JPS59211194A - 工業計器自動試験装置 - Google Patents
工業計器自動試験装置Info
- Publication number
- JPS59211194A JPS59211194A JP8635483A JP8635483A JPS59211194A JP S59211194 A JPS59211194 A JP S59211194A JP 8635483 A JP8635483 A JP 8635483A JP 8635483 A JP8635483 A JP 8635483A JP S59211194 A JPS59211194 A JP S59211194A
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- JP
- Japan
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- input
- industrial
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は各種工業計器の性能を試験する場合に好適な工
業計器自動試験装置に関する。
業計器自動試験装置に関する。
（ロ）従来技術
一般に、工業計器の製品出荷時やメインテナンス時等に
おいては、それが所要の精度を保っているかどうか試験
をして性能を確認する必要がある。
おいては、それが所要の精度を保っているかどうか試験
をして性能を確認する必要がある。
このような場合、従来は−っの工業計器にこれに応じた
信号発生器を接続し、工業計器に信号発生器から基準と
なる信号をたとえばレベルを段階的に切換えて入力し、
工業計器からこの人力信号ｆこ応答して出力される信号
を測定器で続みとり、所定の出力値が得られているがど
うかをみて性能を確認している。しかも、その際の信号
発生器がら工業計器へ入力する基準信号の切換えは、手
動で行なわれている。このため性能試験時ｉこは常時人
手が必要となり、労力も大きかった。また、多数個の工
業計器の性能試験をする必要があるときには、それが同
じ工業計器ならば互いを並列に接続するなどして同時に
試験することは可能であるが、種類が異なると個々につ
いて１つずつ性能試験を実施せねばならず試験に長時間
を要するという問題がある。
信号発生器を接続し、工業計器に信号発生器から基準と
なる信号をたとえばレベルを段階的に切換えて入力し、
工業計器からこの人力信号ｆこ応答して出力される信号
を測定器で続みとり、所定の出力値が得られているがど
うかをみて性能を確認している。しかも、その際の信号
発生器がら工業計器へ入力する基準信号の切換えは、手
動で行なわれている。このため性能試験時ｉこは常時人
手が必要となり、労力も大きかった。また、多数個の工
業計器の性能試験をする必要があるときには、それが同
じ工業計器ならば互いを並列に接続するなどして同時に
試験することは可能であるが、種類が異なると個々につ
いて１つずつ性能試験を実施せねばならず試験に長時間
を要するという問題がある。
（ハ） 目 的
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであって、
工業計器が互いに種類の異なるものであっても、それら
の性能を同時に多数個自動的に試験することができるよ
うにして、従来の問題点を解消することを目的とする。
工業計器が互いに種類の異なるものであっても、それら
の性能を同時に多数個自動的に試験することができるよ
うにして、従来の問題点を解消することを目的とする。
に）構 成
本発明はこのような目的を達成するため、試験プログラ
ム等を予じめ設定する設定部と、入出力データを表示す
る表示部と、入出力信号を演算。
ム等を予じめ設定する設定部と、入出力データを表示す
る表示部と、入出力信号を演算。
制御する制御演算部と、前記設定部で設定されたプログ
ラムに基づいて基本となる信号を発生する信号発生部と
、複数の工業計器の各入力端と出力端とにそれぞれ個別
的に接続される各複数の信号出力部および信号入力部と
、前記信号発生部をこれらの信号出力部に順次選択的に
切換えて接続する前段マルチプレクサと、前記信号入力
部を前記制御演算部に順次選択的に切換えて接続する後
