1968-02-14 Atomic Energy Authority Uk Improvements in or relating to spectrometric apparatus
JPS4520138Y1 (ja) * 1967-10-25 1970-08-13
US3508830A (en) * 1967-11-13 1970-04-28 Shell Oil Co Apparatus for light scattering measurements
JPS4624784Y1 (ja) * 1968-09-28 1971-08-26
US3564263A (en) * 1968-09-30 1971-02-16 Coulter Electronics Optical particle sensor having a light collector mounted on the photosensor
US3590329A (en) * 1969-05-05 1971-06-29 Sarkes Tarzian Coil assembly and method of making the same
US3561845A (en) * 1969-06-02 1971-02-09 Beckman Instruments Inc Radiant energy analyzer including means for offsetting and scaling the ratio of two signals
US3705771A (en) * 1970-01-14 1972-12-12 Bio Physics Systems Inc Photoanalysis apparatus
US3819945A (en) * 1971-07-01 1974-06-25 Environmental Data Corp Spectrometers
DE2216118A1 (de) * 1971-08-24 1973-03-01 Fortschritt Veb K Helligkeitsmessgeraet fuer kontinuierliche messungen
US3787121A (en) * 1972-12-18 1974-01-22 Baxter Laboratories Inc Multiple function spectrophotometer having an automatically stabilized chopper disc
US3849654A (en) * 1973-10-19 1974-11-19 H Malvin Fluorescence cuvette

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04284704A (ja) * 1991-03-14 1992-10-09 Fujitsu Ltd フィルタ
JPH05315811A (ja) * 1992-05-12 1993-11-26 Fujitsu Ltd 導波管形フィルタ

Also Published As

Publication number Publication date
DE2415049A1 (de) 1975-09-18
US3985441A (en) 1976-10-12
DE2415049C3 (de) 1982-07-08
DE2415049B2 (de) 1981-07-16
GB1482096A (en) 1977-08-03
JPS50123495A (ja) 1975-09-27
US4088407A (en) 1978-05-09

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