JPS5919659B2 - 試験用ハイウェイ選択方式 - Google Patents
試験用ハイウェイ選択方式Info
- Publication number
- JPS5919659B2 JPS5919659B2 JP12739178A JP12739178A JPS5919659B2 JP S5919659 B2 JPS5919659 B2 JP S5919659B2 JP 12739178 A JP12739178 A JP 12739178A JP 12739178 A JP12739178 A JP 12739178A JP S5919659 B2 JPS5919659 B2 JP S5919659B2
- Authority
- JP
- Japan
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- test
- communication path
- time
- highways
- digital communication
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
５ 本発明は、送受各々の時分割ハイウェイ（以下単に
ハイウェイと呼ぶ）をディジタル通話路試験装置に引込
み、ディジタル通話路を試験するための試験用ハイウェ
イ選択方式に関するものである。
ハイウェイと呼ぶ）をディジタル通話路試験装置に引込
み、ディジタル通話路を試験するための試験用ハイウェ
イ選択方式に関するものである。
ディジタル電話交換機等におけるディジタル通つ 話路
は普通高多重で使用される関係上、１つの障害が及ぼす
影響が大きく、信頼性を確保する上で、２重化あるいは
Ｎ＋１予備等冗長構成をとることが必須とされている。
また、このディジタル通話路は障害の早期発見と予備切
替処理の迅速性が強５ く要求され、ハードウェアによ
る常時試験機能の配備等の配慮が払われている。同時に
、予備装置の予防保全と予備切替後の障害装置の試験、
診断機能を充実することが、障害修復時間を短くし、シ
ステムの不稼動率を低くすフ る上で重要である。
は普通高多重で使用される関係上、１つの障害が及ぼす
影響が大きく、信頼性を確保する上で、２重化あるいは
Ｎ＋１予備等冗長構成をとることが必須とされている。
また、このディジタル通話路は障害の早期発見と予備切
替処理の迅速性が強５ く要求され、ハードウェアによ
る常時試験機能の配備等の配慮が払われている。同時に
、予備装置の予防保全と予備切替後の障害装置の試験、
診断機能を充実することが、障害修復時間を短くし、シ
ステムの不稼動率を低くすフ る上で重要である。
それにはディジタル通話路の送受・・イウエイを引込み
、そこに試験パターンを流すことでディジタル通話路の
正常性を検証するためのディジタル通話路試験装置が必
要となる。第１図はＮ＋１予備構成を例にとつたデイジ
タ・ ル通話路の予備切替方法とディジタル通話路試験
装置への引込み方法の−伊リを示す構成図である。第１
図にお（・て、１１〜１Ｎおよび２１〜２Ｎは−定呼量
を単位としてビルデイング・プロツク的に増設を可能と
したＮ個の通話路モジユールを示し、各通話路モジユー
ルは１次スイッチ例えば１１と２次スイッチ例えば２１
によつて構成される。これに対し、１Ｓおよび２ＳはＮ
個の通話路モジユールに対して１個設備される予備通話
路モジユールの１次スイツチおよび２次スイツチを示し
、これによつてＮ＋１予備構成がとられる。３は合計Ｎ
＋１個の通話路モジユールのハイウエイを収容し、相互
のトラヒツク量に応じて時分割的に空間的なパスを設定
するジヤンクタスイツチであり、普通２重化されている
。
、そこに試験パターンを流すことでディジタル通話路の
正常性を検証するためのディジタル通話路試験装置が必
要となる。第１図はＮ＋１予備構成を例にとつたデイジ
タ・ ル通話路の予備切替方法とディジタル通話路試験
装置への引込み方法の−伊リを示す構成図である。第１
図にお（・て、１１〜１Ｎおよび２１〜２Ｎは−定呼量
を単位としてビルデイング・プロツク的に増設を可能と
したＮ個の通話路モジユールを示し、各通話路モジユー
ルは１次スイッチ例えば１１と２次スイッチ例えば２１
によつて構成される。これに対し、１Ｓおよび２ＳはＮ
個の通話路モジユールに対して１個設備される予備通話
路モジユールの１次スイツチおよび２次スイツチを示し