段マルチプレクサさ、前記信号出力部および信号入力部
の各レンジを切換えるレンジ切換器とを備えて構成して
いる。
ラムに基づいて基本となる信号を発生する信号発生部と
、複数の工業計器の各入力端と出力端とにそれぞれ個別
的に接続される各複数の信号出力部および信号入力部と
、前記信号発生部をこれらの信号出力部に順次選択的に
切換えて接続する前段マルチプレクサと、前記信号入力
部を前記制御演算部に順次選択的に切換えて接続する後
段マルチプレクサさ、前記信号出力部および信号入力部
の各レンジを切換えるレンジ切換器とを備えて構成して
いる。
（ホ）実施例
以下、本発明を一実施例について図面に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の工業計器自動試験装置の全体を示すブ
ロック構成図である。同図において、１は工業計器自動
試験装置、２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃは性能試験
すべき複数（本例では３個）の工業計器である。また４
ｉｌ″ｊ：各工業計器２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃ
を試験するため予じめプログラムされた条件を設定する
ための設定部、６は人出力データを表示する表示部で、
この表示部６はカウンタ、ＣＲＴ、プリンタ等を含む。
ロック構成図である。同図において、１は工業計器自動
試験装置、２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃは性能試験
すべき複数（本例では３個）の工業計器である。また４
ｉｌ″ｊ：各工業計器２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃ
を試験するため予じめプログラムされた条件を設定する
ための設定部、６は人出力データを表示する表示部で、
この表示部６はカウンタ、ＣＲＴ、プリンタ等を含む。
８Ｆｉ設定部４から入力した試験プログラムの入力デー
タ、表示部６への出力データおよびその他の入出力信号
を記憶する記憶部である。１０は入出力信号を演算、制
御する制御演算部（以下ＣＰＵという）である。１２は
設定部４で設定された試験プログラム〔こ基づいて基本
となる信号を発生する信号発生器である。また１４ａ。
タ、表示部６への出力データおよびその他の入出力信号
を記憶する記憶部である。１０は入出力信号を演算、制
御する制御演算部（以下ＣＰＵという）である。１２は
設定部４で設定された試験プログラム〔こ基づいて基本
となる信号を発生する信号発生器である。また１４ａ。
１４ｂ 、１４Ｃは前記工業計器２ ａ 、 ２ ｂ
、 ２ Ｃの各入力端に、それぞれ個別的に接続σれた
信号出力部である。これらの各信号出刃部１４ ａ、１
４１）。
、 ２ Ｃの各入力端に、それぞれ個別的に接続σれた
信号出力部である。これらの各信号出刃部１４ ａ、１
４１）。
１４Ｃは共に同一の構成を有゛している。一つの信号出
力部１４ａについてみれば、たとえば第２図（ａ）に示
すように、信号レベルを保持するためのコンデンサＣ９
差動増幅器Ａｍｐ ｌ 、信号発生部１２からの信号を
各工業計器２ａ 、２ｂ 、２Ｃに適応した信号に変換
するためのスイッチＳＷ＋ 、 ＳＷ２ 。
力部１４ａについてみれば、たとえば第２図（ａ）に示
すように、信号レベルを保持するためのコンデンサＣ９
差動増幅器Ａｍｐ ｌ 、信号発生部１２からの信号を
各工業計器２ａ 、２ｂ 、２Ｃに適応した信号に変換
するためのスイッチＳＷ＋ 、 ＳＷ２ 。
ＳＷａ 、 ＳＷ４を主体に構成きれている。一方、１
６ａ。
６ａ。
１６ｂ、１６Ｃは工業計器２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２
Ｃ（７）各出力端にそれぞれ個別的に接続された信号
入力部である。これらの各信号入力部１５ａ、ｉ５ｂ。
Ｃ（７）各出力端にそれぞれ個別的に接続された信号
入力部である。これらの各信号入力部１５ａ、ｉ５ｂ。
１６Ｃｆｌ共に同一の構成を有している。一つの信号入
力部１６ａについてみれば、たとえば、第３図（ａ）
ｌこ示すように、１つの差動増幅器Ａｍｐ ２および各
