JPS60167554A - 導通試験方式 - Google Patents
導通試験方式Info
- Publication number
- JPS60167554A JPS60167554A JP2168284A JP2168284A JPS60167554A JP S60167554 A JPS60167554 A JP S60167554A JP 2168284 A JP2168284 A JP 2168284A JP 2168284 A JP2168284 A JP 2168284A JP S60167554 A JPS60167554 A JP S60167554A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connection
- switch
- continuity
- continuity test
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、時分割交換機において、サービス呼ごとの通
話路の障害筒所を発見するための導通試験方式に関する
。
話路の障害筒所を発見するための導通試験方式に関する
。
第１図（イ）、（ロ）、（ハ）により従来の時分割交換
機の通話路の導通試験方式を説明する。なお、第１図（
イ）、（ロ）、（ハ）は、４線交換接続における通話路
の一部を示している。
機の通話路の導通試験方式を説明する。なお、第１図（
イ）、（ロ）、（ハ）は、４線交換接続における通話路
の一部を示している。
第１図（イ）、（ロ）、（ハ）において、ＩＡ、ＩＢは
各種の回線に係る加入者電話機、２Ａ、２Ｂは加入者電
話機ＩＡ、ＩＢにて使用されるデータをハイウェイに適
した信号に変換する個別終端回路であり、各種のハイウ
ェイが終端されるものである。なお、２線−４線変換接
続機能は個別終端回路２Ａ、２Ｂに設けられている。３
Ａ、３Ｂは加入者電話機ＩＡ、ＩＢとハイウェイとを正
確に接続するため所定の接続条件を実現する通信端末イ
ンタフェース回路、４Ａ、４Ｂ、４Ｃ１５Ａ、５Ｂ、５
Ｃは、時分割多重化された送信および受信のハイウェイ
、６Ａ、６Ｂ、６Ｃは時分割されたハイウェイのタイム
スロットを入替えるための時間スイッチ、７は分配段の
時間スイッチである。
各種の回線に係る加入者電話機、２Ａ、２Ｂは加入者電
話機ＩＡ、ＩＢにて使用されるデータをハイウェイに適
した信号に変換する個別終端回路であり、各種のハイウ
ェイが終端されるものである。なお、２線−４線変換接
続機能は個別終端回路２Ａ、２Ｂに設けられている。３
Ａ、３Ｂは加入者電話機ＩＡ、ＩＢとハイウェイとを正
確に接続するため所定の接続条件を実現する通信端末イ
ンタフェース回路、４Ａ、４Ｂ、４Ｃ１５Ａ、５Ｂ、５
Ｃは、時分割多重化された送信および受信のハイウェイ
、６Ａ、６Ｂ、６Ｃは時分割されたハイウェイのタイム
スロットを入替えるための時間スイッチ、７は分配段の
時間スイッチである。
８は」−記各ハイウェイに障害が発生しているか否かを
調べるための導通試験装置である。この導通試験装置８
は、第１図（イ）、（ロ）、（ハ）に示したように、シ
ステム容量の制約上、各ハイウェイ対応には設置されて
おらず、システム容量に従って設置数が異なる。
調べるための導通試験装置である。この導通試験装置８
は、第１図（イ）、（ロ）、（ハ）に示したように、シ
ステム容量の制約上、各ハイウェイ対応には設置されて
おらず、システム容量に従って設置数が異なる。
第１図（イ）に示した時間スイッチ６Ａ、６Ｂ、７中の
破線矢印は、加入者電話ＩＡを発呼側とし加入者電話Ｉ
Ｂを被呼側としてそれぞれのハイウェイ４Ａ、５Ａ、４
Ｂ、５Ｂを接続する場合のスイッチ接続経路を示す。こ
の接続経路の導通試験は、従来の導通試験方式では導通
試験装置８が各ハイウェイごとに設置されていないため
、導通状検装置８が設置されたハイウェイ４Ｃ１５Ｃを
介して間接的に行う必要がある。すなわち、導通試験装
置８を有するハイウェイ４Ｇ、５Ｇのチャネルと被呼側
のハイウェイ４Ｂ、５Ｂのチャネル間の導通試験と、導
通試験装置８を有するハイウェイ４Ｃ１５Ｃのチャネル
と発呼側のハイウェイ４Ａ、５Ａのチャネル間の導通試