、これによつてＮ＋１予備構成がとられる。３は合計Ｎ
＋１個の通話路モジユールのハイウエイを収容し、相互
のトラヒツク量に応じて時分割的に空間的なパスを設定
するジヤンクタスイツチであり、普通２重化されている
。
通話路モジユール１１，２１が障害になつた場合を例に
とつて予備切替の方法を説明する。１次スイツチ１１お
よび２次スイッチ２１はそれぞれｎ本の入ハイウエイ４
１１〜４１ｎおよび出ハイウエイ５１１〜５１ｎに対し
て切替スイッチ６１１〜６１ｎおよびＲｌｌ〜Ｒｌｎを
持つており１１次スイツチ１１あるいは２次スイツチ２
１の（・ずれかに障害が発生した場合には、ソフトウエ
アからの制御により、切替スイッチ６１，〜６１ｎ，ｒ
１１，ｒ１ｎ内の全リレーが一青に動作する。
とつて予備切替の方法を説明する。１次スイツチ１１お
よび２次スイッチ２１はそれぞれｎ本の入ハイウエイ４
１１〜４１ｎおよび出ハイウエイ５１１〜５１ｎに対し
て切替スイッチ６１１〜６１ｎおよびＲｌｌ〜Ｒｌｎを
持つており１１次スイツチ１１あるいは２次スイツチ２
１の（・ずれかに障害が発生した場合には、ソフトウエ
アからの制御により、切替スイッチ６１，〜６１ｎ，ｒ
１１，ｒ１ｎ内の全リレーが一青に動作する。
これにより、ｎ本の入ハイウエイ４１１〜４１ｎは予備
通話路モジユールの１次スイツチ１Ｓに、またｎ本の出
・〜イウエイ５１，〜５１ｎは同通話路モジユールの２
次スイツチ２Ｓに弓込まれ、以後予備通話路モジユール
を用いて交換サービスは提供される。同時に１次スイツ
チ１１および２次スイツチ１２の入出力端子となるｎ組
の受けおよび送り・・イウエイは同じく切替スイツチ６
１１〜６１ｎおよび７１１〜７１ｎを経由してデイジタ
ル通話路試験装置８に引込まれる。デイジタル通話路試
験装置８では・・イウエイ選択回路９でｎ本ある被試験
ハイウエイのうち任意の・・イウエイを選択し、該・・
イウエイへ試１験回路１０から試験パターンを送出し、
デイジタル通話路を経由して戻つてくるパターンと照合
することによつてデイジタル通話路の導通状態を試験す
る。本発明は、ハイウエイ選択回路９の構成に係るもの
であり、従来技術による具体的構成例を第２図に示す。
第２図において、９１１〜９１ｎおよび９２１〜９２ｎ
は予備通話路モジユールあるいは予備切替された障害通
話路モジユールに対するｎ組の・・イウエイのうち１組
の・・イウエイを選択するためのリレー接点であり、選
択されたハイウエイはそれぞれ架間伝送用受信回路９３
および送信回路９４に接続される。デイジタル通話路の
導通状態を検征するための試験パターンは試験回路１０
から発生され、以下送信回路９４一接点例えば９２１−
デイジタル通話路（例えば第１図の１次スイツチ１１−
ジヤンクタスイツチ３−２次スイツチ２１）一接点例え
ば９１１一受信回路９３を経由して試験回路１０に戻り
、送受信パターンを照合することで導通の有無を試験で
きる。しかし、この従来技術による・・イウエイ選択方
式では選択された１組のハイウエイを除く、（ｎ−１）
組のハイウエイはオープン状態となるため、如何なる符
号も流すことができず、そのビット列は“Ｏ”連続また
ば１゛連続に固定される。また被試験通話路モジユール
内に設備される架間伝送用受信回路ではクロツク断状態
とな楓動作を停止する一方障害表示することになる。こ
れは試験の対象となる１ハイウエイに着目し、単に導通
の有無を検柾する静的な試験を行なう範囲では支障ない
が、実際には架間伝送回路の漏話、デイジタル通話路を
構成する各素子の誤導通、・・イウエイ間の相互干渉等
に伴う障害モードが存在するため、これらを含め検証す
るには全ハイウエイを活性化した動的な試験が必要であ
り、従来技術による方法では不充分である。本発明の目
的は、これら従来技術の欠点を除去し、試１験対象とし
て選択したハイウエイ以外のハイウエイにもランダムパ
ターン等の擬似符号を流せるよう考案し、オンライン中
の状態に近い状態を再現し、ビツト誤り等瞬時的なエラ
ーを含む動的な試験を可能とする試験・・イウエイ選択
回路を提供することにある。
通話路モジユールの１次スイツチ１Ｓに、またｎ本の出
・〜イウエイ５１，〜５１ｎは同通話路モジユールの２
次スイツチ２Ｓに弓込まれ、以後予備通話路モジユール
を用いて交換サービスは提供される。同時に１次スイツ
チ１１および２次スイツチ１２の入出力端子となるｎ組
の受けおよび送り・・イウエイは同じく切替スイツチ６
