JPS5926998B2 - 試験装置 - Google Patents
試験装置Info
- Publication number
- JPS5926998B2 JPS5926998B2 JP51083225A JP8322576A JPS5926998B2 JP S5926998 B2 JPS5926998 B2 JP S5926998B2 JP 51083225 A JP51083225 A JP 51083225A JP 8322576 A JP8322576 A JP 8322576A JP S5926998 B2 JPS5926998 B2 JP S5926998B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- temperature sensor
- temperature
- turned
- power switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、計測器などの電源スイッチ投入後ある時間
予熱などの処置を与えないと精度が出ない装置を含む試
験装置の改良に関する。
予熱などの処置を与えないと精度が出ない装置を含む試
験装置の改良に関する。
一般に試験装置の場合計測器、増幅器などが構成部品と
して組み込まれているが、これらは特性が安定するまで
１０〜３０分程度の予熱（電源スイッチ投入）状態が一
般に必要であるとされている。
して組み込まれているが、これらは特性が安定するまで
１０〜３０分程度の予熱（電源スイッチ投入）状態が一
般に必要であるとされている。
したがつて従来、前記計測器、増幅器などを有する試験
装置においては、使用１０〜３０分前より計測器などに
電源を投入し、時間の経過を作業者が判断するかあるい
は第１図に示すようにタイマなどにより、あらかじめ設
定した時間が経過したら装置を自動的に起動させるか、
さらには表示灯、ブザーなどにより設定時間の経過を知
らせる方法が一般に採用されていた。
装置においては、使用１０〜３０分前より計測器などに
電源を投入し、時間の経過を作業者が判断するかあるい
は第１図に示すようにタイマなどにより、あらかじめ設
定した時間が経過したら装置を自動的に起動させるか、
さらには表示灯、ブザーなどにより設定時間の経過を知
らせる方法が一般に採用されていた。
ここで、第１図の自動試験装置により試験を行う場合に
ついて説明すると、この第１図はＣＰＵを用いた自動試
験装置全体を示しており、この自動試験装置１と被試験
装置８とで信号の授受を行い、内部の各構成部とバスラ
インの矢印で示すごとくに信号の授受を行うようにして
いる。
ついて説明すると、この第１図はＣＰＵを用いた自動試
験装置全体を示しており、この自動試験装置１と被試験
装置８とで信号の授受を行い、内部の各構成部とバスラ
インの矢印で示すごとくに信号の授受を行うようにして
いる。
また、２は電源スイツチ、３は起動時の時限機構をもつ
たタイムリレーＴＲｌ、４は信号処理を行うＣＰＵ、５
はＣＰＵ４と外部との信号の授受を行うと共に試験動作
の起動、停止を制御するプロセス入出力回路、６は計測
および等価信号発生回路、７は試験実行を行うために被
試験装置８との間で信号の授受を行う試験実行回路で、
一般にリレー接点により構成されている。
たタイムリレーＴＲｌ、４は信号処理を行うＣＰＵ、５
はＣＰＵ４と外部との信号の授受を行うと共に試験動作
の起動、停止を制御するプロセス入出力回路、６は計測
および等価信号発生回路、７は試験実行を行うために被
試験装置８との間で信号の授受を行う試験実行回路で、
一般にリレー接点により構成されている。
この第１図に示す自動試験装置の動作を示すタイムチヤ
ートは第３図に示されており、第３図ａは電源スイツチ
２の動作、第３図ｂはタイムリレーの動作、第３図ｃは
試験実行前の状態を示しており、タイムリレー３は緩動
投入瞬時落下のタイムリレーであり、停電時間の長短に
無関係に起動時あらかじめ設定された予熱時間Ｔ１ （
第３図ｂ）だけ試験の実行開始が電源スイツチ２の投入
より遅れる（第３図ａ）。
ートは第３図に示されており、第３図ａは電源スイツチ
２の動作、第３図ｂはタイムリレーの動作、第３図ｃは
試験実行前の状態を示しており、タイムリレー３は緩動
投入瞬時落下のタイムリレーであり、停電時間の長短に
無関係に起動時あらかじめ設定された予熱時間Ｔ１ （
第３図ｂ）だけ試験の実行開始が電源スイツチ２の投入
より遅れる（第３図ａ）。
つまり、タイムリレー３の接点がオンになり、プロ七リ
Ｊ力回路５に信号が入力されることを条件にＣＰＵ４は
試験実行を開始するためである。
Ｊ力回路５に信号が入力されることを条件にＣＰＵ４は
試験実行を開始するためである。
なお、第３図ａにおけるＴ２は電源スイツチ２のオフ時
間である。ところで上記前者、つまり作業者が時間を判