験を行うことにより、間接的に第１図（イ）に示した発
呼側と被呼側の導通試験を行う。
破線矢印は、加入者電話ＩＡを発呼側とし加入者電話Ｉ
Ｂを被呼側としてそれぞれのハイウェイ４Ａ、５Ａ、４
Ｂ、５Ｂを接続する場合のスイッチ接続経路を示す。こ
の接続経路の導通試験は、従来の導通試験方式では導通
試験装置８が各ハイウェイごとに設置されていないため
、導通状検装置８が設置されたハイウェイ４Ｃ１５Ｃを
介して間接的に行う必要がある。すなわち、導通試験装
置８を有するハイウェイ４Ｇ、５Ｇのチャネルと被呼側
のハイウェイ４Ｂ、５Ｂのチャネル間の導通試験と、導
通試験装置８を有するハイウェイ４Ｃ１５Ｃのチャネル
と発呼側のハイウェイ４Ａ、５Ａのチャネル間の導通試
験を行うことにより、間接的に第１図（イ）に示した発
呼側と被呼側の導通試験を行う。
第１図（ロ）を用いて被呼側の通信端末インタフェース
回路３Ｂが収容されているハイウェイ４Ｂ、５Ｂのチャ
ネルの導通試験の仕方を説明する。
回路３Ｂが収容されているハイウェイ４Ｂ、５Ｂのチャ
ネルの導通試験の仕方を説明する。
各時間スイッチ６Ｂ、６Ｃ１７について幅広空白矢印の
接続を実施した後、導通試験装置８からハイウェイ４Ｃ
１時間スイッチ６Ｃを通して通話時に使用すべきチャネ
ルに試験パターン（ディジタルパターン）を送出すると
、時間スイッチ７でハイウェイ５Ｂへのスイッチングが
され、通信端末インタフェース回路３Ｂに当該チャネル
が引き込まれ、個別終端回路２１３で折り返される。こ
こで、折り返しを通信端末インタフェース３Ｂで実施し
ても本質的な差異はない。折り返されたチャネルは通信
端末インタフェース３Ｂから送信のハイウェイ４Ｂを経
由し、時間スイッチ６Ｂ、７．６Ｃでスイッチングされ
る。
接続を実施した後、導通試験装置８からハイウェイ４Ｃ
１時間スイッチ６Ｃを通して通話時に使用すべきチャネ
ルに試験パターン（ディジタルパターン）を送出すると
、時間スイッチ７でハイウェイ５Ｂへのスイッチングが
され、通信端末インタフェース回路３Ｂに当該チャネル
が引き込まれ、個別終端回路２１３で折り返される。こ
こで、折り返しを通信端末インタフェース３Ｂで実施し
ても本質的な差異はない。折り返されたチャネルは通信
端末インタフェース３Ｂから送信のハイウェイ４Ｂを経
由し、時間スイッチ６Ｂ、７．６Ｃでスイッチングされ
る。
導通試験装置８は、受信のハイウェイ５Ｃから折り返し
の試験パターンを受信するが、アナログ ４− 量でチェックするときはレベル比較等の受信信号として
の検査を行い、個別終端口１２Ｂでのディジタル折り返
しのときは送信・受信信号のディジタルパターン比較を
行うことにより、被呼側のハイウェイ４Ｂ、５Ｂの使用
するチャネルの導通試験を行うようにする。
の試験パターンを受信するが、アナログ ４− 量でチェックするときはレベル比較等の受信信号として
の検査を行い、個別終端口１２Ｂでのディジタル折り返
しのときは送信・受信信号のディジタルパターン比較を
行うことにより、被呼側のハイウェイ４Ｂ、５Ｂの使用
するチャネルの導通試験を行うようにする。
発呼側の通信端末インタフェース回路３Ａが収容されて
いるハイウェイ４Ａ、５Ａのチャネルの導通試験は、第
１図（ハ）に示したよ）な幅広空白矢印の接続己：１ｉ
ｌｉ！制御系の指示により実施することにより行う。動
作は第１図（ロ）の場合と同様である。
いるハイウェイ４Ａ、５Ａのチャネルの導通試験は、第
１図（ハ）に示したよ）な幅広空白矢印の接続己：１ｉ
ｌｉ！制御系の指示により実施することにより行う。動
作は第１図（ロ）の場合と同様である。
このように従来の導通試験方式では、任意の２つの加入
者電話機間で使用するチャネルの導通試験は、導通試験
装置８の設置されたハイウェイを介して間接的に行われ
るため、例えば、上記例の時間スイッチ７部分のように
実際に使用されるチ勺ネルでありなから導通試験されな
いチャネルもある。
者電話機間で使用するチャネルの導通試験は、導通試験
装置８の設置されたハイウェイを介して間接的に行われ
るため、例えば、上記例の時間スイッチ７部分のように
実際に使用されるチ勺ネルでありなから導通試験されな