１１〜６１ｎおよび７１１〜７１ｎを経由してデイジタ
ル通話路試験装置８に引込まれる。デイジタル通話路試
験装置８では・・イウエイ選択回路９でｎ本ある被試験
ハイウエイのうち任意の・・イウエイを選択し、該・・
イウエイへ試１験回路１０から試験パターンを送出し、
デイジタル通話路を経由して戻つてくるパターンと照合
することによつてデイジタル通話路の導通状態を試験す
る。本発明は、ハイウエイ選択回路９の構成に係るもの
であり、従来技術による具体的構成例を第２図に示す。
第２図において、９１１〜９１ｎおよび９２１〜９２ｎ
は予備通話路モジユールあるいは予備切替された障害通
話路モジユールに対するｎ組の・・イウエイのうち１組
の・・イウエイを選択するためのリレー接点であり、選
択されたハイウエイはそれぞれ架間伝送用受信回路９３
および送信回路９４に接続される。デイジタル通話路の
導通状態を検征するための試験パターンは試験回路１０
から発生され、以下送信回路９４一接点例えば９２１−
デイジタル通話路（例えば第１図の１次スイツチ１１−
ジヤンクタスイツチ３−２次スイツチ２１）一接点例え
ば９１１一受信回路９３を経由して試験回路１０に戻り
、送受信パターンを照合することで導通の有無を試験で
きる。しかし、この従来技術による・・イウエイ選択方
式では選択された１組のハイウエイを除く、（ｎ−１）
組のハイウエイはオープン状態となるため、如何なる符
号も流すことができず、そのビット列は“Ｏ”連続また
ば１゛連続に固定される。また被試験通話路モジユール
内に設備される架間伝送用受信回路ではクロツク断状態
とな楓動作を停止する一方障害表示することになる。こ
れは試験の対象となる１ハイウエイに着目し、単に導通
の有無を検柾する静的な試験を行なう範囲では支障ない
が、実際には架間伝送回路の漏話、デイジタル通話路を
構成する各素子の誤導通、・・イウエイ間の相互干渉等
に伴う障害モードが存在するため、これらを含め検証す
るには全ハイウエイを活性化した動的な試験が必要であ
り、従来技術による方法では不充分である。本発明の目
的は、これら従来技術の欠点を除去し、試１験対象とし
て選択したハイウエイ以外のハイウエイにもランダムパ
ターン等の擬似符号を流せるよう考案し、オンライン中
の状態に近い状態を再現し、ビツト誤り等瞬時的なエラ
ーを含む動的な試験を可能とする試験・・イウエイ選択
回路を提供することにある。
すなわち、本発明はｎ本のハイウエイのうち、送受各少
なくとも１本の・・イウエイを独立に選択できるように
構成し、それらを試験回路に接続すると同時に、残Ｄの
（ｎ−１）本あるいは送受別ハイウエイを選択した場合
には（ｎ−２）本のハイウエイは送受折？しとなるよう
構成することを特徴とするものであり、試験回路からは
導通試験用の試験パターンと擬似ランダムパターンを別
タイムスロットで送出し、前者は被試１験通話路、後者
は上記折？し路に流れるようデイジタル通話路を設定し
、両者の連系動作で動的な試験を可能ならしめるもので
ある。
なくとも１本の・・イウエイを独立に選択できるように
構成し、それらを試験回路に接続すると同時に、残Ｄの
（ｎ−１）本あるいは送受別ハイウエイを選択した場合
には（ｎ−２）本のハイウエイは送受折？しとなるよう
構成することを特徴とするものであり、試験回路からは
導通試験用の試験パターンと擬似ランダムパターンを別
タイムスロットで送出し、前者は被試１験通話路、後者
は上記折？し路に流れるようデイジタル通話路を設定し
、両者の連系動作で動的な試験を可能ならしめるもので
ある。
本発明の具体的実施例を第３図に示し、図に沿つて本発
明を説明する。
明を説明する。
図中の記号は第２図の場合と同一である。従来技術との
違いは送受同一・・イウエイに対応するｎ組の・・イウ
エイ選択スイツチとしての切替リレー接点９１１と９２
，，・・・・・・９１ｎと９２ｎのブレーク接点同志を
接続している点であり、これにより、送受共リレーが動
作しない・・イウエイでは折眞し路が形成され、通話路
モジユール中の架間伝送用の送信回路と受信回路が直接
接続されることになる。被試験ハイウエイの選択は同時
には送受共各１本のみであシ、それぞれ独立に選択可能
であるが、送受共第１ハイウエイが選択された場合を例
にとると、接点群９１１〜９１ｎのうち９１１が、また
接点群９２１〜９２ｎのうち９２１が動作する。試験回
路１０からは導通試験用の試験パターンと実際の呼を擬