定する場合、そのときの作業者の置かれた立場や気分な
どにより左右され、管理がルーズになり作業能率を低下
させる。
間である。ところで上記前者、つまり作業者が時間を判
定する場合、そのときの作業者の置かれた立場や気分な
どにより左右され、管理がルーズになり作業能率を低下
させる。
また、第１図の装置を使用して自動判定する後者におい
ては、ある面では適確に時間管理が行なわれるが、瞬時
停電ないしはシステムによりりセツト状態にするために
電源スイツチを短時間オフする場合、その他予熱の必要
な機器がまだ冷えない時間内に装置を使用する必要が生
じた場合などにおいて、たえずあらかじめ設定された予
熱時間つまり１０〜３０分間待たないと再使用が出来な
くなり、非常に運用効率の悪いものとなり精神的にも作
業者に与える悪影響は大きい。
ては、ある面では適確に時間管理が行なわれるが、瞬時
停電ないしはシステムによりりセツト状態にするために
電源スイツチを短時間オフする場合、その他予熱の必要
な機器がまだ冷えない時間内に装置を使用する必要が生
じた場合などにおいて、たえずあらかじめ設定された予
熱時間つまり１０〜３０分間待たないと再使用が出来な
くなり、非常に運用効率の悪いものとなり精神的にも作
業者に与える悪影響は大きい。
この発明は、以上の従来の欠点にかんがみなされたもの
で、計測器の安定温度を検知するための温度センサを試
験装置に設けることにより、短時間停電か長時間停電か
を判定し電源オン時による時間損失をなくし、運用効率
を高めかつ作業者の心理的影響も除去できる計算器を使
用した試験装置を提供するものである。
で、計測器の安定温度を検知するための温度センサを試
験装置に設けることにより、短時間停電か長時間停電か
を判定し電源オン時による時間損失をなくし、運用効率
を高めかつ作業者の心理的影響も除去できる計算器を使
用した試験装置を提供するものである。
次に、図面を参照してこの発明の試験装置の実施例につ
いて説明すると、第２図はその一実施例に適用される自
動試験装置を示すプロツク図であり、この第２図におい
て第１図と同一部分には同一符号を付してその説明を省
略し、第１図とは異なる部分について説明することにす
る。
いて説明すると、第２図はその一実施例に適用される自
動試験装置を示すプロツク図であり、この第２図におい
て第１図と同一部分には同一符号を付してその説明を省
略し、第１図とは異なる部分について説明することにす
る。
この第２図では、第１図におけるタイムリレー３に対し
て、普通のリレー３′の接点と温度センサ９（この実施
例ではバイメタルが使用されている）を使用している点
に特徴があり、温度センサ９は計測および等価信号発生
回路６に設置されている。
て、普通のリレー３′の接点と温度センサ９（この実施
例ではバイメタルが使用されている）を使用している点
に特徴があり、温度センサ９は計測および等価信号発生
回路６に設置されている。
この温度センサ９の両端にはリレー３′のコイル３ａ′
を介して電源ライン１１ ，１２（電源スイツチを通つ
た後のライン）に接続されており、また、リレー３′の
接点は電源とプロセス入出力回路５の電源端子との間に
接続されている。
を介して電源ライン１１ ，１２（電源スイツチを通つ
た後のライン）に接続されており、また、リレー３′の
接点は電源とプロセス入出力回路５の電源端子との間に
接続されている。
一方、第４図は第２図の装置の動作を説明するためのタ
イムチヤートを示し、第４図ａは電源スイツチ２の動作
、第４図ｂは温度センサ９の温度、第４図ｃは温度セン
サ９の動作（バイメタル接点の動作）、第４図ｄは試験
実行開始前をそれぞれ示している。上記リレー３′は瞬
時投入、瞬時落下形であり、温度センサ９はバイメタル
の接点を逆にしたもので冷却時にはその接点が開いてお
り、ある一定温度以上になればその接点が閉じる形のも
のを使用することにより、接点を開、閉する。
イムチヤートを示し、第４図ａは電源スイツチ２の動作
、第４図ｂは温度センサ９の温度、第４図ｃは温度セン
サ９の動作（バイメタル接点の動作）、第４図ｄは試験
実行開始前をそれぞれ示している。上記リレー３′は瞬
時投入、瞬時落下形であり、温度センサ９はバイメタル
の接点を逆にしたもので冷却時にはその接点が開いてお
り、ある一定温度以上になればその接点が閉じる形のも
のを使用することにより、接点を開、閉する。
第４図ａに示すように電源スイツチ２の投入時、温度セ
ンサ９は第４図ｃのごとく開いた状態であり、電源スイ
ツチ２の投入後自動試験装置１の計測器の温度が安定温
度ｔ１ （第４図ｂ）以上になつたときはじめて温度セ
ンサ９は閉じられる。
ンサ９は第４図ｃのごとく開いた状態であり、電源スイ
ツチ２の投入後自動試験装置１の計測器の温度が安定温
度ｔ１ （第４図ｂ）以上になつたときはじめて温度セ