工業計器２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃがらの出方信
号を制御演算部１０に適応した信号に変換するためのス
イッチＳＷＩ’、 ＳＷ２’を主体に構成されている。
力部１６ａについてみれば、たとえば、第３図（ａ）
ｌこ示すように、１つの差動増幅器Ａｍｐ ２および各
工業計器２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃがらの出方信
号を制御演算部１０に適応した信号に変換するためのス
イッチＳＷＩ’、 ＳＷ２’を主体に構成されている。
１８は信号発生部１２を各信号出力部１４ａ、１４ｂ。
１４Ｃに順次選択的に切換えて接続する前段マルチプレ
クサ、２０は各信号入力部１６ａ、１６ｂ。
クサ、２０は各信号入力部１６ａ、１６ｂ。
１６Ｃを制御演算部１０１こ順次選択的に切換えて接続
する後段マルチプレクサである。また２２はＡ／Ｄ変換
器である。２４け制御演算部１０からの制御信号により
前記信号出力部１４ａ、１４ｂ。
する後段マルチプレクサである。また２２はＡ／Ｄ変換
器である。２４け制御演算部１０からの制御信号により
前記信号出力部１４ａ、１４ｂ。
１４Ｃのそれぞれの各スイッチＳＷ＋ 、 ＳＷ２ 、
ＳＷａ 。
ＳＷａ 。
ＳＷ４を切換えるレンジ切換器である。２６は同じく制
御演算部１０からの制御信号により前記信号入力部１６
ａ、１６ｂ、１６Ｃのそれぞれの各スイッチＳＷ ＋’
、 ＳＷ２’を切換えるレンジ切換器である。
御演算部１０からの制御信号により前記信号入力部１６
ａ、１６ｂ、１６Ｃのそれぞれの各スイッチＳＷ ＋’
、 ＳＷ２’を切換えるレンジ切換器である。
両レンジ切換器２４．２６ｆｌ一種の論理回路で構成さ
れている。
れている。
次に、上記構成を有する工業計器自動試験装置１を用い
て複数の工業針ｅｘ ２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃ
の性能試験を行なう場合について説明する。
て複数の工業針ｅｘ ２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃ
の性能試験を行なう場合について説明する。
まず、設定部４から工業計器２ ａ 、 ２ ｂ 、
２ Ｃの性能試験を行なうためのプログラムを入力する
。
２ Ｃの性能試験を行なうためのプログラムを入力する
。
ＣＰＵ１Ｑはこのプログラムを記憶部８に記憶するとと
もに、このプログラムに基づいた制御信号を信号発生部
１２とともに表示部６へ出力する。
もに、このプログラムに基づいた制御信号を信号発生部
１２とともに表示部６へ出力する。
従って表示部６にはプログラムされた試験条件が表示さ
れる。また、信号発生部１２はＣＰＵＩＱから送出σれ
た制御信号に応答して基本となる信号を発生し、これを
前段マルチプレクサ１８へ送出する。前段マルチブレフ
サ１ｓｕｃｐｕｉｏに制御され信号発生部１２からの出
力信号に応じてその内部のスイッチをたとえば一定時間
間隔でもって順次選択的に切換えていく。このため、信
号発生部１２と各信号出力部１４ａ 、１４ｂ 、１４
Ｃとは前段マルチプレクサ１８を介して個々に選択的に
接続される。さら１こ、前段マルチブレフサ１８の切換
タイミングに合せてＣＰＵ１Ｑからはレンジ切換器２４
にレンジ切換信号が入力σれるので、レンジ切換器２４
はこのレンジ切換信号に応答して、各信号出力部１４ａ
、１４１）、１４ＣのスイッチＳＷ＋ 、 ＳＷ２ 、
ＳＷａ 、 ＳＷ４ を試験対象とする各工業計器２
ａ、２ｂ、２Ｃの入力信号レベルに適合するように切換
える。たとえば、今、一つの工業計器２ａについて、そ
の入力信号レベルが数ｍＶの単位を対象としているもの
とする。この場合、信号発生部１２と１つの信号出力部
１４ａとが前段マルチプレクサ１８により接続されると
、信号発生部１２からの基本信号はこの信号出力部１４
ａに入力される。その基本信号のレベルは入力抵抗の影
響を受けないよう数ｖ単位の充分大きな値を有している
。上記のごとくレンジ切換器２４ｉｌ−１：信号発生部
１２と信号出力部１４ａとの接続タイミングに合せて信
号出力部１４ａのスイッチＳＷ＋。
れる。また、信号発生部１２はＣＰＵＩＱから送出σれ
た制御信号に応答して基本となる信号を発生し、これを