似するランダムパターンが異なるタイムスロツトを用い
て発生され、これらのパターンは送信回路９４一接点９
２１を経由して被試験通話路モジユールの第１受け・・
イウエイに送られる。通話路モジユール側では第１図に
おける１次スイッチ１１およびジヤンクタスイツチ３を
通過して２次スイツナ２１に到達し、２次スイツチ２１
において各ハイウエイへの分配が行なわれた後、切替ス
イツチ７１１〜Ｒｌｎを経由してデイジタル通話路試験
装置に戻る。
違いは送受同一・・イウエイに対応するｎ組の・・イウ
エイ選択スイツチとしての切替リレー接点９１１と９２
，，・・・・・・９１ｎと９２ｎのブレーク接点同志を
接続している点であり、これにより、送受共リレーが動
作しない・・イウエイでは折眞し路が形成され、通話路
モジユール中の架間伝送用の送信回路と受信回路が直接
接続されることになる。被試験ハイウエイの選択は同時
には送受共各１本のみであシ、それぞれ独立に選択可能
であるが、送受共第１ハイウエイが選択された場合を例
にとると、接点群９１１〜９１ｎのうち９１１が、また
接点群９２１〜９２ｎのうち９２１が動作する。試験回
路１０からは導通試験用の試験パターンと実際の呼を擬
似するランダムパターンが異なるタイムスロツトを用い
て発生され、これらのパターンは送信回路９４一接点９
２１を経由して被試験通話路モジユールの第１受け・・
イウエイに送られる。通話路モジユール側では第１図に
おける１次スイッチ１１およびジヤンクタスイツチ３を
通過して２次スイツナ２１に到達し、２次スイツチ２１
において各ハイウエイへの分配が行なわれた後、切替ス
イツチ７１１〜Ｒｌｎを経由してデイジタル通話路試験
装置に戻る。
第３図に戻り、先ず試験パターンは接点９１，一受信回
路９３を経由して試験回路１０に引込まれ、送信した試
験パターンと照合することで被試験通話路の導通の有無
、ビツト誤りの有無を検柾することができる。−方、擬
似ランダムパターンは例えば第ｎ・・イウエイを例にと
ると、接点９１ｎおよび９２ｎを経由して通話路モジユ
ールに戻シ、それぞれ１次スイツチ、２次スイツチに擬
似ランダムパターンを流した状態で上記の導通試験を実
施することができる。上記実施例の説明では切替リレー
接点９１１〜９１ｎ及び９２１〜９２ｎはそれぞれ同時
に１個のみ動作するものとして説明したが、本発明はこ
れに限定されるものではなくすくなくとも各１個ずつ動
作させて試験を行なうことができることは、本実施例の
説明から容易に理解されるところである。
路９３を経由して試験回路１０に引込まれ、送信した試
験パターンと照合することで被試験通話路の導通の有無
、ビツト誤りの有無を検柾することができる。−方、擬
似ランダムパターンは例えば第ｎ・・イウエイを例にと
ると、接点９１ｎおよび９２ｎを経由して通話路モジユ
ールに戻シ、それぞれ１次スイツチ、２次スイツチに擬
似ランダムパターンを流した状態で上記の導通試験を実
施することができる。上記実施例の説明では切替リレー
接点９１１〜９１ｎ及び９２１〜９２ｎはそれぞれ同時
に１個のみ動作するものとして説明したが、本発明はこ
れに限定されるものではなくすくなくとも各１個ずつ動
作させて試験を行なうことができることは、本実施例の
説明から容易に理解されるところである。
以上述べたように、本発明によれば、デイジタル通話路
試験装置の試験ハイウエイ選択回路にｎ本の・・イウエ
イ中の１・・イウエイを選択し、試験回路に引込む接続
のほか、送受ハイウエイを接続し、同一・・イウエイの
折？し路を形成する接続回路を持つことで被試験・・イ
ウエイとして選択したハイウエイ以外のハイウエイに擬
似パターンを流した動的な状態で被試験・・イウエイを
試験することができ、漏話、雑音誘導、２重接続等の原
因に伴う通話品質試験も可能となり、検柾能力を高める
効果が得られる。
試験装置の試験ハイウエイ選択回路にｎ本の・・イウエ
イ中の１・・イウエイを選択し、試験回路に引込む接続
のほか、送受ハイウエイを接続し、同一・・イウエイの
折？し路を形成する接続回路を持つことで被試験・・イ
ウエイとして選択したハイウエイ以外のハイウエイに擬
似パターンを流した動的な状態で被試験・・イウエイを
試験することができ、漏話、雑音誘導、２重接続等の原
因に伴う通話品質試験も可能となり、検柾能力を高める
効果が得られる。
第１図は本発明に関連するデイジタル通話路の予備切替
、試験引込み方法の→Ｉｊを示す構成図、第２図は従来