ンサ９は閉じられる。
それと同時にリレー３′が働き、このリレー３′の接点
を通してプロセス入出力回路５に電源が投入されると同
時に測定が開始される。しかし、その後電源スイツチ２
が短時間遮断されても、温度センサ９はある温度Ｔ２以
下になるまでは、その接点は閉じたままであるため、電
源スイツチ２が投入されればすぐに測定可能状態として
維持される。
を通してプロセス入出力回路５に電源が投入されると同
時に測定が開始される。しかし、その後電源スイツチ２
が短時間遮断されても、温度センサ９はある温度Ｔ２以
下になるまでは、その接点は閉じたままであるため、電
源スイツチ２が投入されればすぐに測定可能状態として
維持される。
また、温度センサ９の温度がＴ２以下となつた場合でも
再電源投入後、計測器の温度が上昇し温度センサ９の温
度がｔ１以上になればいつでも測定が可能となる。
再電源投入後、計測器の温度が上昇し温度センサ９の温
度がｔ１以上になればいつでも測定が可能となる。
このため、短時間電源オフであつても、あるいは長時間
電源オフであつても計測器温度をバイメタルなどの温度
センサにより監視することにより、短時間停電後再度電
源がオンになつたときでも、試験装置の動作のタイムロ
スを無くすことが可能となり、試験装置の運用効率を高
め作業者への心理的悪影響も除去される。
電源オフであつても計測器温度をバイメタルなどの温度
センサにより監視することにより、短時間停電後再度電
源がオンになつたときでも、試験装置の動作のタイムロ
スを無くすことが可能となり、試験装置の運用効率を高
め作業者への心理的悪影響も除去される。
なお、この実施例においては、温度センサとしてバイメ
タルを使用したものであるが、他の温度センサ、水銀、
アルコールなどを使用してその膨張によるスイツチング
（電気導通）を利用することも可能であり、また上記実
施例ではプロセス入出力装置の電源投入に対してリレー
を介しているが電気容量的に小さい場合などではバイメ
タルの接点のように温度センサの接点をそのまま信号用
接点とすることも可能である。
タルを使用したものであるが、他の温度センサ、水銀、
アルコールなどを使用してその膨張によるスイツチング
（電気導通）を利用することも可能であり、また上記実
施例ではプロセス入出力装置の電源投入に対してリレー
を介しているが電気容量的に小さい場合などではバイメ
タルの接点のように温度センサの接点をそのまま信号用
接点とすることも可能である。
以上のように、この発明によれば、構成部材に計測器な
どの電源スイツチ投入後所定の温度まで予熱しないと精
度が出ないとかあるいは性能的に不安定な機器などを使
用している試験装置において、前記機器にその温度が所
定値以上になつた時に導通する温度センサを設け、電源
投入後温度センサが導通状態にあることを条件にして試
験動作を開始するようにしている。
どの電源スイツチ投入後所定の温度まで予熱しないと精
度が出ないとかあるいは性能的に不安定な機器などを使
用している試験装置において、前記機器にその温度が所
定値以上になつた時に導通する温度センサを設け、電源
投入後温度センサが導通状態にあることを条件にして試
験動作を開始するようにしている。
従つて、電源を短時間オフにして再投入した場合には前
記機器は即座にまたは短時間で安定状態となるため温度
センサも即座にまたは短時間で導通状態となり、試験動
作を無駄時間なく能率的に開始することができ、したが
つて、運用効率が改善できるとともに作業者の心理的悪
影響をなくすることができる。
記機器は即座にまたは短時間で安定状態となるため温度
センサも即座にまたは短時間で導通状態となり、試験動
作を無駄時間なく能率的に開始することができ、したが
つて、運用効率が改善できるとともに作業者の心理的悪
影響をなくすることができる。
第１図は従来の計算機を使用した自動試験装置を示すプ
ロツク図、第２図はこの発明の一実施例を示すプロツク
図、第３図ａ〜第３図ｄはそれぞれ第１図の自動試験装
置の動作を説明するためのタイムチヤート、第４図ａ〜
第４図ｄはそれぞれ第２図の自動試験装置の動作を説明
するためのタイムチヤートである。 １・・・・・伯動試験装置、２・・・・・・電源スイツ
チ、３′・・・・・・リレー、３ａ′−・・・・・リレ
ーのコイル、４・・・・・・ＣＰＵ、５・・・・・・プ
ロセス入出力回路、６・・・・・・計測および等価信号
発生回路、７・・・・・・試験実行回路、８・・・・・
・被試験装置、９・・・・・・温度センサ。
ロツク図、第２図はこの発明の一実施例を示すプロツク
図、第３図ａ〜第３図ｄはそれぞれ第１図の自動試験装
置の動作を説明するためのタイムチヤート、第４図ａ〜
第４図ｄはそれぞれ第２図の自動試験装置の動作を説明
するためのタイムチヤートである。 １・・・・・伯動試験装置、２・・・・・・電源スイツ
