JPS5922355A - Icカ−ド - Google Patents

Icカ−ド

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JPS5922355A
JPS5922355A JP57132513A JP13251382A JPS5922355A JP S5922355 A JPS5922355 A JP S5922355A JP 57132513 A JP57132513 A JP 57132513A JP 13251382 A JP13251382 A JP 13251382A JP S5922355 A JPS5922355 A JP S5922355A
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JP
Japan
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contact terminals
card
adhesive material
circuit
semiconductive
Prior art date
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Pending
Application number
JP57132513A
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English (en)
Inventor
Seiichi Nishikawa
誠一 西川
Koichi Okada
浩一 岡田
Teruaki Jo
輝明 城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はICカードにINfるものであり、特にメモ
リやデータ処理回路等の電子回路を内蔵し↓ たIC素子(LSI 、超LSIも含む)を埋設された
カードに関する。
カード本体にIC素子を埋設したカードは、ICカード
やクレジットカード、銀行カード等の個人識別カードと
して利用されていると共に、その他の分野に広く第1」
用されるようになって来た。
このようなカードをここではICカードと称−「るか、
かかるICカードを′よメモリやデータ処理回路等の電
子回路を内蔵したIC素子と、IC素子をデータ伝送!
i!i 置等の外部製鎖に電気的に接続するための接点
端子(電極)とを具備している。そして、ICカード上
の外部接続用の接点端子と、埋設されたIC素子のリー
ド端子とは導体ワイヤにより電気的に接続されているた
め、ICカードの携帯時やICカードの未使用時に、接
点端子に静電的負荷又は意図■−ない電圧がかかり、I
CC素子プレしは電子回路が破壊されてしまう恐れがあ
った。特に、この神のICカードの性質として携帯され
る可能性が高いため、人体からの静電気によりIC素子
ないしは11℃子回路が破壊されることが多かった。よ
って、この発明の目的は、上述の如き静電的負荷又は意
図しないflj、圧がかかった場合にも、IC素子フ!
八へしは電子回路を破壊しないように17だICカード
を待供イろことにある。
以下にこの発明を説明する。
この発明は第1図に示すように、ボッティング枠1の上
面に回路基板2を配設し、回路基板2の外面にデータイ
!:、送装置等の外部装置と電気的に接続するた・\・
°)の複数の接点端子3〜6を設けると共に、回路基板
2の内面に埋設さ旧たIC素子7をワイヤでボンディン
グするだめの+!=il路パターン8及び9を設け、接
点端子3,4と回路パターン8及び接点端子5,6と回
路パターン9とをそれぞれスルーホール10 、11で
接続したICカードに関するものであり、ボッティング
枠1と回路基板2とを半導電性接着材料(たとえば、カ
ーボンを混入したエポキシ樹脂膜)で接着し、接点端子
間3〜6の間を相互に半導電的に接続するようにしたも
のである。?rお、IC素子7と回路パターン8.9と
はそれぞれ嘴体ワイヤ13 、14で接続されており、
IC素子7はボッティング枠1で包囲された領域にモー
ルド樹脂12で固定されている。
また、回路パターン8及び90■1(分の横断面を示す
と第2図1のようになっており、]、C素子7のリード
端子と回路パターン8及び9とはそれぞれワイヤ】3及
び14で電気的に接続されるようになっている。そして
、回路パターン8及び9(、−の例では6個)を相互に
接続するように接着飼料15で固定されており、各回路
パターンは接着旧料15を介して互いに電気的に半導電
的に接続されるようになっている。
こθ)ような構造において、ICカードをデータ伝送装
験等の外部装置の所定個1′9[に挿入す2)と、外部
装置からのデータ等は接点端子3〜6.スルーホール1
0.11’、回路パターン8,9及びワイヤ13 、1
4を経てIC素子7に伝送され、IC素子7からのデー
タも同様な経路で外部装置に送られる。
ここにおいて、回路パターン8及び9はそねそれ半導電
性の接着材料15で相互に接続されているので、接点端
子3〜6及びIC素子7との間における等測的な回路結
線図は第3図に示すように1rる。
したかつて、たとえば接点端子3及び4σ)間しま毎、
抗R1を介して電気的に接続さ+’t、、 1)j4j
子4及び6の間は抵抗几6を介して電気的に接続さね、
他の接点端子間も同様に抵抗で相互に接続されて(・ろ
このように、各端子間が抵抗で接続さ、1′L、て(・
るため、任意の2つの接点端子間に静電的負荷カー力・
力)つた場合にも、回路ノくターンを接続して(・る接
着材料15の半導電性により、接点端子力・らがL人し
た。
静電荷が接着材料15の抵抗経路に分散さり、IC素子
7に対する静電荷の局所集中を防ぐことプ)−できる。
ブ、cお、半導電性の接着相料は、接点端子間尺テy回
路パターン間で短絡を生じな(・稈度の抵抗イ直を有す
る必要があり、隣接知る接点端子間のJ氏抗値は数にΩ
〜数101<Ωの範囲にあることカー望ましく・。
この抵抗値は埋設さνたIc素子7の内部抵抗により異
l「るが、最適条件を選択−j 7)こkにより面1静
1L気性を従来の10〜100倍に向上さゼーることカ
ー可能となる。
以」二のようにこの発明のICカード1(よ十1.し王
、接点端子間に接着材料による抵抗を介挿して流入電荷
を分散できるようにしているので、Icカードの携帯時
に人体からの静電荷によってICカード内に埋設された
IC素子が破壊されたり、使用不能となる恐れも軽減さ
れ、ICカード自体の信頼性も向上する。また、従来の
ボッティング枠の接着剤に導電性要素を混入することに
より、ICカードの耐静電気性を確実に向上でき、IC
カードの製造工程が増えるといった欠点もtr (、従
来の工程で容易に製造できるといった利点がある。
な、お、上述の実施例では接点端子の数を4個(又は6
個)としているが、接点端子及び回路パターンの数は任
意であり、導電性要素を混入する接着材料としては、固
有抵抗値を有する半導電性の未硬化樹脂膜を用(・ろの
が良い。また、樹脂膜の代わりに、二液性接着剤にカー
ボン粉等の導電要素を混入して半導電性を持たせるよう
にしたものを用いることも可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す断面図、第2図はそ
の回路パターン部における横断面図、第3図はこの発明
の等何曲な回路を示す結線191である。 1・・・ボッティング枠、2・・・回路基板、3〜6・
・・接点端子、7・・・IC素子、8,9・−・回路パ
ターン、1.0 、11・・・スルーホール、12・・
−モールド樹脂゛、13 、14・・・ワイヤ、15・
−・接着材料。 出願人代理人   安  形  ′J4it   三弗
/図 21

