JPS6451821U - - Google Patents
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- JPS6451821U JPS6451821U JP14887587U JP14887587U JPS6451821U JP S6451821 U JPS6451821 U JP S6451821U JP 14887587 U JP14887587 U JP 14887587U JP 14887587 U JP14887587 U JP 14887587U JP S6451821 U JPS6451821 U JP S6451821U
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- Japan
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- test
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- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
第1図は、この考案の一実施例を示す性能評価
試験装置のブロツク図、第2図は、同装置の試験
処理動作を説明するためのフロー図、第3図は同
装置で行う試験のプログラム例を説明するための
図である。 1:プログラム設定部、3:演算制御部、4:
プログラム記憶部、5:試験状態設定信号発生部
、6:被試験器、7:電気炉、8:試験状態モニ
タ信号測定部、9:被試験器入力信号発生部、1
0:被試験器出力信号測定部。
試験装置のブロツク図、第2図は、同装置の試験
処理動作を説明するためのフロー図、第3図は同
装置で行う試験のプログラム例を説明するための
図である。 1:プログラム設定部、3:演算制御部、4:
プログラム記憶部、5:試験状態設定信号発生部
、6:被試験器、7:電気炉、8:試験状態モニ
タ信号測定部、9:被試験器入力信号発生部、1
0:被試験器出力信号測定部。
Claims (1)
- 試験状態や試験方法を入力設定するプログラム
設定部と、入力設定されたプログラムを記憶する
プログラム記憶部と、プログラムにしたがい、所
定の試験状態とするための試験状態設定信号発生
手段と、被試験器が所定の試験状態に達したか否
かを判別する手段と、試験状態に達すると、被試
験器に入力信号を供給する手段と、この入力信号
に対する被試験器の出力信号を測定する手段と、
測定された出力信号を可視出力する手段とを備え
てなることを特徴とする性能評価試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14887587U JPS6451821U (ja) | 1987-09-29 | 1987-09-29 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14887587U JPS6451821U (ja) | 1987-09-29 | 1987-09-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6451821U true JPS6451821U (ja) | 1989-03-30 |
Family
ID=31420588
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14887587U Pending JPS6451821U (ja) | 1987-09-29 | 1987-09-29 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6451821U (ja) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5262043A (en) * | 1975-11-17 | 1977-05-23 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Automatic testing instrument |
JPS539140A (en) * | 1976-07-12 | 1978-01-27 | Mitsubishi Electric Corp | Starting method of testing apparatus using computer |
JPS5578225A (en) * | 1978-12-11 | 1980-06-12 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Control system for automatic temperature and humidity test unit |
JPS5926998A (ja) * | 1982-07-30 | 1984-02-13 | Fujitsu Ltd | 液相エピタキシヤル成長方法 |
JPS59121687A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-13 | Fujitsu Ltd | バブルメモリ素子の試験方法 |
JPS59211194A (ja) * | 1983-05-16 | 1984-11-29 | 株式会社島津製作所 | 工業計器自動試験装置 |
JPS6271242A (ja) * | 1985-09-25 | 1987-04-01 | Hitachi Ltd | 検査装置 |
-
1987
- 1987-09-29 JP JP14887587U patent/JPS6451821U/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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