技術による試験用・・イウエイ選択回路の→１を示す構
成図、第３図は本発明の一実施例を示す試験用・・イウ
エイ選択回路の構成図である。 １１〜１Ｎ：通話路１次スイツチ、２１〜２Ｎ：通話路
２次スイツチ、１Ｓ：通話路１次スイツチ予備、２Ｓ：
通話路２次スイツチ予備、３：ジヤンクスイツチ、６１
１〜６１ｎ・・・・・・６Ｎ１〜６Ｎｎ：入・・イウエ
イ切替スイツチ、７１１〜Ｒｌｎ・・・・・・７Ｎ１〜
ＲＮｎ：出ハイウエイ切替スイッチ、９：・・イウエイ
選択回路、９１１〜９１ｎ，９２１〜９２ｎ：・・イウ
エイ選択スイツチ、１０：試験回路、９３：受信回路、
９４：送信回路。
、試験引込み方法の→Ｉｊを示す構成図、第２図は従来
技術による試験用・・イウエイ選択回路の→１を示す構
成図、第３図は本発明の一実施例を示す試験用・・イウ
エイ選択回路の構成図である。 １１〜１Ｎ：通話路１次スイツチ、２１〜２Ｎ：通話路
２次スイツチ、１Ｓ：通話路１次スイツチ予備、２Ｓ：
通話路２次スイツチ予備、３：ジヤンクスイツチ、６１
１〜６１ｎ・・・・・・６Ｎ１〜６Ｎｎ：入・・イウエ
イ切替スイツチ、７１１〜Ｒｌｎ・・・・・・７Ｎ１〜
ＲＮｎ：出ハイウエイ切替スイッチ、９：・・イウエイ
選択回路、９１１〜９１ｎ，９２１〜９２ｎ：・・イウ
エイ選択スイツチ、１０：試験回路、９３：受信回路、
９４：送信回路。
Claims (1)
- １ 時分割通話路モジュールごとに送受各々の時分割ハ
イウェイを引込み、該時分割ハイウェイを通してディジ
タル通話路を試験するディジタル通話路試験装置におい
て、該時分割ハイウエイのうち送受すくなくとも各１本
の任意の時分割ハイウェイを対または独立に選択し、該
時分割ハイウエイを試験回路に接続すると同時に、残り
の時分割ハイウェイは送受折返し路を構成し、前記試験
回路から導通試験用の試験パターン信号と擬似ランダム
パターン信号を別タイムスロットで送出し、前者のパタ
ーン信号は被試験通話路に、後者のパターン信号は前記
折返し路に流れるようにディジタル通話路を設定し、こ
れらの組合せでディジタル通話路の各種試験を実施する
ことを特徴とする試験用ハイウェイ選択方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12739178A JPS5919659B2 (ja) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | 試験用ハイウェイ選択方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12739178A JPS5919659B2 (ja) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | 試験用ハイウェイ選択方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5553954A JPS5553954A (en) | 1980-04-19 |
| JPS5919659B2 true JPS5919659B2 (ja) | 1984-05-08 |
Family
ID=14958824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12739178A Expired JPS5919659B2 (ja) | 1978-10-18 | 1978-10-18 | 試験用ハイウェイ選択方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5919659B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS572153A (en) * | 1980-06-06 | 1982-01-07 | Nec Corp | Generating device of digital pseudo call |
-
1978
- 1978-10-18 JP JP12739178A patent/JPS5919659B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5553954A (en) | 1980-04-19 |
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