いチャネルもある。
また、上記のような端末部のみによる試験パターンの折
り返し接続では、導通試験の結果が不良と判明しても不
良箇所を特定することができないため、不良箇所の切り
分けができない。さらに、時間スイッチの段数の構成に
よっては、途中段のハイウェイの不良を発見できないこ
ともあり、この場合、別の導通チェック用装置も必要に
なるという欠点がある。
り返し接続では、導通試験の結果が不良と判明しても不
良箇所を特定することができないため、不良箇所の切り
分けができない。さらに、時間スイッチの段数の構成に
よっては、途中段のハイウェイの不良を発見できないこ
ともあり、この場合、別の導通チェック用装置も必要に
なるという欠点がある。
本発明の目的は、」１記のような従来技術の欠点を解消
し、実際に使用されるチャネルの全経路についての導通
試験、および導通不良時の障害箇所の切分けが可能な導
通試験方式を提供することにある。
し、実際に使用されるチャネルの全経路についての導通
試験、および導通不良時の障害箇所の切分けが可能な導
通試験方式を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明による時分割交換機の
導通試験は、試験パターンを発生してハイウェイの任意
のチャネルに送出するとともに、折り返された試験パタ
ーンを読取りその内容を照合した後その結果を導通試験
の結果どして前記制御系に通知する導通試験機能部を個
別終端回路に、ループバック機構を個別終端回路または
通信端末インタフェース回路にそれぞれ設け、サービス
呼の交換接続を行う前に、該サービス呼と同一の通話路
を複数に分割した閉ループを、前記ループバック機構と
前記時間スイッチの交換接続および折り返し接続とによ
り形成し、前記導通試験機能部による導通試験を行うこ
とに特徴がある。
導通試験は、試験パターンを発生してハイウェイの任意
のチャネルに送出するとともに、折り返された試験パタ
ーンを読取りその内容を照合した後その結果を導通試験
の結果どして前記制御系に通知する導通試験機能部を個
別終端回路に、ループバック機構を個別終端回路または
通信端末インタフェース回路にそれぞれ設け、サービス
呼の交換接続を行う前に、該サービス呼と同一の通話路
を複数に分割した閉ループを、前記ループバック機構と
前記時間スイッチの交換接続および折り返し接続とによ
り形成し、前記導通試験機能部による導通試験を行うこ
とに特徴がある。
＝７−
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第２図（イ）、（ロ）は本発明の一実施例による導通試
験方式を説明するための図である。
験方式を説明するための図である。
ここで、８Ａ、８Ｂは導通試験機能部であり、他の構成
要素は第１図（イ）、（ロ）、（ハ）と同一であり、そ
れらは同一の符号で示しである。
要素は第１図（イ）、（ロ）、（ハ）と同一であり、そ
れらは同一の符号で示しである。
第２図（イ）において、時間スイッチ６Δ、６Ｂ、７中
の破線矢印は、発呼側の加入者電話機ＩＡと被呼側の加
入者電話ＩＩ＆ＩＢの通話中の接続を示す、発呼情報を
知得した制御系（図示省略）は、第２図（イ）に破線矢
印で示すような実際通話の接続をする前に、時間スイッ
チ６Ａ中の幅広空白矢印の折り返し接続をし、発呼側の
個別終端回路内の導通試験機能部８Ａにより上記通話に
使用するチャネルヘディジタル試験パターンに送出し、
時間スイッチ６Ａで折り返した後、受信パターンを送信
パターンと比較してハイウェイ４Ａ、５Ａの導通試験を
行う。
の破線矢印は、発呼側の加入者電話機ＩＡと被呼側の加
入者電話ＩＩ＆ＩＢの通話中の接続を示す、発呼情報を
知得した制御系（図示省略）は、第２図（イ）に破線矢
印で示すような実際通話の接続をする前に、時間スイッ
チ６Ａ中の幅広空白矢印の折り返し接続をし、発呼側の
個別終端回路内の導通試験機能部８Ａにより上記通話に
使用するチャネルヘディジタル試験パターンに送出し、
時間スイッチ６Ａで折り返した後、受信パターンを送信
パターンと比較してハイウェイ４Ａ、５Ａの導通試験を
行う。
８−
導通が良好であることが確認された後、時間スイッチ６
