JPS6451821U - - Google Patents

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JPS6451821U
JPS6451821U JP14887587U JP14887587U JPS6451821U JP S6451821 U JPS6451821 U JP S6451821U JP 14887587 U JP14887587 U JP 14887587U JP 14887587 U JP14887587 U JP 14887587U JP S6451821 U JPS6451821 U JP S6451821U
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  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は、この考案の一実施例を示す性能評価
試験装置のブロツク図、第2図は、同装置の試験
処理動作を説明するためのフロー図、第3図は同
装置で行う試験のプログラム例を説明するための
図である。 1:プログラム設定部、3:演算制御部、4:
プログラム記憶部、5:試験状態設定信号発生部
、6:被試験器、7:電気炉、8:試験状態モニ
タ信号測定部、9:被試験器入力信号発生部、1
0:被試験器出力信号測定部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試験状態や試験方法を入力設定するプログラム
    設定部と、入力設定されたプログラムを記憶する
    プログラム記憶部と、プログラムにしたがい、所
    定の試験状態とするための試験状態設定信号発生
    手段と、被試験器が所定の試験状態に達したか否
    かを判別する手段と、試験状態に達すると、被試
    験器に入力信号を供給する手段と、この入力信号
    に対する被試験器の出力信号を測定する手段と、
    測定された出力信号を可視出力する手段とを備え
    てなることを特徴とする性能評価試験装置。
JP14887587U 1987-09-29 1987-09-29 Pending JPS6451821U (ja)

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JP14887587U JPS6451821U (ja) 1987-09-29 1987-09-29

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JPS6451821U true JPS6451821U (ja) 1989-03-30

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JP14887587U Pending JPS6451821U (ja) 1987-09-29 1987-09-29

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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5262043A (en) * 1975-11-17 1977-05-23 Yokogawa Hokushin Electric Corp Automatic testing instrument
JPS539140A (en) * 1976-07-12 1978-01-27 Mitsubishi Electric Corp Starting method of testing apparatus using computer
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JPS59121687A (ja) * 1982-12-27 1984-07-13 Fujitsu Ltd バブルメモリ素子の試験方法
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JPS6271242A (ja) * 1985-09-25 1987-04-01 Hitachi Ltd 検査装置

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