前段マルチプレクサ１８へ送出する。前段マルチブレフ
サ１ｓｕｃｐｕｉｏに制御され信号発生部１２からの出
力信号に応じてその内部のスイッチをたとえば一定時間
間隔でもって順次選択的に切換えていく。このため、信
号発生部１２と各信号出力部１４ａ 、１４ｂ 、１４
Ｃとは前段マルチプレクサ１８を介して個々に選択的に
接続される。さら１こ、前段マルチブレフサ１８の切換
タイミングに合せてＣＰＵ１Ｑからはレンジ切換器２４
にレンジ切換信号が入力σれるので、レンジ切換器２４
はこのレンジ切換信号に応答して、各信号出力部１４ａ
、１４１）、１４ＣのスイッチＳＷ＋ 、 ＳＷ２ 、
ＳＷａ 、 ＳＷ４ を試験対象とする各工業計器２
ａ、２ｂ、２Ｃの入力信号レベルに適合するように切換
える。たとえば、今、一つの工業計器２ａについて、そ
の入力信号レベルが数ｍＶの単位を対象としているもの
とする。この場合、信号発生部１２と１つの信号出力部
１４ａとが前段マルチプレクサ１８により接続されると
、信号発生部１２からの基本信号はこの信号出力部１４
ａに入力される。その基本信号のレベルは入力抵抗の影
響を受けないよう数ｖ単位の充分大きな値を有している
。上記のごとくレンジ切換器２４ｉｌ−１：信号発生部
１２と信号出力部１４ａとの接続タイミングに合せて信
号出力部１４ａのスイッチＳＷ＋。
ＳＷ２ 、 ＳＷａ 、 ＳＷ４を切換える。この各ス
イッチＳＷ＋。
イッチＳＷ＋。
ＳＷ２ 、 ＳＷｓ 、 ＳＷ４の組合せは第２図（ｂ
）のごとくになっている。すなわちこの例では次段の工
業計器２ａはｍＶ単位の出力レンジでなければならない
ので、スイッチＳＷ＋はＯＮ、スイッチＳＷ２はＯＦＦ
、 ５ＷａｉｄｂとＣの各端子が、またＳＷ４はｂ′と
Ｃ′の各端子がそれぞれ接続する。このため信号出力部
１４ａの入力端に印加された数Ｖの電圧はその出力端で
は数ｍｖｌこレンジ切換され、これが工業計器２ａに送
出される。なお、各信号出力部１４１．１４ｂ。
）のごとくになっている。すなわちこの例では次段の工
業計器２ａはｍＶ単位の出力レンジでなければならない
ので、スイッチＳＷ＋はＯＮ、スイッチＳＷ２はＯＦＦ
、 ５ＷａｉｄｂとＣの各端子が、またＳＷ４はｂ′と
Ｃ′の各端子がそれぞれ接続する。このため信号出力部
１４ａの入力端に印加された数Ｖの電圧はその出力端で
は数ｍｖｌこレンジ切換され、これが工業計器２ａに送
出される。なお、各信号出力部１４１．１４ｂ。
１４ＣはコンデンサＣにより信号発生部１２からの出力
レベルを保持し、また、各スイッチＳＷ＋。
レベルを保持し、また、各スイッチＳＷ＋。
ＳＷ２ 、 ＳＷａ 、 ＳＷ４の切換えはレンジ切換
器２４を介してＣＰＵ１Ｑに制御されている。従って、
前段マルチプレクサ１８およびレンジ切換器２４への入
力が更新されない限り各信号出力部１４ ａ 、 １４
＋入１４Ｃからはこれに対応した各工業計器２ ａ 、
２ｂ。
器２４を介してＣＰＵ１Ｑに制御されている。従って、
前段マルチプレクサ１８およびレンジ切換器２４への入
力が更新されない限り各信号出力部１４ ａ 、 １４
＋入１４Ｃからはこれに対応した各工業計器２ ａ 、
２ｂ。
２Ｃに一定レベルの信号が常時出力式れる。
欠番こ、各工業計器２ ａ 、 ２ ｂ 、 ２ Ｃか
らの出力はそれぞれこれに対応した信号入力部１６ ａ
、１６ｂ。
らの出力はそれぞれこれに対応した信号入力部１６ ａ
、１６ｂ。
１６Ｃに入力される。後端マルチプレクサ２０はＣＰＵ
ＩＱに制御されその内部のスイッチをたとえば一定時間
間隔でもって順次切換えていく。このため各信号入力部
ｉｅａ 、１６ｂ 、１６ＣとＣＰＵ１Ｑとは後端マル
チブレフサ２０、Ａ／Ｄ変換器２２を介して互いに接続
される。σら１こ、後段マルチプレクサ２０の切換タイ
ミング昏こ合せてＣＰＵＩＱからはレンジ切換器部にレ
ンジ切換信号が入力されるので、レンジ切換器２６はこ
のレンジ切換信号に応答して各信号入力部１６ａ、１６
ｂ。
ＩＱに制御されその内部のスイッチをたとえば一定時間
間隔でもって順次切換えていく。このため各信号入力部
ｉｅａ 、１６ｂ 、１６ＣとＣＰＵ１Ｑとは後端マル
チブレフサ２０、Ａ／Ｄ変換器２２を介して互いに接続
される。σら１こ、後段マルチプレクサ２０の切換タイ