Ａで破線矢印の接続を行い、通話路を時間スイッチ７ま
で延長する。時間スイッチ７では幅広空白矢印の折り返
し接続を行い、」１記と同様に、導通試験機能部８Ａの
試験パターンの送出、受信、比較（照合）の機能を用い
て時間スイッチ７での折り返し試験を行う。
Ａで破線矢印の接続を行い、通話路を時間スイッチ７ま
で延長する。時間スイッチ７では幅広空白矢印の折り返
し接続を行い、」１記と同様に、導通試験機能部８Ａの
試験パターンの送出、受信、比較（照合）の機能を用い
て時間スイッチ７での折り返し試験を行う。
時間スイッチ７までの通話路の導通が良好であるごど右
−１に“１１．ニした後、時間スイッチ７では破線矢印
の接続を行い１時間スイッチ６Ｂまで通話路を延長する
。時間スイッチ６Ｂでは幅広空白矢印の折り返し接続を
行い、時間スイッチ６Ｂまでの通話路の導通を同様に行
う。
−１に“１１．ニした後、時間スイッチ７では破線矢印
の接続を行い１時間スイッチ６Ｂまで通話路を延長する
。時間スイッチ６Ｂでは幅広空白矢印の折り返し接続を
行い、時間スイッチ６Ｂまでの通話路の導通を同様に行
う。
このように各時間スイッチ６Ａ、７．６Ｂの折り返し接
続により、順次、導通を確認しなから被呼側まで通話路
を延長することにより、導通不良箇所があれば、その時
点で直ちに発見でき、制御系（図示前１１１８）／＼の
通知により障害位置の切り分けが可能どなる。
続により、順次、導通を確認しなから被呼側まで通話路
を延長することにより、導通不良箇所があれば、その時
点で直ちに発見でき、制御系（図示前１１１８）／＼の
通知により障害位置の切り分けが可能どなる。
この場合、個別終端回路２ Ｂに設けたループバソり機
能（通信端末インタフェース回ｊＬｇ３Ｂに設けてもよ
い）による折り返しを使って、通話に使用する全チャネ
ルの導通試験を行うことも可能である。さらに、最初に
全体の通話路設定を行い通話路全体の導通試験を実施し
、導通良好であれば試験を終了し、導通不良時にのみ各
時間スイッチ６Ａ、７．６Ｂの折り返し接続を順次行っ
て不良箇所の切り分けを行うことも可能である。
能（通信端末インタフェース回ｊＬｇ３Ｂに設けてもよ
い）による折り返しを使って、通話に使用する全チャネ
ルの導通試験を行うことも可能である。さらに、最初に
全体の通話路設定を行い通話路全体の導通試験を実施し
、導通良好であれば試験を終了し、導通不良時にのみ各
時間スイッチ６Ａ、７．６Ｂの折り返し接続を順次行っ
て不良箇所の切り分けを行うことも可能である。
次に、第２図（ロ）に示した実施例ついて説明する。発
呼情報を知得した制御系（図示省略）は下記の制御を行
う。
呼情報を知得した制御系（図示省略）は下記の制御を行
う。
まず、時間スイッチ６Ａについてのみ幅広空白矢印の接
続を行い、時間スイッチ７．６Ｂは破線矢印の接続を行
う。
続を行い、時間スイッチ７．６Ｂは破線矢印の接続を行
う。
次に、導通試験機能部８Ａ、８Ｂにより時間スイッチ６
Ａの２つの発呼側、着呼側の２つの折り返し接続で導通
試験を実施し、導通が良好であることを確認した後、時
間スイッチ６Ａで破線矢印の接続に切り換える。導通不
良時には、時間スイッチ７または６Ｂで折り返し接続を
行い、障害位置の切り分けを行う。
Ａの２つの発呼側、着呼側の２つの折り返し接続で導通
試験を実施し、導通が良好であることを確認した後、時
間スイッチ６Ａで破線矢印の接続に切り換える。導通不
良時には、時間スイッチ７または６Ｂで折り返し接続を
行い、障害位置の切り分けを行う。
上記では、時間スイッチ６Ａで発呼側、着呼側の折り返
し接続を行っているが、時間スイッチ７または６Ｂで行
っても本質的な差異はない。
し接続を行っているが、時間スイッチ７または６Ｂで行
っても本質的な差異はない。
以上説明したように、本発明によれば、実際に通話に使
用するチャネルの全導通を通話前に試験することができ
、かつ導通不良箇所の切分けを容易に行うことができる
ので、時分割交換機の信頼性向」二、保守性向」−を図
ることができる。
用するチャネルの全導通を通話前に試験することができ
、かつ導通不良箇所の切分けを容易に行うことができる
