JPS59206945A - 制御記憶検査装置 - Google Patents

制御記憶検査装置

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JPS59206945A
JPS59206945A JP58081165A JP8116583A JPS59206945A JP S59206945 A JPS59206945 A JP S59206945A JP 58081165 A JP58081165 A JP 58081165A JP 8116583 A JP8116583 A JP 8116583A JP S59206945 A JPS59206945 A JP S59206945A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
control
microinstruction
registers
holding
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP58081165A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadanobu Okuyama
奥山 忠信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS59206945A publication Critical patent/JPS59206945A/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、データ処理装置においてマイクロプログラム
制御に使用される制御記憶検査装置に関し、特に分散し
たマイクロ命令保持レジスタのデータ検査回路に関する
(従来技術) 近年、情報処理装置は小型化されると共に、高速化され
、一般に論理回路はLSI化されてきている。また、情
報処理装置の機能も多様化されてきているため、一般に
マイクロプログラム制御形の情報処理装置が採用されて
いる。
一方、中大型の情報処理装置(おいては、現在の技術で
は装置を構成する論理回路のすべてを一つのLSIに実
装することは不可能である、このため、複数のLSIと
それらのLSIを実装する複数のパッケージにより全体
の論理回路を構成せざるを得ない。
マイクロプログラム制御形の情報処理装置では、制御記
憶装置から読出されたマイクロ命令データをいったんレ
ジスタに保持し、このレジスタの出力を解読することに
より制御を行うが、装置が大型にがるとレジスタとその
出力を解読して制御を行うための制御回路とは同一のL
SI内に実装できないばかりか、同一のパッケージ内に
も実装できかくなり、レジスタから上記制御回路までの
距離が遠くなって装置の高速化に支障をきたすことにな
る。
これに対して、レジスタを複数個のLSIに分散し、制
御回路と同一のLSI内に実装することによって装置の
高速化をはかる方式が提案されているが、この方式では
分散されたマイクロ命令データの信苧性を保証するデー
タの検査を実施し難いという欠点があった。
す力わち、第1にマイクロ命令データをパリティ方式に
より検査する場合には、制御記憶装置の内部に配置した
データビットに対するパリティビットのビット位置の関
係が、分散したレジスタにより保持されたマイクロ命令
データビットとパリティビットとのビット位置関係に合
致させ難いこと、あるいけ合致させたとしてもマイクロ
命令データビットの構成上、複数の制御回路によりデー
タビットを共有していた場合には、複数の検査回路が必
要であるという欠点があった。また、共有しているビッ
トと単独に使用しているビットとを合成して制御を行う
場合には、制御記憶装置上のパリティビット数が増加し
、金物量が増加してしまうという欠点もあった。また、
パリティ方式の検査では、複数ビットエラーの検査を行
うことができないのに加えて、単一ビットエラーであっ
ても修正機能がないために致命的なエラーになるという
欠点があった。
第2に、マイクロ命令データがECC方式によりチェッ
クされ、もしエラーがあって、このエラーが修正される
場合には、チェックビットは制御記憶装置に記憶される
マイクロ命令データの全ビットに対して付加されたもの
である。このため、いったん分散されたマイクロ命令デ
ータを分散されたマイクロ命令データ保持レジスタの出
力から収集し、チェックビットとの間で検査を行う必要
がある。そこで、上記回路を実装するためのLSIに出
力ピンの増加を招くと共に、収集されたデータの遅延時
間が大きくかり、高速化に支障がでるという可能性があ
った。したがって、800回路による検査を集中してレ
ジスタの出力のみにより行い、分散されたマイクロ命令
保持レジスタのデータを無検査で通すか、あるいは新規
にデータセット前に作成されたパリティによって検査を