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ボッティング枠の上面に回路基板を配設し、前記回路基
    板の外面に外部装f次と電気的に接続するための複数の
    接点端子を設けると共に、前記回路基板の内面に埋設さ
    れたIC素子をボンディングするための回路パターンを
    設け、前記接点端子と前記回路パターンとをスルーホー
    ル接続したICカードにおいて、前記ボッティング枠と
    前記回路基板とを半導電性接着材料で接着し、前記接点
    端子間を相互に半導電的に接続するようにしたことを特
    徴とするICカード。
JP57132513A 1982-07-29 1982-07-29 Icカ−ド Pending JPS5922355A (ja)

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JP57132513A JPS5922355A (ja) 1982-07-29 1982-07-29 Icカ−ド

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JP57132513A JPS5922355A (ja) 1982-07-29 1982-07-29 Icカ−ド

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JP57132513A Pending JPS5922355A (ja) 1982-07-29 1982-07-29 Icカ−ド

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60256886A (ja) * 1984-06-04 1985-12-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 情報処理カ−ド
JPS61168970U (ja) * 1985-04-10 1986-10-20
JPS62236793A (ja) * 1986-04-07 1987-10-16 松下電子工業株式会社 Icカ−ド
JPH01263090A (ja) * 1988-04-15 1989-10-19 Dainippon Printing Co Ltd Icカード
JPH08186189A (ja) * 1994-12-29 1996-07-16 Toray Dow Corning Silicone Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
JP2008099459A (ja) * 2006-10-12 2008-04-24 Toshiba Corp センサ付きicタグ適用高電圧機器
WO2012059813A3 (en) * 2010-11-02 2012-07-19 Microconnections Sas Sim card and manufacturing method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56157590A (en) * 1980-04-04 1981-12-04 Flonic Sa Memory card

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56157590A (en) * 1980-04-04 1981-12-04 Flonic Sa Memory card

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60256886A (ja) * 1984-06-04 1985-12-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 情報処理カ−ド
JPS61168970U (ja) * 1985-04-10 1986-10-20
JPS62236793A (ja) * 1986-04-07 1987-10-16 松下電子工業株式会社 Icカ−ド
JPH01263090A (ja) * 1988-04-15 1989-10-19 Dainippon Printing Co Ltd Icカード
JPH08186189A (ja) * 1994-12-29 1996-07-16 Toray Dow Corning Silicone Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
JP2008099459A (ja) * 2006-10-12 2008-04-24 Toshiba Corp センサ付きicタグ適用高電圧機器
WO2012059813A3 (en) * 2010-11-02 2012-07-19 Microconnections Sas Sim card and manufacturing method

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