ので、時分割交換機の信頼性向」二、保守性向」−を図
ることができる。
第１図は従来の導通試験方式を説明するための図、第２
図は本発明の一実施例を説明するための図である。 ＋Ａ、ＩＢ：加入者電話機、２Ａ、２１３：個別終端回
路、３Δ、３Ｂ二通信端末インタフェース回路、４Ａ、
４Ｂ：送信のハイウウイ、５Ａ、５Ｂ：受信のハイウェ
イ、６Ａ、６Ｂ、７ ：時間スイッチ、８Ａ、８Ｂ：導
通試験部。
図は本発明の一実施例を説明するための図である。 ＋Ａ、ＩＢ：加入者電話機、２Ａ、２１３：個別終端回
路、３Δ、３Ｂ二通信端末インタフェース回路、４Ａ、
４Ｂ：送信のハイウウイ、５Ａ、５Ｂ：受信のハイウェ
イ、６Ａ、６Ｂ、７ ：時間スイッチ、８Ａ、８Ｂ：導
通試験部。
Claims (3)
- （１）各種の回線を収容する個別終端回路と、１個また
は複数個の前記個別終端回路と対応する通信端末インタ
フェース回路と、複数の前記通信端末インタフェース回
路が時分割多重化接続されるハイウェイと、１組または
複数組の前記ハイウェイを収容し、そのスイッチングを
行う１段または複数段の時間スイッチとを具備した通話
路系を有し、該通話路系の交換接続制御を制御系により
行う時分割交換機において、試験パターンを発生して前
記ハイウェイの任意のチャネルに送出するとともに、折
り返された前記試験パターンを読取りその内容を照合し
た後その結果を導通試験の結果として前記制御系に通知
する導通試験機能部を前記個別終端回路に、ループバッ
ク機構を前記個別終端回路または前記通信端末インタフ
ェース回路にそれぞれ設け、サービス呼の交換接続を行
う前に、前記ループバック機構と前記時間スイッチの交
換接続および折り返し接続とにより前記サービス呼と同
一の通話路を複数に分割した閉ループを形成し、前記導
通試験機能部による導通試験を行うことを特徴とする導
通試験方式。 - （２）前記閉ループは、最初に前記サービス呼そのもの
の両端末部までの交換接続を行った後、いずれか一方の
端末部の折り返し接続による導通試験を行い、その結果
、導通が不良である時にのみ順次前記時間スイッチごと
に折り返して形成されることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の導通試験方式。 - （３）前記閉ループは、任意の途中段の前記時間スイッ
チで発呼側および被呼側の両方向に折り返し接続を行う
ことにより形成されることを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の導通試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2168284A JPS60167554A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 導通試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2168284A JPS60167554A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 導通試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60167554A true JPS60167554A (ja) | 1985-08-30 |
Family
ID=12061827
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2168284A Pending JPS60167554A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 導通試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60167554A (ja) |
-
1984
- 1984-02-10 JP JP2168284A patent/JPS60167554A/ja active Pending
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