行うしか方法がなかった。したがって、これによってマ
イクロ命令データの信憑性は低くなるという欠点があっ
た。
ここで、従来方式をさらに詳細に説明して、問題点を明
らかにする。
第1図は、従来技術によりマイクロ命令保持レジスタを
分散した情報処理装置のブロック構成を示す図である。
第1図において、10は制御記憶装fW、11FiEC
C用マイクロ命令保持レジスタ、12け切替回路、13
け800回路、14t/′iマイクロプログラム現在ア
ドレスレジスタ、15は制御記憶装置のアドレス生成回
路、16〜18は分散された第1〜第3の制御用マイク
ロ命令保持レジスタ、19〜21tj:Ml〜第3のマ
イクロ命令解読回路、22〜24は第1〜第3の情報処
理装置の制御回路、30〜32はそれぞれの回路が独立
KLSIに実装されていることを示す第1〜第3のLS
Iパッケージである。
制御記+1!@置10から読出されたマイクロ命令HE
CC用マイクロ命令保持レジスタ11にセットされると
同時に、一部は第1〜第3の制御用マイクロ命令保持レ
ジスタ16〜1Bに対しても必要に応じてセットされる
。第1〜第3の制御用マイクロ命令保持レジスタ16〜
1Bにセットされたマイクロ命令はそれぞれ第1〜第3
のマイクロ命令解読回路19〜21により解読され、そ
れぞれ第1〜第3の制御回路22〜24により制御動作
が行われる。一方、ECC用マイクロ命令保持レジスタ
11にセットされたマイクロ命令は、アドレス生成回路
15により次に読出す制御記憶装置10のアドレス、ア
ドレスレジスタ14.!:ECC用マイクロ命令保持レ
ジスタ11との内容、あるいFi第1〜第3の制御回路
22〜24の制御結果によって決定される。また、EC
C用マイクロ命令保持レジスタ11の出力uEcc回路
13により検査され、これによってマイクロ命令データ
の正当性が検査される。Ecc回路13による検査の結
果、エラーが発見されない場合には、再度、制御記憶装
置10から読出されて次の動作釦移行する。しかし、エ
ラーが発見された場合には制御記憶装置10から次の読
出し動作、および第1〜第3の制御回路22〜24の動
作を中断し、切替回路12によりデータ信号線104を
選択することによりECC回路13により正しく修正さ
れたデータは、データ信号線104を通して修正済みデ
ータとしてECC用マイクロ命令保持レジスタ11およ
び第1〜第3の制御用マイクロ命令保持レジスタ16〜
18にセットされる。これらのレジスタにセットされた
データは、上記の通常動作と同様に装置の制御に使用さ
れる。
以上のように、第1図の方式においてはECC用マイク
ロ命令保持レジスタ11の内容けEcc回路13により
検査できるが、第1〜第3の制御用マイクロ命令保持レ
ジスタ16〜18の内容は検査できかいため、第1〜第
3の制御回路22〜24を制御するデータには信憑性に
欠けるという欠点があった。これに対して、データ信号
線102上にパリティ発生回路を付加し、第1〜第3の
制御用マイクロ命令保持レジスタ16〜18にデータビ
ットと共にパリティビットをセットし、これらのレジス
タの出力データをパリティ検査する方法によってデータ
を検査することは可能であるが、データ信号m102の
ビット数が増加すること、パリティ発生回路がそれぞれ
分散したレジスタの数だけ必要なこと、および第1〜第
3の制御用マイクロ命令保持レジスタ16〜18の出力
に対してそれぞれパリティ検査回路が必要なことなどの
理由によりハードウェア量が増加すると共に、入出力ビ
ンが増加してLSIとして致命的か欠点を生ずるとい5
問題点があった。さらに、加えて、第1〜第3の制御用
マイクロ命令保持レジスタ・16〜18にセットされた
データの複数ビットエラーは、検出され麿いという欠点
屯あった。
(発明の目的) 本発明の目的は、制御記憶装置とマイクロ命令保持レジ
スタとの間のデータ経路に3値論理の双方向性を有する
論理入力回路と論理出力回路とにより成る双方向性論理
回路手段を付加することにより上記欠点を解決し、マイ
クロ命令保持レジスタを分散しても効率の劣化しないマ
イクロ命令語の検査ができるように構成した制御記憶検
査装置を提供することにある。
(発明の構成) 本発明は制御配憶装置と、ECC用マイクロ命令保持レ
ジスタとECC回路と、複数の制御回路と、複数の制御
用マイクロ命令保持レジスタとを具備して構成した情報
処理装置に使用される制御記憶検査装置の改良である。
制御記憶装置はマイクロ命令を格納するためのものであ
り、ECC用マイクロ命令保持レジスタはマイクロプロ
グラム実行時にマイクロ命令を保持するためのものであ
り、ECC回路はECC用マイクロ命令保持レジスタの
出力データを検査するためのものであり、複数の制御回
路は制御記憶装置のアドレスを生成するためのものであ
り、複数の制御用マイクロ命令保持レジスタはECC用