チ、３′・・・・・・リレー、３ａ′−・・・・・リレ
ーのコイル、４・・・・・・ＣＰＵ、５・・・・・・プ
ロセス入出力回路、６・・・・・・計測および等価信号
発生回路、７・・・・・・試験実行回路、８・・・・・
・被試験装置、９・・・・・・温度センサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 電源スイッチ投入後所定の安定温度まで予熱しない
と精度が出ないとかあるいは性能的に不安定な計測器な
どの機器を使用し、該機器および試験動作の起動、停止
を制御するプロセス入出力回路を介して信号処理装置と
被試験装置との間に信号の授受を行い、被試験装置の試
験を行う試験装置において、前記機器にその温度が所定
値以上になつた時電気的に導通する温度センサを設け、
この温度センサを電源と前記プロセス入出力回路の電源
端子との間に接続して、前記電源スイッチの投入または
再投入後上記温度センサが導通状態であることを条件に
して試験動作を開始するようにしたことを特徴とする試
験装置。 ２ 電源スイッチ投入後所定の安定温度まで予熱しない
と精度が出ないとかあるいは性能的に不安定な計測器な
どの機器を使用し、該機器および試験動作の起動、停止
を制御するプロセス入出力回路を介して信号処理装置と
被試験装置との間に信号の授受を行い、被試験装置の試
験を行う試験装置において、前記機器にその温度が所定
値以上になつた時電気的に導通する温度センサを設け、
この温度センサと直列にリレーのコイルを接続し、かつ
このリレーの接点を電源と前記プロセス入出力回路の電
源端子との間に接続して、前記電源スイッチの投入また
は再投入後上記温度センサが導通状態であることを条件
にして試験動作を開始するようにしたことを特徴とする
試験装置。 ３ 上記温度センサはバイメタルを使用することを特徴
とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の試験装
置。 ４ 上記温度センサは温度に応じて体積が変化して電気
的に導通あるいは遮断状態となる材料を使用することを
特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の試
験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51083225A JPS5926998B2 (ja) | 1976-07-12 | 1976-07-12 | 試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51083225A JPS5926998B2 (ja) | 1976-07-12 | 1976-07-12 | 試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS539140A JPS539140A (en) | 1978-01-27 |
| JPS5926998B2 true JPS5926998B2 (ja) | 1984-07-02 |
Family
ID=13796364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51083225A Expired JPS5926998B2 (ja) | 1976-07-12 | 1976-07-12 | 試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5926998B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57163874A (en) * | 1981-04-02 | 1982-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic input and output switching testing equipment |
| JPS58101397A (ja) * | 1981-12-11 | 1983-06-16 | 安藤電気株式会社 | テストシステム |
| JPS5913977A (ja) * | 1982-07-14 | 1984-01-24 | 同和工営株式会社 | 工業計器などの較正装置 |
| JPS6451821U (ja) * | 1987-09-29 | 1989-03-30 |
-
1976
- 1976-07-12 JP JP51083225A patent/JPS5926998B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS539140A (en) | 1978-01-27 |
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