ミング昏こ合せてＣＰＵＩＱからはレンジ切換器部にレ
ンジ切換信号が入力されるので、レンジ切換器２６はこ
のレンジ切換信号に応答して各信号入力部１６ａ、１６
ｂ。
１６ＣのスイッチＳＷＩ’、 ＳＷ２’をＣＰＵ１Ｑの
入力信号レベルに適合するように切換える。たとえば、
今一ツノ工業計器２ａについて、その出力信号レベルが
数ｍＶの場合、この信号は工業計器２ａに対応した信号
入力部１６ａに入力σれる。信号入力部１６ａのスイッ
チＳＷＩ’、 ＳＷ２’の組合せは第３図（ｂ）のごと
くになっている。したがって、この例では両スイッチＳ
ＷＩ’、 ＳＷ２’は共にＯＦＦのままである。このた
め、信号入力部１４ａの入力端に印加された数ｍＶ単位
の電圧は、その出力端で数Ｖ単位ｌこレンジ切換される
。そして、この信号は後端マルチプレクサ２０ 、Ａ／
Ｄ変換器１０を介してＣＰＵ１Ｑに入力される。このよ
うに、各工業計器２ａ、２ｂ、２ＣからのデータはＣＰ
Ｕ １Ｑ ｉｊ一定時間間隔で取り込まれ、ＣＰＵ１
Ｑはこの入力データに基づいた演算処理結果を表示部６
にたとえばプリントアウトするとともに記憶部８に記憶
させる。
入力信号レベルに適合するように切換える。たとえば、
今一ツノ工業計器２ａについて、その出力信号レベルが
数ｍＶの場合、この信号は工業計器２ａに対応した信号
入力部１６ａに入力σれる。信号入力部１６ａのスイッ
チＳＷＩ’、 ＳＷ２’の組合せは第３図（ｂ）のごと
くになっている。したがって、この例では両スイッチＳ
ＷＩ’、 ＳＷ２’は共にＯＦＦのままである。このた
め、信号入力部１４ａの入力端に印加された数ｍＶ単位
の電圧は、その出力端で数Ｖ単位ｌこレンジ切換される
。そして、この信号は後端マルチプレクサ２０ 、Ａ／
Ｄ変換器１０を介してＣＰＵ１Ｑに入力される。このよ
うに、各工業計器２ａ、２ｂ、２ＣからのデータはＣＰ
Ｕ １Ｑ ｉｊ一定時間間隔で取り込まれ、ＣＰＵ１
Ｑはこの入力データに基づいた演算処理結果を表示部６
にたとえばプリントアウトするとともに記憶部８に記憶
させる。
なお、上記実施例において工業計器２ａ、２ｂ。
２ Ｃｌこ対応した各信号出力部１４ａ 、 １４ｂ、
１４Ｃと信号入力部１６ａ、１６１）、１６Ｃとは３か
所設けているが、これに限るものではなく工業計器の数
１こ応じ、２つであってもよくさらに多数設けてもよい
のは勿論である。
１４Ｃと信号入力部１６ａ、１６１）、１６Ｃとは３か
所設けているが、これに限るものではなく工業計器の数
１こ応じ、２つであってもよくさらに多数設けてもよい
のは勿論である。
（ハ）効果
以上のように本発明によれば、工業計器が互いに種類の
異なるものであっても、それらの性能を同時に多数個自
動的に試験することができる。このため昼夜を問わず試
験を続行することが可能となり、試験に要する労力が大
幅（こ軽減されるばかりでなく、試験に要する期間も極
めて短かくなるという実用上優れた効果が発揮きれる。
異なるものであっても、それらの性能を同時に多数個自
動的に試験することができる。このため昼夜を問わず試
験を続行することが可能となり、試験に要する労力が大
幅（こ軽減されるばかりでなく、試験に要する期間も極
めて短かくなるという実用上優れた効果が発揮きれる。
図面は本発明の実施例を示し、第１図は工業計器自動試
験装置の全体を示すブロック構成図、第２図（ａ）は前
段マルチプレクサと一つの信号出力部を示す回路図、同
図（＋）） Ｕ信号出力部の各スイッチの動作条件を示
す表図、第３図（ａ）は後端マルチプレクサと一つの信
号入力部を示す回路図、同図（１））は信号入力部の各
スイッチの動作条件を示す表図でろる。 １・・・工業計器自動試験装置、２ ａ 、 ２ ｂ
、 ２ ｃ・・・工業計器、４・・・設定部、６・・・
表示部、１０・・・制御演算部、１２・・・信号発生部
、１４ａ 、１４ｂ 。 １４ Ｃ・・・信号出力部、１６１．１６１）、１６Ｃ
−・・信号入力部、１Ｂ・・・前段マルチプレクサ、２
０・・・後端マルチプレクサ、２４．２６・・・レンジ
切換器。 出 願 人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士岡田和秀
験装置の全体を示すブロック構成図、第２図（ａ）は前
段マルチプレクサと一つの信号出力部を示す回路図、同
図（＋）） Ｕ信号出力部の各スイッチの動作条件を示