マイクロ命令保持レジスタとは独立に分散してマイクロ
命令を保持するためのものである。
本発明による制御記憶検査装置は複数の制御回路とEC
C用マイクロ命令保持レジスタならびに複数の制御用マ
イクロ命令保持レジスタとの間のデータ経路に3値論理
の論理入力回路と論理出力回路とから成る双方向性論理
回路手段を挿入したものであり、これによって複数の制
御用マイクロ命令保持レジスタの出力をデータ経路にセ
ットできるよう構成したものである。さらに、Ecc用
マイクロ命令保持レジスタの入出力間では、複数の制御
用マイクロ命令保持レジスタのそれぞれに対応してデー
タを比較するための複数の比較回路を備えている。これ
によって、複数の制御用マイクロ命令保持レジスタに保
持されたデータの検査を容易に行うことができるように
構成したものである。
(実施例) 次に本発明について図面を参照して詳細に説明する。
第2図は、本発明による制御配憶検査装置の一実施例を
示すブロック構成図である。第2図において、第1図と
同一の番号は第1図と同様か手段を表わすものである。
第2図において、40F!、クロック発生回路、41は
エラー制御回路、42〜44は第1〜第3のエラーフリ
ップフロップ、45〜47tri第1〜第3のデータ用
の比較回路、281〜284、ならびに322〜324
はそれぞれ出力が3値の論理出力回路、291〜294
、ならびに312〜314は論理出力回路281〜28
4からの信号を受信するための論理入力回路である。
第3図〜第5図は第2図の回路の動作を示すタイミング
チャートであり、第3図は通常の動作、第4図はECC
回路によりエラーを検出した場合の動作、第5図は第1
〜第3のデータ用の比較回路45〜47により不一致を
検出した場合の動作を示す。
次に上記タイミングチャートを参照し、第2図によシ本
発明の詳細な説明する。第3図において、クロックAH
第1〜第3のフリップフロップ42〜44を駆動する本
ので、0印のタイミングによってこれらのフリップフロ
ップの内容が変化する。クロックBj/′i本発明によ
る装置を含んだ情報処理装置全体の主クロックであり、
Δ印のタイミングでレジスタまたは制御用フリップフロ
ップの内容を変化させることができ、ECC用マイクロ
命令保持レジスタ11、および第1〜第3の制御用マイ
クロ命令保持レジスタ16〜18の内容も制御する。ク
ロックCU3値論理の論理出力回路281〜284、お
よび322〜324の出力値を制御するためのクロック
であり、x印の期間には論理出力回路281〜284の
出力をデータ信号線202上で有効化し、0印の期間に
は論理出力回路322〜324の出力をデータ信号線2
02上で有効化する。第2図の信号線220はx印の期
間KFi論理値が1であり、信号IJ221上の信号の
状態は0印の期間には論理値1と力る。
ECC用マイクロ命令保持レジスタ11および第1〜第
3の制御用マイクロ命令保持レジスタ16〜18の内容
は、クロックが進むごとKA。
B、C,Dへと変化して制御動作を行う。この間に、デ
ータ信号線2022〜2024上の情報はECC用マイ
クロ命令保持レジスタ11の内容と第1〜第3の制御用
マイクロ命令保持レジスタ16〜1Bの内容とがクロッ
クCのタインングによって交互に出現する。クロックA
、B、C,DがECC用マイクロ命令保持レジスタ11
の内容に応じて出力され、A′、B′、C′、D′が制
御用マイクロ命令保持レジスタ16〜18の内容に応じ
て出力される。0印のタイミングの期間、すなわち、デ
ータ信号線2022〜2024上に対して、第1〜第3
の制御用マイクロ命令保持レジスタ16〜18からのデ
ータがクロックCとして出力されている期間には、第1
〜第3の比較回路42〜44により、ECC用マイクロ
命令保持レジスタ11の出力とデータ信号線2022〜
2024上の情報とは比較され、その結果はクロックA
のタイミングで第2および第3のフリップフロップ42
.43にセットされる。以上の動作によりECC用マイ
クロ命令保持レジスタ11の内容と第1〜第3の制御用
マイクロ命令保持レジスタ16〜18の内容との比較が
、制御記憶装置とECC用マイクロ命令保持レジスタ1
1および第1〜第3の制御用マイクロ命令保持レジスタ
16〜18の間のデータ信号線の数を増加させることな
く行うことができる。一方、ECC用マイクロ命令保持
レジスタ11の出力tlEcc回路13により検査され
、エラーがある場合には第4図に示したようなエラータ
イミングで情報処理装置の動作をいったん中断し、@と
いう誤った内容を@という正しい内容に再セットするこ
とにより情報処理装置全体として正しい動作を継続する
ことができる。
クロックAとクロックXおよびデータ@とデータ@ 、
 a 、!l: a f!、どの表現はデータの内容と
しては同一であることを青味し、説明の便宜上、ECC