す表図、第３図（ａ）は後端マルチプレクサと一つの信
号入力部を示す回路図、同図（１））は信号入力部の各
スイッチの動作条件を示す表図でろる。 １・・・工業計器自動試験装置、２ ａ 、 ２ ｂ
、 ２ ｃ・・・工業計器、４・・・設定部、６・・・
表示部、１０・・・制御演算部、１２・・・信号発生部
、１４ａ 、１４ｂ 。 １４ Ｃ・・・信号出力部、１６１．１６１）、１６Ｃ
−・・信号入力部、１Ｂ・・・前段マルチプレクサ、２
０・・・後端マルチプレクサ、２４．２６・・・レンジ
切換器。 出 願 人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士岡田和秀
Claims (1)
- （［）試験プログラム等を予じめ設定する設定部と、入
出力データを表示する表示部よ、入出力信号を演算、制
御する制御演算部と、前記設定部で設定されたプログラ
ムに基づいて基本となる信号を発生する信号発生部と、
複数の工業計器の各入力端と出力端とにそれぞれ個別的
（こ接続される各複数の信号出力部および信号入力部と
、前記信号発生部をこれらの信号出力部に順次選択的に
切換えて接続する前段マルチプレクサと、前記信号入力
部を前記制御演算部に順次選択的に切換えて接続する後
段マルチプレクサと、前記信号出力部および信号入力部
の各レンジを切換えるレンジ切換器とを包含してなる工
業計器自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8635483A JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8635483A JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59211194A true JPS59211194A (ja) | 1984-11-29 |
| JPH041399B2 JPH041399B2 (ja) | 1992-01-10 |
Family
ID=13884545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8635483A Granted JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59211194A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5953578A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-03-28 | エデコ・ホ−ルデイングス・リミテツド | 熱化学エネルギ貯蔵媒体，同貯蔵装置及び同貯蔵方法 |
| JPS6451821U (ja) * | 1987-09-29 | 1989-03-30 | ||
| JPH03120418A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-22 | Nippon Steel Corp | 計装テスタ |
-
1983
- 1983-05-16 JP JP8635483A patent/JPS59211194A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5953578A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-03-28 | エデコ・ホ−ルデイングス・リミテツド | 熱化学エネルギ貯蔵媒体，同貯蔵装置及び同貯蔵方法 |
| JPS6451821U (ja) * | 1987-09-29 | 1989-03-30 | ||
| JPH03120418A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-22 | Nippon Steel Corp | 計装テスタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH041399B2 (ja) | 1992-01-10 |
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