用マイクロ命令保持レジスタ11の内容と第1〜第3の
制御用マイクロ命令保持レジスタ16〜18の内容とを
区別するために使用するものである。
第5図に、第1の制御用マイクロ命令保持レジスタ16
の内容と、ECC用マイクロ命令保持レジスタ11の内
容との不一致によるエラー検出のタイずングチャートを
示す。第5図においては。
エラーのタイミングで情報処理装置の動作はいったん中
断され、FCC回路13の出力をぴからX′に変更して
からECC用マイクロ命令保持レジスタ11に再セット
することによシ、情報処理装置としての正しい動作が継
続される。
以上のようなマイクロ命令データの信憑性を保証するた
めに、第1〜第3の制御用マイクロ命令保持レジスタ1
6〜18の入出力を3値論理で双方向性の論理入力回路
と論理出力回路とより成る回路手段を付加することなく
行うためには、第1〜第3の制御用マイクロ命令保持レ
ジスタ16〜18が実装されたLSIの出力ピン数を増
加させる必要がある。このため、LSIの構造上の欠点
である内部論理が多い割に入出力ピンが多くできない現
在の技術釦大きな制約がある。
したがって、本発明でl/;tLsIの入出力ピンをマ
イクロ命令のデータ信号線のために増加させる必要がな
いため、現状のLSI技術にとっては上記は重要力考え
方である。
(発明の効果) 本発明には以上説明したように、制御記憶装置とマイク
ロ命令保持レジスタとの間に3値論理の双方向性を有す
る論理入力回路と論理出力回路とより成る双方向性論理
回路手段を付加することによシ、制御記憶装置とマイク
ロ命令保持レジスタとの間のデータ経路を増加させるこ
となく分散した複数個のマイクロ命令保持レジスタの内
容の信憑性を容易に保持できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従辛技術により分散形マイクロ命令保持レジ
スタ構造を採用して構成した情報処理装置の一例を示す
ブロック構成図である。 第2図は、本発明により分散形マイクロ命令保持レジス
タ構造を採用して構成した情報処理装置の一部分を成す
制御記憶検査装置の一実施例を示すブロック構成図であ
る。 第3図〜第5図は、第2図に示す制御記憶検査装置の動
作タイミングを示すタイミングチャートである。 10・・・制御記憶装置 11.16〜18・・・マイクロ命令保持レジスタ 12・・・切替回路 13・・・ECC回路 14・マイクロプログラム現在アドレスレジスタ15・
・・制御記憶アドレス生成回路 19〜21・−・解読回路 22〜24・・響制御回路 281〜284,322〜324−・・・・論理出力回
路 291〜294,312 〜314−  ・ 拳 ・ 
瞳論理入力回路 30〜32・・・LSIパッケージ 40・・・クロック発生回路 41・・・エラー制御回路 42〜44・・・エラーフリップフロップ45〜47・
・・比較回路 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ   壽

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 マイクロ命令を格納するための制御記憶装置と。 マイクロプログラム実行時に前記マイクロ命令を保持す
    るためのECC用マイクロ命令保持レジスタと、前記E
    CC用マイクロ命令保持レジスタの出力データの有効性
    を検査するためのECC回路と、前記制御記憶装置のア
    ドレスを生成するための複数の制御回路と、前記ECC
    用マイクロ命令保持レジスタとは独立に分散して前記マ
    イクロ命令を保持するための複数の制御用マイクロ命令
    保持レジスタとを具備した制御記憶検査装置であって、
    @配積数の制御回路と前記ECC用マイクロ命令保持レ
    ジスタ彦らびに複数の制御用マイクロ命令保持レジスタ
    との間のデータ経路に3値論理の論理入力回路と論理出
    力回路とから成る双方向性論理回路手段を挿入し、これ
    によって前記複数の制御用マイクロ命令保持レジスタの
    出力を前記データ経路にセットできるよう構成し、さら
    に前記ECC用マイクロ命令保持レジスタの入出力間で
    前記複数の制御用マイクロ命令保持レジスタのそれぞれ
    に対応してデータを比較するための複数の比較回路を備
    え、これによって前記複数の制御用マイクロ命令保持レ
    ジスタに保持されたデータの検査を行うことができるよ
    うに構成したことを特徴とする制御記憶検査装置。
JP58081165A 1983-05-10 1983-05-10 制御記憶検査装置 Pending JPS59206945A (ja)

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